JPS63174375A - 半導体式触覚センサ - Google Patents

半導体式触覚センサ

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JPS63174375A
JPS63174375A JP62005104A JP510487A JPS63174375A JP S63174375 A JPS63174375 A JP S63174375A JP 62005104 A JP62005104 A JP 62005104A JP 510487 A JP510487 A JP 510487A JP S63174375 A JPS63174375 A JP S63174375A
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JP
Japan
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pressure
sensitive
output
substrate
parts
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JP62005104A
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Hirokazu Hirano
宏和 平野
Bunshirou Yamaki
八巻 文史朗
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は、工業用ロゲット等に使用される半導体式触覚
センサに係υ、特に拡散抵抗を用いた感圧部がマトリク
ス状に配設されている感圧半導体基板に関する。
(従・来の技術) この稽の従来の半導体式触覚センサは第9図(a) 、
 (b)に示すように構成されていた。即ち、半導体基
板91の一方の表面に拡散抵抗Rがブリッジ接続されて
なる感圧部92・・・がマトリクス状に配設され、他方
の表面における上記感圧部92・・・に対向する部分は
薄肉となってダイヤフラム93、・・・が形成されてい
る。そして、上記感圧部92・・・に入力電圧を加えた
シ、各出力を基板端部に引き出すために上記半導体基板
(感圧基板)91上に/4ターン配線が形成されている
。そして、出力用ノ4ターン配線から出力を基板外部へ
引き出すために、たとえばボンデ4ングワイヤ(図示せ
ず)が接続されており、基板外部で感圧部出力の処理、
感圧部マトリクスの出力選択処理等を行なって荷重分布
等を測定することが可能になっている。
ところで、従来、各感圧部92・・・毎の入カバターン
配線94、出力用パターン配線95としてそれぞれ2本
形成する必要がある。この場合、入カバターン配線はマ
トリクスの同一列内で共用しているが、出カバターン配
線はそれぞれ別々に引き出している。従って、n行×n
列のマトリクスの場合、出力配線は2n2となり、nを
大きくするにつれて出力配線数が多((n=8の場合、
128本)なる。これによって、感圧基板91上の配線
部の面積が大きくなり、感圧部92を高密度に集積化す
ることができず、特に出力・やターン配線94の引き回
しが複雑になり、パターン配線の信頼性が低下する等の
問題があった。
(発明が解決しようとする問題点) 本発明は、上記したように感圧部マトリクスの出カバタ
ーン配線数が多くなり、その配線部の面積゛が大きくな
ると共に配線パターンが複雑になるという問題点を解決
すべくなされたもので、上記出カバターン配線数を減少
することができ、感圧部の高密度の集積化を可能とし、
出カッ4ターン配線の引き回しを少なくして、そのノ々
ターン配線の信頼性の向上を図り得る半導体式触覚セン
サを提供することを目的とする。
[発明の構成] (問題点を解決するための手段) 本発明の半導体式触覚センサは、半導体基板の一方の表
面に拡散抵抗を用いた感圧部をマトリクス状に形成し、
他方の表面の上記感圧部に対向する部分を薄肉状に形成
し、上記各感圧部の周囲の厚肉部に感圧出力をスイッチ
制御して取シ出すための電界効果トランジスタを形成し
てなることを特徴とする。
(作用) 各感圧部の出力をマトリクスの各行単位であるいは個別
に取り出すことが可能になるので、感圧基板上の出力用
パターン配線が少なくて済み、パターン配線の信頼性が
向上すると共に感圧部の高集積イビが可能になる。
(実施例) 以下、図面を参照して本発明の一実施例を詳細に説明す
る。
第1図(a) 、 (b)は半導体式触覚センサの感圧
半導体基板1を示している。即ち、半導体基板1の一方
の表面にn行×n列のマ) IJクス状に感圧部2・・
・が形成されてお9、他方の表面における上記感圧部2
・・・に対向する部分が薄肉となってダイヤフラム部3
・・・が形成されており、上記各感圧部2・・・に接続
される入力用、出力用のパターン配線が形成されている
。上記感圧部2・・・は、第2図(a) 、 (b)に
示すように薄肉部に4個の拡散抵抗Rが形成されている
。そして、上記薄肉部の周囲の厚肉部に上記拡散抵抗R
をプリツノ回路となるように接続するためのパターン配
線4と、このブリッ・ゾ回路に入力電極vinを与える
ためにマ) IJクスの列方向に形成された入力用の2
本のパターン配線5(1本は感圧基板外で接地される)
と、上記ブリッジ回路の2個の出力端に各対応して一端
が接続される出力選択用の2個のMOS FET (絶
縁ff−)型電界効果トランジスタ)6と、この2個の
MOSトランジスタ6の各r−トに共通接続され、マト
リクスの列方向に形成された出力スイッチ制御用の1本
