JPH0520771B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、複数の波形をスクリーン上に同時に
表示し、オペレータが選択した波形に対して種々
の動作を実行し得るオシロスコープの如き波形表
示装置に好適な波形の選択方法に関する。

［従来技術］ デジタル・オシロスコープの多くはスクリーン
上に複数の波形を同時に表示することが可能で、
各波形は異なる入力信号を時間の関数として表示
する。このようなオシロスコープでは、オペレー
タはスクリーン上の波形の垂直位置、トリガレベ
ル、色、及び輝度等の種々の表示属性を調整選択
することが出来る。各波形には複数の表示属性が
あり、且つ多数の波形が同時に表示されるかも知
れないので、各波形の表示属性を調整するつまみ
やスイツチ等をフロントパネル上に別々に設ける
ことは実用的ではない。従来のオシロスコープの
中には、各表示属性を制御するつまみやスイツチ
を前面パネル上に別々に設けたり、多数の表示波
形からオペレータ（操作者）が特定の波形を選択
出来るように１組の押ボタン群を設けているもの
がある。この場合、特定の波形の表示属性を変更
するには、オペレータは波形選択用つまみや押ボ
タンにより先ず波形を選択しなければならない。
一旦波形が選択された後に、オペレータの表示属
性制御用のつまみや押ボタンの調整に応じて選択
された波形の表示属性を変更する。

他のオシロスコープでは、スクリーン上に波形
選択用のメニユー（選択項目）を表示し、オペレ
ータがその選択メニユーから波形を選択出来るよ
うにすることにより、波形選択用つまみや押ボタ
ン等の必要性を低減しているものもある。このよ
うなメニユー操作のオシロスコープでは、オペレ
ータは通常スクリーン付近に設けられた１組のメ
ニユー選択押ボタンから特定のボタンを押して波
形を選択出来る。これらメニユー選択用押ボタン
は他のメニユーが表示されたときには他の目的に
使用し得るが、それでもなお波形選択に押ボタン
が必要である。メニユー操作のオシロスコープの
中には、オペレータのスクリーンへの接触に感応
し、スクリーン上の接触座標を指示する入力デー
タを機器に供給するタツチスクリーン装置を有す
るものもある。このようなタツチスクリーン制御
機器では、オペレータはスクリーンに表示された
選択メニユーに直接触れるだけでメニユーの選択
が出来るのでメニユー選択用の押ボタンの必要性
を解消することが出来る。

デジタル・オシロスコープの中には、オペレー
タが選択した波形に関する種々の測定をして表示
するものがある。例えば、オペレータが調整した
１本のカーソルの指示する選択波形上の任意の点
の値を測定し、そのデータを表示したり、オペレ
ータが調整した１対のカーソルが指示する波形上
の２点間の最小値と最大値を測定したり、或いは
オペレータが設定した選択波形上の一部分を水平
方向に拡大表示したり出来る。オペレータが選択
した波形の種々の測定がこのように自動的に実行
されるようにすることにより、各表示波形の測定
パラメータを別々に調整する為に押ボタンや制御
つまみ等の入力装置を別々に設ける必要がなくな
る。

従つて、オペレータが表示波形を任意に選択出
来るようにし、その選択波形の波形表示属性や波
形測定パラメータを種々の押ボタンやつまみ等の
入力装置を操作して調整し、オシロスコープの動
作を制御するようにすれば、各波形の調整用にこ
のような入力装置を別々に設ける必要がないの
で、入力装置の数を低減することが出来る。

［発明が解決しようとする問題点］ しかし、このような入力装置を使用して波形表
示属性や波形測定パラメータを調整する前に、オ
ペレータは先ず波形を選択しなければならないの
で、オシロスコープの動作を制御する為にオペレ
ータが知るべき事及び行うべき事が一層複雑にな
る。例えば、メニユー操作の機器では、オペレー
タは先ずオシロスコープに波形選択メニユーを表
示させなければならず、一旦表示されたメニユー
の中から波形を選択しなければならない。その
後、オペレータは波形を選択するとスクリーンに
表示された選択メニユーを消去しなければならな
い。このように操作手順が増加するので、オペレ
ータが波形表示属性や波形測定パラメータを変更
するのに要する時間も増加してしまう。また、操
作手順が追加されると、オペレータの誤操作の頻
度も増加してしまう。なぜなら、オシロスコープ
のスクリーンに表示されている波形の順序をオペ
レータが勝手に変更してしまうと、どの波形が特
定の波形選択メニユーに対応するのかを容易に判
断出来なくなるからである。

