JPH0212079A - 試験方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、デジタル・データのシーケンスを取り込み、
この取り込んでデータ・シーケンスに演算処理を行なっ
て新たなデータ・シーケンスを合成し、この合成したデ
ータ・シーケンスを表す波形を表示する試験装置に関す
る。

［従来の技術］ 多くの電子装置は、周期的入力信号に応答して、デジタ
ル又はアナログ出力信号を発生する。かかる電子装置を
試験するには、既知の入力信号をこの電子装置に供給し
、デジタル又はアナログ出力信号を取り込み、この取り
込んだ信号を処理して、その電子装置の特性を表す試験
結果を得る。被試験装置が出力データ・シーケンスを発
生すると、試験装置は、取り込みメモリ内にそのデータ
・シーケンスを蓄積し、そのデータ・シーケンスに１回
以上の演算を行って、試験結果を得る。被試験装置がア
ナログ出力信号を発生すると、先ず、この出力信号をデ
ジタル化して、この出力信号を表すデータ・シーケンス
を発生し、試験結果を得る為に、このデータ・シーケン
スに演算を行う。

例えば、１９８７年８月５日に出願した米国特許出願第
０７１０８１９４７号（特願昭６３＝１９０４７４号に
対応）の「正弦波パラメータを用いたデジタイザの有効
分解能測定システム」は、デジタイザ内のアナログ・デ
ジタル（Ａ／Ｄ）変換器の分解能のを効ビットを測定す
るシステムを開示している。このシステムは、既知の周
波数の正弦波を入力としてデジタイザに供給し、Ａ／Ｄ
変換器が発生した出力データ・シーケンスを得、この出
力データ・シ・−ケンスに演算を行って、Ａ／Ｄ変換器
の試験を行っている。このシステムは、正弦波出力信号
を発生する波形発生器と、この波形発生器を選択的にデ
ジタイザの入力に接続するスイッチと、このスイッチを
制御すると共に、デジタイザの出力データ・シーケンス
に演算を行うコンピュータとを具えている。このコンピ
ュータは、波形発生器出力信号に応答してＡ／Ｄ変換器
が発生したデータ・シーケンスを得る為に、デジタイザ
内の取り込みメモリをアクセスする。

［発明が解決しようとする課題］ 試験装置にとって有効なことは、任意の形式の被試験装
置に種々の試験信号を供給でき、この試験信号に応答し
て発生した被試験装置の出力信号を特徴付けるデータ・
シーケンスを取り込むことができ、種々の試験結果を得
る為に、取り込んだデータ・シーケンスにユーザが選択
可能な種々の演算を実行できることである。

したがって、本発明の目的は、試験信号を発生し、この
試験信号に対する被試験装置の応答を表すデジタル・デ
ータ・シーケンスを取り込み、このデータ・シーケンス
にユーザが選択した操作を実行し、試験結果を得る試験
装置の提供にある。

［課題を解決するための手段及び作用］本発明の第１の
観点によれば、種々の装置を試験するコンピュータ・ベ
ースド（コンピュータを基本にした）試験装置は、任意
波形発生器（波形発生手段）と、データ取り込みシステ
ム（取り込み手段）と、コンピュータ（処理手段）とを
具えている。波形発生器は、被試験装置の入力として供
給する周期的アナログ試験信号を連続的に発生する。こ
の試験信号は、コンピュータが波形発生器に供給する制
御データに応じて、振１陥、周波数及び形（即ち、正弦
波、方形波等）設定などの特性が調整可能である。取り
込みシステムは、試験信号に応答して被試験装置が発生
したデジタル又はアナログ出力信号を連続的に受ける。

被試験装置が発生した出力信号がデジタル・データの連
続し７たシーケンスのとき、この取り込みシステムは、
このシーケンスの最新のＮ個のデータ値をアドレス指定
可能な取り込みメモリ内に蓄積する。被試験装置がアナ
ログ出力信号を発生するとき、取り込みシステムは、ア
ナログ信号をデジタル化し、このアナログ信号を表すデ
ータ・シーケンスを発生した後、このシーケンスの最新
のＮ個のデータ要素を取り込みメモリ内に蓄積する。ユ
ーザは、マウス制御カーソルを用いてスクリーン上に表
示されたメニュ項目又はウィンドウを指摘し、マウスの
ボタンを押して、コマンドをコンピュータに入力する。

ユーザ・コマンドに応答して、コンピュータは、取り込
みメモリからＮ個の要素データ記録を取りだし、これを
他のメモリに蓄積し、ターミナル・スクリーン上のウィ
ンドウ内に、蓄積されたデータ・シーケンスを表す波形
表示を行う。

