JPS6318683B2 - - Google Patents

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JPS6318683B2
JPS6318683B2 JP12014280A JP12014280A JPS6318683B2 JP S6318683 B2 JPS6318683 B2 JP S6318683B2 JP 12014280 A JP12014280 A JP 12014280A JP 12014280 A JP12014280 A JP 12014280A JP S6318683 B2 JPS6318683 B2 JP S6318683B2
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JP
Japan
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signal
pulse
gate
edge
imaging
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JP12014280A
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English (en)
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JPS5744806A (en
Inventor
Tomoaki Kawabata
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Nippon Steel Corp
Original Assignee
Sumitomo Metal Industries Ltd
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Publication date
Application filed by Sumitomo Metal Industries Ltd filed Critical Sumitomo Metal Industries Ltd
Priority to JP12014280A priority Critical patent/JPS5744806A/ja
Publication of JPS5744806A publication Critical patent/JPS5744806A/ja
Publication of JPS6318683B2 publication Critical patent/JPS6318683B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/02Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B11/022Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness by means of tv-camera scanning

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は物体の2次元形状を計測する方法に関
し、特に計測すべき方向から見た形状が略矩形で
あり、且つ計測対象物体の背後に矩形の辺縁と平
行的又は垂直的に位置する物体が存在するような
状況下で計測対象物体の形状を精度よく計測し得
る方法を提案したものである。
鋼板圧延ラインではその幅寸法の測定のため
に、またクロツプ形状測定のためにローラコンベ
ヤ上を搬送されていく鋼板を上方からテレビジヨ
ンカメラで撮像し、そのビデオ信号に対する画像
データ処理にて鋼板辺縁を特定する技術が知られ
ている。このような技術においては撮像面の残像
特性、データ数の圧縮率のために1フイールドの
画面についてデータ処理が行われるのが一般的で
ある。従つて水平方向の分解能が垂直方向の分解
