JPS63168897A - ダイナミツクラム - Google Patents
ダイナミツクラムInfo
- Publication number
- JPS63168897A JPS63168897A JP62000842A JP84287A JPS63168897A JP S63168897 A JPS63168897 A JP S63168897A JP 62000842 A JP62000842 A JP 62000842A JP 84287 A JP84287 A JP 84287A JP S63168897 A JPS63168897 A JP S63168897A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- circuit
- voltage
- address buffer
- address
- Prior art date
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- Pending
Links
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 5
- 239000000872 buffer Substances 0.000 abstract description 21
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Logic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野〕
この発明は、外部アドレス信号のローレベルの電圧を零
ボルトに変換するダイナミックラムに関するものである
。
ボルトに変換するダイナミックラムに関するものである
。
第4図は従来のダイナミックラム(DRAM:dyna
IIic randam access +nea+o
ry) 、例えばnMOs DRAM(n−chann
el met、al oxide 5ilicon D
RAM)の要部を示す。IAにおいて、lはアドレスバ
ッファで、図には、人力初段のnMOs FFXT(n
MOs field−effectLransisiL
or) 10と、電位保持用キャパシタ11とか示され
ている。このアドレスバッファ1から11いに逆相の内
部アドレス信号Ai、A了か出力される。2はリフレッ
シュカウンタで、図には、nMOs FF、T20.2
1よりなる出力段インバータが示されている。3は口M
O5FETのゲートで、信号φ1により0N10FI’
制御され、外部アトレスイr;号Aeが後述する切り換
え回路4に伝達ざハる。前記切り換え回路4は、nM(
IS FET40.41により構成され、口MO5FE
T40はイ、シヴ11により、nMOs FET41は
信号φ2により0N701iF制御され、イ、を号$2
”がハイレベル(H)で、411号φ2かローレベル(
L)のとき、前記ゲート3からの外部アドレス信号Ae
が、一方、信号φ=ヲがして、イ言号φ2がHのとき、
リフレッシュカウンタ2からの出力信号が前記アドレス
バッファ1に伝達される。
IIic randam access +nea+o
ry) 、例えばnMOs DRAM(n−chann
el met、al oxide 5ilicon D
RAM)の要部を示す。IAにおいて、lはアドレスバ
ッファで、図には、人力初段のnMOs FFXT(n
MOs field−effectLransisiL
or) 10と、電位保持用キャパシタ11とか示され
ている。このアドレスバッファ1から11いに逆相の内
部アドレス信号Ai、A了か出力される。2はリフレッ
シュカウンタで、図には、nMOs FF、T20.2
1よりなる出力段インバータが示されている。3は口M
O5FETのゲートで、信号φ1により0N10FI’
制御され、外部アトレスイr;号Aeが後述する切り換
え回路4に伝達ざハる。前記切り換え回路4は、nM(
IS FET40.41により構成され、口MO5FE
T40はイ、シヴ11により、nMOs FET41は
信号φ2により0N701iF制御され、イ、を号$2
”がハイレベル(H)で、411号φ2かローレベル(
L)のとき、前記ゲート3からの外部アドレス信号Ae
が、一方、信号φ=ヲがして、イ言号φ2がHのとき、
リフレッシュカウンタ2からの出力信号が前記アドレス
バッファ1に伝達される。
次に、動作を説明する。
時刻t1では、第5図(a)〜(C)にlバ丁ように、