従つて、オペレータが波形の選択データをオシ
ロスコープに入力する際に、容易に理解でき、し
かも簡単に操作可能なシステムの実現が望まれて
いた。

本発明の目的は、オペレータが波形の選択デー
タをオシロスコープの如きコンピユータ制御の波
形表示装置に入力する為の新規な波形選択方法を
提供することである。

［問題点を解決する為の手段及び作用］ 本発明は複数の波形をスクリーン上に同時に表
示可能で、オペレータが選択した特定の波形に関
して、表示属性の変更や種々の測定等を実行可能
なマイクロコンピユータ（MPU）制御のオシロ
スコープの如き波形表示装置の波形選択方法に関
する。本発明によれば、オペレータはスクリーン
上に表示された波形の一部に触れるだけで特定の
波形が選択可能なオシロスコープの為のシステム
を提供している。スクリーン上の表示波形に直接
触れて行う波形選択は、人為的に波形に対応する
押ボタンを押したり、波形に対応する制御つまみ
を設定したり、波形に対応するメニユーを選択し
たりする波形選択方法よりも極めて迅速且つ直観
的に選択出来るので、誤操作をする確率も大幅に
低減する。特定の押ボタン、つまみ、又はメニユ
ーを使用して波形を選択する従来の方法では、オ
ペレータが留意すべき手順が増加するので、波形
の選択に要する時間が長くなる上に誤操作の確率
も増加する。

本発明によれば、従来のタツチスクリーン構成
により水平方向及び垂直方向の光線群がオシロス
コープのスクリーン上に形成され、各光線の交点
を囲む長方形の区域である「接触区域」にスクリ
ーン全体が分割されている。オペレータが指で光
線を遮断すると、タツチスクリーンはいつどの接
触区域が接触されたかを示す入力データをオシロ
スコープ内のMPUに供給する。MPUは各波形表
示を制御する為に記憶された波形データからオペ
レータが最後に接触した接触区域内を表示波形の
どれかが通過しているか否かを判断する。もし、
特定の波形の一部でもその接触区域内を通過して
いれば、MPUはその特定の波形をオペレータが
選択したと判断してオシロスコープのその後の動
作を制御する。

代表的なデジタル・オシロスコープでは、各波
形は複数の画素で構成された線としてスクリーン
に表示される。スクリーン上における各画素の垂
直位置は、入力信号を周期的にデジタル変換（デ
ジタイズ）して得た波形データ列の１つ１つのデ
ータによつて決まる。本発明によれば、波形の少
なくとも１画素が接触区域内にあつたとき、或い
は波形の水平及び垂直方向に連続する２個の画素
が接触区域の境界線をどこかで挟んでいるとき、
MPUはその特定の波形が接触区域を通過してい
ると判断する。後者の場合が特に重要なのは、接
触区域が矩形波の急激に変化する前縁か後縁付近
にあつて、波形を構成する画素が接触区域内に事
実上見えなくても、連続する２個の画素が接触区
域の境界線を挟んで存在する場合である。

［実施例］ 本発明はMPU制御のデジタル・オシロスコー
プのスクリーンに表示された複数の波形から１波
形をオペレータが選択する為の方法及び装置に関
する。第２図はコンピユータ制御のデジタル・オ
シロスコープ１０の前面を示しており、本体シヤ
ーシ１２、該本体シヤーシに固定されたフロント
パネル１４、制御つまみ１６、スクリーン１７、
フロントパネル上の押ボタン１８、及び３本のプ
ラグイン２０，２２，２４を含んでいる。各プラ
グインはフロントパネル１４上の対応するスロツ
トを介して本体シヤーシ１２に挿入される小型の
抜き取り可能なシヤーシを有し、オシロスコープ
１０のハードウエアのサブシステムを構成してい
る。これらプラグインのハードウエア・サブシス
テムは本体シヤーシ１２の後方の結線部を介して
垂直チヤンネル増幅器、トリガ回路及び他の回路
などと相互接続している。各プラグインは固有の
フロントパネルを有し、各フロントパネル上には
押ボタン、制御つまみ、入力ジヤツク等を追加す
ることができる。スクリーン１７はオシロスコー
プの出力した波形、メニユー、データ及び他の図
形や文字等を表示し、タツチスクリーン１９はス
クリーン１７の周囲の辺に配置された光源及び光
検出器の列を含み、オペレータの指が接触したス
クリーン上の位置を指示する入力データをオシロ
スコープ１０に供給する。タツチスクリーン１９
の有用な応用例として、例えばオペレータは指で
スクリーンに表示されたメニユーに触れるだけで
オシロスコープの種々の動作を変更することが出
来る。このタツチスクリーンの詳細については後
述する。

第３図は、第２図のオシロスコープ１０のハー
ドウエアを示すブロツク図である。被測定装置か
らの信号はプラグイン２０，２２，２４の入力ジ
ヤツクを介してオシロスコープ１０に入力し、プ
ラグインの前段処理後、波形及びトリガ入力とし
てデジタイザ３０に供給される。デジタイザ３０
は選択された入力信号をデジタル変換して、連続
入力信号サンプルの値を表す波形データ列を出力
し、これらの波形データ列はメモリ管理装置
（MMU）３４を介して波形メモリ３２に送られ
て記憶される。MMU３４は波形メモリ３２への
複数のアクセス要求を調停する装置である。
MMU３４については、1986年９月26日出願の米
国特許出願第912024号（特願昭62−242386号に対
応）の明細書に詳細に記載されている。MMU３
４を介して表示コントローラ３６が、波形メモリ
３２内の波形データ列を取り込んでオシロスコー
プ表示のビツトマツプを生成し、これを表示メモ
リ３８に格納する。表示コントローラ３６は周期
的にビツトマツプ情報を表示メモリ３８から取り
込み、その情報を表示ドライバ４０に送つて、オ
シロスコープ１０のスクリーン上にビツトマツプ
情報に応じた表示を出力する。