本発明の他の観点によれば、コンピュータは、種々の演
算動作と関連したメニュ項目を有するメニュをスクリー
ン上に表示する。これら演算動作は、１つ以上のデータ
・シーケンスに対して実行できる。ユーザがメニュ項目
の１つを選択すると、コンピュータは、スクリーン上に
会話ウィンドウを開き、そのメニュ項目に関連した動作
を実行するのに用いるパラメータをユーザに促す（プロ
ンプトする）。ユーザは、プロンプトに対する答えをタ
イプ入力する。その後、波形表示を含む１つ以上のウィ
ンドウをユーザが選択すると、コンピュータは、選択し
た動作をデータ・シーケンスに対して実行し、選択した
波形表示を制御する。この動作結果が単一のデータ値の
とき、コンピュータは、会話ウィンドウ内に値を表示す
る。動作結果が新たなデータ・シーケンスのとき、コン
ピュータはメモリ内に新たなデータ・シーケンスを蓄積
し、ユーザにウィンドウを選択するように促し、選択し
たウィンドウ内に、新たなデータ・シーケンスを基にし
た新たな波形表示を選択したウィンドウ内に行う。その
結果、他のメニュの選択した動作の基になる新たなデー
タ・シーケンスをユーザが選択する。

よって、本発明は、データ・シーケンスを表す波形を取
り込んで表示する。そして、ユーザが、演算動作に関連
したメニュ項目を選択し、選択したシーケンスの表示を
行うウィンドウを選択することにより、データ・シーケ
ンスに対して実行する演算動作を選択できるようにする
。　本発明の要旨は、特許請求の範囲の欄に特に指摘し
である。

しかし、本発明の構成及び動作方法と共に、他の利点及
び目的は、添付図を参照した以下の説明より理解できよ
う。なお、添付図において、同様な素子は、同様な参照
符号で示す。

［実施例］ 第１図は、本発明による試験装置（１０）のブロック図
であり、被試験装置（１１）からのデータ・シーケンス
を取り込み、この取り込λ、だデータ・シーケンスに対
して、演算動作を実行し、その結果を表す波形を表示す
る。装置（１０）は、好適には、マイクロソフトのＭＳ
ＤＯＳバージョン３．２オペレーテイング・システムの
下で動作するインテル製８０３８６型プロセツサ及び８
０３８７型コプロセツサの如きプロセッサ（１２）を含
んでいる。試験装置（１０）は、更に、メモリ　（１４
）、ディスク・ドライブ（１６）、プリンタ（１７）、
ＥＧＡコンパチブル・グラフィック表示ターミナル又は
モニタ（１８）、キーボード（２０）、マウス又は他の
グラフィック入力装置（２２）も具えている。これらブ
ロック（１２）、（１４）、（１６）、（１７）、（１
８）、（２０）及び（２２）は、処理手段であり、ＩＢ
Ｍ　　ＰＣ／ＡＴコンパチブル・バス（２４）と相互接
続している。さらに、試験装置（１０）は、被試験装置
（１１）に入力として供給する周期的試験信号を発生す
る任意波形発生器（２６）も含んでいる。データ取り込
みユニッＩ−（２８）は、入力試験信号に応答して被試
験装置（１１）が発生した多ビット・デジタル出力信号
によるデータをモニタし、蓄積する。被試験装置が取り
込みユニット（２８）に供給するクロック信号により、
データ取り込みが同期する。被試験装置（１１）が試験
信号に応答してアナログ出力信号を発生すると、デジタ
イザ（３０）は、このアナログ出力信号を周期的にデジ
タル化し、その結果のデータを蓄積する。バス（２４）
に接続されたブロック（２６）、（２８）及び（３０）
は、メモリ（１４）に蓄積されたプログラム・インスト
ラクジョンにより動作するプロセッサ（１２）からのコ
マンドにより制御される。

任意波形発生器（２６）は、周期的なアナログ試験信号
出力を発生するが、その周波数、振幅及び形（例えば、
矩形波、正弦波、鋸波）の設定は、バス（２４）を介し
てプロセッサ（１２）が与えた制御データに応じて調整
可能である。任意波形発生器（２６）の好適な例を第２
図に示すが、この任意波形発生器（２６）は、ランダム
・アクセス・メモリ（ＲＡＭ）（３２）、２個のレジス
タ（３４）、（３６）、加算器（３８）、バス・インタ
フェース回路（４０）及びデジタル・アナログ変換器（
ＤＡＣ）（４２）を含んでいる。例えば、波形発生器（
２６）が正弦波出力信号を発生するようにプログラムす
るには、プロセッサ（１２）は、ディスク・ドライブ（
１６）のファイル内に蓄積されたデータを、バス（２４
）及びバスインタフェース回路（４０）を介して、ＲＡ
Ｍ（３２）内に書込む。ＲＡＭ（３２）がその全アドレ
ス範囲にわたって順次アドレス指定されたときに、正弦
波の単一サイクルとして変化するデータ・シーケンスを
読出すように、ＲＡＭ（３２）内の各アドレスのデータ
を選択する。ＤＡＣ（４２）は、このデータ・サイクル
をアナログ正弦波信号に変換し、波形発生器（２６）の
試験信号出力として発生する。

