JPS631778B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPS631778B2 JPS631778B2 JP54023204A JP2320479A JPS631778B2 JP S631778 B2 JPS631778 B2 JP S631778B2 JP 54023204 A JP54023204 A JP 54023204A JP 2320479 A JP2320479 A JP 2320479A JP S631778 B2 JPS631778 B2 JP S631778B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- transistor
- mos transistor
- signal
- potential
- power supply
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/02—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components
- H03K19/173—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using elementary logic circuits as components
- H03K19/1731—Optimisation thereof
- H03K19/1732—Optimisation thereof by limitation or reduction of the pin/gate ratio
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
- G11C16/10—Programming or data input circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
- G11C16/26—Sensing or reading circuits; Data output circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
- G11C16/32—Timing circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C5/00—Details of stores covered by group G11C11/00
- G11C5/06—Arrangements for interconnecting storage elements electrically, e.g. by wiring
- G11C5/066—Means for reducing external access-lines for a semiconductor memory clip, e.g. by multiplexing at least address and data signals
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C5/00—Details of stores covered by group G11C11/00
- G11C5/14—Power supply arrangements, e.g. power down, chip selection or deselection, layout of wirings or power grids, or multiple supply levels
- G11C5/143—Detection of memory cassette insertion or removal; Continuity checks of supply or ground lines; Detection of supply variations, interruptions or levels ; Switching between alternative supplies
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C5/00—Details of stores covered by group G11C11/00
- G11C5/14—Power supply arrangements, e.g. power down, chip selection or deselection, layout of wirings or power grids, or multiple supply levels
- G11C5/147—Voltage reference generators, voltage or current regulators; Internally lowered supply levels; Compensation for voltage drops
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Computing Systems (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Electronic Switches (AREA)
