JPS63167450A - 光磁気記録媒体の製造方法 - Google Patents
光磁気記録媒体の製造方法Info
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- JPS63167450A JPS63167450A JP31011686A JP31011686A JPS63167450A JP S63167450 A JPS63167450 A JP S63167450A JP 31011686 A JP31011686 A JP 31011686A JP 31011686 A JP31011686 A JP 31011686A JP S63167450 A JPS63167450 A JP S63167450A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、光磁気記録等に好適な光磁気媒体に関する。
(従来の技術)
光メモリー素子の中でも追加記録、消去が可能な、イレ
ーザブル(Krasable ) 型メモリーは、光
磁気記録媒体が最も実用化に近い段階にいる。光磁気記
録媒体としては総合的な特性から見て、希土類、遷移金
属薄膜が最も優れているが、致命的欠陥として耐食性に
欠けるという欠点が挙げられる。
ーザブル(Krasable ) 型メモリーは、光
磁気記録媒体が最も実用化に近い段階にいる。光磁気記
録媒体としては総合的な特性から見て、希土類、遷移金
属薄膜が最も優れているが、致命的欠陥として耐食性に
欠けるという欠点が挙げられる。
すなわち、腐食に伴ない高密度記録の必要条件である保
磁力の低下や高s / N比の必要条件であるカー回転
角の減少、誤り率の増加など多くの欠陥を露呈する事と
なる。
磁力の低下や高s / N比の必要条件であるカー回転
角の減少、誤り率の増加など多くの欠陥を露呈する事と
なる。
従来、その対策としては2つの方法がとられてきた。即
ち、 (1)磁性層に添加物を添加して耐食性を向上する0 (11)保護膜を形成し耐食性を向上する。
ち、 (1)磁性層に添加物を添加して耐食性を向上する0 (11)保護膜を形成し耐食性を向上する。
本発明は上記コ方法のうち保護膜を用いる方法に注目し
なされたものである。
なされたものである。
この場合、基板側の保護膜に間しては信号品質を高める
ために光の高透過率(吸収係数が低い)、高屈折率のも
のが望まれ、さらに記録感度向上のために低熱伝導性の
ものが好ましい材料となる。保護膜としては、 Si
n、 などが知られているがこれは屈折率が極めて低
((/jc〜1.s )て、上記の条件に適合しない。
ために光の高透過率(吸収係数が低い)、高屈折率のも
のが望まれ、さらに記録感度向上のために低熱伝導性の
ものが好ましい材料となる。保護膜としては、 Si
n、 などが知られているがこれは屈折率が極めて低
((/jc〜1.s )て、上記の条件に適合しない。
次にSiOなとの酸素の欠乏したSl 酸化物が考えら
れているが、これはあるSlと0 の比よp酸素が多す
ぎれば磁性層と810層が反応し磁気光学特性を劣化さ
せ、少なすぎれば樹脂基板との密着性が下がるという欠
陥がある。
れているが、これはあるSlと0 の比よp酸素が多す
ぎれば磁性層と810層が反応し磁気光学特性を劣化さ
せ、少なすぎれば樹脂基板との密着性が下がるという欠
陥がある。
さらに、上記酸化物系以外の保護膜として、AjN 、
Si、N、をはじめとする窒化物膜は酸素を含有し
ない材質であシ、従って磁性層を酸化させることが少な
いので、良好な保護特性をもつことが明らかにされてき
た。しかしながら、窒化物は熱伝導性が極めて高く、記
録媒体へのレーザー照射時に熱の逃げの大きいこと樹脂
基板との接着性が悪く、そのために高温高湿下での剥離
が問題であった。
Si、N、をはじめとする窒化物膜は酸素を含有し
ない材質であシ、従って磁性層を酸化させることが少な
いので、良好な保護特性をもつことが明らかにされてき
た。しかしながら、窒化物は熱伝導性が極めて高く、記
録媒体へのレーザー照射時に熱の逃げの大きいこと樹脂
基板との接着性が悪く、そのために高温高湿下での剥離
が問題であった。
更に、光磁気媒体は、合成樹脂やガラス等を基板として
用い、これに磁性層を設けた構造とされているが、特に
基板をポリカーボネート樹脂やアクリル樹脂等の合成樹
脂とした場合、基板に含有されていたシ、透過してくる
