JPS6275203A - 目地幅の検出方法 - Google Patents
目地幅の検出方法Info
- Publication number
- JPS6275203A JPS6275203A JP21573785A JP21573785A JPS6275203A JP S6275203 A JPS6275203 A JP S6275203A JP 21573785 A JP21573785 A JP 21573785A JP 21573785 A JP21573785 A JP 21573785A JP S6275203 A JPS6275203 A JP S6275203A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- groove
- reflected
- width
- polygon mirror
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
本発明は、建築用パネルなどの目地の幅を非接触で検出
する技術に関する。
する技術に関する。
目地の幅を検出するための在米方法としては、スケール
で直接に目地幅を実測するか、あるいは検出装置の検知
部をＶ溝状の目地溝内に挿入し、目地溝内への挿入深さ
から目地幅を読み取っていた。このため、目地幅の検出
速度が遅く、作業能率が悪かった・
で直接に目地幅を実測するか、あるいは検出装置の検知
部をＶ溝状の目地溝内に挿入し、目地溝内への挿入深さ
から目地幅を読み取っていた。このため、目地幅の検出
速度が遅く、作業能率が悪かった・
【発明の目的１
本発明は以上のような技術的背景に鑑みて為されたもの
であり、その目的とするところは非接触方式により目地
幅を高速で検出できるようにすることにある。 （発明の開示］ 本発明目地幅の検出方法は、投光器１から検知尤イを射
出させ、この検知尤イを一方向に回転するポリゴンミラ
ー２の鏡面３で反射させて目地溝４に向かわせると共に
ポリゴンミラー２の回転１こより検知光イを１地溝４の
幅方向にスキャンさせ、目地溝４で反射させられた反射
光口を受光器５により集光して受光強度により目地溝４
の溝幅を検出することを特徴とするものである。しかし
て、光による非接触方式であり、しかも投光器ｌを回転
させたり、平面鏡を往復回動させたりするのでな（、投
光器１から射出された尤を一方向に回転するポリゴンミ
ラー２で反射させてスキャンさせているので、高速で検
知光イをスキャンさせて目地溝４を高速検出することが
できるものである。 以下本発明の実施例を添付図に基いて詳述する。 目地幅センサー６は、投光器１とポリゴンミラー２と受
光器５とからなっている。投光器１は、発光ダイオード
（ＬＥＤ）などの発光素子を内蔵したものであり、検知
光イを一定方向（最すゴンミラ−２の方向）に向けて射
出する。ポリゴンミラー２は、第３図に示すように多角
柱状をしていて外周の各面毎に鏡面３が形成されており
、モータ（図示せず）で−力方向に一定速度で回転駆動
されている。投光器１から射出された検知光イはポリゴ
ンミラー２の鏡面３に当たって反射され、ポリゴンミラ
ー２の下方に配ｒｌＬされている外装材７開の目地ｔｆ
４４の部分に照射される。この時、ポリゴンミラー２は
回転しているので鏡面３で反射した検知光イの反射方向
も変化し、第２図に示すようにポリゴンミラー２の回転
に伴って検知光イは目地溝４の上を一側方から他側方へ
向けて幅方向にスキャンされる。しかも、ポリゴンミラ
ー２が一方向にしか回転していなくても検知光イが目地
溝４の他側方に達すると検知垢イを反射する鏡面３が隣
の鏡面３に変わって検知尤イは瞬時に目地溝４の一側方
へ移動する。こうして、目地溝４で反射した反射光口は
第１図に示すように受光器５に集光され、受光器５では
受光強度を電圧値に変換する□。第４図（ａ）（ｂ）に
は、目地溝４の形状と受光器５り電圧値に変換された検
出信号を示しであるが、これから判るように目地溝４の
断面形状が電圧値として表されており、このデータａ％
ｂがら目地幅及び目地溝の断面を算出させることができ
るのである。なお、第４図（ｂ）の中央でパルス状に電
圧が大きくなっているのは、目地溝４の底面に反射率の
高い金属製のフレーム８が位置しているためである。 しかして、この目地幅センサー６は、目地溝４開の大き
さが設計寸法になっているが、目地幅４が全長に亘って
均一になっているか等の検査用として使用され、また目
地溝４内に充填物を充填したりする場合にはその九項量
を算出したりする用途などに使用できるものである６ 【発明の効果】 本発明は、叙述のごとく投光器から検知光を射出させ、
この検知光を一方向に回転するポリゴンミラーの鏡面で
反射させて目地溝に向かわせると共にポリゴンミラーの
回転により検知光を目地溝の幅方向にスキャンさせ、目
地溝で反射させられた反射光を受光器により集光して受
光強度により目地溝の溝幅を検出しているから、光によ
る非接触方式であり、しかも投光器を回転させたり、平
面鏡を往復回動させたりするのでなく、投光器から射出
された光を一方向に回転するポリゴンミラーで反射させ
てスキャンさせているので、高速で検知光をスキャンさ
せ、て目地溝を高速検出することができるという利点が
ある。また、ポリゴンミラーは一方向に回転させるだけ
であるので、構造を簡単にすることがでさるという長所
がある。
であり、その目的とするところは非接触方式により目地
幅を高速で検出できるようにすることにある。 （発明の開示］ 本発明目地幅の検出方法は、投光器１から検知尤イを射
出させ、この検知尤イを一方向に回転するポリゴンミラ
ー２の鏡面３で反射させて目地溝４に向かわせると共に
ポリゴンミラー２の回転１こより検知光イを１地溝４の
幅方向にスキャンさせ、目地溝４で反射させられた反射
光口を受光器５により集光して受光強度により目地溝４