のパターン配線7と、上記2個のMOSトランジスタ6
の各他端に対応して接続され、マ) IJクスの行方向
に形成されたブリッジ回路出力用の2本のパターン配線
8とが形成されている。この場合、前記2本の入力用パ
ターン配線5および1本のスイッチ制御用パターン配線
7はマトリクスの同一列内で共用されており、前記2本
の出力用パターン配線8はマトリクスの同一行内で共用
されている。なお、各感圧部2・・・におけるブリッジ
回路と2個のMOS )ランシスタロとのパターンレイ
アウトの一例を第3図に示しており、各感圧部2・・・
の回路における入力電圧Vln、出力信号■。utの関
係を第4図に示している。
第5図および第6図は、それぞれ上記感圧基板1を用い
た触覚センサを示している。即ち、第5図は、感圧基板
1の裏面の凹部(ダイヤフラム部)に操作部材50が突
入する状態となるように裏面全面を弾性材(たとえばゴ
ム)5ノにより被覆したものである。また、第6図は、
感圧基板1の表面(拡散抵抗形成面)全面を弾性材(た
とえばゴム)61により被覆したものである。
上記触覚センサにおいては、外圧が弾性材51あるいは
61を介して感圧基板1の薄肉部(ダイヤフラム部3)
に加えられると、拡散抵抗Rの抵抗値が変化し、ブリッ
ジ回路の出力電圧が変化する。従って、マトリクスの各
列順にプリツノ回路出力を取シ出すようにスイッチ制御
し、各行の出力信号を感圧基板外部回路(センサ外部回
路)で選択することによって、各感圧部2・・・の出力
を選択的に得ることが可能になり、この出力を処理する
ことによって感圧基板1に加えられた力の分布荷重着等
を測定することが可能になる。即ち、マトリクスのたと
えば第4列のスイッチ制御信号をアクティブにして、マ
トリクスの各行における第4列のMOS )ランジスタ
ロをオンしたときには各行の出力信号には第4列の感圧
部2の出力が取り出されるようにな9、この各行の出力
信号がセンサ外部回路で選択されるようになる。
なお、前記MoSトランジスタ6は感圧基板1の厚肉部
に形成されているので、感圧基板1に加えられた力によ
って特性が変化するおそれはない。
もし、MOSトランジスタ6を薄肉部に設けると、基板
の歪の影響で特性が変化するおそれがある。
上記触覚センサによれば、感圧部マドIJクスの行1列
数がたとえば8×8の場合、従来例に比べて、入力用、
eターン配線数5は同じ(16本)であシ、スイッチ制
御用パターン配線7が8本増えるけれども、出力用パタ
ーン配線8が128本から16本に減るので、全体とし
てパターン配線数が大幅に(本例では104本)減る。
従って、感圧基板上の配線部の面積が小さくなり、感圧
部2・・・を高密度に集積化することが可能になり、特
に出カバターン配線8の引き回しを簡素化でき、・ぞタ
ーン配線の断線などの発生率が減少し、パターン配線の
信頼性が向上するようになる。
第7図(a) 、 (b)は他の実施例の触覚センサに
おける感圧基板71を示してかシ、第1図(a) 、 
(b)を参照して前述した感圧基板1に比べて、各感圧
部72・・・の薄肉部の周囲の厚肉部において2本の入
力用パターン配線5とブリッジ回路の2個の入力端との
間に接続される入力選択用の2個のMOS FET73
が形成され、感圧部マ) IJクスの各行の2本の出力
用ノ々ターン配線8の各対応する1本づつの配線が共通
に接続されており、感圧部マ) IJクスにおける同一
行の上記入力選択用MOSトラン・シスタフ3を共通に
スイッチ制御するだめの入力スイッチ制御用のパターン
配線74が各行毎に形成されている点が異なシ、その他
の部分は同一であるので第1図(a) 、 (b)中と
同一符号を付している。なお、各感圧部72・・・にお
けるブリッジ回路と4個のMOSトランジスタ(入力用
2個、出力用2個)とのパターンレイアウトの一例を第
8図に示している。
上記感圧基板71においては、各感圧部72・・・に対
して出力信号のスイッチ制御のみならず入力電圧のスイ
ッチ制御も可能であり、この両方のスイッチ制御によっ
て1つの感圧部72からの出力信号のみ感圧基板71か
ら取シ出すことが可能になる。これによって、感圧基板
7ノの出力用パターン配線8を2本に減らすことが可能
になると共に、さらにセンサ外部へ出力させるために上
記パターン配線にワイヤーボンディングを行うためのポ
ンディングパッドの個数を減らすことが可能になる。
[発明の効果] 上述したように本発明の半導体式触覚センサによれば、
感圧基板上の出カバターン配線を減らすことができ、パ
ターン配線の信頼性を向上させることができ、感圧部の
高集積化が可能になり、解像度の高い測定(分布荷重夜
等)が可能になる。
触覚センサにおいて、解像度の高い分布荷重信号を得る
ことは測定物からの力やモーメントのベクトルを高精度
で検出することが可能となり、ロボット等の触覚センサ
を使用する制御系においてきめ細かな制御を行うことが
できる。
【図面の簡単な説明】
第1図(a)は本発明の半導体式触覚センサの−実施例
における感圧半導体基板を概略的に示す平面図、第1図
(b)は同図(、)中の感圧部のダイヤスラム構造を示
す断面図、第2図(&)は第1図(a)中の感圧部(0
印部)を取シ出してパターン構成を示す平面図、第2図
(b)は同図(、)のB−B線に沿う断面図、第3図は
第1図(&)中の感圧部を取シ出して示す回路図、第4
図は第1図(、)中の感圧部における入力電圧Vlnと
出力信号V。utとの関係を示す回路図、第5図および
第6図は第1図(a) 、 (b)の感圧半導体基板を
有する触覚センサの相異なる例を示す断面図、第7図(