微量の空気や水分等による磁性層の劣化が問題と々るの
で、保護層は磁性層や基板と親和性があシ、水分や空気
を透過せず、自身も水分や空気等によシ劣化することが
ないものであることが要求される。
用い、これに磁性層を設けた構造とされているが、特に
基板をポリカーボネート樹脂やアクリル樹脂等の合成樹
脂とした場合、基板に含有されていたシ、透過してくる
微量の空気や水分等による磁性層の劣化が問題と々るの
で、保護層は磁性層や基板と親和性があシ、水分や空気
を透過せず、自身も水分や空気等によシ劣化することが
ないものであることが要求される。
本発明は上述のような諸問題、すなわち、磁性層と外界
とを完全に遮断し、しかも磁性層との界面反応性が少な
くて、磁性層及びポリカーボネート等の合成樹脂基板と
の親和性に優れ、自身が水分や空気によって劣化するこ
とがなく、熱伝導率が低く、屈折率の大きい、しかも成
膜が効率的に行なえる保護膜を提供するべくなさ°れた
ものである。
とを完全に遮断し、しかも磁性層との界面反応性が少な
くて、磁性層及びポリカーボネート等の合成樹脂基板と
の親和性に優れ、自身が水分や空気によって劣化するこ
とがなく、熱伝導率が低く、屈折率の大きい、しかも成
膜が効率的に行なえる保護膜を提供するべくなさ°れた
ものである。
本発明者らはTa 酸化物の化学的安定性、低熱伝導性
、高屈折率に着目して検討した結果十分に磁性層との反
応が少なく安定な保護膜となることを見出し、本発明に
到達した。
、高屈折率に着目して検討した結果十分に磁性層との反
応が少なく安定な保護膜となることを見出し、本発明に
到達した。
すなわち、本発明の要旨は、基板上に光磁気活性層(磁
性層)を設けてなる光磁気媒体において、タンタルの酸
化物を含有する保護層を基板と磁性層との間に設けたこ
とを特徴とする光磁気媒体にある。
性層)を設けてなる光磁気媒体において、タンタルの酸
化物を含有する保護層を基板と磁性層との間に設けたこ
とを特徴とする光磁気媒体にある。
(発明の構成)
以下、本発明の詳細な説明する。
まず、本発明において用いられる基板としては、ガラス
、アクリル樹脂、ポリカーボネート樹脂等のプラスチッ
ク、又はアルミニウム等の金属が挙げられる。
、アクリル樹脂、ポリカーボネート樹脂等のプラスチッ
ク、又はアルミニウム等の金属が挙げられる。
基板の厚みは1〜コ謹糧度が一般的である。
この基板上に設けられる光磁気記録層としては、たとえ
ば、 DyFeC!o 、 TbFe0o %TbC
oなどの希土類と遷移金属の非晶質磁性合金、及びMn
B1、Mn(!uBiなどの多結晶垂直磁化膜が用いら
れる。特に希土系の合金磁性膜に用いて大変効果的であ
る。
ば、 DyFeC!o 、 TbFe0o %TbC
oなどの希土類と遷移金属の非晶質磁性合金、及びMn
B1、Mn(!uBiなどの多結晶垂直磁化膜が用いら
れる。特に希土系の合金磁性膜に用いて大変効果的であ
る。
本発明においては、上記基板と光磁気活性層の間にタン
タルの酸化物を保護膜として形成させる。
タルの酸化物を保護膜として形成させる。
本発明に係る光磁気媒体を光磁気記録媒体として用いる
場合、上記の複合酸化物保護層は透明性と屈折率に優れ
るため記録、再生光入射側に配置して用いるのが望まし
い。多く、の場合記録再生光は基板側から入射させるの
で、本発明の保護膜は多くの場合基板上に堆積される。
場合、上記の複合酸化物保護層は透明性と屈折率に優れ
るため記録、再生光入射側に配置して用いるのが望まし
い。多く、の場合記録再生光は基板側から入射させるの
で、本発明の保護膜は多くの場合基板上に堆積される。
ポリカーボネート等の合成樹脂を基板とした場合には、
基板側からの水分や空気の浸入が考えられるので、基板
と磁性層との間に本発明の保護層を設ける必要がある。
基板側からの水分や空気の浸入が考えられるので、基板
と磁性層との間に本発明の保護層を設ける必要がある。
基板と磁性層間には本Ta酸化物層のみ、または木屑と
接着性改良のための層をTa 酸化物層と基板の間に挿
入する。但しこの接着層は3oo′j−以下が好ましい
0 本発明の保護層を磁性層の1面に採用し、他面側を他の
保護層とすることも考えられ、その場合BN%Si3N
4 、TiN%ZrN、 NbN、 TaNなどの
チツ化物、または、TiO、NbC、TaC%Mo、c
などの炭化物、Ta81g、0rB11.0oSi、、
VSi、、TiSi2 、Ta、、181 などのケ
イ化物及び5107、SiO等が保護層として用いるこ