信号φ1がH1信号φ2がし、Gi号iゴがHであるか
ら、外部アドレス(i; ′1S−A eは、ケート3
、切り換え回路4を介してアドレスバ・ノファ!に伝達
される。このとき、外部アドレス信号Acの電圧な0ボ
ルトと1−ると、アドレスバッファ1の入力端の電圧V
は0ボルトである(第5図(d)参照)。
信号φ1がH1信号φ2がし、Gi号iゴがHであるか
ら、外部アドレス(i; ′1S−A eは、ケート3
、切り換え回路4を介してアドレスバ・ノファ!に伝達
される。このとき、外部アドレス信号Acの電圧な0ボ
ルトと1−ると、アドレスバッファ1の入力端の電圧V
は0ボルトである(第5図(d)参照)。
この状態から、時all t 2で、(、;号φ2がH
、イ;;号T1かしになると、切り換え回路4により外
部アドレス信号−Aeが遮断され、リフレッシュカウン
タ2からの出力15号が1ノリ換え回路4を介してアド
レスバッファlに伝達される。このとき、リフレッシュ
カウンタ2からの出力信号のレベルがHであると、アド
レスバッファ1の入力端の電圧Vは、第5図(d)に示
すように、[昇を開始する。
、イ;;号T1かしになると、切り換え回路4により外
部アドレス信号−Aeが遮断され、リフレッシュカウン
タ2からの出力15号が1ノリ換え回路4を介してアド
レスバッファlに伝達される。このとき、リフレッシュ
カウンタ2からの出力信号のレベルがHであると、アド
レスバッファ1の入力端の電圧Vは、第5図(d)に示
すように、[昇を開始する。
そして、前記アドレスバッファ1が動作を開始する時i
ll t 3で、アドレスバッファ1の入力端の電)E
Vは、V = Vcc vT11ニなる(第5図(
d)参照)。この7ti圧値はHである。ただし、Vc
cは電源電圧、VT、、はnMOs FET20.41
のスレッシホールトを合計した偵である。
ll t 3で、アドレスバッファ1の入力端の電)E
Vは、V = Vcc vT11ニなる(第5図(
d)参照)。この7ti圧値はHである。ただし、Vc
cは電源電圧、VT、、はnMOs FET20.41
のスレッシホールトを合計した偵である。
この実施例の011八Mは、F記のように構成したから
、外部アトレス411号ACのしが保証される最低電月
−が例えば−2ボルトであるとすると、時1llt3で
は、前記アドレスバッファlの入力端の電J1.■は、
Hを保9.1できる′1「圧であ7.J V CC−V
r++ニ刊達しないく第5図(d)参照)。ところが
、時%1lt3でアドレスバッファlか動作を開始する
から、リフレッシュカウンタ2からの出力信号が内部回
路に正確に伝達されないことになり、リフレッシュカウ
ンタ2の出力イハ号により行なうリフレッシュ、例えば
、正Its before RASリフレ・・シュが適
11−1に行なわれないという問題点があった。
、外部アトレス411号ACのしが保証される最低電月
−が例えば−2ボルトであるとすると、時1llt3で
は、前記アドレスバッファlの入力端の電J1.■は、
Hを保9.1できる′1「圧であ7.J V CC−V
r++ニ刊達しないく第5図(d)参照)。ところが
、時%1lt3でアドレスバッファlか動作を開始する
から、リフレッシュカウンタ2からの出力信号が内部回
路に正確に伝達されないことになり、リフレッシュカウ
ンタ2の出力イハ号により行なうリフレッシュ、例えば
、正Its before RASリフレ・・シュが適
11−1に行なわれないという問題点があった。
この発明はL記のような問題点を解決するためになされ
たもので、リフレッシュカウンタ2の出カイ1:号によ
り行なうリフレッシュを’43 +Fに行なうDII八
Mへ得ることを目的とする。
たもので、リフレッシュカウンタ2の出カイ1:号によ
り行なうリフレッシュを’43 +Fに行なうDII八
Mへ得ることを目的とする。
この発明に係るDRAMは、外部アドレス115号のロ
ーレベルの電圧を零ボルトに変換′1−るローレベル変
換手段を設けたものである。
ーレベルの電圧を零ボルトに変換′1−るローレベル変
換手段を設けたものである。
r作用〕
この発明におけるDRAMは、ローレベル変換手段によ
り外部アドレス信号のローレベルの電圧を零ボルトに1
1%するから、外部アドレス信号のローレベルは掌に零
ボルトになり、リフレッシュカウンタの出力信号により
?tなうリフレッシュが適正に行なわれる。
り外部アドレス信号のローレベルの電圧を零ボルトに1
