JPS63163622A - 波形表示装置の波形選択方法 - Google Patents
波形表示装置の波形選択方法Info
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- JPS63163622A JPS63163622A JP62320022A JP32002287A JPS63163622A JP S63163622 A JPS63163622 A JP S63163622A JP 62320022 A JP62320022 A JP 62320022A JP 32002287 A JP32002287 A JP 32002287A JP S63163622 A JPS63163622 A JP S63163622A
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- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 9
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
- G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
- G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
- G06F3/033—Pointing devices displaced or positioned by the user, e.g. mice, trackballs, pens or joysticks; Accessories therefor
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- Controls And Circuits For Display Device (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、複数の波形をスクリーン上に同時に表示し、
オペレータが選択した波形に対して種々の動作を実行し
得るオシロスコープの如き波形表示装置に好適な波形の
選択方法に関する。
オペレータが選択した波形に対して種々の動作を実行し
得るオシロスコープの如き波形表示装置に好適な波形の
選択方法に関する。
[従来技術]
デジタル・オシロスコープの多くはスクリーン上に複数
の波形を同時に表示することが可能で、各波形は異なる
入力信号を時間の関数として表示する。このようなオシ
ロスコープでは、オペレータはスクリーン上の波形の垂
直位置、トリガレベル、色、及び輝度等の種々の表示萬
性を調整選択することが出来る。各波形には複数の表示
属性があり、且つ多数の波形が同時に表示されるかも知
れないので、各波形の表示属性を調整するつまみやスイ
ッチ等をフロントパネル上に別々に設けることは実用的
ではない。従来のオシロスコープの中には、各表示属性
を制御するつまみやスイッチを前面パネル上に別々に設
けたり、多数の表示波形からオペレータ(操作者)が特
定の波形を選択出来るように1組の押ボタン群を設けて
いるものがある。この場合、特定の波形の表示属性を変
更するには、オペレータは波形選択用つまみや押ボタン
により先ず波形を選択しなければならない。
の波形を同時に表示することが可能で、各波形は異なる
入力信号を時間の関数として表示する。このようなオシ
ロスコープでは、オペレータはスクリーン上の波形の垂
直位置、トリガレベル、色、及び輝度等の種々の表示萬
性を調整選択することが出来る。各波形には複数の表示
属性があり、且つ多数の波形が同時に表示されるかも知
れないので、各波形の表示属性を調整するつまみやスイ
ッチ等をフロントパネル上に別々に設けることは実用的
ではない。従来のオシロスコープの中には、各表示属性
を制御するつまみやスイッチを前面パネル上に別々に設
けたり、多数の表示波形からオペレータ(操作者)が特
定の波形を選択出来るように1組の押ボタン群を設けて
いるものがある。この場合、特定の波形の表示属性を変
更するには、オペレータは波形選択用つまみや押ボタン
により先ず波形を選択しなければならない。
一旦波形が選択された後に、オペレータの表示属性制御
用のつまみや押ボタンの調整に応じて選択された波形の
表示属性を変更する。
用のつまみや押ボタンの調整に応じて選択された波形の
表示属性を変更する。
他のオシロスコープでは、スクリーン上に波形選択用の
メニュー(選択項目)を表示し、オペレータがその選択
メニューから波形を選択出来るようにすることにより、
波形選択用つまみや押ボタン等の必要性を低減している
ものもある。このようなメニュー操作のオシロスコープ
では、オペレータは通常スフ・リーン付近に設けられた
1組のメニュー選択押ボタンから特定のボタンを押して
波形を選択出来る。これらメニュー選択用押ボタンは池
のメニューが表示されたときには他の目的に使用し得る
が、それでもなお波形選択に押ボタンが必要である。メ
ニュー操作のオシロスコープの中には、オペレータのス
クリーンへの接触に感応し、スクリーン上の接触座標を
指示する人力データを機器に供給するタッチスクリーン
装置を有するものもある。このようなタッチスクリーン
制御機器では、オペレータはスクリーンに表示された選
択メニューに直接触れるだけでメニューの選択が出来る
のでメニュー選択用の押ボタンの必要性を解消すること
が出来る。
メニュー(選択項目)を表示し、オペレータがその選択
メニューから波形を選択出来るようにすることにより、
波形選択用つまみや押ボタン等の必要性を低減している
ものもある。このようなメニュー操作のオシロスコープ
では、オペレータは通常スフ・リーン付近に設けられた
1組のメニュー選択押ボタンから特定のボタンを押して
波形を選択出来る。これらメニュー選択用押ボタンは池
のメニューが表示されたときには他の目的に使用し得る
が、それでもなお波形選択に押ボタンが必要である。メ
ニュー操作のオシロスコープの中には、オペレータのス
クリーンへの接触に感応し、スクリーン上の接触座標を
指示する人力データを機器に供給するタッチスクリーン
装置を有するものもある。このようなタッチスクリーン
制御機器では、オペレータはスクリーンに表示された選
択メニューに直接触れるだけでメニューの選択が出来る
のでメニュー選択用の押ボタンの必要性を解消すること
が出来る。
デジタル・オシロスコープの中には、オペレータが選択
した波形に関する種々の測定をして表示するものがある
。例えば、オペレータが調整した1本のカーソルの指示
子る選択波形上の任意の点の値を測定し、そのデータを
表示したり、オペレータが調整した1対のカーソルが指
示する波形上の2点間の最小値と最大値を測定したり、
或いはオペレータが設定した選択波形上の一部分を水平
方向に拡大表示したり出来る。オペレータが選択した波
形の種々の測定がこのように自動的に実行されるように
することにより、各表示波形の測定パラメータを別々に
調整する為に押ボタンや制御つまみ等の人力装置を別々
に設ける必要がなくなる。
した波形に関する種々の測定をして表示するものがある
。例えば、オペレータが調整した1本のカーソルの指示
子る選択波形上の任意の点の値を測定し、そのデータを
表示したり、オペレータが調整した1対のカーソルが指
示する波形上の2点間の最小値と最大値を測定したり、
或いはオペレータが設定した選択波形上の一部分を水平
方向に拡大表示したり出来る。オペレータが選択した波
形の種々の測定がこのように自動的に実行されるように
することにより、各表示波形の測定パラメータを別々に
調整する為に押ボタンや制御つまみ等の人力装置を別々
に設ける必要がなくなる。
従って、オペレータが表示波形を任意に選択出来るよう
にし、その選択波形の波形表示属性や波形測定パラメー
タを種々の押ボタンやつまみ等の入力itを操作して調
整し、オシロスコープの動作を制御するようにすれば、
各波形の調整用にこのような入力装置を別々に設ける必
要がないので、人力装置の数を低減することが出来る。
にし、その選択波形の波形表示属性や波形測定パラメー
タを種々の押ボタンやつまみ等の入力itを操作して調
整し、オシロスコープの動作を制御するようにすれば、
各波形の調整用にこのような入力装置を別々に設ける必
要がないので、人力装置の数を低減することが出来る。
[発明が解決しようとする問題点]
しかし、このような人力装置を使用して波形表示属性や
波形測定パラメータを調整する前に、オペレータは先ず
波形を選択しなければならないので、オシロスコープの
動作を制御する為にオペレータが知るべき事及び行うべ
き事が一層複雑になる。例えば、メニュー操作の機器で
は、オペレータは先ずオシロスコープに波形選択メニュ
ーを表示させなければならず、一旦表示されたメニュー
の中から波形を選択しなければならない。その後、オペ
レータは波形を選択するとスクリーンに表示された選択
メニューを消去しなければならない。
波形測定パラメータを調整する前に、オペレータは先ず
波形を選択しなければならないので、オシロスコープの
動作を制御する為にオペレータが知るべき事及び行うべ
き事が一層複雑になる。例えば、メニュー操作の機器で
は、オペレータは先ずオシロスコープに波形選択メニュ
ーを表示させなければならず、一旦表示されたメニュー
の中から波形を選択しなければならない。その後、オペ
レータは波形を選択するとスクリーンに表示された選択
メニューを消去しなければならない。
このように操作手順が増加するので、オペレータが波形
表示属性や波形測定パラメータを変更するのに要する時
間も増加してしまう。また、操作手順が追加されると、
オペレータの誤操作の頻度も増加してしまう。なぜなら
、オシロスコープのスクリーンに表示されている波形の
順序をオペレータが勝手に変更してしまうと、どの波形
が特定の波形選択メニューに対応するのかを容易に判断
出来なくなるからである。
表示属性や波形測定パラメータを変更するのに要する時