能の略2倍となり、板幅wの計測を目的とする場
合には第12図に示すように板幅方向を撮像面の
水平方向に、またクロツプ形状測定を目的とする
場合には第13図に示すように板長手方向を撮像
面の水平方向に一致させるように撮像し、計測の
ために必要とする辺縁、前者の場合は側縁、後者
の場合はトツプ又はボトムの端縁の特定を高い分
解能で行えるようにしている。
ところが厚板の形状制御等においては全体形状
又は縦横双方の寸法を計測する必要があり、縦横
とも均等な分解能が望まれ、従来の如き撮像方法
ではこれを実現し得なかつた。また鉄鋼製品の形
状をその搬送系の途上にて計測せんとする場合、
撮像画面中に計測対象物体の辺縁に平行又は垂直
な輪郭を有して現れるローラコンベヤが存在する
ので、このローラコンベヤ等の背景による無駄
な、しかも紛らわしいデータが得られ、計測精度
を低下させ、また場合によつては大幅な誤差を生
ずる原因となつていた。
本発明は斯かる事情に鑑みてなされたものであ
つて、テレビジヨンカメラ(以下テレビカメラと
いう)等、ラスタ走査方式の2次元撮像装置複数
台を用い、夫々の撮像視野と走査線方向とを特殊
なものとすることにより縦横の分解能を均等化し
得、また背景の影響を大幅に低減できる2次元形
状計測方法を提供することを目的とする。
本発明に係る2次元形状計測方法はラスタ走査
方式の2次元撮像装置を複数台用い、各撮像装置
にて、夫々の走査方向が計測対象物体の像の辺縁
に対し実質的に非平行且つ非垂直となり、また走
査の起点が計測対象物体の像内に位置するように
して検査対象物体の部分的撮像を行い、各撮像装
置の撮像結果から計測対象物体の2次元形状を計
測することを特徴とする。
まず本発明方法を第1図に示すようにローラコ
ンベヤ上に載置された厚板TPの形状を計測する
場合を例にとつて説明する。
第2図は厚板TPの平面形状と4台のテレビカ
メラの視野又は撮像領域との関係を示す模式図で
あり、X−Y直交座標系にて厚板TPの中心を原
点に、また短辺をY軸に平行に、長辺をX軸に平
行になるように示してある。短辺の長さを2m,
長辺の長さを2nとすると短辺はX=±n、長辺
はY=±mと表わされ、4隅の点の座標は(n,
m)、(−n,m)、(−n,−m)、(n,−m)と

わされる。
而して第1のテレビカメラの視野TV1は走査
線が上記X−Y直交座標系にて45゜の傾きをなし、
視野左縁(走査線起点側縁)がY=−Xの直線に
一致し、更に視野左縁の垂直方向の上下端縁が厚
板内における第2象限及び第4象限の部分にある
(各端縁のX,Y座標値の絶対値が夫々n,mよ
りも小)ように定めてある。第2、第3、第4の
テレビカメラの視野TV2,TV3,TV4は第1の
テレビカメラの視野TV1を夫々90゜,180゜,270゜原
点O回りに反時計方向へ回転させてなるものであ
る。各テレビカメラの視野は必ずしもこの例のと
おりでなくともよいが、重要なことは各テレビカ
メラの走査線方向と辺縁とが非平行、且つ非垂直
となること(第13図に示した鋼板のトツプ又は
ボトムの如く辺縁形状が不整である場合は局部的
に平行又は垂直となることが避けられないのがそ
の大部分において非平行,非垂直であること)及
び走査の起点(ラスタ左端縁)が厚板TP像内に
位置すること、更にはいずれのテレビカメラの視
野内にも含まれない計測対象物体の辺縁部が存在
しないこと等である。さて第2図に示した如く各
テレビカメラの視野又は撮像画面を定めると長
辺,短辺はともに走査線に対し45゜をなすので、
長辺,短辺の各位置を特定するための分解能は水
平方向,垂直方向夫々の分解能の平均的な値とな
る。
次に背景のローラコンベヤの像にて得られる映
像信号が本発明による場合はその殆んどが無効デ
ータとして扱われ、厚板TPの形状特定の妨げに
ならない。
計測対象の厚板TPは上方の適処に設けた補助
光源(1フレームの静止画撮影のためにストロボ
等の瞬時発光手段を用いることが多い)にて照明
され、補助光源によつて、厚板TPの表面は明る
く、またローラコンベヤのローラ間空間は暗く撮