レジスタ（３４）に蓄積されたデータにより、ＲＡ、Ｍ
（３２）をアドレス指定する。バス（２４）を介して伝
送され、レジスタ（３４）の入力イネーブル端子に供給
されるシステム・クロック信号の各サイクル毎に、レジ
スタ（３４）は、加算器（３８）の出力を蓄積する。加
算器（３８）は、レジスタ（３６）の内容と、レジスタ
（３４）に蓄積された最新のデータ値とを加算し、その
値をレジスタ（３４）の入力に供給する。システム・ク
ロックの各サイクル毎に、レジスタ（３６）に蓄積され
たデータ値だけ、ＲＡＭ（３２）のアドレス入力が増分
する。レジスタ（３４）の長さは、有限なので、その蓄
積値は、ゼロを介して周期的にオーバフローし、増分を
再び開始する。よって、レジスタ（３４）が定期的にシ
ステム・クロック信号により入力イネーブルされ、ＲＡ
Ｍ（３２）が周期的デジタル信号をＤＡＣ（４２）に読
み出すとき、レジスタ（３４）は、その全範囲にわたっ
てＲＡＭ（３２）を順次アドレス指定する。それに応じ
て、ＤＡＣ（４２）は、ＲＡＭ（３２）に蓄積されたデ
ータにより形及び振幅が制御される周期的試験信号を発
生する。第１図のプロセッサ（１２）は、レジスタ（３
６）のデータ（直を設定し、このステップの大きさを制
御する。これにより、レジスタ（３４）内に蓄積された
アドレスが、各システム・クロック・サイクル期間中増
分されるので、ＤＡＣ（４２）の試験信号出力の周波数
を制御できる。

第１図のデータ取り込みユニッ）（２８）の詳細なブロ
ック図を第３図に示す。プローブ・インタフェース回路
（５０）は、被試験装置からのデータを受け、このデー
タを取り込みメモリ（５２）に渡す。カウンタ（５４）
は、クロック発生器（５６）が発生した出力クロックｌ
信号のパルスを計数し、その計数出力により、取り込み
メモリ（５２）をアドレス指定する。被試験装置は、出
力データ・シーケンスの新たな要素を発生する毎に、ク
ロック信号を出力する。クロック発生器（５６）は、ク
ロック信号を遅延して、クロツク１信号をカウンタ（５
４）に供給する。また、クロック発生器（５６）は、ク
ロツク２信号を取り込みメモリ（５２）の読出し／書込
み制御入力端に供給する。取り込みメモリ（５２）が、
バス・インタフェース回路（５８）からの読出し／書込
み制御信号（Ｒ／Ｗ）により書込みイネーブルされると
、クロツク１信号により、取り込みメモリ５２はプロー
ブ・インタフェース回路（５０）のデータ出力を蓄積す
る。第１図のプロセッサ（１２）は、バス（２４）を介
してバス・インタフェース（５８）にコマンドを転送す
ることにより、Ｒ／Ｗ信号の状態を制御する。

被試験装置のデータ出力を取り込み、蓄積するために、
Ｒ／Ｗ信号をセットして、取り込みメモリ（５２）が、
プローブ・インタフェース回路（５０）内のレジスタ（
６２）のデータ出力を蓄積できるようにする。レジスタ
（６２）は、クロック発生器（５６）のクロツク１出力
信号により入力イネーブルされ、レジスタ（６２）が入
力イネーブルされたときは常に、１組の比較器（６４）
が発生した出力データ・ワードを蓄積する。各比較器（
６４）は、被試験装置のデジタル・データ出力の夫々の
ビットを入力として受ける。ＤＡＣ（６０）が発生した
闇値レベル信号（Ｔ／Ｈ）は、各比較器（６４）の第２
人力を制御する。この闇値信号の大きさは、第１図のプ
ロセッサ（１２）が発生するデータが制御し、バス・イ
ンタフェース回路（５８）に蓄積される。この闇値信号
レベルは、被試験装置が用いるロジック遷移レベルに一
致するように設定されるので、比較器（６４）の出力は
、入力データ・ピントの状態を適切に反映する。好適に
は、取り込みメモリ（５２）は、４０９６のアト【／ス
を有し、カウンタ（５４）は、１２ビツト出力である。

カウンタ（５４）は、４０９６までカウント・アップし
、０にオーバフローし、再びカウント・アップを開始す
る。よって、取り込みメモリ（５２）が入力データ・シ
ーケンスの４０９６個のデータ要素を蓄積すると、この
取り込みメモリは、入力シーケンスの順次受けた各要素
を、その最長蓄積データ要素にわたって書込む。

第１図のプロセッサ（１２）は、任意の時点にデータ取
り込み処理を中止することができ、取り込みメモリ（５
２）のデータ・シーケンスを第１図のメモリ（１４）に
蓄積させるために転送できる。取り込みメモリ（５２）
のデータ出力を読み出すため、プロセッサ（１２）はバ
ス・インタフェース回路（５８）に命令して、取り込み
メモリ（５２）を読出しモードに切替えるように、Ｒ／
Ｗ信号を設定する。同時点に、バス・インタフェース回
路（５８）は、クロック発生器（５６）に供給する制御
信号を出力する。この制御信号により、クロック発生器
（５６）は、被試験装置が発生したクロック信号に応答
するのではなく、バス・インタフェース回路（５８）が
発生した読出し信号に応答して、クロック１及びクロツ
ク２信号を発生できる。その後、バス・インタフェース
回路（５８）は、順次読出し信号を出力する。この続出
し信号により、クロック発生器（５６）は、クロツク１
信号を順次発生するので、カウンタ（５４）は、取り込
みメモリ（５２）を順次アドレス指定する。取り込みメ
モリ（５２）に蓄積されたデータを読出すと、このデー
タは、バス・インタフェース回路（５８）及びバス（２
４）を介して転送され、メモリ（１４）に蓄積される。