間も増加してしまう。また、操作手順が追加されると、
オペレータの誤操作の頻度も増加してしまう。なぜなら
、オシロスコープのスクリーンに表示されている波形の
順序をオペレータが勝手に変更してしまうと、どの波形
が特定の波形選択メニューに対応するのかを容易に判断
出来なくなるからである。
従って、オペレータが波形の選択データをオシロスコー
プに入力する際に、容易に理解でき、しかも簡単に操作
可能なシステムの実現が望まれていた。
プに入力する際に、容易に理解でき、しかも簡単に操作
可能なシステムの実現が望まれていた。
本発明の目的は、オペレータが波形の選択データをオシ
ロスコープの如きコンピュータ制御の波形表示装置に入
力する為の新規な波形選択方法を提供することである。
ロスコープの如きコンピュータ制御の波形表示装置に入
力する為の新規な波形選択方法を提供することである。
[問題点を解決する為の手段及び作用]本発明は複数の
波形をスクリーン上に同時に表示可能で、オペレータが
選択した特定の波形に関して、表示属性の変更や種々の
測定等を実行可能なマイクロコンピュータ(MPU)制
御のオシロスコープの如き波形表示装置の波形選択方法
に関する。本発明によれば、オペレータはスクリーン上
に表示された波形の一部に触れるだけで特定の波形が選
択可能なオシロスコープの為のシステムを提供している
。スクリーン上の表示波形に直接触れて行う波形選択は
、人為的に波形に対応する押ボタンを押したり、波形に
対応する制御つまみを設定したり、波形に対応するメニ
ューを選択したりする波形選択方法よりも極めて迅速且
つ直観的に選択出来るので、誤操作をする確率も大幅に
低減する。特定の押ボタン、つまみ、又はメニューを使
用して波形を選択する従来の方法では、オペレータが留
意すべき手順が増加するので、波形の選択に要する時間
が長くなる上に誤操作の確率も増加する。
波形をスクリーン上に同時に表示可能で、オペレータが
選択した特定の波形に関して、表示属性の変更や種々の
測定等を実行可能なマイクロコンピュータ(MPU)制
御のオシロスコープの如き波形表示装置の波形選択方法
に関する。本発明によれば、オペレータはスクリーン上
に表示された波形の一部に触れるだけで特定の波形が選
択可能なオシロスコープの為のシステムを提供している
。スクリーン上の表示波形に直接触れて行う波形選択は
、人為的に波形に対応する押ボタンを押したり、波形に
対応する制御つまみを設定したり、波形に対応するメニ
ューを選択したりする波形選択方法よりも極めて迅速且
つ直観的に選択出来るので、誤操作をする確率も大幅に
低減する。特定の押ボタン、つまみ、又はメニューを使
用して波形を選択する従来の方法では、オペレータが留
意すべき手順が増加するので、波形の選択に要する時間
が長くなる上に誤操作の確率も増加する。
本発明によれば、従来のタッチスクリーン構成により水
平方向及び垂直方向の光線群がオシロスコープのスクリ
ーン上に形成され、各光線の交点を囲む長方形の区域で
ある「接触区域」にスクリーン全体が分割されている。
平方向及び垂直方向の光線群がオシロスコープのスクリ
ーン上に形成され、各光線の交点を囲む長方形の区域で
ある「接触区域」にスクリーン全体が分割されている。
オペレータが指で光線を遮断すると、タッチスクリーン
はいつどの接触区域が接触されたかを示す人力データを
オシロスコープ内のMPUに供給する。MPUは各波形
表示を制御する為に記憶された波形データからオペレー
タが最後に接触した接触区域内を表示波形のどれかが通
過しているか否かを判断する。もし、特定の波形の一部
でもその接触区域内を通過していれば、MPUはその特
定の波形をオペレータが選択したと判断してオシロスコ
ープのその後の動作を制御する。
はいつどの接触区域が接触されたかを示す人力データを
オシロスコープ内のMPUに供給する。MPUは各波形
表示を制御する為に記憶された波形データからオペレー
タが最後に接触した接触区域内を表示波形のどれかが通
過しているか否かを判断する。もし、特定の波形の一部
でもその接触区域内を通過していれば、MPUはその特
定の波形をオペレータが選択したと判断してオシロスコ
ープのその後の動作を制御する。
代表的なデジタル・オシロスコープでは、各波形は複数
の画素で構成きれた線としてスクリーンに表示される。
の画素で構成きれた線としてスクリーンに表示される。
スクリーン上における各画素の垂直位置は、入力信号を
周期的にデジタル変換(デジタイズ)して得た波形デー
タ列の1つ1つのデータによって決まる。本発明によれ
ば、波形の少なくとも1画素が接触区域内にあったとき
、或いは波形の水平及び垂直方向に連続する2個の画素
が接触区域の境界線をどこかで挟んでいるとき、MPU
はその特定の波形が接触区域を通過していると判断する
。後者の場合が特に重要なのは、接触区域が矩形波の急
激に変化する前縁か後縁付近にあって、波形を構成する
画素が接触区域内に事実土兄えなくても、連続する2個
の画素が接触区域の境界線を挟んで存在する場合である
。
周期的にデジタル変換(デジタイズ)して得た波形デー
タ列の1つ1つのデータによって決まる。本発明によれ
ば、波形の少なくとも1画素が接触区域内にあったとき
、或いは波形の水平及び垂直方向に連続する2個の画素
が接触区域の境界線をどこかで挟んでいるとき、MPU
はその特定の波形が接触区域を通過していると判断する
。後者の場合が特に重要なのは、接触区域が矩形波の急
激に変化する前縁か後縁付近にあって、波形を構成する
画素が接触区域内に事実土兄えなくても、連続する2個
の画素が接触区域の境界線を挟んで存在する場合である
。
[実施例]
本発明はMPU制御のデジタル・オシロスコープのスク
リーンに表示された複数の波形から1波形をオペレータ
が選択する為の方法及び装置に関する。第2図はコンピ
ュータ制御のデジタル・オシロスコープ(10)の前面
を示しており、本体シャーシ(12) 、該本体シャー
シに固定されたフロントパネル(14)、制御つtみ(
16)、スクリーン(17)、フロントパネル上の押ボ
タン(18)、及び3本のプラグイン(20)、(22
)、(24)を含んでいる。各プラグインはフロントパ
ネル(14)上の対応するスロットを介して本体シャー
シ(12)に挿入される小型の抜き取り可能なシャーシ
を有し、オシロスコープ(10)のハードウェアのサブ
システムを構成している。これらプラグインのハードウ
ェア・サブシステムは本体シャーシ(12)の後方の結
線部を介して垂直チャンネル増幅器、トリガ回路及び他
の回路などと相互接続している。各プラグインは固有の
フロントパネルを有し、各フロントパネル上には押ボタ
ン、制御つまみ、入力ジャック等を追加することができ
る。スクリーン(17)はオシロスコープの出力した波
形、メニュー、データ及び他の図形や文字等を表示し、
タッチスクリーン(19)はスクリーン(17)の周囲
の辺に配置された光源及び光検出器の列を含み、オペレ
ータの指が接触したスクリーン上の位置を指示する人力
データをオシロスコープ(10)に供給する。タッチス
クリーン(19)の有用な応用例として、例えばオペレ
ータは指でスクリーンに表示されたメニューに触れるだ
けでオシロスコープの種々の動作を変更することが出来
る。このタッチスクリーンの詳細については後述する。
リーンに表示された複数の波形から1波形をオペレータ
が選択する為の方法及び装置に関する。第2図はコンピ
ュータ制御のデジタル・オシロスコープ(10)の前面
を示しており、本体シャーシ(12) 、該本体シャー
シに固定されたフロントパネル(14)、制御つtみ(
16)、スクリーン(17)、フロントパネル上の押ボ
タン(18)、及び3本のプラグイン(20)、(22
)、(24)を含んでいる。各プラグインはフロントパ
ネル(14)上の対応するスロットを介して本体シャー
シ(12)に挿入される小型の抜き取り可能なシャーシ
を有し、オシロスコープ(10)のハードウェアのサブ
システムを構成している。これらプラグインのハードウ
ェア・サブシステムは本体シャーシ(12)の後方の結
線部を介して垂直チャンネル増幅器、トリガ回路及び他
の回路などと相互接続している。各プラグインは固有の
フロントパネルを有し、各フロントパネル上には押ボタ
ン、制御つまみ、入力ジャック等を追加することができ
る。スクリーン(17)はオシロスコープの出力した波
形、メニュー、データ及び他の図形や文字等を表示し、
タッチスクリーン(19)はスクリーン(17)の周囲
の辺に配置された光源及び光検出器の列を含み、オペレ
ータの指が接触したスクリーン上の位置を指示する人力
データをオシロスコープ(10)に供給する。タッチス
クリーン(19)の有用な応用例として、例えばオペレ
ータは指でスクリーンに表示されたメニューに触れるだ
けでオシロスコープの種々の動作を変更することが出来
る。このタッチスクリーンの詳細については後述する。
第3図は、第2図のオシロスコープ(10)のハードウ
ェアを示すブロック図である。被測定装置からの信号は
プラグイン(20)、(2,2)、(24)の人力ジャ
ックを介してオシロスコープ(lO)に人力し、プラグ
インの前段処理後、波形及びトリガ人力としてデジタイ
ザ(30)に供給される。デジタイザ(30)は選択さ
れた入力信号をデジタル変換して、連続入力信号サンプ
ルの値を表す波形データ列を出力し、これらの波形デー
タ列はメモリ管理装置(MMU)(34)を介して波形
メモ!J(32)に送られて記憶される。MMU(34
)は波形メモIJ(F2)への複数のアクセス要求を調
停する装置である。MMU(34)については、198
6年9月26日出願の米国特許出願第912.024号
(特願昭62−242386号に対応)の明細書に詳細
に記載されている。MMU(34)を介して表示コント
ローラ(36)が、波形メモ!J(32)内の波形デー
タ列を取り込んでオシロスコープ表示のビットマツプを
生成し、これを表示メモ!j (38)に格納する。表