- Logic Circuits (AREA)
- Read Only Memory (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は集積回路化に適するMOSトランジス
タ回路に関する。
タ回路に関する。
一般にMOS集積回路のパツケージから導出さ
れる外部導出ピン(端子)数は、パツケージの小
形化等の面から少ない方がよい。この問題の一つ
の解決策として、集積回路の外部導出ピンを共用
することがあげられるが、信号ラインと電源ライ
ンを共用することを考えた場合、これらラインの
共通化ノードに、入力信号の能力(+10μA〜−
10μA程度)以上の電流を流すことは問題である
から、該能力範囲内に電流値を抑える必要があ
る。
れる外部導出ピン(端子)数は、パツケージの小
形化等の面から少ない方がよい。この問題の一つ
の解決策として、集積回路の外部導出ピンを共用
することがあげられるが、信号ラインと電源ライ
ンを共用することを考えた場合、これらラインの
共通化ノードに、入力信号の能力(+10μA〜−
10μA程度)以上の電流を流すことは問題である
から、該能力範囲内に電流値を抑える必要があ
る。
本発明は上記の点に鑑みてなされたもので、信
号ライン兼電源ラインと通常使用の電源またはア
ースとの間に、能力範囲以上の電流が流れない構
成とすることにより、前記ピン数削減の際の問題
点を解決することができるMOSトランジスタ回
路を提供しようとするものである。
号ライン兼電源ラインと通常使用の電源またはア
ースとの間に、能力範囲以上の電流が流れない構
成とすることにより、前記ピン数削減の際の問題
点を解決することができるMOSトランジスタ回
路を提供しようとするものである。
以下第1図を参照して本発明の一実施例を説明
する。なお、ここで使用しているMOSトランジ
スタのチヤネル型は、凡て同一で例えばNチヤネ
ル型とする。第1図において1はゲートに制御信
号Aが入力される駆動用のエンハンスメント型
MOSトランジスタで、このトランジスタ1のソ
ースは電圧VS(アース電位)の供給端に接続さ
れ、ドレインは出力端Oに接続される。負荷素子
としてのデプレツシヨン型MOSトランジスタ2
は、そのソースとゲートが出力端Oに接続され、
ドレインがノードaに接続される。このノードa
にはエンハンスメント型MOSトランジスタ3の
ソースが接続され、該トランジスタ3のドレイン
とゲートは電圧VPの供給端に接続される。この
電圧VPの供給端は信号ライン兼電源ラインとな
る個所である。また上記ノードaにはデプレツシ
ヨン型MOSトランジスタ4のソースが接続され、
該トランジスタ4のドレインは通常電源としての
電圧VCの供給端に、ゲートは制御信号Bの供給
端に接続される。
する。なお、ここで使用しているMOSトランジ
スタのチヤネル型は、凡て同一で例えばNチヤネ
ル型とする。第1図において1はゲートに制御信
号Aが入力される駆動用のエンハンスメント型
MOSトランジスタで、このトランジスタ1のソ
ースは電圧VS(アース電位)の供給端に接続さ
れ、ドレインは出力端Oに接続される。負荷素子
としてのデプレツシヨン型MOSトランジスタ2
は、そのソースとゲートが出力端Oに接続され、
ドレインがノードaに接続される。このノードa
にはエンハンスメント型MOSトランジスタ3の
ソースが接続され、該トランジスタ3のドレイン
とゲートは電圧VPの供給端に接続される。この
電圧VPの供給端は信号ライン兼電源ラインとな
る個所である。また上記ノードaにはデプレツシ
ヨン型MOSトランジスタ4のソースが接続され、
該トランジスタ4のドレインは通常電源としての
電圧VCの供給端に、ゲートは制御信号Bの供給
端に接続される。
次に第1図の回路動作を説明する。まず電圧
VPの供給ラインつまりノードbを信号ラインと
して用いる場合は、信号Bを“1”にする。この
時信号Aが“1”で、トランジスタ1がオン(導
通)してノードoが“0”になつても、ノードa
にはVC(例えば+5V)近くの電位が出るように
トランジスタ4,2,1の大きさ及びスレツシヨ
ルド電圧Vthを設定してやる。するとノードaの
電位がVC近辺であるため、電圧VPが、ノードa
の電位とトランジスタ3のスレツシヨルド電圧
Vth3とを加えた値以下では、トランジスタ3には
電流が流れない、つまりトランジスタ3はオフ
(非導通)状態である。ところで上記信号VPは、
これを他の回路の入力信号として用いる場合、通
常“VC+1”ボルトが最大であり、ノードaの
電位はVC近辺であるため、Vth3を1V近辺にして
おけばVPが入力信号の時は該入力電流はほとん
ど流れず、充分他のMOSトランジスタ回路の入
力信号として通用する。
VPの供給ラインつまりノードbを信号ラインと
して用いる場合は、信号Bを“1”にする。この
時信号Aが“1”で、トランジスタ1がオン(導
通)してノードoが“0”になつても、ノードa
にはVC(例えば+5V)近くの電位が出るように
トランジスタ4,2,1の大きさ及びスレツシヨ
ルド電圧Vthを設定してやる。するとノードaの
電位がVC近辺であるため、電圧VPが、ノードa
の電位とトランジスタ3のスレツシヨルド電圧