MPU４４は制御線、データ線、及びアドレス
線を含むコンピユータ・バス４５及びMMU３４
を介して波形メモリ３２のデータの読み出し及び
書き込みを行う。MPU４４は好適にはインテル
社製80286型プロセツサを含み、更に、高速演算
動作のためにインテル社製80287型コプロセツサ
及び高速入出力動作のためにインテル社製82258
型直接メモリアクセス（DMA）コントローラを
内蔵していても良い。MPU４４は読み出し専用
メモリ（ROM）４６に記憶されているソフトウ
エア（又はフアームウエア）の制御により動作
し、ランダム・アクセス・メモリ（RAM）４８
には一時的にデータを格納する。ROM４６及び
RAM４８はバス４５を介してアクセスされる。
MPU４４はプログラムに従つて、例えばプラグ
イン２０，２２，２４、デジタイザ３０、表示コ
ントローラ３６等の動作状態の制御などの多くの
機能を果たす。プラグイン２０，２２，２４とバ
ス４５を適当な手段で接続している入出力インタ
ーフエース（Ｉ／Ｆ）５０を介してMPU４４は
各プラグインに制御信号を供給する。MPU４４
は更にデジタイザ３０の動作モードを制御し得
る。即ち、MPU４４からバス４５及びMMU３
４を介して送られた指令（コマンド）が波形メモ
リ３２に記憶され、その後、デジタイザ３０が波
形メモリ３２からその指令を読み出すのである。
また、MPU４４はMMU３４に指令を送り、波
形メモリに記憶されたどの波形データ列を表示コ
ントローラ３６に送り表示させるかを決める。更
に、MPU４４はスクリーン１７上のメニユー、
図形及びデータ表示も制御するためにMMU３４
に指令を送り、波形メモリ３２内の表示制御デー
タの表示コントローラ３６への転送を制御する。

オシロスコープ１０の本体フロントパネル上の
つまみ１６、押ボタン１８からの入力信号、各プ
ラグインのフロントパネル上のつまみ、押ボタ
ン、スイツチからの入力信号、及びタツチスクリ
ーン１９からの入力信号は夫々入出力Ｉ／Ｆ５０
に検出され、各入力信号に応じたメツセージが
MPU４４に送られる。これらのメツセージに応
じてMPU４４は選択した動作モードに応じたオ
シロスコープの種々のサブシステムを構成する。
第３図のハードウエア構成では、つまみ１６の回
転に対するオシロスコープ１０の応答動作は回路
の接続状態とは関係なくソフトウエアによつて決
まる。従つて、つまみ１６のどちらか一方の回転
に対する応答動作を変更することが出来るので、
各つまみによつてオシロスコープの複数の動作を
調整する事が出来る。各つまみにある時点で割り
当てられた特定の制御機能はオシロスコープのそ
の時点の動作状態に応じて決まるので、各つまみ
の制御機能はオシロスコープの動作状態が変わる
と変更される。

オシロスコープの動作状態は、例えばオペレー
タが前面パネルの押ボタンを押したり、タツチス
クリーンにより表示メニユーの選択をした場合の
ような入力信号に応じて変化し、オシロスコープ
の新しい動作状態に適した機能がつまみに自動的
に割り当てられる。例えば、オペレータが選択し
た波形上のカーソルに指示された点の値をオシロ
スコープが測定し、その測定データをスクリーン
上に表示するかも知れない。オペレータが適当な
メニユー選択をすると、オシロスコープの動作状
態が設定され、、つまみ１６の一方にカーソル位
置の調整機能が割り当てられると、オペレータは
そのつまみによりカーソル位置を変更出来る。他
の動作状態にして、つまみ１６を用いてオペレー
タが選択した波形の表示属性を調整しても良い。
例えばオペレータが選択した波形のトリガ遅延制
御パラメータの値を設定したり、或いはその波形
の垂直位置、垂直寸法或いは水平時間軸の制御パ
ラメータの値を設定したり出来る。