示コントローラ(36)は周期的にビットマツプ情報を
表示メモ!J(38)から取り込み、その情報を表示ド
ライバ(40)に送って、オシロスコ−7” (10)
のスクリーン上にビットマツプ情報に応じた表示を出力
する。
ェアを示すブロック図である。被測定装置からの信号は
プラグイン(20)、(2,2)、(24)の人力ジャ
ックを介してオシロスコープ(lO)に人力し、プラグ
インの前段処理後、波形及びトリガ人力としてデジタイ
ザ(30)に供給される。デジタイザ(30)は選択さ
れた入力信号をデジタル変換して、連続入力信号サンプ
ルの値を表す波形データ列を出力し、これらの波形デー
タ列はメモリ管理装置(MMU)(34)を介して波形
メモ!J(32)に送られて記憶される。MMU(34
)は波形メモIJ(F2)への複数のアクセス要求を調
停する装置である。MMU(34)については、198
6年9月26日出願の米国特許出願第912.024号
(特願昭62−242386号に対応)の明細書に詳細
に記載されている。MMU(34)を介して表示コント
ローラ(36)が、波形メモ!J(32)内の波形デー
タ列を取り込んでオシロスコープ表示のビットマツプを
生成し、これを表示メモ!j (38)に格納する。表
示コントローラ(36)は周期的にビットマツプ情報を
表示メモ!J(38)から取り込み、その情報を表示ド
ライバ(40)に送って、オシロスコ−7” (10)
のスクリーン上にビットマツプ情報に応じた表示を出力
する。
MPU(44)は制御線、データ線、及びアドレス線を
含むコンビ二−ク・バス(45)及びMMU(34)を
介して波形メモリ(32)のデータの読み出し及び書き
込みを行う。MPU(44>は好適にはインテル社製8
0286型プロセツサを含み、更に、高速演算動作のた
めにインテル社製80287型コプロセツサ及び高速入
出力動作のためにインテル社製82258型直接メモリ
アクセス(DMA)コントローラを内蔵していても良い
。MPU (44)は読み出し専用メモIJ(ROM)
(46)に記憶されているソフトウェア(又はファーム
ウェア)の制御により動作し、ランダム・アクセス・メ
モリ (RAM)(48)には一時的にデータを格納す
る。ROM (46)及びRAM(48)はバス゛(4
5)を介してアクセスされる。MPU(44)はプログ
ラムに従って、例えばプラグイン(20)、(22)、
(24)、デジタイザ(30)、表示コントローラ(3
6)等の動作状態の制御などの多くの機能を果たす。
含むコンビ二−ク・バス(45)及びMMU(34)を
介して波形メモリ(32)のデータの読み出し及び書き
込みを行う。MPU(44>は好適にはインテル社製8
0286型プロセツサを含み、更に、高速演算動作のた
めにインテル社製80287型コプロセツサ及び高速入
出力動作のためにインテル社製82258型直接メモリ
アクセス(DMA)コントローラを内蔵していても良い
。MPU (44)は読み出し専用メモIJ(ROM)
(46)に記憶されているソフトウェア(又はファーム
ウェア)の制御により動作し、ランダム・アクセス・メ
モリ (RAM)(48)には一時的にデータを格納す
る。ROM (46)及びRAM(48)はバス゛(4
5)を介してアクセスされる。MPU(44)はプログ
ラムに従って、例えばプラグイン(20)、(22)、
(24)、デジタイザ(30)、表示コントローラ(3
6)等の動作状態の制御などの多くの機能を果たす。
プラグイン(20)、(22)、(24)とバス(45
)を適当な手段で接続している入出力インターフェース
(I/F)(50)を介してMPU(44)は各プラグ
インに制御信号を供給する。
)を適当な手段で接続している入出力インターフェース
(I/F)(50)を介してMPU(44)は各プラグ
インに制御信号を供給する。
MPU(44)は更にデジタイザ(3o)の動作モード
を制御し得る。即ち、MPU(44)からバス(45)
及びMMU(34)を介して送られた指令(コマンド)
が波形メモ!J(32)に記憶され、その後、デジタイ
ザ(30)が波形メモリ(32)からその指令を読み出
すのである。また、MPU(44>はMMU(34)に
指令を送り、波形メモリに記憶されたどの波形データ列
を表示コントローラ(36)に送り表示させるかを決め
る。更に、MPU (44)はスクリーン(17)上の
メニ5−1図形及びデータ表示も制御するためにMMU
(34)に指令を送り、波形メモリ(32)内の表示制
御データの表示コントローラ(36)への転送を制御す
る。
を制御し得る。即ち、MPU(44)からバス(45)
及びMMU(34)を介して送られた指令(コマンド)
が波形メモ!J(32)に記憶され、その後、デジタイ
ザ(30)が波形メモリ(32)からその指令を読み出
すのである。また、MPU(44>はMMU(34)に
指令を送り、波形メモリに記憶されたどの波形データ列
を表示コントローラ(36)に送り表示させるかを決め
る。更に、MPU (44)はスクリーン(17)上の
メニ5−1図形及びデータ表示も制御するためにMMU
(34)に指令を送り、波形メモリ(32)内の表示制
御データの表示コントローラ(36)への転送を制御す
る。
オシロスコープ(10)の本体フロントパネル上のつま
み(16) 、押ボタン(18)からの人力信号、各プ
ラグインのフロントパネル上のつまみ、押ボタン、スイ
ッチからの入力信号、及びタッチスクリーン(19)か
らの入力信号は夫々人出力I/F(50)に検出され、
各入力信号に応じたメツセージがMPU (44)に送
られる。これらのメツセージに応じてMPU(44)は
選択した動作モードに応じたオシロスコープの種々のサ
ブシステムを構成する。第3図のハードウェア構成では
、つまみ(16)の回転に対するオシロスコープ(10
)の応答動作は回路の接続状態とは関係なくソフトウェ
アによって決まる。従って、つまみ(16)のどちらか
一方の回転に対する応答動作を変更することが出来るの
で、各つまみによってオシロスコープの複数の動作を調
整する事が出来る。各つまみにある時点で割り当てられ
た特定の制御機能はオシロスコープのその時点の動作状
態に応じて決まるので、各つまみの制御機能はオシロス
コープの動作状態が変わると変更される。
み(16) 、押ボタン(18)からの人力信号、各プ
ラグインのフロントパネル上のつまみ、押ボタン、スイ
ッチからの入力信号、及びタッチスクリーン(19)か
らの入力信号は夫々人出力I/F(50)に検出され、
各入力信号に応じたメツセージがMPU (44)に送
られる。これらのメツセージに応じてMPU(44)は
選択した動作モードに応じたオシロスコープの種々のサ
ブシステムを構成する。第3図のハードウェア構成では
、つまみ(16)の回転に対するオシロスコープ(10
)の応答動作は回路の接続状態とは関係なくソフトウェ
アによって決まる。従って、つまみ(16)のどちらか
一方の回転に対する応答動作を変更することが出来るの
で、各つまみによってオシロスコープの複数の動作を調
整する事が出来る。各つまみにある時点で割り当てられ
た特定の制御機能はオシロスコープのその時点の動作状
態に応じて決まるので、各つまみの制御機能はオシロス
コープの動作状態が変わると変更される。
オシロスコープの動作状態は、例えばオペレータが前面
パネルの押ボタンを押したり、タッチスクリーンにより
表示メニューの選択をした場合のような入力信号に応じ
て変化し、オシロスコープの新しい動作状態に適した機
能がつまみに自動的に割り当てられる。例えば、オペレ
ータが選択した波形上のカーソルに指示された点の値を
オシロスコープが測定し、その測定データをスクリーン
上に表示するかも知れない。オペレータが適当なメニュ
ー選択をすると、オシロスコープブの動作状態が設定さ
れ、つまみ(16)の一方にカーソル位置の調整機能が
割り当てられると、オペレータはそのつまみによりカー
ソル位置を変更出来る。
パネルの押ボタンを押したり、タッチスクリーンにより
表示メニューの選択をした場合のような入力信号に応じ
て変化し、オシロスコープの新しい動作状態に適した機
能がつまみに自動的に割り当てられる。例えば、オペレ
ータが選択した波形上のカーソルに指示された点の値を
オシロスコープが測定し、その測定データをスクリーン
上に表示するかも知れない。オペレータが適当なメニュ
ー選択をすると、オシロスコープブの動作状態が設定さ
れ、つまみ(16)の一方にカーソル位置の調整機能が
割り当てられると、オペレータはそのつまみによりカー
ソル位置を変更出来る。
他の動作状態にして、つまみ(16)を用いてオペレー
タが選択した波形の表示属性を調整しても良い。例えば
オペレータが選択した波形のトリガ遅延制御パラメータ
の値を設定したり、或いはその波形の垂直位置、垂直寸
法或いは水平時間軸の制御パラメータの値を設定したり
出来る。
タが選択した波形の表示属性を調整しても良い。例えば
オペレータが選択した波形のトリガ遅延制御パラメータ
の値を設定したり、或いはその波形の垂直位置、垂直寸
法或いは水平時間軸の制御パラメータの値を設定したり
出来る。
2個のつまみ(16)を用いて例えば表示波形の垂直寸
法く即ち、ボルト/目盛の設定)及び垂直位置を調整す
る場合には、オペレータはスクリーン上に表示された波
形から1つの波形を選択しなければならないという事に
留意されたい。オペレータは波形を選択し、つまみを動
かして表示波形の中のどの波形を調整するのかをオンロ
スコープに伝える。従来のオシロスコープの中には種々
の方法でオペレータが波形の選択を出来るようにしたも
のがある。例えば、各波形に対応した前面パネル上の押
ボタンを押したり、或いはスクIJ−ンに表示された波
形選択メニューから所望の波形に対応するメニューを選
択したり出来る。しかし、本発明によれば、オペレータ
はスクリーン上に表示された波形の一部に単に触れるだ
けで特定の波形を選択することが出来る。このような波
形選択方法は、特定の押ボタンやメニューにより特定の
波形を選択する為の余分な手順にオペレータが留意しな