の溝幅を検出することを特徴とするものである。しかし
て、光による非接触方式であり、しかも投光器ｌを回転
させたり、平面鏡を往復回動させたりするのでな（、投
光器１から射出された尤を一方向に回転するポリゴンミ
ラー２で反射させてスキャンさせているので、高速で検
知光イをスキャンさせて目地溝４を高速検出することが
できるものである。 以下本発明の実施例を添付図に基いて詳述する。 目地幅センサー６は、投光器１とポリゴンミラー２と受
光器５とからなっている。投光器１は、発光ダイオード
（ＬＥＤ）などの発光素子を内蔵したものであり、検知
光イを一定方向（最すゴンミラ−２の方向）に向けて射
出する。ポリゴンミラー２は、第３図に示すように多角
柱状をしていて外周の各面毎に鏡面３が形成されており
、モータ（図示せず）で−力方向に一定速度で回転駆動
されている。投光器１から射出された検知光イはポリゴ
ンミラー２の鏡面３に当たって反射され、ポリゴンミラ
ー２の下方に配ｒｌＬされている外装材７開の目地ｔｆ
４４の部分に照射される。この時、ポリゴンミラー２は
回転しているので鏡面３で反射した検知光イの反射方向
も変化し、第２図に示すようにポリゴンミラー２の回転
に伴って検知光イは目地溝４の上を一側方から他側方へ
向けて幅方向にスキャンされる。しかも、ポリゴンミラ
ー２が一方向にしか回転していなくても検知光イが目地
溝４の他側方に達すると検知垢イを反射する鏡面３が隣
の鏡面３に変わって検知尤イは瞬時に目地溝４の一側方
へ移動する。こうして、目地溝４で反射した反射光口は
第１図に示すように受光器５に集光され、受光器５では
受光強度を電圧値に変換する□。第４図（ａ）（ｂ）に
は、目地溝４の形状と受光器５り電圧値に変換された検
出信号を示しであるが、これから判るように目地溝４の
断面形状が電圧値として表されており、このデータａ％
ｂがら目地幅及び目地溝の断面を算出させることができ
るのである。なお、第４図（ｂ）の中央でパルス状に電
圧が大きくなっているのは、目地溝４の底面に反射率の
高い金属製のフレーム８が位置しているためである。 しかして、この目地幅センサー６は、目地溝４開の大き
さが設計寸法になっているが、目地幅４が全長に亘って
均一になっているか等の検査用として使用され、また目
地溝４内に充填物を充填したりする場合にはその九項量
を算出したりする用途などに使用できるものである６ 【発明の効果】 本発明は、叙述のごとく投光器から検知光を射出させ、
この検知光を一方向に回転するポリゴンミラーの鏡面で
反射させて目地溝に向かわせると共にポリゴンミラーの
回転により検知光を目地溝の幅方向にスキャンさせ、目
地溝で反射させられた反射光を受光器により集光して受
光強度により目地溝の溝幅を検出しているから、光によ
る非接触方式であり、しかも投光器を回転させたり、平
面鏡を往復回動させたりするのでなく、投光器から射出
された光を一方向に回転するポリゴンミラーで反射させ
てスキャンさせているので、高速で検知光をスキャンさ
せ、て目地溝を高速検出することができるという利点が
ある。また、ポリゴンミラーは一方向に回転させるだけ
であるので、構造を簡単にすることがでさるという長所
がある。
Claims (2)
- （１）投光器から検知光を射出させ、この検知光を一方
向に回転するポリゴンミラーの鏡面で反射させて目地溝
に向かわせると共にポリゴンミラーの回転により検知光
を目地溝の幅方向にスキャンさせ、目地溝で反射させら
れた反射光を受光器により集光して受光強度により目地
溝の溝幅を検出することを特徴とする目地幅の検出方法
。 - （２）受光器の受光強度を電圧値に変換することを特徴
とする特許請求の範囲第１項記載の目地幅の検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21573785A JPS6275203A (ja) | 1985-09-28 | 1985-09-28 | 目地幅の検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21573785A JPS6275203A (ja) | 1985-09-28 | 1985-09-28 | 目地幅の検出方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6275203A true JPS6275203A (ja) | 1987-04-07 |
Family
ID=16677359
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21573785A Pending JPS6275203A (ja) | 1985-09-28 | 1985-09-28 | 目地幅の検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6275203A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63239111A (ja) * | 1987-03-27 | 1988-10-05 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 超電導材料の作製方法 |
-
1985
- 1985-09-28 JP JP21573785A patent/JPS6275203A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63239111A (ja) * | 1987-03-27 | 1988-10-05 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 超電導材料の作製方法 |
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