Vth3とを加えた値以下では、トランジスタ3には
電流が流れない、つまりトランジスタ3はオフ
(非導通)状態である。ところで上記信号VPは、
これを他の回路の入力信号として用いる場合、通
常“VC+1”ボルトが最大であり、ノードaの
電位はVC近辺であるため、Vth3を1V近辺にして
おけばVPが入力信号の時は該入力電流はほとん
ど流れず、充分他のMOSトランジスタ回路の入
力信号として通用する。
次にVPを電源(例えば25V)として使用する
場合は、信号Bを“0”にする。この時第1図の
回路は主にトランジスタ3,2,1で出力0を決
定することができ、その時ノードaの電位をトラ
ンジスタ4がオフする程度に設定してやれば、
VP供給端からVC供給端へ流れ出る電流はなくな
る。即ち電源としてのVPは、VC≦VPの状態で使
用でき、ノードoには“VP−Vth3”ボルトの電
位まで出力することができる。
場合は、信号Bを“0”にする。この時第1図の
回路は主にトランジスタ3,2,1で出力0を決
定することができ、その時ノードaの電位をトラ
ンジスタ4がオフする程度に設定してやれば、
VP供給端からVC供給端へ流れ出る電流はなくな
る。即ち電源としてのVPは、VC≦VPの状態で使
用でき、ノードoには“VP−Vth3”ボルトの電
位まで出力することができる。
以上のような動作を行なう第1図の回路にあつ
ては、ノードbに入力信号としての能力以上の電
流を流さずに済むから、集積回路化した際のピン
数削減が可能となる。
ては、ノードbに入力信号としての能力以上の電
流を流さずに済むから、集積回路化した際のピン
数削減が可能となる。
第2図、第3図、第4図は本発明の他の実施例
であり、第2図は第1図のデプレツシヨン型トラ
ンジスタ4の代りにエンハンスメント型トランジ
スタ4′を用い、そのゲートをドレイン側に接続
したもの、第3図は上記デプレツシヨン型トラン
ジスタ4の代りにエンハンスメント型トランジス
タ4″を用いたもの、第4図は、VPに接続されて
いた、トランジスタ3のドレイン側に、トランジ
スタ3′のソースをかわりに接続し、トランジス
タ3′のドレインをVP(ノードb)に接続、ゲー
トには信号Cを入力したものである。第2図の例
では、トランジスタ3のスレツシヨルド電圧Vth3
をトランジスタ4′のスレツシヨルド電圧Vth4′よ
り高く、第3図の例では、トランジスタ3のVth3
をトランジスタ4″のスレツシヨルドVth4″より高
くしてやれば、VPを信号ラインとして用いる場
合の入力信号の“1”レベルは、VCより高い電
位までリーク電流なしで使用できる。上記Vth3を
Vth4′、Vth4″より高くする方法としては、シヨー
トチヤネル効果を利用して、第2図ではトランジ
スタ3よりトランジスタ4′のチヤネル長を、第
3図ではトランジスタ3よりトランジスタ4″の
チヤネル長を短くしてやれば簡単に実現出来る。
なお第2図、第3図では、VCもVPと同様に信号、
電源の両方に用いることができる。第4図の例で
は、ノードbを電源として用いた時に、出力O
に、第1図よりも、高い電圧が出るように、工夫
したものである。信号Cは、信号Bと逆位相の信
号で、例えば、Cを第1図の回路で作ると、Cの
“1”レベルは、VP(例えば25V)マイナスVth3に
なる。bを信号ラインとして使用する時Cは
“0”レベル、Bは“1”レベルになる。Cの
“0”レベルをOVにすれば、b′の電位は、トラン
ジスタ3′のVth3′の絶対値をとつた値以下にしか
ならない。なぜなら(b′の電位)=(Cの電位−
Vth3′)だから。トランジスタ3をカツトオフす
るには、|Vth3′|+Vth3<(aの電位)〔式〕が
成立するように、Vth3(正の値)、Vth3′を選べば
よい。bを電源として、用いる場合Cには、VP
−Vth3(第1図の回路を用いて作る時)の電圧が
与えられる。aの電位をVC近辺に設定してやつ
た場合、式の関係より、Vth3をOVを少しこえ
た値、に設定しておけば、第1図で用いたVth3よ
り、かなり低い値にできる。この時b′のレベルが
VPまで出るように、式の範囲内でVth3′を決め
ることは容易で、出力Oの値は、VP−Vth3の関
係だけで決めることが出来、第1図のVth3より第
4図のVth3の値を小さくすることが出来る分だ
け、出力Oには、高い電圧を出すことが出来る。
であり、第2図は第1図のデプレツシヨン型トラ
ンジスタ4の代りにエンハンスメント型トランジ
スタ4′を用い、そのゲートをドレイン側に接続
したもの、第3図は上記デプレツシヨン型トラン
ジスタ4の代りにエンハンスメント型トランジス
タ4″を用いたもの、第4図は、VPに接続されて
いた、トランジスタ3のドレイン側に、トランジ
スタ3′のソースをかわりに接続し、トランジス
タ3′のドレインをVP(ノードb)に接続、ゲー
トには信号Cを入力したものである。第2図の例
では、トランジスタ3のスレツシヨルド電圧Vth3
をトランジスタ4′のスレツシヨルド電圧Vth4′よ
り高く、第3図の例では、トランジスタ3のVth3
をトランジスタ4″のスレツシヨルドVth4″より高
くしてやれば、VPを信号ラインとして用いる場
合の入力信号の“1”レベルは、VCより高い電
位までリーク電流なしで使用できる。上記Vth3を
Vth4′、Vth4″より高くする方法としては、シヨー