ければならない従来の選択方法よりも一般により迅速且
つ直観的に選択でき、誤操作の確率も低減する。即ち、
留意すべき余分な手順のある従来の方法では、オシロス
コープの調整操作に時間がかかる上に誤操作の確率も増
加する。
法く即ち、ボルト/目盛の設定)及び垂直位置を調整す
る場合には、オペレータはスクリーン上に表示された波
形から1つの波形を選択しなければならないという事に
留意されたい。オペレータは波形を選択し、つまみを動
かして表示波形の中のどの波形を調整するのかをオンロ
スコープに伝える。従来のオシロスコープの中には種々
の方法でオペレータが波形の選択を出来るようにしたも
のがある。例えば、各波形に対応した前面パネル上の押
ボタンを押したり、或いはスクIJ−ンに表示された波
形選択メニューから所望の波形に対応するメニューを選
択したり出来る。しかし、本発明によれば、オペレータ
はスクリーン上に表示された波形の一部に単に触れるだ
けで特定の波形を選択することが出来る。このような波
形選択方法は、特定の押ボタンやメニューにより特定の
波形を選択する為の余分な手順にオペレータが留意しな
ければならない従来の選択方法よりも一般により迅速且
つ直観的に選択でき、誤操作の確率も低減する。即ち、
留意すべき余分な手順のある従来の方法では、オシロス
コープの調整操作に時間がかかる上に誤操作の確率も増
加する。
第4図は、タッチスクリーン(19)と、MPU(44
)と、タッチスクリーンの人出力のための人出力I/F
(50)の一部分を示すブロック図である。タッチスク
リーン(19)は、11個のLEDをスクリーン(17
)の上辺に沿って横1列に配置し、22個のLEDをス
クリーンの左辺に沿って縦1列に配置している。これら
のLED(51)は、スクリーン(17)の直前に11
×22の光線格子を発生させる。33個の光検出器(5
2)はスクリーン(17)の右辺及び底辺に並べて配置
され、各光検出器は、対応する各LEDからの光線がス
クリーン上を通過して直接対辺上に達したときにその光
線を検出することが出来る。オペレータがスクリーンに
触れると、指が光検出器の検出する光線を1本以上遮り
、各光検出器(52)は対応するLED (51)から
の光線を検出しているかどうかを示す状態出力信号を発
生する。
)と、タッチスクリーンの人出力のための人出力I/F
(50)の一部分を示すブロック図である。タッチスク
リーン(19)は、11個のLEDをスクリーン(17
)の上辺に沿って横1列に配置し、22個のLEDをス
クリーンの左辺に沿って縦1列に配置している。これら
のLED(51)は、スクリーン(17)の直前に11
×22の光線格子を発生させる。33個の光検出器(5
2)はスクリーン(17)の右辺及び底辺に並べて配置
され、各光検出器は、対応する各LEDからの光線がス
クリーン上を通過して直接対辺上に達したときにその光
線を検出することが出来る。オペレータがスクリーンに
触れると、指が光検出器の検出する光線を1本以上遮り
、各光検出器(52)は対応するLED (51)から
の光線を検出しているかどうかを示す状態出力信号を発
生する。
人出力I/F (50)に内蔵されている走査回路(5
3)は好適にはインテル社製8279型プログラマブル
・キーボード・I/F装置を含み、「検出マトリクス」
モードで動作する。走査回路(53)は、3ビツトの計
数出力(SO−32>を発生し、この計数出力がデコー
ダ(54)にデコードされてその時点の計数出力値に応
じて、8本のデコーダ出力線の1本を高論理状態にする
。
3)は好適にはインテル社製8279型プログラマブル
・キーボード・I/F装置を含み、「検出マトリクス」
モードで動作する。走査回路(53)は、3ビツトの計
数出力(SO−32>を発生し、この計数出力がデコー
ダ(54)にデコードされてその時点の計数出力値に応
じて、8本のデコーダ出力線の1本を高論理状態にする
。
8本のデコーダ出力線の中の5本がバッファ群(55〉
に人力し、バッファ群(55)の各出力は、11個が水
平に、22個が垂直に配置された33個のLED (5
1)の8個までの別々のLED群を駆動する。光検出器
(52)の各出力信号は8個のバッファ群(56)の1
個に入力し、バッファ群(56)の出力(RO−R7)
が走査回路(53)に人力される。
に人力し、バッファ群(55)の各出力は、11個が水
平に、22個が垂直に配置された33個のLED (5
1)の8個までの別々のLED群を駆動する。光検出器
(52)の各出力信号は8個のバッファ群(56)の1
個に入力し、バッファ群(56)の出力(RO−R7)
が走査回路(53)に人力される。
走査動作中には、走査回路(53)は計数出力(SO−
32)の値を周期的に増加している。この計数出力値が
増加すると、デコーダ(54)は8本の出力線の中の1
本を順次高状態にし、これにより、バッファ群(55)
の対応するバッファの出力が最大8個までのLED群を
駆動する。駆動されたLEDから発生された光線をオペ
レータが遮断しなければ、光線を検出した各光検出器は
バッファ群(56)の1個のバッファの入力を高状態に
駆動するので、そのバッファの出力が高状態になる。オ
ペレータの指が1本の光線を遮断すると、光検出器(5
2)の1個の出力が低状態に変化し、その状態変化がバ
ッファ群(56)の出力線(RO−R7)の1本の状態
を変化させる。
32)の値を周期的に増加している。この計数出力値が
増加すると、デコーダ(54)は8本の出力線の中の1
本を順次高状態にし、これにより、バッファ群(55)
の対応するバッファの出力が最大8個までのLED群を
駆動する。駆動されたLEDから発生された光線をオペ
レータが遮断しなければ、光線を検出した各光検出器は
バッファ群(56)の1個のバッファの入力を高状態に
駆動するので、そのバッファの出力が高状態になる。オ
ペレータの指が1本の光線を遮断すると、光検出器(5
2)の1個の出力が低状態に変化し、その状態変化がバ
ッファ群(56)の出力線(RO−R7)の1本の状態
を変化させる。
走査回路(53)に内蔵されている8×8ピツトのメモ
リは計数出力(SO−52)の8個の異なる値に応じて
戻された最大8個までの信号(RO−R7)の各状態を
格納する。計数出力値は限界fl(111)に達すると
、(000)にリセットされ、再び計数を開始する。各
計数出力値に対して取り込まれた新しいデータ(RO−
R7)は以前の計数サイクル中に同じ計数出力値に対し
て取り込まれた以前のデータを置換する。従って、走査
回路(53)の内部メモリの64ビー/ )の中の33
個の各データは、最後の走査サイクル中に33個の光検
出器(52)の中の対応する1個の光検出器が光線を検
出したか否かを示している。
リは計数出力(SO−52)の8個の異なる値に応じて
戻された最大8個までの信号(RO−R7)の各状態を
格納する。計数出力値は限界fl(111)に達すると
、(000)にリセットされ、再び計数を開始する。各
計数出力値に対して取り込まれた新しいデータ(RO−
R7)は以前の計数サイクル中に同じ計数出力値に対し
て取り込まれた以前のデータを置換する。従って、走査
回路(53)の内部メモリの64ビー/ )の中の33
個の各データは、最後の走査サイクル中に33個の光検
出器(52)の中の対応する1個の光検出器が光線を検
出したか否かを示している。
内部メモリ内の残りの31個のデータビットはタッチス
クリーンの出力信号の状態を示すためには用いられない
。走査回路(53)には、現在の計数出力(30−32
)の値に応じて生じた人力信号(RO−R7)の現在の
状態と、計数出力値が前回に同じ値であったときに内部
メモリに記憶されたデータの状態とを比較する手段も内
蔵されている。走査回路(53)は人力信号(RO−R
7)の少なくとも1個の状態が変化したと判断すると、
前回記憶されたデータを新しいデータに置換し、MPU
(44)に割り込み信号(INT)を送ってから走査
動作を一時停止する。MPU(44)は割り込み信号を
受は取ると、8ビツトデータバス(57)を介して走査
回路の内部メモリから64ビツトのデータを総て読み出
す。MPtJ(44)はこれらのデータから、オペレー
タがタッチスクリーンのどこに触れたかを判断する。M
PU(44>は走査回路からデータを取り込んで処理す
ると、割り込み終了指令を走査回路(53)に送り、走
査動作を再開させる。
クリーンの出力信号の状態を示すためには用いられない
。走査回路(53)には、現在の計数出力(30−32
)の値に応じて生じた人力信号(RO−R7)の現在の
状態と、計数出力値が前回に同じ値であったときに内部
メモリに記憶されたデータの状態とを比較する手段も内
蔵されている。走査回路(53)は人力信号(RO−R
7)の少なくとも1個の状態が変化したと判断すると、
前回記憶されたデータを新しいデータに置換し、MPU
(44)に割り込み信号(INT)を送ってから走査
動作を一時停止する。MPU(44)は割り込み信号を
受は取ると、8ビツトデータバス(57)を介して走査
回路の内部メモリから64ビツトのデータを総て読み出
す。MPtJ(44)はこれらのデータから、オペレー
タがタッチスクリーンのどこに触れたかを判断する。M
PU(44>は走査回路からデータを取り込んで処理す
ると、割り込み終了指令を走査回路(53)に送り、走
査動作を再開させる。
MPU(44)から走査回路(53)に供給される他の
信号は、走査回路の動作タイミングに用いられるクロッ
ク信号(CLK)、走査動作を初期化するりセット信号
(RESET)、走査回路内のデータバス・I/F回路
をデータ送受信可能にするチップセレクト信号(C3)
、バス(57)のデータの流れを制御する読み出し信号
(RD*)及び書き込み信号(WR*)(*の印はアク
ティブ・ローの信号を意味する。)、及びバス(57)
を介して走査回路(53)に送られた信号がデータなの
か指令なのかを示すMPU (44)のアドレス線(A
O)の信号がある。