データ・シーケンスがメモリ（５２）から読み出される
と、第１図のプロセッサ（１２）により、バス・インタ
フェース回路（５８）は、取り込みメモリ（５２）及び
クロック発生器（５６）へのＲ／Ｗ信号及び制御信号を
リセットするので、データ取り込みユニット（２８）は
、被試験装置からの入力データを再び取り込む。

第４図は、第１図のデジタイザ（３０）の詳細なブロッ
ク図である。このデジタイザ（３０）は、第３図のデー
タ取り込みユニッ）　（２８）とばぼ同様に動作するが
、アナログ入力信号をデジタル化して、データ入力を取
り込みメモリに供給するデジタル化回路を含んでいる。

第４図のデジタイザ（３０）及び第３図のデータ取り込
みユニット（２８）の同様な機能のブロックを、同様な
参照符号で示す。第３図のデータ取り込みユニット（２
８）のプローブ・インタフェース回路（５０）は、第４
図のデジタイザにおいては、従来のデジタル化回路（５
１）に置換している。このデジタル化回路（５１）は、
アナログ入力信号を周期的にデジタル化し、取り込みメ
モリ（５２）へのデータ入力を発生する。デジタル化回
路（５１）は、クロック発生器（５６）へクロツタ信号
入力を供給する。バス（２４）及びバス・インタフェー
ス回路（５８）を介して第１図のプロセッサ（１２）か
らデジタル化回路に転送された制御コマンドにより、デ
ジタル化回路（５１）のサンプリング周波数、縮尺、及
び他の動作パラメータを調整する。

上述の如く、プロセッサ（１２）が、第３図のデータ取
り込みユニット（２８）のデータ出力を読出すのに用い
たのと同じ手順により、取り込みメモリ（５２）による
データ取り込みを中止し、この取り込みメモリのデータ
出力を読出すことができる。

プロセッサ（１２）は、第１図のグラフィック表示ター
ミナル（１８）上に、メモリ（１４）に蓄積されたデー
タ・シーケンスを表す波形を表示する。第５図は、試験
装置が動作開始した時点における、グラフィック・ター
ミナルのスクリーン（６８）上に発生する初期表示を示
す。この表示は、４つの「波形表示」ウィンドウ（７１
）〜（７４）、「会話」ウィンドウ（７５）、及び「メ
ニュ、」ウィンドウ（７６）を含む。この試験装置は、
各ウィンドう（７１）〜（７４）内に波形を表示できる
。これら各波形は、第１図のメモリ（１４）に蓄積され
たデータ・シーケンスの内の選択されたものを表す。試
験装置は、会話ウィンドウ（７５）を用いて、ユーザに
対するプロンプトを表示し、第１図のキーボード（２０
）により試験装置に入力されたデータを表示し、種々の
計算及び他の情報の結果を表示する。メニュ・ウィンド
ウ（７６）は、多（のメニュの任意の１つを表示する。

各メニュ項目は、実行すべき動作を表し、そのメニュ項
目が選択されたとき、試験装置は、他のメニュを表示す
る。ユーザは、第１図のマウス（２２）を移動して、カ
ーソル（７８）をスクリーン（６８）上の所望位置に位
置決めし、このカーソルをメニュ項目上に移動し、マウ
スのボタンを押すことにより、ウィンドウ（７６）内の
メニュの項目を選択できる。

「主」メニュが、メニュ・ウィンドウ（７６）内に先ず
、表示される。選択可能な主メニュ項目には、次のよう
なものがある。

５ＩＧＮＡＬ（信号）：この動作は、ウィンドウ（７６
）内の主メニュを「信号Ｊメニュに置き換えて、第１図
の任意波形発生器（２６）が発生した出力試験信号の特
性をユーザが調整できるようにする。

ＤＩＧＩＴＩＺＥＲ（デジタイザ）：この動作は、主メ
ニュを「デジタイザ」メニュに置き換えて、第１図のデ
ジタイザ（３０）のサンプリング周波数及び他の動作パ
ラメータをユーザが調整できるようにする。

ＴＲＡＮＦＯＲＭ　（変換）：この動作は、主メニュを
「変換」メニュに置き換え、ユーザ選択ウィンドウ（７
１）〜（７４）内に表示された波形が表す１つ以上のデ
ータ・シーケンスに対して実行する種々の演算動作（「
変換」）をユーザが選択できる。

ＰＲＯＣＥＳＳ　ＩＮＧ　（処理）：この動作は、主メ
ニュを「処理」メニュに置き換えて、ユーザ選択ウィン
ドウ（７１）〜（７４）内に表示された波形が表す１つ
以上のデータ・シーケンスに対して選択された演算動作
を実行する。