２個のつまみ１６を用いて例えば表示波形の垂
直寸法（即ち、ボルト／目盛の設定）及び垂直位
置を調整する場合には、オペレータはスクリーン
上に表示された波形から１つの波形を選択しなけ
ればならないという事に留意されたい。オペレー
タは波形を選択し、つまみを動かして表示波形の
中のどの波形を調整するのかをオシロスコープに
伝える。従来のオシロスコープの中には種々の方
法でオペレータが波形の選択を出来るようにした
ものがある。例えば、各波形に対応した前面パネ
ル上の押ボタンを押したり、或いはスクリーンに
表示された波形選択メニユーから所望の波形に対
応するメニユーを選択したり出来る。しかし、本
発明によれば、オペレータはスクリーン上に表示
された波形の一部に単に触れるだけで特定の波形
を選択することが出来る。このような波形選択方
法は、特定の押ボタンやメニユーにより特定の波
形を選択する為の余分な手順にオペレータが留意
しなければならない従来の選択方法よりも一般に
より迅速且つ直観的に選択でき、誤操作の確率も
低減する。即ち、留意すべき余分な手順のある従
来の方法では、オシロスコープの調整操作に時間
がかかる上に誤操作の確率も増加する。

第４図は、タツチスクリーン１９と、MPU４
４と、タツチスクリーンの入出力のための入出力
Ｉ／Ｆ５０の一部分を示すブロツク図である。タ
ツチスクリーン１９は11個のLEDをスクリーン
１７の上辺に沿つて横１列に配置し、22個の
LEDをスクリーンの左辺に沿つて縦１列に配置
している。これらのLED５１は、スクリーン１
７の直前に11×22の光線格子を発生させる。33個
の光検出器５２はスクリーン１７の右辺及び底辺
に並べて配置され、各光検出器は、対応する各
LEDからの光線がスクリーン上を通過して直接
対辺上に達したときにその光線を検出することが
出来る。オペレータがスクリーンに触れると、指
が光検出器の検出する光線を１本以上遮り、各光
検出器５２は対応するLED５１からの光線を検
出しているかどうかを示す状態出力信号を発生す
る。

入出力Ｉ／Ｆ５０に内蔵されている走査回路５
３は好適にはインテル社製8279型プログラマブ
ル・キーボード・Ｉ／Ｆ装置を含み、「検出マト
リクス」モードで動作する。走査回路５３は、３
ビツトの計数出力（S0−S2）を発生し、この計
数出力がデコーダ５４にデコードされてその時点
の計数出力値に応じて、８本のデコーダ出力線の
１本を高論理状態にする。８本のデコーダ出力線
の中の５本がバツフア群５５に入力し、バツフア
群５５の各出力は、11個が水平に、22個が垂直に
配置された33個のLED５１の８個までの別々の
LED群を駆動する。光検出器５２の各出力信号
は８個のバツフア群５６の１個に入力し、バツフ
ア群５６の出力（R0−R7）が走査回路５３に入
力される。

走査動作中には、走査回路５３は計数出力
（S0−S2）の値を周期的に増加している。この計
数出力値が増加すると、デコーダ５４は８本の出
力線の中の１本を順次高状態にし、これにより、
バツフア群５５の対応するバツフアの出力が最大
８個までのLED群を駆動する。駆動されたLED
から発生された光線をオペレータが遮断しなけれ
ば、光線を検出した各光検出器はバツフア群５６
の１個のバツフアの入力を高状態に駆動するの
で、そのバツフアの出力が高状態になる。オペレ
ータの指が１本の光線を遮断すると、光検出器５
２の１個の出力が低状態に変化し、その状態変化
がバツフア群５６の出力線（R0−R7）の１本の
状態を変化させる。走査回路５３に内蔵されてい
る８×８ビツトのメモリは計数出力（S0−S2）
の８個の異なる値に応じて戻された最大８個まで
の信号（R0−R7）の各状態を格納する。計数出
力値は限界値１１１に達すると、０００にリセツ
トされ、再び計数を開始する。各計数出力値に対
して取り込まれた新しいデータ（R0−R7）は以
前の計数サイクル中に同じ計数出力値に対して取
り込まれた以前のデータを置換する。従つて、走
査回路５３の内部メモリの64ビツトの中の33個の
各データは、最後の走査サイクル中に33個の光検
出器５２の中の対応する１個の光検出器が光線を
検出したか否かを示している。内部メモリ内の残
りの31個のデータビツトはタツチスクリーンの出
力信号の状態を示すためには用いられない。走査
回路５３には、現在の計数出力（S0−S2）の値
に応じて生じた入力信号（R0−R7）の現在の状
態と、計数出力値が前回に同じ値であつたときに
内部メモリに記憶されたデータの状態とを比較す
る手段も内蔵されている。走査回路５３は入力信
号（R0−R7）の少なくとも１個の状態が変化し
たと判断すると、前回記憶されたデータを新しい
データに置換し、MPU４４に割り込み信号
（INT）を送つてから走査動作を一時停止する。
MPU４４は割り込み信号を受け取ると、８ビツ
トデータバス５７を介して走査回路の内部メモリ
から64ビツトのデータを総て読み出す。MPU４
４はこれらのデータから、オペレータがタツチス
クリーンのどこに触れたかを判断する。MPU４
４は走査回路からデータを取り込んで処理する
と、割り込み終了指令を走査回路５３に送り、走
査動作を再開させる。