1%するから、外部アドレス信号のローレベルは掌に零
ボルトになり、リフレッシュカウンタの出力信号により
?tなうリフレッシュが適正に行なわれる。
(発明の実施例)
第1図はこの発明の一実施例を示す。図において、!、
2.4は第4図と同一部分を示し、Ac、Ai、−人]
−1φ2、t]は第4図と同一信号を示す。5はローレ
ベル変換[段としてのローレベル変換手段で、nMOs
F!:T51.52.53により構成され、nMOs
FET51には前記外部アドレス信号Acか、nMO
s FET53には仁七号φ3が人力ざわ、外部アドレ
ス信号AcのLの電Iトを゛零ボルトに変換している。
2.4は第4図と同一部分を示し、Ac、Ai、−人]
−1φ2、t]は第4図と同一信号を示す。5はローレ
ベル変換[段としてのローレベル変換手段で、nMOs
F!:T51.52.53により構成され、nMOs
FET51には前記外部アドレス信号Acか、nMO
s FET53には仁七号φ3が人力ざわ、外部アドレ
ス信号AcのLの電Iトを゛零ボルトに変換している。
次に、動作を説明する。
時&l t iでシま、第2図(a)〜(c)に示すよ
うに、111号φ3 M Hlf、<号φ2かし、イバ
号1がHであるから、外部アドレス(+’E ”’i
A eは、ローレヘル変Feb回路5、切り換え回路4
を介してアドレスバッファlに伝達される。このとき、
外部アトレスイ、τ号A Cの電圧がLの保証電圧、例
えば、−2ホルトであると、アドレスバッファ1の入力
端の電圧Vは0ボルトになる(第2図(d)参照)。
うに、111号φ3 M Hlf、<号φ2かし、イバ
号1がHであるから、外部アドレス(+’E ”’i
A eは、ローレヘル変Feb回路5、切り換え回路4
を介してアドレスバッファlに伝達される。このとき、
外部アトレスイ、τ号A Cの電圧がLの保証電圧、例
えば、−2ホルトであると、アドレスバッファ1の入力
端の電圧Vは0ボルトになる(第2図(d)参照)。
この状態から、時刻t2で、信号φ3がLになるともに
、信号φ2がH1信号1がしになると、切り換え回路4
により外部アドレス信号Aeか遮断され、リフレッシュ
カウンタ2からの出カイ、−号が切り換え回路4を介し
てアドレスバッファ1に伝達される。このとき、リフレ
ッシュカウンタ2からの出力信号のレベルがHであると
、アドレスバッファlの入力端の電圧Vは、第2図(d
)に、バすように、Lシとを開始する。そして、前記ア
ドレスバッファ1か動作を開始する時!!ill t
3で、アドレスバッファ1の入力端の電圧VはV=Vc
r。
、信号φ2がH1信号1がしになると、切り換え回路4
により外部アドレス信号Aeか遮断され、リフレッシュ
カウンタ2からの出カイ、−号が切り換え回路4を介し
てアドレスバッファ1に伝達される。このとき、リフレ
ッシュカウンタ2からの出力信号のレベルがHであると
、アドレスバッファlの入力端の電圧Vは、第2図(d
)に、バすように、Lシとを開始する。そして、前記ア
ドレスバッファ1か動作を開始する時!!ill t
3で、アドレスバッファ1の入力端の電圧VはV=Vc
r。
になる(第2図(d)参!;q)。この電圧値はHであ
る。
る。
第3図は他の実施例を示す。
これは、面記実電例との比較で言えば、nMO5FIi
Tに替えて[:MOS FETを用いた例である。従)
て、作用効果は前記実施例と本?τ的に同一である。
Tに替えて[:MOS FETを用いた例である。従)
て、作用効果は前記実施例と本?τ的に同一である。
以にのようにこの発明によれば、外部アドレス信号のロ
ーレベルの電圧を零ボルトに変換する構成にしたので、
外部アドレス信号のローレベルは−・9に零ボルトにな
り、リフレッシュカウンタの出カイ、:号により行なう
リフレッシュを適正に行なうことかできるという効果が
ある。
ーレベルの電圧を零ボルトに変換する構成にしたので、
外部アドレス信号のローレベルは−・9に零ボルトにな
り、リフレッシュカウンタの出カイ、:号により行なう
リフレッシュを適正に行なうことかできるという効果が
ある。
第1図はこの発明の一実施例の要部をnMO5で構成し
た回路図である。第2図(a)〜(d)はそれぞれ第1
図に示す各部の波形図で、第2図(a)は信号φ3を、
第2図(b)はイ、1号φ2を、第2図(c)はイ、;
号11を、第2図(d)はアドレスバッファ1の入力端
電圧を示す波形図である。第3図は第1図に示すDRA
MをにMO5で構成した例を示す回路図、第4図は従来