トチヤネル効果を利用して、第2図ではトランジ
スタ3よりトランジスタ4′のチヤネル長を、第
3図ではトランジスタ3よりトランジスタ4″の
チヤネル長を短くしてやれば簡単に実現出来る。
なお第2図、第3図では、VCもVPと同様に信号、
電源の両方に用いることができる。第4図の例で
は、ノードbを電源として用いた時に、出力O
に、第1図よりも、高い電圧が出るように、工夫
したものである。信号Cは、信号Bと逆位相の信
号で、例えば、Cを第1図の回路で作ると、Cの
“1”レベルは、VP(例えば25V)マイナスVth3に
なる。bを信号ラインとして使用する時Cは
“0”レベル、Bは“1”レベルになる。Cの
“0”レベルをOVにすれば、b′の電位は、トラン
ジスタ3′のVth3′の絶対値をとつた値以下にしか
ならない。なぜなら(b′の電位)=(Cの電位−
Vth3′)だから。トランジスタ3をカツトオフす
るには、|Vth3′|+Vth3<(aの電位)〔式〕が
成立するように、Vth3(正の値)、Vth3′を選べば
よい。bを電源として、用いる場合Cには、VP
−Vth3(第1図の回路を用いて作る時)の電圧が
与えられる。aの電位をVC近辺に設定してやつ
た場合、式の関係より、Vth3をOVを少しこえ
た値、に設定しておけば、第1図で用いたVth3よ
り、かなり低い値にできる。この時b′のレベルが
VPまで出るように、式の範囲内でVth3′を決め
ることは容易で、出力Oの値は、VP−Vth3の関
係だけで決めることが出来、第1図のVth3より第
4図のVth3の値を小さくすることが出来る分だ
け、出力Oには、高い電圧を出すことが出来る。
第5図は、第1図の回路をEPROMのデータ入
力バツフア回路11に用いた場合の例で、12は
メモリーセル・アレイ、13は行デコーダ、14
は列デコーダ、15は列ゲート回路、16はアウ
トプツト・イネーブル・ロジツク、17は出力バ
ツフアである。上記データ入力バツフア11は、
l1のルートでロジツク16に信号OEを供給し、
l2、l3のルートで電源VPPを供給するものである。
信号/PMは、読み出しモードとプログラム・
モードを切り換えるためのもので、読み出しモー
ドの時、“0”、プログラム・モードの時“1”と
なる。信号R/はその逆である。信号PCは
通常“1”で、入力I1が供給された後一定時間
(例えば2μ秒)経過したら、プログラムに要する
時間(例えば1ミリ秒)だけ“0”になり、入力
I1が“0”ならば、行デコーダ13及び列デコー
ダ14によつて選択されたメモリーセルに、トラ
ンジスタ18を介して高電圧VPPを印加して書き
込みを行なう。一方読み出しモードでは、/
PM=“0”、R/=“1”、PC=“1”となる。
すると入力I1に係わらず出力端0は“0”とな
り、トランジスタ18はカツトオフする。
力バツフア回路11に用いた場合の例で、12は
メモリーセル・アレイ、13は行デコーダ、14
は列デコーダ、15は列ゲート回路、16はアウ
トプツト・イネーブル・ロジツク、17は出力バ
ツフアである。上記データ入力バツフア11は、
l1のルートでロジツク16に信号OEを供給し、
l2、l3のルートで電源VPPを供給するものである。
信号/PMは、読み出しモードとプログラム・
モードを切り換えるためのもので、読み出しモー
ドの時、“0”、プログラム・モードの時“1”と
なる。信号R/はその逆である。信号PCは
通常“1”で、入力I1が供給された後一定時間
(例えば2μ秒)経過したら、プログラムに要する
時間(例えば1ミリ秒)だけ“0”になり、入力
I1が“0”ならば、行デコーダ13及び列デコー
ダ14によつて選択されたメモリーセルに、トラ
ンジスタ18を介して高電圧VPPを印加して書き
込みを行なう。一方読み出しモードでは、/
PM=“0”、R/=“1”、PC=“1”となる。
すると入力I1に係わらず出力端0は“0”とな
り、トランジスタ18はカツトオフする。
第6図は第5図のEPROMの行デコーダ部13
の一例である。この回路でプログラムモードの時
は、R/=“0”となつて端子0には“VPP−
Vth3”(Vth3はトランジスタ3のスレツシヨルド
電圧)の電位が電源ルートl4を介して出力され、
トランジスタ20がオンとなる。この時メモリー
セルのゲートに高電圧VPPが印加されるか否か
は、端子21の論理レベルにより決定される。一
方データ読み出し時は、R/=“1”となり、
端子0は“0”でトランジスタ20はカツトオフ
して該トランジスタに電流は流れない。即ちデー
タ読み出し時は、例えば第6図において、R/
PMが“1”レベルであるため、a点は、VCC(第
1図のVCに相当)近辺の電位に保持されるため、
OP/VPP(第1図のVPに相当)がVCC+Vth3(Vth3
はトランジスタのシキイ電圧)以下ならば/
VPPに電流は流れない。東芝MOS形デジタル集積
回路TMM275/2D−20 TM275/2D−25
TM275/2D−200 TM275/2D−250 シリコン
モノリシツク シリコン二重ゲートMOSの集積
回路技術資料の第2ページ目のD.C.電気的特性の
項に記載している様に、読み出し時のIPP1は、0
〜VCC+0.6Vの範囲で保証すればよいため、上記
トランジスタ3のシキイ電圧Vth3は0.6V以上でよ
いことになり、この0.6Vのシキイ電圧は通常の