ＭＥＡＳＵＲＥ　（測定）：この動作は、主メニュを「
測定」メニュに置き換えて、表示された波形に対して実
行すべき種々の測定動作をユーザが選択できるようにす
る。

ＤＩＳＫ　　ＡＣＣＥＳＳ（ディスク・アクセス）：こ
の動作は、主メニュを「ディスク・アクセス・ユーティ
リティ」メニュに五き換えて、ユーザが、第１図のディ
スク・ドライブ（１６）に蓄積されたデータ・ファイル
のディレクトリをアクセスし、データ・シーケンスを含
むデータ・ファイルをメモリ内にロードし、このデータ
・シーケンスを表す波形をユーザ選択ウィンドウ（７１
）〜（７４）内に表示し、ディスク・ドライブ（１６）
内のデータ・ファイルとしてデータ・シーケンスをメモ
リ内に蓄積できるようにする。

Ｓ　ＪＭｔＪＬＡＴ　Ｉ　ＯＮＳ　（シミュレーシａ　
７）：この動作は、主メニュを「シミュレーション１メ
ニユに置き換え、ユーザが、波形として発生し、表示す
べき種々のデータ・シーケンスを特定できるようにする
。

Ａ−Ｔｏ−Ｄ　　ＴＥＳＴＩＮＧ（Ａ／Ｄ試験）：この
動作は、主メニュを「Ａ／Ｄ試験」メニュに置き換えて
、ユーザが、被試験Ａ／Ｄ変換器に対して実行すべき種
々の試験動作を選択できるようにする。

ＤＲＡＷ　　ＧＲＡＴＩＣＵＬＥ（描画目盛り）：この
動作ば、コ、−ザ選択ウィンドウ（７１）〜（７４）内
の波形表示に格子を重ねる。

ＬＩＳＴＩＮＧ　　ＷＦＭ（波形リスト）；この動作は
、選択した波形表示を制御するデータ・シーケンスのプ
リントアウトを行う。

ＨＡＲＤＣＯＰＯＹ　（ハードコピー）：この動作は、
波形表示のプリントアウトを行う。

ＱＵＩＴ（開放）：この動作は、システム制御を、ディ
スク・オペレーティング・システムに戻す。

上述した本発明の好適実施例は、Ａ／Ｄ変換器を試験す
るのに特に適する。Ａ／Ｄ変換器を試験するには、ユー
ザは、先ず、第１図の任意波形発生器（２６）の試験信
号出力をＡ／Ｄ変換器の入力端に供給し、Ａ／Ｄ変換器
のデジタル及びクロック信号出力をデータ取り込みユニ
ッ）　（２Ｂ）に供給する。次に、ユーザが、第５図に
示す主メニュのｒＡ−Ｔｏ−Ｄ　　ＴＥＳＴ［ＮＧ、項
目を選択すると、試験装置は、メニュ・ウィンドウ（７
６）内の主メニュ表示を第６図に示す如きＡ／Ｄ試験メ
ニュの表示に置き換える。ユーザがｒＳ　ＩＮＥ　　Ｗ
ＡＶＥ　（正弦波）Ｊメニュ項目（８０）を選択すると
、試験装置は、会話ウィンｌつ（７５）内にプロンプト
を表示し、発生すべき正弦波試験信号の周波数を入力す
るようにユーザを促す。ユ・−チがキーボードを用いて
周波数パラメータ値を入力すると、試験装置は、ユーザ
が選択した周波数の正弦波試験信号出力を任意波形発生
器（２６）が発生するように設定する。

次に、ユーザば、ｒＡｃＱＵＩＲＥ　　ＷＡＶＥＦＯＲ
Ｍ　（波形取り込み）」メニュ項目（８２）を選択し、
試験装置は、それに応じて、会話ウィンドウ（７５）内
にプロンプトを表示し、Ａ／Ｄ変換器出力データのロジ
ック闇値、出力信号のデータのビット数、クロック信号
の周波数、表示すべき記録長（４０９６未満）を入力す
るようにユーザを促す。ユーザが、要求された入力パラ
メータを与えると、試験装置は、第３図のデータ取り込
みユニット（２８）の闇値ＤＡＣ（６０）をユーザの指
定した闇値に調整し、取り込みユニットは、被試験Ａ／
Ｄ変換器が発生した出力データの取り込みを開始する。

次に、試験装置はプロンプトを表示し、マウスを用いて
４つの波形表示ウィンドウ（７１）〜（７４）の任意の
１つを選択するように、ユーザに要求する。データ取り
込みユニッ１−（２８）は、Ａ／Ｄ変換器のデータ出力
を受け、Ａ／Ｄ変換器から受けた出力データ・シーケン
スの内、最後に取り込んだ４０９６個のデータ要素を蓄
積する。ユーザがウィンドウの１つを選択した後、試験
装置は、第３図の取り込みメモリ　（５２）のデータ・
シーケンス出力の一部を周期的な読出しを開始し、第１
図のメモリ（１４）内のデータ記録としてデータ・シー
ケンスを蓄積し、選択ウィンドウ（７１）〜（７４）内
に、この蓄積したシーケンスを表す波形表示を行う。記
録長プロンプトに対するユーザ応答により、取り込みメ
モリのデータ・シーケンス読出しの長さを決める。