MPU４４から走査回路５３に供給される他の
信号は、走査回路の動作タイミングに用いられる
クロツク信号（CLK）、走査動作を初期化するリ
セツト信号（RESET）、走査回路内のデータバ
ス・Ｉ／Ｆ回路をデータ送受信可能にするチツプ
セレクト信号（CS）、バス５７のデータの流れを
制御する読み出し信号（RD＊）及び書き込み信
号（WR＊）（＊の印はアクテイブ・ローの信号
を意味する。）、及びバス５７を介して走査回路５
３に送られた信号がデータなのか指令なのかを示
すMPU４４のアドレス線Ａ０の信号がある。

MPU４４がスクリーン上のオペレータによる
接触位置を判断する分解能はタツチスクリーン１
９に使用されている水平及び垂直方向の光線の数
によつて決まる。１本の垂直光線と１本の水平光
線がオペレータの指で遮断されると、MPU４４
は例えば２本の光線の交点を囲む長方形の領域で
ある特定の「接触区域」５８の中に指があると判
断することが出来る。従つて、各光線の交点によ
り各接触区域の中心が決まり、スクリーン１７は
複数の接触区域により格子状に分割されている。

タツチスクリーンからの入力データを処理する
MPU４４の動作は、タツチスクリーン割り込み
ルーチンと、クロツク信号割り込みルーチンによ
つて制御される。タツチスクリーン割り込みルー
チンの動作は、タツチスクリーンの出力データの
変化に応じて走査回路５３がMPU４４に割り込
みをしたときに開始される。タツチスクリーン割
り込みルーチンが実行されると、MPU４４は走
査回路５３に記憶されているタツチスクリーンデ
ータを読み出し、そのデータに応じてパラメータ
の値をオペレータの接触位置の座標を示す値か、
或いはオペレータがスクリーンへの接触を止めた
ことを示す値のどちらか一方の値に設定する。ク
ロツク信号割り込みルーチンの動作は、第３図の
クロツク４９が割り込み信号を（好適には20ms
の周期で）出力している限り、周期的に開始され
る。クロツク信号割り込みルーチンが実行される
と、タツチスクリーン割り込みルーチンの期間中
に設定されたパラメータが示す現在の接触区域の
座標が、予め定めた数のクロツク信号が割り込む
期間中に同じ値のままであるかどうかをMPU４
４が判断し、もし、そうであれば指令がコマンド
キユーの中に格納される。この指令はオペレータ
が接触した接触区域の座標情報か、或いはオペレ
ータがスクリーンへの接触を止めたことを示す情
報を含んでいる。このコマンドキユーの中の指令
により呼び出されたルーチンをMPU４４が実行
して、種々の方法で行われるスクリーンの接触、
或いは接触の中断に応答する。スクリーンへの接
触が有効であると見なされる為には、予め定めた
数のクロツク信号が割り込む期間中タツチスクリ
ーンの入力データが一定値のままでなければなら
ないので、オペレータの指が間欠的に光線を遮断
したとしても、その際の一連のタツチスクリーン
入力データを表す指令がキユーに格納される確率
は最小になる。この割り込みルーチンに関して
は、1986年12月８日出願の米国特許出願第939645
号の明細書に記載されている。

オペレータが特定の接触区域に接触したと
MPU４４が判断すると、MPU４４はスクリーン
に表示されたメニユーの中にその接触区域が含ま
れているかどうかを確認する。もし、その接触区
域が選択メニユーの中に含まれていれば、MPU
４４はオペレータの選択に従つてオシロスコープ
の動作状態を変更する。もし、オペレータが触れ
た接触区域が表示されたメニユーの領域以外にあ
るとMPU４４が判断すると、MPU４４は波形メ
モリ３２の中のデータから表示波形のたとえ一部
でもその接触区域内を通過しているか否かを検査
する。もし、特定の波形の一部がその接触区域内
を通過していれば、MPU４４はオペレータがそ
の特定の波形を選択したと判断して、その後その
波形の選択動作を実行する。

第１Ａ図乃至第１Ｃ図は、表示波形の何れかが
オペレータの接触した接触区域内を通過している
か否かを判断する為にMPU４４が実行するサブ
ルーチンの流れ図である。このサブルーチンが呼
び出されるのは、オペレータがスクリーンに触れ
たとMPU４４が判断し、且つその接触区域がス
クリーン上に表示されているメニユーの領域内に
存在しないと判断した後である。オペレータが触
れた接触区域は２個のパラメータ（xtouch及び
ytouch）によつて指定される。xtouch及び
ytouchは夫々接触域の水平(X)座標及び垂直(Y)座
標を表す。オペレータが接触区域に触れた後
MPU４４はxtouch及びytouchの値を測定し、そ
のデータをメモリに記憶する。