エンハンスメント型MOSFETで一般によく使用
される値である。この様に第6図a点あるいは第
1図a点の電位は、高い程よい。このため発明に
あつては、第1図に示してある様に、ドライバト
ランジスタ1およびこの負荷トランジスタ2を設
け、この負荷トランジスタのドレインと通常の電
源VCおよび信号兼電源との間にそれぞれトラン
ジスタ4,3を設けるようにしている。
の一例である。この回路でプログラムモードの時
は、R/=“0”となつて端子0には“VPP−
Vth3”(Vth3はトランジスタ3のスレツシヨルド
電圧)の電位が電源ルートl4を介して出力され、
トランジスタ20がオンとなる。この時メモリー
セルのゲートに高電圧VPPが印加されるか否か
は、端子21の論理レベルにより決定される。一
方データ読み出し時は、R/=“1”となり、
端子0は“0”でトランジスタ20はカツトオフ
して該トランジスタに電流は流れない。即ちデー
タ読み出し時は、例えば第6図において、R/
PMが“1”レベルであるため、a点は、VCC(第
1図のVCに相当)近辺の電位に保持されるため、
OP/VPP(第1図のVPに相当)がVCC+Vth3(Vth3
はトランジスタのシキイ電圧)以下ならば/
VPPに電流は流れない。東芝MOS形デジタル集積
回路TMM275/2D−20 TM275/2D−25
TM275/2D−200 TM275/2D−250 シリコン
モノリシツク シリコン二重ゲートMOSの集積
回路技術資料の第2ページ目のD.C.電気的特性の
項に記載している様に、読み出し時のIPP1は、0
〜VCC+0.6Vの範囲で保証すればよいため、上記
トランジスタ3のシキイ電圧Vth3は0.6V以上でよ
いことになり、この0.6Vのシキイ電圧は通常の
エンハンスメント型MOSFETで一般によく使用
される値である。この様に第6図a点あるいは第
1図a点の電位は、高い程よい。このため発明に
あつては、第1図に示してある様に、ドライバト
ランジスタ1およびこの負荷トランジスタ2を設
け、この負荷トランジスタのドレインと通常の電
源VCおよび信号兼電源との間にそれぞれトラン
ジスタ4,3を設けるようにしている。
なお本発明は上記実施例のみに限定されるもの
ではなく、例えば負荷MOSとしてのデプレツシ
ヨン型トランジスタ2にエンハンスメント型のも
のを用い、そのゲートをノードa側に接続した
り、該ゲートに電圧VCを供給したりしてもよい。
また実施例では使用トランジスタにNチヤネル型
のものを用いたが、Pチヤネル型のものを用いた
構造にもできる等、本発明の要旨を逸脱しない範
囲で種々の応用が可能である。
ではなく、例えば負荷MOSとしてのデプレツシ
ヨン型トランジスタ2にエンハンスメント型のも
のを用い、そのゲートをノードa側に接続した
り、該ゲートに電圧VCを供給したりしてもよい。
また実施例では使用トランジスタにNチヤネル型
のものを用いたが、Pチヤネル型のものを用いた
構造にもできる等、本発明の要旨を逸脱しない範
囲で種々の応用が可能である。
以上説明した如く本発明によれば、信号ライン
兼電源ラインに能力以上の電流を流さずに済むの
で、集積回路の小形化が可能となる等の利点を有
したMOSトランジスタ回路が提供できるもので
ある。
兼電源ラインに能力以上の電流を流さずに済むの
で、集積回路の小形化が可能となる等の利点を有
したMOSトランジスタ回路が提供できるもので
ある。
第1図は本発明の一実施例を示す回路図、第2
図、第3図及び第4図は本発明の他の実施例を示
す回路図、第5図、第6図は第1図の回路の使用
例を示す回路図である。 1,3……エンハンスメント型MOSトランジ
スタ、2,4,3′……デプレツシヨン型MOSト
ランジスタ、a,b,o,b′……ノード、VP…
…信号または電源電圧、VC……通常電源電圧、
VS……アース電圧、A,B,C……制御信号。
図、第3図及び第4図は本発明の他の実施例を示
す回路図、第5図、第6図は第1図の回路の使用
例を示す回路図である。 1,3……エンハンスメント型MOSトランジ
スタ、2,4,3′……デプレツシヨン型MOSト
ランジスタ、a,b,o,b′……ノード、VP…
…信号または電源電圧、VC……通常電源電圧、
VS……アース電圧、A,B,C……制御信号。
Claims (1)
- 1 一端が第1の電位供給端に接続される駆動用
の第1のMOSトランジスタと、このトランジス
タの他端に一端が接続される負荷用の第2の
MOSトランジスタと、このトランジスタの他端
に一端が接続され他端が信号ライン兼電源ライン
に接続されゲートが前記信号ライン兼電源ライン
に接続される第3のMOSトランジスタと、一端
が前記第2のMOSトランジスタの他端に接続さ
れ他端が第2の電位供給端に接続される第4の
MOSトランジスタと、前記信号ライン兼電源ラ
インを、信号ラインとして用いる場合は前記第3
のMOSトランジスタの一端を、前記第4のMOS
トランジスタを介して前記第2の電位近辺に設定
することにより前記第3のMOSトランジスタを
オフ状態にする手段と、前記信号ライン兼電源ラ
インを電源ラインとして用いる場合は前記第4の
MOSトランジスタをオフ状態に設定する手段と
を具備することを特徴としたMOSトランジスタ