ともできる。
接着性改良のための層をTa 酸化物層と基板の間に挿
入する。但しこの接着層は3oo′j−以下が好ましい
0 本発明の保護層を磁性層の1面に採用し、他面側を他の
保護層とすることも考えられ、その場合BN%Si3N
4 、TiN%ZrN、 NbN、 TaNなどの
チツ化物、または、TiO、NbC、TaC%Mo、c
などの炭化物、Ta81g、0rB11.0oSi、、
VSi、、TiSi2 、Ta、、181 などのケ
イ化物及び5107、SiO等が保護層として用いるこ
ともできる。
勿論本発明の保護層を他面に用いてもよい。
本保護膜の製法としては物理的蒸着法(pvD)、化学
的蒸着法(CVD)、スピンコードなどの湿式塗布法な
どが考えられる。
的蒸着法(CVD)、スピンコードなどの湿式塗布法な
どが考えられる。
PVDには電子ビーム蒸着法スパッタリング法、イオン
ブレーティング法等が知られている。
ブレーティング法等が知られている。
スパッタリング法で保護膜を形成するにはTa、O,な
どの酸化物ターゲットを用いる方法とTa 金属ターゲ
ットを酸素と不活性ガス中でスパッターする反応性スパ
ッターが知られておシ、後者の方が高速製膜に適する。
どの酸化物ターゲットを用いる方法とTa 金属ターゲ
ットを酸素と不活性ガス中でスパッターする反応性スパ
ッターが知られておシ、後者の方が高速製膜に適する。
本発明のタンタル酸化物は緻密に作製しないとメンタル
酸化物中の酸素が磁性層と反応し、特性を劣化させるた
め緻密な膜を作る必要がある。またこれは高屈折率な膜
を得るためKも効果がある。
酸化物中の酸素が磁性層と反応し、特性を劣化させるた
め緻密な膜を作る必要がある。またこれは高屈折率な膜
を得るためKも効果がある。
この目的のためにはPVD中スパッタリング法、イオン
ブレーティング法(イオンビーム照射も同様)が適する
。特にスパッタリング法で本タンタル酸化物膜を作製す
る際は、膜が透明で且つ膜応力が極端に高くならない範
囲でできるだけスパッターガス圧を低くした方がよい。
ブレーティング法(イオンビーム照射も同様)が適する
。特にスパッタリング法で本タンタル酸化物膜を作製す
る際は、膜が透明で且つ膜応力が極端に高くならない範
囲でできるだけスパッターガス圧を低くした方がよい。
好ましいガス圧としてはII m torr 程度以下
がよい。
がよい。
次にタンタル酸化物の磁性層等との界面状態を改質する
目的で高エネルギー粒子(/〜io。
目的で高エネルギー粒子(/〜io。
θVの運動エネルギー)で表面を衝撃する。この方法は
高エネルギー粒子が得られればどのような方法でもよい
が、通常のスパッタリング装置ではプラズマエツチング
処理機構が備っておシ、これによシ基板側にプラズマを
たてAr ガスで作製した薄膜を衝撃するという手段を
とる。
高エネルギー粒子が得られればどのような方法でもよい
が、通常のスパッタリング装置ではプラズマエツチング
処理機構が備っておシ、これによシ基板側にプラズマを
たてAr ガスで作製した薄膜を衝撃するという手段を
とる。
エツチング時間としては、O8/〜/W/diで7分か
らコO分程度が代表的な値である。
らコO分程度が代表的な値である。
(実施例)
実施例/、比較例/
!“φの”raRo、を真空槽内カソードに堆シつけポ
リカーボネート基板を装着し、?、o×io’torr
iで排気後Ar ガスをj 08C(4M 流
入させ、真空槽を八〇 m torr とした。予備
スパッター後高周波電力(/ J、! t MHz )
j 00 Wを印加しスパッターした。極間距離は/
6信、基板回転数はりOrpmとした。膜厚は 100
0スであった。次にAr 簿量/ r SccM 1A
r ガス圧3.Om torr で基板側によOWの
高周波電力を投入し!分間エツチング処理した。
リカーボネート基板を装着し、?、o×io’torr
iで排気後Ar ガスをj 08C(4M 流
入させ、真空槽を八〇 m torr とした。予備
スパッター後高周波電力(/ J、! t MHz )
j 00 Wを印加しスパッターした。極間距離は/
6信、基板回転数はりOrpmとした。膜厚は 100
0スであった。次にAr 簿量/ r SccM 1A
r ガス圧3.Om torr で基板側によOWの
高周波電力を投入し!分間エツチング処理した。
次にTbFeCo層をroog形成し上述と同一条件で
保護層を1ooo′j−形成した。比較例として同様の