開始後ブロツク６０で、「axis search（座標軸
探索）」フラグが「invalid（無効）」状態に設定さ
れ、その後ブロツク６２でytouchの値を検査し
てオペレータが触れた接触区域がスクリーン上の
波形表示領域内に存在することを確認する。その
接触区域が波形表示領域内にあれば、ブロツク６
４でaxis searchフラグが「valid（有効）」状態に
設定され、２個のパラメータ（ydata upper及び
ydata lower）の値が計算される。この２個のパ
ラメータ（ydata upper及びydata lower）は
夫々長方形の接触区域の上辺と底辺の垂直位置を
示し、これらの値は接触区域の中心の垂直座標を
表すytouchの値と接触区域の既知の垂直方向の
長さから計算される。

ブロツク６４の後、或いはブロツク６２で接触
区域が波形表示領域内にないと判断されると、ブ
ロツク６６でwave onフラグを無効状態に設定
し、その後ブロツク６８でaxis searchフラグが
まだ無効状態であるかを検査する。もしaxis
searchフラグが無効状態ならば、それは接触区域
が波形表示領域内に存在しないことを意味し、こ
のサブルーチンは終了する。しかし、axis
searchフラグが有効状態ならば、ブロツク６９で
計数パラメータＩが０に設定される。本発明の実
施例では、オシロスコープ１０は０乃至７までの
番号を付した８個までの異なる波形を同時に表示
可能であり、パラメータＩは各波形の参照番号を
示す。各波形の表示に関する種々の情報は第３図
のRAM４８に記憶されており、ブロツク７０で
もしＩの値が７以下であれば、ブロツク７４で
MPU４４はRAM４８内の波形表示情報を検査
し、Ｉに相当する波形（WFM()）が実際に表
示されているかどうか判断する。もし表示されて
いなければ、ブロツク７２でＩの値が１増加さ
れ、ブロツク７０でＩの値がまだ７以下なら、
MPU４４は再びRAM４８の波形表示情報を検
査して次の波形が表示されているか確認する。

ブロツク７０，７４及び７２のループ処理は、
ブロツク７４で波形が表示されていると判断され
るまで、或いはブロツク７０でＩの値が８に達す
るまで継続する。Ｉが８に達すると、波形が表示
されていないことになり、接触区域内を波形が通
過していないので、ブロツク７０の後でこのサブ
ルーチンは終了する。しかし、ブロツク７４で波
形が表示されていると判断されると、ブロツク７
６でMPU４４はxtouchの値から２個のパラメー
タ（xdata left及びxdata right）の値を計算す
る。これらのパラメータ（xdata left及びxdata
right）は夫々接触区域の左辺及び右辺間に表示
された波形の一部の最初の画素及び最後の画素に
対応する波形メモリ３２の中の波形データを示し
ている。xdata leftパラメータの値は、１波形全
体を表す波形データの数をスクリーンの全幅の接
触区域の数より１少ない数（即ち、波形表示領域
の接触区域の数）で割り算し、その結果に
xtouch―１を乗算して求められる。また、
xtouch rightパラメータの値は、波形を表す波形
データの数をスクリーンの全幅の接触区域の数よ
り１少ない数で割り算し、その結果にxtouchの
値を乗算して求められる。

ブロツク８０でMPU４４は、xdata leftが
xdata rightより小さいかどうか判断する。これ
は波形データの数が０でない限り常に「真」であ
る。もし波形データの数が０ならば、、その波形
Ｉ（WFM()）のデータは記憶されていないので
Ｉに相当する波形は表示されていないことにな
る。その場合には、接触区域を波形Ｉが通過して
いないので、処理はブロツク８２に戻りＩが１増
加されて次の波形の検査を開始する。xdata left
がxdata rightより小さいと、ブロツク８２で整
数型変数Ｊがxdata leftの値に設定される。この
Ｊの値は、波形Ｉの全波形データの中でＪ番目の
位置を示している。その後MPU４４は、波形Ｉ
が選択された接触区域を通過しているかどうか判
断する為に一連の３つのテストを実行する。

第１テストのブロツク８４では、Ｊ番目の位置
にある波形データの値（wavedata(J)）がydata
lowerとydata upperとの間にあるかどうかが判
断される。もしそうであれば、波形ＩのＪ番目の
波形データがその接触区域の上辺と底辺の間に表
示されていることを意味する。波形ＩのＪ番目の
水平位置の画素は接触区域の左辺と右辺の間の位
置にあることが分かつているので、そのＪ番目の
画素が接触区域の境界線の中に確実に存在し、オ
ペレータがその波形Ｉを選択したことになる。こ
の場合、MPU４４はブロツク９０でパラメータ
（wave on）の値をＩに設定し、波形Ｉが選択さ
れたことを指示する。