像され、またローラについては上側に位置する部
分又は補助光源が存在する側の一部分が明るく、
それと反対の側に向かうに従つて暗くなるように
して現れる。従つて映像信号を適当なしきい値レ
ベルを用いて2値化すると、この2値化された信
号による画像は、走査線方向を厚板長手方向とす
る通常の撮像方法によつた場合を例にとると、第
14図に示す如くローラが痩せ細つた状態であら
われる。視認による場合には厚板形状を誤認する
虞れは決してないが、画像データ処理を行わせる
場合には幅寸法のサンプリング位置にローラが重
なつたときにはローラの長さl1を厚板幅寸法と誤
認することがある。然るところ本発明方法では次
のような処理を行うことができる。第3図は第1
図に1点鎖線円で囲んで示す部分(ローラRLと
交錯する部分)を第1のテレビカメラの視野
TV1につき拡大して示す模式図である。この図
においてローラRL上の2点鎖線間が2値化回路
にて明像として弁別される、即ち白レベルとされ
る部分である。いま2本の走査線SL1,SL2に注
目する。走査線SL1は厚板TPの一縁を横切つた
あとローラ間の暗部へ出、その後ローラRLと交
叉し、また走査線SL2は厚板TPの一縁を厚板と
ローラとの交錯部にて横切つてそのままローラ
RLの明部に入り、その後ローラの右縁を横切つ
ていく。第4図イ,ロは夫々走査線SL1,SL2
相当するビデオ信号の部分を2値化してなる信号
部分を示し、白レベルをハイレベルとして(ビデ
オ信号が正変調信号であるとして)表わしてい
る。このテレビカメラの視野左縁は明るい厚板
TPに位置しているから水平同期信号HSのあとは
両信号部分とも直ちに白レベルとなる。そして走
査線SL1については厚板TPの一縁から外れたと
ころで一旦黒レベルにおち、その後ローラRLの
明部に相当する部分で再び白レベルが現れる。こ
れに対して走査線SL2についてはローラRLの明
部を外れるまで白レベルを維持し、その後黒レベ
ルにおちる。なお場合によつては2点鎖線で示す
ように厚板TPの一縁を横切る際に瞬時的に黒レ
ベルにおちる。また図示しないがローラRLの右
方に相隣するローラを走査線SL1,SL2が横切る
場合には対応部分に白レベルが現れる。
さて本発明方法によつて得られるビデオ信号に
ついては水平同期信号HSのあとに現れる白レベ
ルの信号のみを有効であるとし、それ以外の白レ
ベルの信号をノイズとして除去する処理を容易に
行える。そして厚板の辺縁特定には有効な白レベ
ル信号の立下りタイミングを利用することとすれ
ば背景によるノイズに起因する誤差は第4図ロに
示す2点鎖線と白レベルの立下り時点との時間差
だけとなり、4台のテレビカメラにて得られた信
号の処理によつて合成される厚板像は第5図に略
示する如く、ローラ部分が僅かに突起として現れ
た如き態様となり、大幅に計測精度が向上する。
第6図は本発明方法の実施に使用する装置の全
体的ブロツク図である。4個の瞬時発光器1a,
1a…は4台のテレビカメラ2a,2a…夫々の
視野を効果的に照射し得る位置に配置されており
1bはその点灯回路である。長手寸法、幅寸法の
計算,その他形状認識に関して必要とされる計算
を行う演算装置6は撮像によつて得たデータの取
込みタイミングと関連づけるべく点灯回路1bへ
点灯指令を発し、これによつて瞬時発光器1a,
1a…は発光して計測対象物体即ち厚板を瞬時的
に照明する。これにより厚板が移動中であつても
静止画像として4台のテレビカメラ2a,2a…
に撮影されることになり、夫々のカメラコントロ
ーラ2b,2bは前述した如きビデオ信号を発す
る。このビデオ信号は夫々に信号処理回路3,3
…へ入力され、ここで2値化,更には背景による
ノイズ除去を行い、所要データ、即ち辺縁特定に
必要とするデータを出力し、その出力信号を座標
変換回路4,4…へ与える。座標変換回路4,4
…は水平,垂直方向及び視野が異なる4台のテレ
ビカメラの撮影画像から得た情報を共通の座標系
のデータに統一変換するものであり、その変換さ