信号は、走査回路の動作タイミングに用いられるクロッ
ク信号(CLK)、走査動作を初期化するりセット信号
(RESET)、走査回路内のデータバス・I/F回路
をデータ送受信可能にするチップセレクト信号(C3)
、バス(57)のデータの流れを制御する読み出し信号
(RD*)及び書き込み信号(WR*)(*の印はアク
ティブ・ローの信号を意味する。)、及びバス(57)
を介して走査回路(53)に送られた信号がデータなの
か指令なのかを示すMPU (44)のアドレス線(A
O)の信号がある。
MPU(44)がスクリーン上のオペレータによる接触
位置を判断する分解能はタッチスクリーン(19)に使
用されている水平及び垂直方向の光線の数によって決ま
る。1本の垂直光線と1本の水平光線がオペレータの指
で遮断されると、MPU(44)は例えば2本の光線の
交点を囲む長方形の領域である特定の「接触区域J
(58)の中に指があると判断することが出来る。従っ
て、各光線の交点により各接触区域の中心が決まり、ス
クリーン(17)は複数の接触区域により格子状に分割
されている。
位置を判断する分解能はタッチスクリーン(19)に使
用されている水平及び垂直方向の光線の数によって決ま
る。1本の垂直光線と1本の水平光線がオペレータの指
で遮断されると、MPU(44)は例えば2本の光線の
交点を囲む長方形の領域である特定の「接触区域J
(58)の中に指があると判断することが出来る。従っ
て、各光線の交点により各接触区域の中心が決まり、ス
クリーン(17)は複数の接触区域により格子状に分割
されている。
タッチスクリーンからの人力データを処理するMPU
(44)の動作は、タッチスクリーン割り込みルーチン
と、クロック信号割り込みルーチンによって制御される
。タッチスクリーン割り込みルーチンの動作は、タッチ
スクリーンの出力データの変化に応じて走査回路(53
)がMPU(44)に割り込みをしたときに開始される
。タッチスクリーン割り込みルーチンが実行されると、
MPU(44)は走査回路(53)に記憶されているタ
ッチスクリーンデータを読み出し、そのデータに応じて
パラメータの値をオペレータの接触位置の座標を示す値
か、或いはオペレータがスクリーンへの接触を止めたこ
とを示す値のどちらか一方の値に設定する。クロック信
号割り込みルーチンの動作は、第3図のクロック(49
)が割り込み信号を(好適には20 m、 sの周期で
)出力している限り、周期的に開始される。クロック信
号割り込みルーチンが実行されると、タッチスクリーン
割り込みルーチンの期間中に設定されたパラメータが示
す現在の接触区域の座標が、予め定めた数のクロック信
号が割り込む期間中に同じ値のままであるかどうかをM
PU(44)が判断し、もし、そうであれば指令がコマ
ンド!、−の中に格納される。この指令はオペレータが
接触した接触区域の座標情報か、或いはオペレータがス
クリーンへの接触を止めたことを示す情報を含んでいる
。このコマンドキューの中の指令により呼び出されたル
ーチンをMPU (44>が実行して、種々の方法で行
われるスクリーンの接触、或いは接触の中断に応答する
。スクリーンへの接触が有効でよると見なされる為には
、予め定めた数のクロック信号が割り込む期間中タッチ
スクリーンの入力データが一定値のままでなければなら
ないので、オペレータの指が間欠的に光線を遮断したと
しても、その際の一連のタッチスクリーン人力データを
表す指令がキューに格納される確率は最小になる。
(44)の動作は、タッチスクリーン割り込みルーチン
と、クロック信号割り込みルーチンによって制御される
。タッチスクリーン割り込みルーチンの動作は、タッチ
スクリーンの出力データの変化に応じて走査回路(53
)がMPU(44)に割り込みをしたときに開始される
。タッチスクリーン割り込みルーチンが実行されると、
MPU(44)は走査回路(53)に記憶されているタ
ッチスクリーンデータを読み出し、そのデータに応じて
パラメータの値をオペレータの接触位置の座標を示す値
か、或いはオペレータがスクリーンへの接触を止めたこ
とを示す値のどちらか一方の値に設定する。クロック信
号割り込みルーチンの動作は、第3図のクロック(49
)が割り込み信号を(好適には20 m、 sの周期で
)出力している限り、周期的に開始される。クロック信
号割り込みルーチンが実行されると、タッチスクリーン
割り込みルーチンの期間中に設定されたパラメータが示
す現在の接触区域の座標が、予め定めた数のクロック信
号が割り込む期間中に同じ値のままであるかどうかをM
PU(44)が判断し、もし、そうであれば指令がコマ
ンド!、−の中に格納される。この指令はオペレータが
接触した接触区域の座標情報か、或いはオペレータがス
クリーンへの接触を止めたことを示す情報を含んでいる
。このコマンドキューの中の指令により呼び出されたル
ーチンをMPU (44>が実行して、種々の方法で行
われるスクリーンの接触、或いは接触の中断に応答する
。スクリーンへの接触が有効でよると見なされる為には
、予め定めた数のクロック信号が割り込む期間中タッチ
スクリーンの入力データが一定値のままでなければなら
ないので、オペレータの指が間欠的に光線を遮断したと
しても、その際の一連のタッチスクリーン人力データを
表す指令がキューに格納される確率は最小になる。
この割り込みルーチンに関しては、1986年12月8
日出願の米国特許出願第939,645号の明細書に記
載されている。
日出願の米国特許出願第939,645号の明細書に記
載されている。
オペレータが特定の接触区域に接触したとMPU(44
>が判断すると、MPU(44)はスクリーンに表示さ
れたメニューの中にその接触区域が含まれているかどう
かを、確認する。もし、その接触区域が選択メニューの
中に含まれていれば、MPU (44)はオペレータの
選択に従ってオシロスコープの動作状態を変更する。も
し、オペレータが触れた接触区域が表示されたメニュー
の領域以外にあるとMPU (44)が判断すると、M
PU(44)は波形メモリ (32)の中のデータから
表示波形のたとえ一部でもその接触区域内を通過してい
るか否かを検査する。もし、特定の波形の一部がその接
触区域内を通過していれば、MPU(44)はオペレー
タがその特定の波形を選択したと判断して、その後その
波形の選択動作を実行する。
>が判断すると、MPU(44)はスクリーンに表示さ
れたメニューの中にその接触区域が含まれているかどう
かを、確認する。もし、その接触区域が選択メニューの
中に含まれていれば、MPU (44)はオペレータの
選択に従ってオシロスコープの動作状態を変更する。も
し、オペレータが触れた接触区域が表示されたメニュー
の領域以外にあるとMPU (44)が判断すると、M
PU(44)は波形メモリ (32)の中のデータから
表示波形のたとえ一部でもその接触区域内を通過してい
るか否かを検査する。もし、特定の波形の一部がその接
触区域内を通過していれば、MPU(44)はオペレー
タがその特定の波形を選択したと判断して、その後その
波形の選択動作を実行する。
第1A図乃至第1C図は、表示波形の何れかがオペレー
タの接触した接触区域内を通過しているか否かを判断す
る為にMPU(44)が実行するサブルーチンの流れ図
である。このサブルーチンが呼び出されるのは、オペレ
ータがスクリーンに触れたとMPU(44)が判断し、
且つその接触区域がスクリーン上に表示されているメニ
ューの領域内に存在しないと判断した後である。オペレ
ータが触れた接触区域は2個のパラメータ(xtouc
h及びytouch )によって指定される。xtou
ch及びytouchは夫々接触域の水平(X)座標及
び垂直(Y)座標を表す。オペレータが接触区域に触れ
た後MPU(44)はxtouch及びytouchの
値を測定し、そのデータをメモリに記憶する。
タの接触した接触区域内を通過しているか否かを判断す
る為にMPU(44)が実行するサブルーチンの流れ図
である。このサブルーチンが呼び出されるのは、オペレ
ータがスクリーンに触れたとMPU(44)が判断し、
且つその接触区域がスクリーン上に表示されているメニ
ューの領域内に存在しないと判断した後である。オペレ
ータが触れた接触区域は2個のパラメータ(xtouc
h及びytouch )によって指定される。xtou
ch及びytouchは夫々接触域の水平(X)座標及
び垂直(Y)座標を表す。オペレータが接触区域に触れ
た後MPU(44)はxtouch及びytouchの
値を測定し、そのデータをメモリに記憶する。
開始後ブロック(60)で、raxis 5earch
(座標軸探索)」フラグがrinvalid(無効)」
状態に設定され、その後ブロック(62)でytouc
hの1直を検査してオペレータが触れた接触区域がスク
リーン上の波形表示領域内に存在することを確認する。
(座標軸探索)」フラグがrinvalid(無効)」
状態に設定され、その後ブロック(62)でytouc
hの1直を検査してオペレータが触れた接触区域がスク
リーン上の波形表示領域内に存在することを確認する。
その接触区域が波形表示領域内にあれば、ブロー/り
(64)でaxis 5earch フラグがrva
!id(有効)」状態に設定され、2個のパラメーク(
ydata upper及びydata lowe
r)の1直が計算される。この2個のパラメータ (y
data upper及びydata ]ower
)は夫々長方形の接触区域の上辺と底辺の垂直位置を示
し、これらの値は接触区域の中心の垂直座標を表すyt
ouchの値と接触区域の既知の垂直方向の長さから計
算される。
(64)でaxis 5earch フラグがrva
!id(有効)」状態に設定され、2個のパラメーク(
ydata upper及びydata lowe
r)の1直が計算される。この2個のパラメータ (y
data upper及びydata ]ower
)は夫々長方形の接触区域の上辺と底辺の垂直位置を示
し、これらの値は接触区域の中心の垂直座標を表すyt