波形ＩのＪ番目の画素が接触区域内にない場合
には、第２テストのブロツク８６でMPU４４は、
wavedata(J)がydata lowerより小さく、且つ
wavedata（Ｊ＋１）の値（即ち、Ｊ＋１番目の波
形データの値）がydata lowerの値より大きいか
どうか判断する。この第２テストが必要なのは、
例えば波形Ｉが急峻に立ち上がる矩形波であつ
て、且つ接触区域がその前縁の上にあるような場
合である。この場合には、Ｊ番目の画素は接触区
域の底辺のすぐ下にあり、Ｊ＋１番目の画素は接
触区域の底辺のすぐ上にあるかも知れない。この
ブロツク８６が肯定されると、ブロツク９０で波
形Ｉは選択されwave onパラメータがＩに設定
される。第２テストが否定されると、第３テスト
のブロツク８８が実行される。ここでは、
wavedata(J)がydata upperより大きく、且つ
wavedata（Ｊ＋１）がydata upperより小さいか
どうかが判断される。この条件が満たされるの
は、接触区域が矩形波の立ち下がり縁にあつて、
波形のＪ番目の画素は接触区域の上辺のすぐ上に
あり、Ｊ＋１番目の画素は接触区域の上辺のすぐ
下にあるような場合である。この場合にも、ブロ
ツク９０でwave onパラメータはＩに設定され
る。

wavedata(J)及びwavedata（Ｊ＋１）の値がブ
ロツク８４，８６，８８の３つのテストで総て否
定されるか、或いはブロツク９０でwave onの
値がＩに設定されると、Ｊの値はブロツク９１で
１増加される。ブロツク９２でＪの値がxdata
right−１を超えていないと判断されると、増加
されたＪの値を用いたＪ及びＪ＋１番目の新しい
位置の波形データに関し、３つのテスト、即ちブ
ロツク８４，８６，８８が繰り返される。このよ
うに、xdata leftとxdata right−１の間にある
Ｊの総ての値についてこれらのテストが実行され
ると、ブロツク９４でwave onの値が波形の選
択されていないことを示す無効状態にまだ設定さ
れているか否かが判断される。もし無効状態のま
まならばオシロスコープは波形選択に関する動作
変更を何もしないでこのサブルーチンを終了す
る。しかし、wave onが０から７までの値に設
定され、波形の選択が指示されると、ブロツク９
６でサブルーチン（select wfm（wave on）が呼
び出される。このサブルーチンを実行して、
wave onの値によつて指示された波形表示の輝
度を強調し、以前に選択されて強調されていた波
形の輝度を減衰することにより、新しい波形が選
択されたことをオペレータに知らせる。また、こ
の選択波形サブルーチンによりオシロスコープの
動作状態が変更されるので、選択された波形に関
して実行されるオシロスコープの動作は、結局、
wave onパラメータの値によつて指定された波
形に対して確実に実行される。この選択波形サブ
ルーチンによつて実行される動作として、例え
ば、第２図のフロントパネル上のつまみ１６の動
作に応答するサブルーチンのように、選択された
波形に対して動作する他の複数のサブルーチンが
アクセス可能な１個以上の汎用変数の値を設定す
ることなども可能である。

第１Ａ乃至１Ｃ図に基づくルーチンを実行し、
MPU４４はブロツク７４で各波形が表示されて
いるかどうかを検査する。この波形の検査は、Ｉ
（波形の参照変数）の値がブロツク６９で０に初
期化されているので波形の参照番号順に行われ
る。表示波形が見つかるとMPU４４はその波形
が接触圧域内を通過しているかどうかを確認し、
もし通過していればその波形を選択してルーチン
を終了する。オペレータが触れた接触区域内に複
数の波形が通過している場合も起こり得るが、そ
の場合には常に波形の参照番号Ｉの値が最小の波
形が選択される。

しかし、２つ以上の波形が接触区域内を通過し
ている場合、その接触区域に接触する毎に選択さ
れる波形が変更されると都合が良いと思われる使
用者がいるかも知れない。例えば、３個の波形
２，４及び７が総て同じ接触区域内を通過してい
る場合、最初にその接触区域が接触されると波形
２が選択され、次にその接触区域が接触されると
波形４が選択され、その接触区域の３回目の接触
によつて波形７が選択され、４回目の接触では再
び波形２が選択されるようにすると好都合である
かも知れない。第１Ａ乃至１Ｃ図の流れ図のアル
ゴリズムを変更して、このような代わりの動作モ
ードを実現するには、第１Ｂ図の流れ図の一部を
変更するだけで良い。