第６図は、ウィンドウ（７■）内に発生した波形表示結
果を示す。被試験Ａ／Ｄ変換器への入力信号が正弦波な
ので、この表示は、正弦波に類似している。ユーザがマ
ウス・ボタンを順次押すと、試験装置は、取り込みメモ
リのデータ読出しを停止し、ウィンドウ（７１）内の表
示の更新も停止する。その後、この波形表示を固定する
。さらに、試験装置は、会話ウィンドウ（７５）内に、
最大値ＹＩｌａｘ、最小値Ｙｍｉｎ　、波形表示の左端
及び右端が表す相対時間Ｘ　ｍｉｎ及びＸｍａｘを表す
データ表示を行う。

次に、ユーザにより、試験装置は、ｒＥＦＦＥＣＴＩＶ
Ｅ　　Ｂ＋ＴＳ（有効ビット）」メニュ項目（８３）を
選択することにより、Ａ／Ｄ変換器の「分解能のを効ビ
ット」を計算する。試験装置は、それに応答して、被試
験Ａ／Ｄ変換器のデータ出力が表す波形表示を選択する
ように、ユーザを促す。第７図に示す如く、ユーザがウ
ィンドウ（７１）を選択すると、試験装置は、メモリ（
１４）に蓄積されたデータ・シーケンスから、Ａ／Ｄ変
換器の分解能の有効ビットを計算する。

この有効ビットが、ウィンドウ（７１）の波形表示を制
御する。計算結果は、会話ウィンドウ（７５）に表示さ
れる。（演算した分解能の有効ビットについては、上述
の米国特許出願第０７１０８１９４３号に詳細に説明し
である。）次に、ユーザは、Ａ／Ｄ変換変換器出力テラ
に対して、「フラットトップ」フーリエ変換（ＦＦＴ）
動作を開始させることができる。この動作は、入力デー
タ・シーケンスの周波数成分の振幅を表す出力データ・
シーケンスを発生する。理想的なＡ／Ｄ変換器は、正弦
波入力信号に応答して、単一の周波数成分のみの出力デ
ジタル・シーケンスを発生する。ユーザが、ｒＦＬＡＴ
ＴＯＰ　　ＦＦＴ。

メニュ項目（８５）を選択した後、試験装置は、演算用
の入力データ・シーケンスを表す波形のあるウィンドウ
を選択するように、ユーザを促す。

次に、ユーザは、ウィンドウ（７１）を選択する。

そ１．て、試験装置は、計算すべきフーリエ変換動作出
カシ−ケンスを表す波形を表示するウィンドウを選択す
るように、ユーザを促す。ユーザが、例えば、ウィンド
ウ（７２）を選択した後、試験装置は、Ａ／Ｄ変換器出
力データ・シーケンスのフーリエ変換を計算し、第８図
に示す如（、ウィンドウ（７２）内に適切な表示を行う
。

ユーザは、Ｎ−１１３ＴＯＧＲＡＭ　（ヒストグラム）
」メニュ項目（８７）を選択すると、被試験Ａ／Ｄ変換
器の発生した出力データのシー・ケンスを連続的に取り
込み、ヒストグラム・データ・シーケンスを発生する動
作を開始する。このヒストグラム・データ・シーケンス
の各要素は、変換器出力データ要素の内、特定の値の割
合を表す。第９図に示す如く、ユーザがウィンドウ（７
４）を選択したとき、このヒストグラムがウィンドウ（
７４）にプロットされ、新たなデータが取り込まれる毎
に、連続的に更新される。その後、ユーザがマウス・ボ
タンを押すと、データ取り込みが終わり、ヒストグラム
表示が固定される。

ユーザがｒＸＹ　　ＣＵＲ３ＯＲ（ＸＹカーソル）」メ
ニュ項目を選択すると、試験装置は、選択した波形ウィ
ンドウ内に水平及び／又は垂直ライン・カーソル（８４
）を表示する。ユーザは、第１図のマウス（２２）を用
いて、このカーソルを移動できる。試験装置は、会話ウ
ィンドウ（７５）内にデータを表示し、カーソル位置に
関連した波形データが表す値を指示する。第９図におい
て、ユーザは、ヒストグラム表示を含むウィンドウ（７
４）内の垂直う・イン・カーソル（８４）を指定した。

試験装置は、会話ウィンドウ（７５）内にデータ表示を
行い、Ａ／Ｄ変換器の出力データの全値の０１８５％が
８８の値である点にて、垂直ライン・カーソル（８４）
が波形表示と交差していることを示す。

第１０図は、ｒＤ　　Ｎ０ＮＬＩＮＥＡＲＩＴＹ（差動
非直線性）」メニュ項目（９１）が選択された際、ウィ
ンドウ（７４）内の表示が表すヒストグラム・データに
対して演算を実施した結果をウィンドウ（７３）に示し
ている。このメニュ項目は、差動非直線性演算を求める
ものであり、この演算は、ヒストグラムを処理して、出
力データ値の関数としての最下位ビットの割合により、
Ａ／Ｄ変換器の変換特性の非直線性を表すデータ・シー
ケンスを発生する。また、第１０図は、ユーザがｒＴＲ
ＡＮｓＦＥＲＣＵＲＶＥ（変換曲線）」メニュ項目を選
択した際、ウィンドウ（７３）の表示を制御するデータ
・シーケンスに対して実行した演算結果を、ウィンドウ
（７２）内に示している。この変換曲線演算は、Ａ／Ｄ
変換器の変換特性を示すデータ・シーケンスを発生する
。理想的なＡ／Ｄ変換器の変換特性は、一定のステップ
の階段波形である。ステップの高さ又は幅の変動が、Ａ
／Ｄ変換器の非直線性を示す。