れた出力は1フイールドの画像相当の容量を有す
るバツフアメモリ5,5…に格納された後、所定
タイミングで演算装置6へ読出されていく。
第7図は信号処理回路3,3の要部を示すブロ
ツク図であつて、背景によるノイズの除去をハー
ドウエアで行う構成としてある。図において20
は2値化回路及び微分回路を有するスライサであ
つて、カメラコントローラ1bから入力されたビ
デオ信号のうちの映像信号が弁別入力され、第8
図イに示す如き立上り,立下りの緩慢な、また灰
レベルを含む入力映像信号を破線で示す適宜のし
きい値レベルを基準として白黒2レベルに2値化
して第8図ロに示す如き立上り,立下りともに急
峻な矩形波パルス状の信号を得、更にこの信号を
微分回路に与えて、その立上りに同期するパルス
P1〔第8図ハ〕及び立下りに同期するパルスP2
〔第8図ニ〕を夫々2つの出力端子201及び2
02から出力する。パルスP1は黒レベルから白
レベルへの変化タイミングを示し、またパルス
P2は白レベルから黒レベルへの変化タイミング
を夫々示している。
21はカウンタであつて走査線の水平方向にお
ける各部の位置を特定するに必要とされる分解能
を得るに足る周期(例えばIH間に512パルス)の
クロツク信号CIKを計数対象とし、ビデオ信号か
ら弁別した水平同期信号HSをリセツト信号とし
て与えるようにしてある。そしてカウンタ21の
計数内容はレジスタ25,26に与え得るように
構成してある。
23,24はセルフ・クローズ・オン・ゲート
であつて、その入力端子にパルス信号が与えられ
ると、このパルス信号の通過を許した後閉門する
ものであり、リセツト端子にパルス信号が与えら
れてもとの開門状態に復する。このゲート23,
24夫々の入力端子にはパルス信号P1,P2
夫々与えられ、またリセツト端子には水平同期信
号HS及び遅延回路32の出力が与えられるよう
にしてある。そしてこのゲート23,24の出力
はレジスタ25,26に対し、カウンタ21から
のデータ取込信号として与えられるようにしてあ
る。
28,30はタイマ・ゲート・ジエネレータで
あつてトリガ信号にて所定時間幅のパルス信号
P28,P30を出力し、前者の出力はANDゲート2
9の一入力として、また後者の出力はANDゲー
ト27,31及び34夫々の一入力として与えら
れるようにしてある。なおANDゲート27及び
34へは反転信号として入力される。
前記パルス信号P1はゲート23の外、タイ
マ・ゲート・ジエネレータ30にANDゲート3
3を介してトリガ信号として与えられ、また
ANDゲート29の他入力として与えられるよう
にしてある。これに対してパルス信号P2はゲー
ト24の外にANDゲート31の他入力として与
えられ、またANDゲート27の他入力として与
えられるようにしてあり、ANDゲート27の出
力はタイマ・ゲート・ジエネレータ28へトリガ
信号として与えられるようにしてある。そして
ANDゲート29,31の出力は共に遅延回路3
2へ与えられ、遅延回路32はその出力パルスか
ら所定時間遅れたパルスを作成し、このパルス
を、ANDゲート31からの入力があつた場合は
ゲート23,24のリセツト端子へ、またAND
ゲート29からの入力があつた場合はゲート24
のみのリセツト端子へ与えるように構成してあ
る。
またタイマ・ゲート・ジエネレータ30の前段
のANDゲート33はフリツプフロツプ35の状
態の反転信号によつて開閉される。フリツプフロ
ツプ35は水平同期信号HSでリセツトされ、ま
たANDゲート34出力でセツトされる。ANDゲ
ート34のもう一方の入力はゲート23の「開」
を表す信号の反転信号であり、従つてフリツプフ
ロツプ35はゲート23が閉じている場合にタイ
マ・ゲート・ジエネレータ30の出力P30がロー
レベルとなつた時点でセツトされることになる。
叙上の如く構成された信号処理回路3の動作は
次のとおりである。即ち本発明方法による場合は
水平同期信号HSのあと映像信号が白レベルに立
上るので、パルス信号P1にはこの立上りタイミ
ングに同期するパルスP11がまず現れる。このパ