回路。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2320479A JPS55115729A (en) | 1979-02-28 | 1979-02-28 | Mos transistor circuit |
US06/124,772 US4365316A (en) | 1979-02-28 | 1980-02-26 | Multifunction terminal circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2320479A JPS55115729A (en) | 1979-02-28 | 1979-02-28 | Mos transistor circuit |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59076241A Division JPS605628A (ja) | 1984-04-16 | 1984-04-16 | Mosトランジスタ回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS55115729A JPS55115729A (en) | 1980-09-05 |
JPS631778B2 true JPS631778B2 (ja) | 1988-01-14 |
Family
ID=12104129
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2320479A Granted JPS55115729A (en) | 1979-02-28 | 1979-02-28 | Mos transistor circuit |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4365316A (ja) |
JP (1) | JPS55115729A (ja) |
Families Citing this family (37)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5820033A (ja) * | 1981-07-29 | 1983-02-05 | Toshiba Corp | 半導体集積回路 |
JPS57167671A (en) * | 1981-04-08 | 1982-10-15 | Hitachi Ltd | Semiconductor integrated circuit |
US4445051A (en) * | 1981-06-26 | 1984-04-24 | Burroughs Corporation | Field effect current mode logic gate |
JPS589433A (ja) * | 1981-07-08 | 1983-01-19 | Toshiba Corp | 半導体集積回路 |
JPS5832297A (ja) * | 1981-08-20 | 1983-02-25 | Sony Corp | 不揮発性メモリの制御回路 |
US4422163A (en) * | 1981-09-03 | 1983-12-20 | Vend-A-Copy, Inc. | Power down circuit for data protection in a microprocessor-based system |
JPS58151124A (ja) * | 1982-03-04 | 1983-09-08 | Ricoh Co Ltd | レベル変換回路 |
US4501978A (en) * | 1982-11-24 | 1985-02-26 | Rca Corporation | Level shift interface circuit |
US4585955B1 (en) * | 1982-12-15 | 2000-11-21 | Tokyo Shibaura Electric Co | Internally regulated power voltage circuit for mis semiconductor integrated circuit |
KR890004212B1 (en) * | 1983-07-08 | 1989-10-27 | Fujitsu Ltd | Complementary logic circuit |
US4523110A (en) * | 1983-09-30 | 1985-06-11 | Mostek Corporation | MOSFET sense amplifier circuit |
US4591738A (en) * | 1983-10-27 | 1986-05-27 | International Business Machines Corporation | Charge pumping circuit |
JPS60141011A (ja) * | 1983-12-28 | 1985-07-26 | Nec Corp | コレクタ飽和抑制回路 |
US4584491A (en) * | 1984-01-12 | 1986-04-22 | Motorola, Inc. | TTL to CMOS input buffer circuit for minimizing power consumption |