上述の例に示した如く、本発明の試験装置は、被試験装
置への入力として供給する試験信号を発生し、この被試
験装置が発生した出力データ・シーケンスを取り込み、
このデータ・シーケンスを表す波形を表示する。さらに
、この試験装置により、ユーザは、取り込んだデータ・
シーケンスに対して実行すべき種々の演算のパラメータ
を容易に選択且つ特定できる。演算結果が単一のデータ
値のとき、この値を会話ウィンドウに表示する。

演算結果が計算したデータ・シーケンスのとき、試験装
置は、計算したデータ・シーケンスをメモリに蓄積し、
このシーケンスを表す波形をウィンドウ内に表示する。

そして、ユーザは、演算動作を選択し、その演算動作に
対する計算結果のシーケンスを表す波形を選択すること
により、まだ他の演算動作に対する計算結果のデータ・
シーケンスを選択できる。　第１１図は、試験装置が動
作開始した後の、第１図のプロセッサ（１２）の動作を
制御するプログラムの流れ図である。試験装置が動作を
開始すると、この試験装置は、先ず、第５図に示す如く
、６つのウィンドウ（７１）〜（７６）を表示する（ス
テップ（１００）〜（１０２））。ステップ（１００）
において、ウィンドウ（７１）〜（７６）を表示するが
、これらは初め空である。しかし、その後すぐに、メニ
ュ・ウィンドウ（７６）に主メニュを表示しくステップ
（１０１））、会話ウィンドウ（７５）にプロンプトを
表示して、ユーザにメニュ項目を選択するように要求す
る（ステップ（１０２））。

そして、試験装置は、ユーザがマウス・ボタンを押すの
を待つ（ステップ（１０４））。ユーザがマウス・ボタ
ンを押すと、試験装置は、現在のカーソル位置から、ユ
ーザが他のメニュを呼び出すメニュ項目を選択したかを
判断する。そうならば、試験装置は、他のメニュを表示
するサブルー・チンを呼び出し、そのメニュからの選択
に応答する（ステップ（１０Ｂ））、呼び出されたサブ
ルーチンが終了すると、プログラムは、ステップ（１０
１）に戻り、主メニュが再び表示される。

ユーザが、新たなメニュを表示するか、プログラムを中
止する以外の動作を示すメニュ項目を選択すると（ステ
ップ（１１０））、サブルーチンが呼び出され、試験シ
ステムは、選択された動作を実行できる（ステップ（１
１２））。演算サブルーチンが終了すると、プログラム
はステップ（１０４）に戻り、試験装置は、他のマウス
・ボタンの動作を待つ。ユーザが、主メニュでｒＱ［Ｊ
ＩＴ（中止）」メニュ項目を選択すると（ステップ（１
１４））、プログラムは、ディスク・オペレーティング
・システムに出る（ステップ（１１６）　）。カーソル
がメニュ項目以外の時にユーザがマウス・ボタンを押す
と、プログラムは、ステップ（１０４）、（１０６）、
（１１０）及び（１１４）を介して、ステップ（１０４
）に戻る。

第１２図は、第１１図のステップ（１０Ｂ）にて呼び出
される典型的なメニュ・サブルーチンの流れ図である。

ステップ（１２０）で開始し、試験装置は、適当なメニ
ュを表示し、ユーザがマウス・ボタンを再び押すまで待
つ（ステップ（１２２））。ユーザが、演算動作に関す
るメニュ項目を選択すると（ステップ（１２４））、そ
れに関した演算動作を実行する他のサブルーチンを更に
呼び出す（ステップ（１２６））。その後、プログラム
は、ステップ（１２２）に戻る。ユーザが、主メニュに
関するメニュ項目を選択すると（ステップ（１２Ｂ））
、このサブルーチンは、第１１図の主メニュ・ルーチン
のステップ（１０４）に戻る。ユーザがマウス・ボタン
を操作するが、メニュ項目を選択しないならば、第１２
図のサブルーチンは、ステップ（１２２）、（１２４）
及び（ｉ２Ｂ）を介して、ステップ（１２２）に戻る。

第１３図は、第１２図のステップ（１２６）で呼び出さ
れた典型的なサブルーチンの流れ図であり、データ・シ
ーケンスに対して、演算動作を実行する。試験装置は、
（もし、必要ならば）サブルーチンが実行すべき演算動
作を制御する入力パラメータ用のプロンプトを会話ウィ
ンドウに先ず発生し、ユーザが入力したパラメータを得
、蓄積する。次に、試験装置は、波形を含む１つ以上の
ウィンドウを選択するようにユーザを促し、選択した波
形が表すデータ・シーケンスのメモリ蓄積位置を示すデ
ータを蓄積する（ステップ（１３２））演算動作の結果
が、計算したデータ・シーケンスならば（ステップ（１
３４））、試験装置は、計算されたデータ・シーケンス
を表す波形を表示するウィンドウを選択するように、ユ
ーザを促す（ステップ（１３６））。その後、試験装置
は、選択されたデータ・シーケンスに対する演算を実行
しくステップ（１３Ｂ））、会話ウィンドウ及び／又は
選択された波形表示ウィンドウ内に演算結果を表示する
（ステップ（１４０））。次に、サブルーチンは、その
呼び出し先に戻る。