ルスP11はゲート23を通過してそれを閉門し、
レジスタ25にデータ取込信号として入力され、
これによつてレジスタ25はそのときのカウンタ
21の計数値をセツトする。この値は水平同期信
号にてリセツトされた直後のカウンタ21のクロ
ツクCLK計数値であるから0に近い値であり、
実質的に撮像面左縁を表す数値となつている。一
方でパルスP11はタイマ・ゲート・ジエネレータ
30へも与えられ、これをトリガして所定時間幅
のパルス信号P30を出力する〔第8図ホ〕。
さて次に第8図イ,ロに2点鎖線で示すように
パルス信号P30がハイレベルにある微小時間内に
映像信号が黒レベルになつた場合を仮定するとそ
の立下りに現れるパルス信号P2のパルスP21及び
これに続くパルス信号P1中のパルスP12がスライ
サ20の出力端子202及び201から得られ
る。パルスP21はゲート24を通過してこれを閉
門し、レジスタ26にデータ取込信号として入力
され、映像信号が黒レベルに落ちた部分の位置に
相当するカウンタ21計数値をレジスタ26にセ
ツトさせる。ところがこのパルスP21が発生した
タイミングでパルス信号P30がハイレベルである
場合はパルスP21がANDゲート31経由で遅延回
路32に与えられ、ゲート24のリセツト端子に
はパルスP21より若干遅れた遅延パルスがリセツ
ト信号として与えられゲート24を開門する。即
ちパルスP21は無視されたことになる。パルスP21
に続くパルスP12はP21が遅延回路32を経由して
発生させる遅延パルスよりも後に現れるのでゲー
ト23を通過し得、撮像面左縁、つまり厚板TP
の辺縁のタイミングを捉えることができる。
つまりこの発明では走査の起点が計測対象物、
ここでは厚板TPの像内に位置させているのでP11
が本来撮像面左縁の信号として用いられるのであ
るが映像信号中に黒レベルから一瞬白レベルに変
化するものが混入している場合はこれを雑音とみ
なしP12を撮像面左縁とするのである。換言すれ
ばこの信号処理回路はパルス信号P30がハイレベ
ルにある間にパルス信号P2がハイレベルになら
ない場合には、タイマ・ゲート・ジエネレータ3
0をトリガしてパルス信号P30をハイレベルとし
たパルス信号P1の先行パルスを有効なものとし
ている。一方第3,4図に示した如き走査線SL1
のローラ明部に対応して白レベルとなる部分の立
上りで現れるパルス信号P1のパルスP13及びパル
ス信号P2のパルスP23はゲート23,24が既に
閉じており無効化されることになる。
さて厚板の像を走査している間、その映像信号
は白レベルにあり、前述した如きパルスP12,P21
は現れることがない。そしてやがて厚板の辺縁に
相当する部分にて映像信号は黒レベルに転じ、こ
こでパルス信号P2にパルスP22が現れる。このパ
ルスP22はゲート24を通過してこれを閉門し、
レジスタ26へデータ取込信号として与えられそ
のときのカウンタ21の計数値をレジスタ26へ
セツトさせる。この計数値は処理対象となつてい
る走査線と厚板TPの辺縁との交点、例えば第3
図に示す点Q1を示す内容となつており、先にレ
ジスタ25にセツトされている数値との差が撮像
面左縁からこの点Q1までの水平方向距離を表す
数値となる。
一方、このときすでにタイマ・ゲート・ジエネ
レータ30が出力するパルス信号P30は発生し得
ずローレベルになつているのでパルスP22はAND
ゲート27を通過する。これにより、タイマ・ゲ
ート・ジエネレータ28がトリガされ、第8図ヘ
に示すようにその出力パルス信号P28がハイレベ
ルになりこの間ANDゲート29はパルス信号P1
を通過させ得る状態となり、これがハイレベルと
なつた場合は遅延回路32を経てゲート24をリ
セツトし得ることとなる。
従つてパルス信号P30がローレベルになつた後
において第8図イに2点鎖線で示すように微小時
間黒レベルとなり、これによつてパルス信号P2
にパルスP21′が、またパルス信号P1にパルス
P12′が現れた場合を仮定すると、パルスP21′にて