条件でアルミニウム酸化物を用いた光磁気媒体を作製し
た。
保護層を1ooo′j−形成した。比較例として同様の
条件でアルミニウム酸化物を用いた光磁気媒体を作製し
た。
得られた媒体はキャリア対ノイズ比(C/N )、記録
感度に優れたものが得られた。
感度に優れたものが得られた。
測定法: 差動法検出
記録条件
r = 441m、600 rpm
ヒツト長 !、0μm
2次歪最小になるレーザーパワーを記録感度とした。
再生条件
r=ujm、/r00rpm
レーザーパワー 1.4AmW
(発明の効果)
本発明によれば、耐食性、記鋒感度信号品質に優れ且つ
生産しやすい光磁気媒体が得られる。
生産しやすい光磁気媒体が得られる。
Claims (2)
- (1)基板上に磁性層を設けてなる光磁気記録媒体にお
いて、タンタルの酸化物を含有する保護層を基板と磁性
層との間に設けたことを特徴とする光磁気記録媒体。 - (2)タンタル酸化物層の磁性層に接する表面を磁性層
形成前にプラズマエッチング処理してなる特許請求の範
囲第1項記載の光磁気記録媒体。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61310116A JP2578418B2 (ja) | 1986-12-29 | 1986-12-29 | 光磁気記録媒体の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61310116A JP2578418B2 (ja) | 1986-12-29 | 1986-12-29 | 光磁気記録媒体の製造方法 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP311494A Division JPH07182711A (ja) | 1994-01-17 | 1994-01-17 | 光磁気記録媒体の製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63167450A true JPS63167450A (ja) | 1988-07-11 |
JP2578418B2 JP2578418B2 (ja) | 1997-02-05 |
Family
ID=18001369
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61310116A Expired - Fee Related JP2578418B2 (ja) | 1986-12-29 | 1986-12-29 | 光磁気記録媒体の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2578418B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6660451B1 (en) | 1999-06-18 | 2003-12-09 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical information recording medium |
US7169533B2 (en) | 2001-03-19 | 2007-01-30 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical information recording medium, method for manufacturing the same and recording/reproduction method |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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- 1986-12-29 JP JP61310116A patent/JP2578418B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Also Published As
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JP2578418B2 (ja) | 1997-02-05 |
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