ouchの値と接触区域の既知の垂直方向の長さから計
算される。
ブロック(64)の後、或いはブロック(62)で接触
区域が波形表示領域内にないと判断されると、ブロック
(66)でWaVe Onフラグを無効状態に設定
し、その後ブロック(68)でaxis se−、xr
chフラグがまだ無効状態であるかを検査する。
区域が波形表示領域内にないと判断されると、ブロック
(66)でWaVe Onフラグを無効状態に設定
し、その後ブロック(68)でaxis se−、xr
chフラグがまだ無効状態であるかを検査する。
もしaxis 5earchフラグが無効状態ならば、
それは接触区域が波形表示領域内に存在しないことを意
味し、このサブルーチンは終了する。しかし、axis
5earchフラグが有効状態ならば、ブロック(6
9)で計数パラメータ■が0に設定される。
それは接触区域が波形表示領域内に存在しないことを意
味し、このサブルーチンは終了する。しかし、axis
5earchフラグが有効状態ならば、ブロック(6
9)で計数パラメータ■が0に設定される。
本発明の実施例では、オシロスコープ(10)Ito乃
至7までの番号を付した8個までの異なる波形を同時に
表示可能であり、パラメータ■は各波形の参照番号を示
す。各波形の表示に関する種々の情報は第3図のRAM
(48)に記憶されており、ブロック(70)でもし
Iの値が7以下であれば、ブロック(74)でMPU(
44)はRAM(48)内の波形表示情報を検査し、■
に相当する波形(WFM(I))が実際に表示されてい
るかどうか判断する。もし表示されていなければ、ブロ
ック(72)でIの値が1増加され、ブロック(70)
で■の値がまだ7以下なら、MPUく44)は再びRA
M (48)の波形表示情報を検査して次の波形が表示
されているか確認する。
至7までの番号を付した8個までの異なる波形を同時に
表示可能であり、パラメータ■は各波形の参照番号を示
す。各波形の表示に関する種々の情報は第3図のRAM
(48)に記憶されており、ブロック(70)でもし
Iの値が7以下であれば、ブロック(74)でMPU(
44)はRAM(48)内の波形表示情報を検査し、■
に相当する波形(WFM(I))が実際に表示されてい
るかどうか判断する。もし表示されていなければ、ブロ
ック(72)でIの値が1増加され、ブロック(70)
で■の値がまだ7以下なら、MPUく44)は再びRA
M (48)の波形表示情報を検査して次の波形が表示
されているか確認する。
ブロック(70)、(74)及び(72)のループ処理
は、ブロック(74)で波形が表示されていると判断さ
れるまで、或いはブロック(70)でIの値が8に達す
るまで継続する。Iが8に達すると、波形が表示されて
いないことになり、接触区域内を波形が通過していない
ので、ブロック(70)の後でこのサブルーチンは終了
する。しかし、ブロック(74)で波形が表示されてい
ると判断されると、ブロック (76)でMPU(44
)はxtouchの値から2個のパラメータ(xdat
a 1eft及びxdata right)の値を
計算する。これらのパラメータ (xdata 1e
ft及びxdata right)は夫々接触区域の
左辺及び右辺間に表示された波形の一部の最初の画素及
び最後の画素に対応する波形メモ’J(32)の中の波
形データを示している。
は、ブロック(74)で波形が表示されていると判断さ
れるまで、或いはブロック(70)でIの値が8に達す
るまで継続する。Iが8に達すると、波形が表示されて
いないことになり、接触区域内を波形が通過していない
ので、ブロック(70)の後でこのサブルーチンは終了
する。しかし、ブロック(74)で波形が表示されてい
ると判断されると、ブロック (76)でMPU(44
)はxtouchの値から2個のパラメータ(xdat
a 1eft及びxdata right)の値を
計算する。これらのパラメータ (xdata 1e
ft及びxdata right)は夫々接触区域の
左辺及び右辺間に表示された波形の一部の最初の画素及
び最後の画素に対応する波形メモ’J(32)の中の波
形データを示している。
xdata 1eftパラメータの値は、1波形全体
を表す波形データの数をスクリーンの全幅の接触区域の
数より1少ない数(即ち、波形表示領域の接触区域の数
)で割り算し、その結果にxtouch −1を乗算し
て求められる。また、XtOuCh rightパラ
メータの値は、波形を表す波形データの数をスクリーン
の全幅の接触区域の数より1少ない数で割り算し、その
結果にxtouchO値を乗算して求められる。
を表す波形データの数をスクリーンの全幅の接触区域の
数より1少ない数(即ち、波形表示領域の接触区域の数
)で割り算し、その結果にxtouch −1を乗算し
て求められる。また、XtOuCh rightパラ
メータの値は、波形を表す波形データの数をスクリーン
の全幅の接触区域の数より1少ない数で割り算し、その
結果にxtouchO値を乗算して求められる。
ブ07り (80)でMPU(44)は、xdata−
leftがxdata rightよ°り小さいかど
うか判断する。これは波形データの数が0でない限り常
に「真」である。もし波形データの数が0ならば、その
波形I (WFM (I))のデータは記憶されてい
ないのでIに相当する波形は表示されていないことにな
る。その場合には、接触区域を波形■が通過していない
ので、処理はブロック(82)に戻りIが1増加されて
次の波形の検査を開始する。
leftがxdata rightよ°り小さいかど
うか判断する。これは波形データの数が0でない限り常
に「真」である。もし波形データの数が0ならば、その
波形I (WFM (I))のデータは記憶されてい
ないのでIに相当する波形は表示されていないことにな
る。その場合には、接触区域を波形■が通過していない
ので、処理はブロック(82)に戻りIが1増加されて
次の波形の検査を開始する。
xdata 1eftがxtata rightよ
り小さいと、ブロック(82)で整数型変数Jがxda
ta 1eftの値に設定される。このJの値は、波
形■の全波形データの中で3番目の位置を示している。
り小さいと、ブロック(82)で整数型変数Jがxda
ta 1eftの値に設定される。このJの値は、波
形■の全波形データの中で3番目の位置を示している。
その後MPU(44)は、波形■が選択された接触区域
を通過しているかどうか判断する為に一連の3つのテス
トを実行する。
を通過しているかどうか判断する為に一連の3つのテス
トを実行する。
第1テストのブロック(84)では、3番目の位置にあ
る波形データの値(wavedata (J) )がy
data−1owerとydata upperとの
間にあるかどうかが判断される。もしそうであれば、波
形lの3番目の波形データがその接触区域の上辺と底辺
の間に表示されていることを意味する。波形103番目
の水平位置の画素は接触区域の左辺と右辺の間の位置に
あることが分かっているので、その3番目の画素が接触
区域の境界線の中に確実に存在し、オペレータがその波
形Iを選択したことになる。この場合、MPU (44
)はブロック(90)でパラメータ(wave on
)の値をIに設定し、波形Iが選択されたことを指示す
る。
る波形データの値(wavedata (J) )がy
data−1owerとydata upperとの
間にあるかどうかが判断される。もしそうであれば、波
形lの3番目の波形データがその接触区域の上辺と底辺
の間に表示されていることを意味する。波形103番目
の水平位置の画素は接触区域の左辺と右辺の間の位置に
あることが分かっているので、その3番目の画素が接触
区域の境界線の中に確実に存在し、オペレータがその波
形Iを選択したことになる。この場合、MPU (44
)はブロック(90)でパラメータ(wave on
)の値をIに設定し、波形Iが選択されたことを指示す
る。
波形Iの3番目の画素が接触区域内にない場合には、第
2テストのブロック(86)でM P U(44)は、
wavedata (J)がydata lower
より小さく、且ツwavedata (J+1)の値(
即ち、J+1番目の波形データの値)がydata
lowerの値より大きいかどうか判断する。この第2
テストが必要なのは、例えば波形Iが急峻に立ち上がる
矩形波であって、且つ接触区域がその前縁の上にあるよ
うな場合である。この場合には、3番目の画素は接触区
域の底辺のすぐ下にあり、J+1番目の画素は接触区域
の底辺のすぐ上にあるかも知れない。
2テストのブロック(86)でM P U(44)は、
wavedata (J)がydata lower
より小さく、且ツwavedata (J+1)の値(
即ち、J+1番目の波形データの値)がydata
lowerの値より大きいかどうか判断する。この第2
テストが必要なのは、例えば波形Iが急峻に立ち上がる
矩形波であって、且つ接触区域がその前縁の上にあるよ
うな場合である。この場合には、3番目の画素は接触区
域の底辺のすぐ下にあり、J+1番目の画素は接触区域
の底辺のすぐ上にあるかも知れない。
このブロック(86)が肯定されると、ブロック(90
)で波形■は選択されwave onパラメータがI
に設定される。第2テストが否定されると、第3テスト
のブロック(88〉が実行される。ここでは、wave
data (J)がydata upperより大き
く、且つwavedata (J+1)がydata
、upperより小さいかどうかが判断される。この
条件が満たされるのは、接触区域が矩形波の立ち下がり
縁にあって、波形の3番目の画素は接触区域の上辺のす
ぐ上にあり、J+1番目の画素は接触区域の上辺のすぐ
下にあるような場合である。この場合にも、ブロック
(90〉でwave onパラメータはIに設定され
る。
)で波形■は選択されwave onパラメータがI
に設定される。第2テストが否定されると、第3テスト
のブロック(88〉が実行される。ここでは、wave