ゲート24が閉じられ、レジスタ26にカウンタ
21の計数値がセツトされる一方、このとき開門
しているゲート27を通過してタイマ・ゲート・
ジエネレータ28をトリガして、第8図ヘに2点
鎖線で示すようにパルス信号P28がハイレベルと
なり、その間ANDゲート29を開門する。パル
スP12′はゲート23を通過し得ないがこのAND
ゲート29を通過でき、遅延回路32を経てゲー
ト24をリセツトして開門し、パルスP21′を無効
化する。即ち本来白レベルである間に瞬時的に黒
レベルとなるような雑音が入つてもそれを有効な
信号とすることはない。
以上のようにしてレジスタ25,26の夫々に
は、第8図ロに示す広幅のパルス信号の立上り時
点,立下り時点に相当する数値、換言すれば1ラ
インの走査線につき撮像面の左縁位置と厚板TP
の辺縁とを表わすデータが得られることになり、
これらを次順の水平同期信号HSにて座標変換回
路3へ読込ませる。カウンタ21及びゲート2
3,24は同じ水平同期信号HSにてリセツトさ
れる。なお第8図ト,チはゲート23,24の開
閉状態を、第8図リ,ヌはレジスタ25,26の
データ取込みタイミングを、また第8図ルはフリ
ツプフロツプ35の出力を夫々示している。
次に座標変換方法の1例につき説明する。第9
図においてx−y直交座標系は変換すべき共通座
標系を示しており、X1−Y1(又はX2−Y2,X3
Y3,X4−Y4)座標系は第1(又は第2,第3,
第4)のテレビカメラの視野TV1(又はTV2
TV3,TV4)の左下隅を原点とし、水平方向を
X1(又はX2,X3,X4)軸方向、垂直方向をY1(又
はY2,Y3,Y4)軸方向とする座標系であり原点
のx−y座標系における座標は(x10,y10)〔又
は(x20,y20),(x30,y30),(x40,y40)〕とし、
またx軸とX1(又はX2,X3,X4)軸とのなす角
度は夫々θ1(又はθ2,θ3,θ4)とする。なおx−
y座標系を前述のX−Y座標系を平行移動したも
のとする場合はθ1=45゜,θ2=135゜,θ3=225゜,
θ4
=315゜となる。
以上の如きX1−Y1(又はX2−Y2,X3−Y3,X4
−Y4)座標系の任意の座標点(X1′,Y1′)〔又は
(X2′,Y2′),(X3′,Y3′),(X4′,Y4′)〕を
x−y
座標系における座標(x1,y1)〔又は(x2,y2),
(x3,y3),(x4,y4)〕に変換する場合は第8図に
おける幾可学的関係から (x1=x10+X1′cosθ1−Y1′sinθ1 y1=y10+X1′sinθ1+Y1′cosθ1) (x2=x20+X2′cosθ2−Y2′sinθ2 y2=y20+X2′sinθ2+Y2′cosθ2) 〓の各式が成立する。
これらの式は一般式であらわすと (xi=xi0+Xi′cosθi−Yi′sinθi yi=yi0+Xi′sinθi+Yi′cosθi) 但し、i=1,2,3,4 となり、θi及びxi0,yi0は共通座標系によつて一義
的に定まるので結局 (xi=aXi′−bYi′+c (1) yi=bXi′+aYi′+d (2) ) 但し、a,b,c,dは定数 となり、前述の信号処理回路3のレジスタ25,
26の値からXi′を、また次に示すカウンタ41
の値からYi′を取込んで上掲の式(1),(2)に従つて
座標変換を行えばよい。
第10図は座標変換回路4の1例を示すブロツ
ク図である。前記信号処理回路3のレジスタ2
5,26の内容は水平同期信号HSにて開門され
るゲート42a,42bを経てメモリ43a,4
3bにストアされる。カウンタ41は垂直同期信
号VSにてリセツトされ、水平同期信号HSを計数
対象とするカウンタであつて、水平同期信号HS
が入力される都度カウントアツプし、その計数値
は水平同期信号HSにて開門されるゲート42c
を経てメモリ43cにストアされる。このカウン
タ41の計数内容は各走査線の垂直方向位置を表
わすデータとなつている。
而してメモリ43a,43b,43cにストア
されたデータはD/A変換器44a,44b,4