NL8400225A (nl) * | 1984-01-25 | 1985-08-16 | Philips Nv | Schakeling voor het opwekken van de programmeerspanning van een uitwisbaar leesgeheugen. |
JPS6161295A (ja) * | 1984-08-31 | 1986-03-29 | Fujitsu Ltd | 半導体記憶装置 |
FR2607338A1 (fr) * | 1986-11-21 | 1988-05-27 | Eurotechnique Sa | Circuit de commutation de tension en technologie mos |
US4728827A (en) * | 1986-12-03 | 1988-03-01 | Advanced Micro Devices, Inc. | Static PLA or ROM circuit with self-generated precharge |
JPH0693613B2 (ja) * | 1987-01-16 | 1994-11-16 | 三菱電機株式会社 | Misトランジスタ回路 |
JPH0632230B2 (ja) * | 1987-03-31 | 1994-04-27 | 株式会社東芝 | 半導体不揮発性記憶装置 |
JPS63168508U (ja) * | 1987-04-22 | 1988-11-02 | ||
JPH0766675B2 (ja) * | 1987-07-14 | 1995-07-19 | 株式会社東芝 | プログラマブルrom |
DE3888294T2 (de) * | 1987-11-25 | 1994-06-23 | Nippon Electric Co | Eingangsschaltung, die in eine Halbleiteranlage eingegliedert ist. |
FR2632110B1 (fr) * | 1988-05-27 | 1990-10-12 | Bendix Electronics Sa | Procede et dispositif de programmation d'une memoire du type prom et memoire en faisant application |
DE68905240T2 (de) * | 1988-06-01 | 1993-07-15 | Nippon Electric Co | Halbleiterspeichereinrichtung mit hochgeschwindigkeits-lesevorrichtung. |
US4896059A (en) * | 1988-07-26 | 1990-01-23 | Microelectronics Center Of North Carolina | Circuit to perform variable threshold logic |
GB2226727B (en) * | 1988-10-15 | 1993-09-08 | Sony Corp | Address decoder circuits for non-volatile memories |
US5208488A (en) * | 1989-03-03 | 1993-05-04 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Potential detecting circuit |
JP2862591B2 (ja) * | 1989-09-29 | 1999-03-03 | 株式会社東芝 | 突入電流防止回路 |
JPH0442493A (ja) * | 1990-06-07 | 1992-02-13 | Fujitsu Ltd | 半導体記憶装置 |
TW231343B (ja) | 1992-03-17 | 1994-10-01 | Hitachi Seisakusyo Kk | |
EP0661713B1 (en) * | 1993-12-31 | 1999-06-09 | STMicroelectronics S.r.l. | Circuit for detecting a drop of a supply voltage |
DE19808525A1 (de) * | 1998-02-27 | 1999-09-02 | Siemens Ag | Integrierte Schaltung |
EP1071211B1 (en) * | 1999-07-21 | 2006-09-13 | STMicroelectronics S.r.l. | Threshold voltage reduction of transistor shaped like a diode |
US7823279B2 (en) * | 2002-04-01 | 2010-11-02 | Intel Corporation | Method for using an in package power supply to supply power to an integrated circuit and to a component |