第５図は、第１Ｂ図と置換可能な本発明による
他の実施例を示す流れ図である。第５図のブロツ
ク１００は第１Ｂ図のブロツク６８と同じであ
り、axis searchフラグが無効でなければ、ブロ
ツク１０１で整数Ｉがwave on＋１の値に設定
される。wave onの値は最後に選択された波形
の参照番号である。ブロツク１０２でＩの値が７
を超えていれば、ブロツク１０３でＩは０に設定
され、もし、ブロツク１０２でＩが７以下の場合
或いはブロツク１０３でＩが０に設定された場合
には、MPU４４はブロツク１０４でＩの値が
wave onの値に等しいかどうかを確認する。も
し、Ｉの値がwave onに等しくなければ、MPU
４４はブロツク１０５で波形Ｉ（WFM(I)）が表
示されているかどうかを確認する。波形Ｉが表示
されていれば、第１Ｂ図のブロツク７６からの処
理と同様にブロツク１０７から処理が開始され、
波形Ｉがオペレータの接触した接触区域を通過し
ているかどうかをMPU４４が検査し、通過して
いればその波形Ｉが選択される。もし、ブロツク
１０５で波形Ｉが表示されていないと判断される
か、或いは波形Ｉが表示されていてもその波形が
接触区域を通過していないと判断された場合（第
１Ｃ図のブロツク８０で否定された場合）には、
ブロツク１０６でＩの値が１増加され、処理はブ
ロツク１０２に戻される。接触区域を通過してい
る表示波形が見付かるまで、或いはブロツク１０
４でＩの値がwave onの値に等しいと判断され
るまでこのプログラムの処理は進行する。wave
onの値はその時点で既に選択されている波形の
参照番号であるので、ブロツク１０４でＩの値が
wave onに等しくなると、オペレータが接触し
た接触区域を通過している他の波形がなく、
wave onの値で指定された波形が選択されたま
まであるので、このルーチンは終了する。第５図
のルーチンでは、表示波形の探索はwave on＋
１の値の波形から開始され、第１Ｂ図のように波
形０から開始するのではないので、オペレータが
複数の波形の通過している接触区域に触れる毎に
異なる波形が選択される。

上述のように、本発明の接触による波形選択方
法を用いたMPU制御のデジタル・オシロスコー
プでは、オペレータはスクリーン上に表示された
波形の任意部分に接触する事により特定の波形を
選択することが出来る。この波形選択方法は、押
ボタンや選択メニユーを用いる従来の方法よりも
迅速且つ直観的に波形選択することが出来るうえ
に、誤操作の確率を低減し得る。オシロスコープ
に内蔵されたMPUはタツチスクリーンからの入
力データからオペレータが触れた接触区域を判断
し、各波形の表示データから表示波形のどこか一
部がその接触区域内を通過しているかどうかを判
断する。もし、特定の波形のどこか一部でもその
接触区域内を通過していれば、MPUはその特定
の波形をオペレータが選択した波形と判断してそ
の後のオシロスコープの動作を実行する。

以上本発明の好適実施例について説明したが、
本発明はここに説明した実施例のみに限定される
ものではなく、本発明の要旨を逸脱する事なく必
要に応じて種々の変形及び変更を実施し得る事は
当業者には明らかである。例えば、多数の波形か
ら１つの波形を選択するだけでなく、特定の波形
の一部分を選択して制御する場合等にも応用し得
ることは明白である。

［発明の効果］ 本発明によれば、以下のような種々の効果が得
られる。

(a) スクリーン上に表示された波形の一部分に直
接触れるだけで所望の波形を選択出来るので、
従来の押しボタンや選択メニユーを用いる場合
より遥かに直観的で容易且つ迅速な選択が可能
であり、誤操作の確率も低減出来る。

(b) スクリーン上の指示位置を囲む特定の接触区
域内を通過する波形を選択するだけなので、指
示位置と波形との距離を計算する必要はなく、
迅速な選択動作が可能である。

(c) 複数の表示波形の中でどの波形が最後に選択
されたかを判断し、特定の接触区域を通過して
いる波形の中で最後に選択された波形以外の１
波形を選択出来るので、複数の波形が極めて近
接表示されている為にそのままでは１波形の選
択が困難な場合でも波形の表示位置を変更した
りすることなく簡単に所望の波形を選択でき
る。

【図面の簡単な説明】

第１Ａ図乃至第１Ｃ図は本発明による波形選択
方法の処理手順を示す一実施例の流れ図、第２図
は本発明を利用するのに好適なデジタル・オシロ
スコープ１０の前面図、第３図は第２図のオシロ
スコープのハードウエア構成を示すブロツク図、
第４図は第３図のタツチスクリーン１９、MPU
４４、及び入出力インターフエース５０の一部を
示すブロツク図、第５図は第１Ｂ図と置換可能な
本発明による波形選択方法の一部の処理手順を示
す他の実施例の流れ図である。 １０はオシロスコープ、１４はフロントパネ
ル、１６は制御つまみ、１７はスクリーン、１９
はタツチスクリーン、４４はマイクロコンピユー
タ、５３は操作回路、５８は接触区域である。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ スクリーン上に複数の波形を同時に表示可能
   で、該複数の波形の中から選択された１つの波形
   に関して少なくとも１動作を実行する波形表示装
   置の波形選択方法であつて、 上記スクリーンの波形表示領域部分への物体の
   接近又は接触を検出し、 上記スクリーンの波形表示領域を区分した複数
   の接触区域の中から上記物体の指示位置を囲む特
   定の接触区域を求め、 上記複数の波形の中のどの波形が最後に選択さ
   れたかを判断し、 この最後に選択された波形以外の波形が上記特
   定の接触区域を通過している時に上記最後に選択
   された波形以外の波形の中の１波形を選択し、 上記特定の接触区域内に上記最後に選択された
   波形以外の波形が全く通過していない場合に上記
   最後に選択された波形を再度選択することを特徴
   とする波形表示装置の波形選択方法。