data (J)がydata upperより大き
く、且つwavedata (J+1)がydata
、upperより小さいかどうかが判断される。この
条件が満たされるのは、接触区域が矩形波の立ち下がり
縁にあって、波形の3番目の画素は接触区域の上辺のす
ぐ上にあり、J+1番目の画素は接触区域の上辺のすぐ
下にあるような場合である。この場合にも、ブロック
(90〉でwave onパラメータはIに設定され
る。
wavedata(J)及びwavedata (J+
1)の値がブロック(84)、(86)、(88)の3
つのテストで総て否定されるか、或いはブロック(90
)でwave onの値がIに設定されると、Jの値
はブロック(91)で1増加される。ブロック (92
)でJの値がxdata right−1を超えてい
ないと判断されると、増加されたJの値を用いたJ及び
J+1番目の新しい位置の波形データに関し、3つのテ
スト、即ちブロック(84)、(86)、(88)が繰
り返される。このように、Xdata−1eftとxd
ata right−1の間にあるJの総ての値につ
いてこれらのテストが実行されると、ブロック(94)
でwave onの値が波形の選択されていないこと
を示す無効状態にまだ設定されているか否かが判断され
る。もし無効状態のままならば、オシロスコープは波形
選択に関する動作変更を何もしないでこのサブルーチン
を終了する。しかし、wave onlJ(Oから7
までの1直に設定され、波形の選択が指示されると、ブ
ロック(96)でサブルーチン(select wf
m(wave on) )が呼び出される。このサブ
ルーチンを実行して、wave onの値によって指
示された波形表示の輝度を強調し、以前に選択されて強
調されていた波形の輝度を減衰することにより、新しい
波形が選択されたことをオペレータに知らせる。また、
この選択波形サブルーチンによりオシロスコープの動作
状態が変更されるので、選択された波形に関して実行さ
れるオシロスコープの動作は、結局、vave on
パラメータの値によって指定された波形に対して確実に
実行される。この選択波形サブルーチンによって実行さ
れる動作として、例えば、第2図のフロントパネル上の
つまみ(16)の動作に応答するサブルーチンのように
、選択された波形に対して動作する他の複数のサブルー
チンがアクセス可能な1個以上の汎用変数の値を設定す
ることなども可能である。
1)の値がブロック(84)、(86)、(88)の3
つのテストで総て否定されるか、或いはブロック(90
)でwave onの値がIに設定されると、Jの値
はブロック(91)で1増加される。ブロック (92
)でJの値がxdata right−1を超えてい
ないと判断されると、増加されたJの値を用いたJ及び
J+1番目の新しい位置の波形データに関し、3つのテ
スト、即ちブロック(84)、(86)、(88)が繰
り返される。このように、Xdata−1eftとxd
ata right−1の間にあるJの総ての値につ
いてこれらのテストが実行されると、ブロック(94)
でwave onの値が波形の選択されていないこと
を示す無効状態にまだ設定されているか否かが判断され
る。もし無効状態のままならば、オシロスコープは波形
選択に関する動作変更を何もしないでこのサブルーチン
を終了する。しかし、wave onlJ(Oから7
までの1直に設定され、波形の選択が指示されると、ブ
ロック(96)でサブルーチン(select wf
m(wave on) )が呼び出される。このサブ
ルーチンを実行して、wave onの値によって指
示された波形表示の輝度を強調し、以前に選択されて強
調されていた波形の輝度を減衰することにより、新しい
波形が選択されたことをオペレータに知らせる。また、
この選択波形サブルーチンによりオシロスコープの動作
状態が変更されるので、選択された波形に関して実行さ
れるオシロスコープの動作は、結局、vave on
パラメータの値によって指定された波形に対して確実に
実行される。この選択波形サブルーチンによって実行さ
れる動作として、例えば、第2図のフロントパネル上の
つまみ(16)の動作に応答するサブルーチンのように
、選択された波形に対して動作する他の複数のサブルー
チンがアクセス可能な1個以上の汎用変数の値を設定す
ることなども可能である。
第1A乃至IC図に基づくルーチンを実行し、MPU
(44)はブロック(74)で各波形が表示されている
かどうかを検査する。この波形の検査は、I (波形の
参照変数)の値がブロック(69)で0に初期化されて
いるので波形の参照番号順に行われる。表示波形が見つ
かるとMPU(44)はその波形が接触区域内を通過し
ているかどうかをvi認し、もし通過していればその波
形を選択してルーチンを終了する。オペレータが触れた
接触区域内に複数の波形が通過している場合も起こり得
るが、その場合には常に波形の参照番号Iの値が最小の
波形が選択される。
(44)はブロック(74)で各波形が表示されている
かどうかを検査する。この波形の検査は、I (波形の
参照変数)の値がブロック(69)で0に初期化されて
いるので波形の参照番号順に行われる。表示波形が見つ
かるとMPU(44)はその波形が接触区域内を通過し
ているかどうかをvi認し、もし通過していればその波
形を選択してルーチンを終了する。オペレータが触れた
接触区域内に複数の波形が通過している場合も起こり得
るが、その場合には常に波形の参照番号Iの値が最小の
波形が選択される。
しかし、2つ以上の波形が接触区域内を通過している場
合、その接触区域に接触する毎に選択される波形が変更
されると都合が良いと思われる使用者がいるかも知れな
い。例えば、3個の波形(2)、(4)及び(7)が総
て同じ接触区域内を通過している場合、最初にその接触
区域が接触されると波形(2)が選択され、次にその接
触区域が接触されると波形(4)が選択され、その接触
区域の3回目の接触によって波形(7)が選択され、4
回目の接触では再び波形(2)が選択されるようにする
と好都合であるかも知れない。第1A乃至IC図の流れ
図のアルゴリズムを変更して、このような代わりの動作
モードを実現するには、第1B図の流れ図の一部を変更
するだけで良い。
合、その接触区域に接触する毎に選択される波形が変更
されると都合が良いと思われる使用者がいるかも知れな
い。例えば、3個の波形(2)、(4)及び(7)が総
て同じ接触区域内を通過している場合、最初にその接触
区域が接触されると波形(2)が選択され、次にその接
触区域が接触されると波形(4)が選択され、その接触
区域の3回目の接触によって波形(7)が選択され、4
回目の接触では再び波形(2)が選択されるようにする
と好都合であるかも知れない。第1A乃至IC図の流れ
図のアルゴリズムを変更して、このような代わりの動作
モードを実現するには、第1B図の流れ図の一部を変更
するだけで良い。
第5図は、第1B図と置換可能な本発明による他の実施
例を示す流れ図である。第5図のブロック(100)は
第1B図のブロック(68)と同じであり、axis
5earchフラグが無効でなければ、ブロック(10
1)で整数Iがwave on+1の値に設定される
。wave onの値は最後に選択された波形の参照
番号である。ブロック(102)で■の値が7を超えて
いれば、ブロック(103)でIは0に設定され、もし
、ブロック(102)でIが7以下の場合或いはブロッ
ク(103)で1が0に設定された場合には、MPU(
44)はブロック(104)でIの値がW a V e
OI+の値に等しいかどうかを確認す′る。もし、
■の値がwave onに等しくなければ、MPU(
44)はブロック(105)で波形I (DνFM(
1))が表示されているかどうかを確認する。波形■が
表示されていれば、第1B図のブロック(76〉からの
処理と同様にブロック(107)から処理が開始され、
波形1がオペレータの接触した接触区域を通過している
かどうかをMPU(44)が検査し、通過していればそ
の波形Iが選択される。もし、ブロック(105)で波
形■が表示されていないと判断されるか、或いは波形I
が表示されていてもその波形が接触区域を通過していな
いと判断された場合(第1C図のブロック(80)で否
定された場合)には、ブロック(106)で■の値が1
増加され、処理はブロック(102>に戻される。接触
区域を通過している表示波形が見付かるまで、或いはブ
ロック(104)で■の値がWaVe Onの値に等
しいと判断されるまでこのプログラムの処理は進行する
。wave onの値はその時点で既に選択されてい
る波形の参照番号であるので、ブロック(104)で■
の値がwave onに等しくなると、オペレータが
接触した接触区域を通過している他の波形がな(、wa
ve onの値で指定された波形が選択されたままで
あるので、このルーチンは終了する。第5図のルーチン
では、表示波形の探索はwave on+1の値の波
形から開始され、第1B図のように波形(0)から開始
するのではないので、オペレータが複数の波形の通過し
ている接触区域に触れる毎に異なる波形が選択される。
例を示す流れ図である。第5図のブロック(100)は
第1B図のブロック(68)と同じであり、axis
5earchフラグが無効でなければ、ブロック(10
1)で整数Iがwave on+1の値に設定される
。wave onの値は最後に選択された波形の参照
番号である。ブロック(102)で■の値が7を超えて
いれば、ブロック(103)でIは0に設定され、もし
、ブロック(102)でIが7以下の場合或いはブロッ
ク(103)で1が0に設定された場合には、MPU(
44)はブロック(104)でIの値がW a V e
OI+の値に等しいかどうかを確認す′る。もし、
■の値がwave onに等しくなければ、MPU(
44)はブロック(105)で波形I (DνFM(
1))が表示されているかどうかを確認する。波形■が
表示されていれば、第1B図のブロック(76〉からの