a)は本発明の他の実施例における感圧半導体基板を概
略的に示す平面図、第7図(b)は同図(a)中のダイ
ヤプラム構造を示す断面図、第8図は第7図(、)中の
感圧部(0印部)を取り出して示す回路図、第9図(a
)は従来の半導体式触覚センサにおける感圧基板を示す
平面図、第9図(b)は同図(a)中のダイヤフラム構
造を示す断面図である。 1.71・・・感圧半導体基板、2,72・・・感圧部
、3・・・ダイヤフラム部、5・・・入力用パターン配
線、6.73・・・電界効果トランジスタ、7・・・入
力スイッチ制御用パターン配線、8・・・出力用パター
ン配線、74・・・出力スイッチ制御用パターン配線。 出願人代理人  弁理士 鈴 江 武 彦(a) (b) 第1図 (a) (b) 第2図 纂 3 因 第4図 カ ↓ 力 第5図   第6図 (a) (b) 第7図 第8図 (a) (b) 纂9図 手続補正書 昭和  歪2゛鳩23日 特許庁長官  黒 1)明 雄 殿 1、事件の表示 特願昭62−5104号 2、発明の名称 半導体式触覚センサ 3、補正をする者 事件との関係  特許出願人 (307)  株式会社 東芝 4、代理人 東京都千代田区霞が関3丁目7番2号 UBEビル特許
請求の範囲を別紙の通り訂正する 2、特許請求の範囲 (1)一方の表面に拡散抵抗を用いた感圧部がマトリク
ス状に形成され、他方の表面の上記感圧部に対向する部
分が薄肉状に形成された感圧半導体基板を有する半導体
式触覚センサにおいて、上記基板の各感圧部の周囲の厚
肉部に感圧出力をスイッチ制御して取り出すための電界
効果トランジスタが形成されてなることを特徴とする半
導体式触覚センサ。 (2)上記基板の各感圧部の周囲の厚肉部に感圧部入力
電圧をスイッチ制御して与えるための電界効果トランジ
スタがさらに形成されて菖ることを特徴とする特許 導体式触覚センサ。 (3)前記基板の一方の表面側あるいは他方の表面側が
弾性材により被覆されており、この弾性材を介して外部
から加えられる力を感じることを特徴とする前記特許請
求の範囲第1項または第2項に記載の半導体式触覚セン
サ。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)一方の表面に拡散抵抗を用いた感圧部がマトリク
    ス状に形成され、他方の表面の上記感圧部に対向する部
    分が薄肉状に形成された感圧半導体基板を有する半導体
    式触覚センサにおいて、上記基板の各感圧部の周囲の厚
    肉部に感圧出力をスイッチ制御して取り出すための電界
    効果トランジスタが形成されてなることを特徴とする半
    導体式触覚センサ。
  2. (2)上記基板の各感圧部の周囲の厚肉部に感圧部入力
    電圧をスイッチ制御して与えるための電界効果トランジ
    スタがさらに形成されてなることを特徴とする半導体式
    触覚センサ。
  3. (3)前記基板の一方の表面側あるいは他方の表面側が
    弾性材により被覆されており、この弾性材を介して外部
    から加えられる力を感じることを特徴とする前記特許請
    求の範囲第1項または第2項に記載の半導体式触覚セン
    サ。
JP62005104A 1987-01-14 1987-01-14 半導体式触覚センサ Expired - Fee Related JPH071795B2 (ja)

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JP62005104A JPH071795B2 (ja) 1987-01-14 1987-01-14 半導体式触覚センサ

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8175821B2 (en) 2006-09-12 2012-05-08 The University Of Tokyo Method for measuring physical quantity distribution and measurement system using sensor for physical quantity distribution

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59106063A (ja) * 1982-12-03 1984-06-19 インタ−ナショナル ビジネス マシ−ンズ コ−ポレ−ション フアイル更新方法

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59106063A (ja) * 1982-12-03 1984-06-19 インタ−ナショナル ビジネス マシ−ンズ コ−ポレ−ション フアイル更新方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8175821B2 (en) 2006-09-12 2012-05-08 The University Of Tokyo Method for measuring physical quantity distribution and measurement system using sensor for physical quantity distribution

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JPH071795B2 (ja) 1995-01-11

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