上述は、本発明の好適な実施例について説明したが、本
発明の要旨を逸脱する事なく種々の変形及び変更が可能
である。

［発明の効果１ 上述の如く、種々の装置を試験する本発明によるコンピ
ュータ・ベースド試験装置は、任意波形発生器と、デー
タ取り込みシステムと、コンピュータとを具えている。

波形発生器は、ユーザ入力に応答してコンピュータが設
定した調整可能なパラメータのアナログ試験信号を連続
的に発生する。

データ取り込みシステムは、入力信号に応答して、被試
験装置の出力を表すデータを取り込み、取り込んだデー
タ値の最新のＮ個を蓄積する。ユーザ入力に応答して、
コンピュータは、取り込みシステムからのデータ・シー
ケンスを他のメモリに転送し、蓄積されたデータ・シー
ケンスを表す波形を、ターミナル・スクリーン上のうイ
ントウ内に表示する。また、コンピュータは、１つ以上
ｃ７）　５’−タ・シーケンスに対し°て実行できる演
算動作に関するメニュ項目を表示する。ユーザがメニュ
項目の１つを選択すると、そのメニュ項目に関する動作
を実行するのに用いるパラメータ値を与え、波形表示を
含んだ１つ以上のウィンドウを選択するように、コンピ
ュータはユーザに促す。その後、コンビエータは、選択
された波形表示を制御するデータ・シーケンスに対して
、選択された動作を実行する。演算動作結果が新たなデ
ータ・シーケンスのとき、コンピュータは、この新たな
データ・シーケンスをにモリに蓄積し、この新たなデー
タ・シーケンスを基に新たな波形表示をユーザ選択ウィ
ンドウ内に行う。その後、ユーザは、他のメニュ選択動
作に対する新たなデータ・シーケンスを選択する。

したがって、本発明の試験装置は、試験信号を発生し、
この試験信号に対する被試験装置の応答を表すデジタル
・データ・シーケンスを取り込み、このデータ・シーケ
ンスにユーザが選択した操作を実行し、試験結果を得る
ことができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明の好適な実施例のブロック図、第２図
は第１図に用いる任意波形発生器のブロック図、第３図
は第１図に用いるデータ取り込みユニットのブロック図
、第４図は第１図のデジタイザのブロック図、第５〜第
１Ｏ図は第１図による表示例を示す図、第１１〜第１３
図は第１図に用いるプロセッサをプログラミングするソ
フトウェアの流れ図である。 （１０）は試験装置、（１１）は被試験装置、（１２）
はプロセッサ、（１４）はメモリ、（１６）はディスク
・ドライブ、（１７）はプリンタ、（１８）はグラフィ
ック表示ターミナル、（２０）はキーボード、（２２）
はマウス、（２６）は任意波形発生器、（２８）はデー
タ取り込みユニット、（３０）はデジタイザ、（３２）
はＲＡＭ、（３４）、（３６）、（６２）はレジスタ、
（３８）は加算器、（４ｏ）、（５８）はバス・インタ
フェース、（４２）、（６ｏ）はＤＡＣ１（５０）はプ
ローブ・インタフェース回路、（５１）はデジタル化回
路、（５２）は取り込みメモリ、（５４）はカウンタ、
（５６）はクロック発生器である。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、入力アナログ試験信号に応答して出力信号を発生す
   る被試験装置を試験する試験装置であって、 制御データに応じて特性が制御される上記試験信号を発
   生する波形発生手段と、 上記出力信号を受け、最新の上記出力信号に対応するデ
   ータを蓄積するデータ取り込み手段と、 パラメータ値を受け、このパラメータ値に応じて、上記
   波形発生手段に供給する上記制御データを発生し、上記
   データ取り込み手段から上記データを取り込み、この取
   り込んだデータを演算して、データ・シーケンスを発生
   し、このデータ・シーケンスを表す波形を表示する処理
   手段と を具えた試験装置。 ２、データ及び命令を蓄積する手段と、 スクリーン上に複数のウィンドウを同時に表示し、蓄積
   された上記データを表す波形を上記ウィンドウ内に表示
   すると共に、上記スクリーン上にメニュ項目を表示する
   手段と、 メニュ項目及びウィンドウ選択入力を受ける手段とを具
   え、 データ・シーケンスを蓄積し、 上記スクリーン上に複数のウィンドウを表示し、 上記蓄積されたデータ・シーケンスを表す波形を上記ウ
   ィンドウ内に表示し、 上記メニュ項目に応じた特定の演算を選択する入力を受
   け、 波形を表示する第１ウィンドウを選択する入力を受け、 他の波形を表示する第２ウィンドウを選択する入力を受
   け、 上記第１ウィンドウ内に表示された波形が表すデータ・
   シーケンスに対して上記特定の演算を行い、出力データ
   ・シーケンスを発生し、この出力データ・シーケンスを
   表す波形を上記第２ウィンドウ内に表示する ことを特徴とする試験装置。