処理と同様にブロック(107)から処理が開始され、
波形1がオペレータの接触した接触区域を通過している
かどうかをMPU(44)が検査し、通過していればそ
の波形Iが選択される。もし、ブロック(105)で波
形■が表示されていないと判断されるか、或いは波形I
が表示されていてもその波形が接触区域を通過していな
いと判断された場合(第1C図のブロック(80)で否
定された場合)には、ブロック(106)で■の値が1
増加され、処理はブロック(102>に戻される。接触
区域を通過している表示波形が見付かるまで、或いはブ
ロック(104)で■の値がWaVe Onの値に等
しいと判断されるまでこのプログラムの処理は進行する
。wave onの値はその時点で既に選択されてい
る波形の参照番号であるので、ブロック(104)で■
の値がwave onに等しくなると、オペレータが
接触した接触区域を通過している他の波形がな(、wa
ve onの値で指定された波形が選択されたままで
あるので、このルーチンは終了する。第5図のルーチン
では、表示波形の探索はwave on+1の値の波
形から開始され、第1B図のように波形(0)から開始
するのではないので、オペレータが複数の波形の通過し
ている接触区域に触れる毎に異なる波形が選択される。
上述のように、本発明の接触による波形選択方法を用い
たM P U制御のデジタル・オシロスコープでは、オ
ペレータはスクリーン上に表示された波形の任意部分に
接触する事により特定の波形を選択することが出来る。
たM P U制御のデジタル・オシロスコープでは、オ
ペレータはスクリーン上に表示された波形の任意部分に
接触する事により特定の波形を選択することが出来る。
。この波形選択方法は、押ボタンや選択メニユーを用い
る従来の方法よりも迅速且つ直観的に波形選択すること
が出来るうえに、誤操作の確率を低減し得る。オシロス
コープに内蔵されたMPUはタッチスクリーンからの入
力データからオペレータが触れた接触区域を判断し、各
波形の表示データから表示波形のどこか一部がその接触
区域内を通過しているかどうかを判断する。もし、特定
の波形のどこか一部でもその接触区域内を通過していれ
ば、MPUはその特定の波形をオペレータが選択した波
形と判断してその後のオシロスコープの動作を実行する
。
る従来の方法よりも迅速且つ直観的に波形選択すること
が出来るうえに、誤操作の確率を低減し得る。オシロス
コープに内蔵されたMPUはタッチスクリーンからの入
力データからオペレータが触れた接触区域を判断し、各
波形の表示データから表示波形のどこか一部がその接触
区域内を通過しているかどうかを判断する。もし、特定
の波形のどこか一部でもその接触区域内を通過していれ
ば、MPUはその特定の波形をオペレータが選択した波
形と判断してその後のオシロスコープの動作を実行する
。
以上本発明の好適実施例について説明したが、本発明は
ここに説明した実施例のみに限定されるものではなく、
本発明の要旨を逸脱する事なく必要に応じて種々の変形
及び変更を実施し得る事は当業者には明らかである。例
えば、多数の波形から1つの波形を選択するだけでなく
、特定の波形の一部分を選択して制御する場合等にも応
用し得ることは明白である。
ここに説明した実施例のみに限定されるものではなく、
本発明の要旨を逸脱する事なく必要に応じて種々の変形
及び変更を実施し得る事は当業者には明らかである。例
えば、多数の波形から1つの波形を選択するだけでなく
、特定の波形の一部分を選択して制御する場合等にも応
用し得ることは明白である。
[発明の効果コ
本発明によれば、オペレータは、スクリーンに表示され
た波形の一部分に直接触れるだけで所望の波形を選択す
ることが出来るので、従来の押ボタンや選択メニユーを
用いる方法と比較して波形の選択操作が遥かに簡単にな
り、より迅速且つ容易な波形選択が可能になった上に、
誤操作の確率も低減した波形表示装置の波形選択方法を
実現している。
た波形の一部分に直接触れるだけで所望の波形を選択す
ることが出来るので、従来の押ボタンや選択メニユーを
用いる方法と比較して波形の選択操作が遥かに簡単にな
り、より迅速且つ容易な波形選択が可能になった上に、
誤操作の確率も低減した波形表示装置の波形選択方法を
実現している。
第1A図乃至第1C図は本発明による波形選択方法の処
理手順を示す一実施例の流れ図、第2図 、は本発明を
利用するのに好適なデジタル・オシロスコープ(10)
の前面図、第3図は第2図のオシロスコープのハードウ
ェア構成を示すブロフク図、第4図は第3図のタッチス
クリーン(19)、MPU(44)、及び入出力インタ
ーフェース(50)の一部を示すブロック図、第5図は
第1B図と置換可能な本発明による波形選択方法の一部
の処理手順を示す他の実施例の流れ図である。 (10)はオシロスコープ、(14)はフロントパネル
、(16)は市U ?卸つまみ、(17)はスクリーン
、〈19)はタッチスクリーン、 (44)はマイクロ
コンピユータ、(53)は操作回路、(58)は接触区
域である。 代 理 人 伊 藤 頁間
松 隈 秀 盛FIG、 IA FIG、 IB 第1頁の絖き
理手順を示す一実施例の流れ図、第2図 、は本発明を
利用するのに好適なデジタル・オシロスコープ(10)
の前面図、第3図は第2図のオシロスコープのハードウ
ェア構成を示すブロフク図、第4図は第3図のタッチス
クリーン(19)、MPU(44)、及び入出力インタ
ーフェース(50)の一部を示すブロック図、第5図は
第1B図と置換可能な本発明による波形選択方法の一部
の処理手順を示す他の実施例の流れ図である。 (10)はオシロスコープ、(14)はフロントパネル
、(16)は市U ?卸つまみ、(17)はスクリーン
、〈19)はタッチスクリーン、 (44)はマイクロ
コンピユータ、(53)は操作回路、(58)は接触区
域である。 代 理 人 伊 藤 頁間
松 隈 秀 盛FIG、 IA FIG、 IB 第1頁の絖き
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、スクリーン上に同時に表示された複数の波形から1
つの波形の選択に応じて少なくとも1動作を実行するタ
ッチスクリーン制御型の波形表示装置の波形選択方法に
おいて、 上記スクリーンへの物体の接近或いは接触を検出するこ
と、 上記スクリーン上の複数の区域から上記物体に最も近い
特定の区域を検出すること、 上記複数の波形の中で上記特定の区域内に波形の一部が
含まれている1波形を選択することとを有する波形表示
装置の波形選択方法。 2、上記スクリーン上の上記特定の区域が連続して検出
されると、該特定の区域内に少なくとも一部が含まれて
いる表示波形から順次1波形ずつ選択されることを特徴
とする特許請求の範囲第1項記載の波形表示装置の波形
選択方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US06/944,304 US4766425A (en) | 1986-12-19 | 1986-12-19 | Waveform selection by touch |
US944,304 | 1986-12-19 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63163622A true JPS63163622A (ja) | 1988-07-07 |
JPH0520771B2 JPH0520771B2 (ja) | 1993-03-22 |
Family
ID=25481157
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62320022A Granted JPS63163622A (ja) | 1986-12-19 | 1987-12-17 | 波形表示装置の波形選択方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4766425A (ja) |
EP (1) | EP0284692B1 (ja) |
JP (1) | JPS63163622A (ja) |
DE (1) | DE3787722T2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011033440A (ja) * | 2009-07-31 | 2011-02-17 | Yokogawa Electric Corp | 波形表示装置 |
JP2012103186A (ja) * | 2010-11-12 | 2012-05-31 | Yokogawa Electric Corp | 波形測定装置 |
JP2014153315A (ja) * | 2013-02-13 | 2014-08-25 | Hioki Ee Corp | 波形表示装置、及びプログラム |
Families Citing this family (24)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5157737A (en) * | 1986-07-25 | 1992-10-20 | Grid Systems Corporation | Handwritten keyboardless entry computer system |
US6002799A (en) * | 1986-07-25 | 1999-12-14 | Ast Research, Inc. | Handwritten keyboardless entry computer system |
US4972496A (en) * | 1986-07-25 | 1990-11-20 | Grid Systems Corporation | Handwritten keyboardless entry computer system |
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