AU2003268647A1 (en) * | 2003-09-18 | 2005-04-11 | Hitachi Car Engineering Co., Ltd. | Backup circuit |
US9455697B2 (en) * | 2012-09-28 | 2016-09-27 | Infineon Technologies Austria Ag | Switch circuit with a first transistor device and a second transistor device connected in series |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5240903A (en) * | 1975-09-26 | 1977-03-30 | Sharp Corp | Voice compound equipment |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3832574A (en) * | 1972-12-29 | 1974-08-27 | Ibm | Fast insulated gate field effect transistor circuit using multiple threshold technology |
US4179628A (en) * | 1977-05-13 | 1979-12-18 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Flip-flop having reset preferential function |
JPS544608U (ja) * | 1977-06-10 | 1979-01-12 | ||
US4159541A (en) * | 1977-07-01 | 1979-06-26 | Ncr Corporation | Minimum pin memory device |
US4148099A (en) * | 1978-04-11 | 1979-04-03 | Ncr Corporation | Memory device having a minimum number of pins |
-
1979
- 1979-02-28 JP JP2320479A patent/JPS55115729A/ja active Granted
-
1980
- 1980-02-26 US US06/124,772 patent/US4365316A/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5240903A (en) * | 1975-09-26 | 1977-03-30 | Sharp Corp | Voice compound equipment |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS55115729A (en) | 1980-09-05 |
US4365316A (en) | 1982-12-21 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPS631778B2 (ja) | ||
JP2723278B2 (ja) | ハイキャパシタンス線プログラミング用デコーダ・ドライバ回路 | |
JPS61104394A (ja) | 半導体記憶装置 | |
KR900001774B1 (ko) | 바이어스 전압 발생기를 포함하는 반도체 메모리 회로 | |
US4267465A (en) | Circuit for recharging the output nodes of field effect transistor circuits | |
JPH0766675B2 (ja) | プログラマブルrom | |
JP2527050B2 (ja) | 半導体メモリ用センスアンプ回路 | |
JPS5953637B2 (ja) | 記憶回路 | |
JPS63227107A (ja) | メモリ用読み出し増幅器 | |
JPS61284896A (ja) | 不揮発性プログラマブル・スタチツク・メモリ・セル | |
JPS6028074B2 (ja) | スタテイツク型misメモリ | |
JPS6177197A (ja) | 半導体集積回路 | |
JPS6129496A (ja) | 半導体記憶装置 | |
JPH0354903B2 (ja) | ||
JPH0311127B2 (ja) | ||
JPS6321998B2 (ja) | ||
JPS6235191B2 (ja) | ||
JPS63313397A (ja) | 記憶装置のセンスアンプ回路装置 | |
JPS6050697A (ja) | 半導体集積回路 | |
JPS61270921A (ja) | デコ−ダ回路 | |
JP2509023B2 (ja) | デコ―ダ回路 | |
JPS5851358B2 (ja) | 半導体集積回路装置 | |
JPH0682808B2 (ja) | Mos型半導体集積回路装置 | |
JPH03132997A (ja) | 不揮発性メモリ | |
JPH0313676B2 (ja) |