のnMO5DR八−を示す回路図である。 755図(a)〜(d)はそれぞれ第4図に示1−各部
の波形図て、第5図(a)はイ、:号φ1を、第5図(
b)は信号φ2を、第5図(C)はfに1号1を、第5
図(d)はアドレスバッファ!の入力端′市川を示す波
形図である。 図において、5はローレベル変換回路、Aeは外部アド
レス信号である。 なお、図中、同一符号は同−一または相当部分を小す・
た回路図である。第2図(a)〜(d)はそれぞれ第1
図に示す各部の波形図で、第2図(a)は信号φ3を、
第2図(b)はイ、1号φ2を、第2図(c)はイ、;
号11を、第2図(d)はアドレスバッファ1の入力端
電圧を示す波形図である。第3図は第1図に示すDRA
MをにMO5で構成した例を示す回路図、第4図は従来
のnMO5DR八−を示す回路図である。 755図(a)〜(d)はそれぞれ第4図に示1−各部
の波形図て、第5図(a)はイ、:号φ1を、第5図(
b)は信号φ2を、第5図(C)はfに1号1を、第5
図(d)はアドレスバッファ!の入力端′市川を示す波
形図である。 図において、5はローレベル変換回路、Aeは外部アド
レス信号である。 なお、図中、同一符号は同−一または相当部分を小す・
Claims (1)
- 外部アドレス信号のローレベルの電圧を零ボルトに変換
するローレベル変換手段を備えたことを特徴とするダイ
ナミックラム。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62000842A JPS63168897A (ja) | 1987-01-06 | 1987-01-06 | ダイナミツクラム |
US07/141,076 US4870620A (en) | 1987-01-06 | 1988-01-05 | Dynamic random access memory device with internal refresh |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62000842A JPS63168897A (ja) | 1987-01-06 | 1987-01-06 | ダイナミツクラム |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63168897A true JPS63168897A (ja) | 1988-07-12 |
Family
ID=11484873
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62000842A Pending JPS63168897A (ja) | 1987-01-06 | 1987-01-06 | ダイナミツクラム |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63168897A (ja) |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS51142925A (en) * | 1975-06-04 | 1976-12-08 | Hitachi Ltd | Address buffer circuit |
JPS60151893A (ja) * | 1984-01-18 | 1985-08-09 | Nec Corp | 半導体メモリ回路 |
JPS6187297A (ja) * | 1984-09-04 | 1986-05-02 | Seiko Epson Corp | 半導体記憶装置 |
-
1987
- 1987-01-06 JP JP62000842A patent/JPS63168897A/ja active Pending
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS51142925A (en) * | 1975-06-04 | 1976-12-08 | Hitachi Ltd | Address buffer circuit |
JPS60151893A (ja) * | 1984-01-18 | 1985-08-09 | Nec Corp | 半導体メモリ回路 |
JPS6187297A (ja) * | 1984-09-04 | 1986-05-02 | Seiko Epson Corp | 半導体記憶装置 |
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