4cにてアナログ信号に変換される。メモリ43
aから得たデータは撮像面左縁の各点(走査線に
て規定される)のXi軸座標値、即ちXi′であり、
このXi′は演算回路45a,45cへ上記各点の
x軸座標値、即ちxi及びy軸座標値、即ちyiを算
出させるべく与えられる。またメモリ43bから
得たデータは厚板辺縁の各点のXi軸座標値、即
ちXi′であり、このXi′は演算回路45b,45d
へ上記各点のx軸,y軸座標値、即ちxi,yiを算
出させるべく与えられる。メモリ43cから得た
データは上記各点のYi軸座標値に関する値であ
り、撮像面左縁及び厚板辺縁の各点のxi,yi算出
のために演算回路45a,45b,45c,45
dへ与えられる。なおカウンタ41の計数値は第
9図につき説明したYiとはなつていない。けだ
しXi−Yi座標系の原点は撮像面の左下であり左
上ではないからである。
演算回路45a,45bで求められたxi及び演
算回路45c,45dで求められたyiは夫々に
A/D変換器46a,46b,46c,46dへ
入力され、デイジタル信号に変換された上でバツ
フアメモリ5にストアされる。以上の動作はリア
ルタイムで行われていき、1フイールドの走査の
後にバツフアメモリ5にストアされたデータは概
念的には第11図に示すように表わされる。
演算装置6はこのようなバツフアメモリのデー
タを読込んでx−y座標系における図形合成を行
い厚板の形状を第5図に示した如きものとして特
定する。
なお信号処理回路3における背景によるノイズ
の機能或は座標変換回路4の機能はコンピユータ
を用いてなる演算装置にてソフトウエア的に行わ
せることとしてもよい。
以上のように本発明による場合は直交する2方
向の分解能の均等化が可能になり、また背景によ
る不要の信号(ノイズ)を効果的に除去でき、例
えばローラコンベヤ上を搬送されていく厚板の形
状計測等、その輪郭と紛らわしい背景の前に在る
物体の2次元形状を縦横ともに所要分解能で計測
する必要がある場合に、本発明は極めて有効であ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図はローラコンベヤ上の厚板を示す模式的
平面図、第2図は4台のテレビカメラの撮像視野
と厚板との関係を示す模式図、第3図は走査線と
厚板及びローラとの関係を示す模式図、第4図
イ,ロはビデオ信号の一部を略示する波形図、第
5図は合成された厚板像の略示図、第6図は本発
明方法の実施に使用する装置の全体的ブロツク
図、第7図は信号処理回路の略示ブロツク図、第
8図イ〜ルはその動作説明のためのタイミングチ
ヤート、第9図は座標変換の原理説明図、第10
図は座標変換回路の略示ブロツク図、第11図は
バツフアメモリの記憶内容を示す概念図、第1
2,13図は従来の撮影方法を示す略示図、第1
4図は従来の方法により計測された厚板像の略示
図である。 2a……テレビカメラ、2b……カメラコント
ローラ、3……信号処理回路、4……座標変換回
路、5……バツフアメモリ、6……演算装置。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 物体の2次元形状を計測する方法において、
    ラスタ走査方式の2次元撮像装置を複数台用い、
    各撮像装置にて、夫々の走査方向が計測対象物体
    の像の辺縁に対し実質的に非平行且つ非垂直とな
    り、また走査の起点が計測対象物体の像内に位置
    するようにして検査対象物体の部分的撮像を行
    い、各撮像装置の撮像結果から計測対象物体の2
    次元形状を計測することを特徴とする2次元形状
    計測方法。
JP12014280A 1980-08-29 1980-08-29 Method of two-dimensional measurement for pattern Granted JPS5744806A (en)

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