JPS63157369A - ディスク装置の試験方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 磁気ディスク装置の欠陥試験で得られた欠陥位置情報を
該被試験装置自身の磁気ディスク媒体面に書込んでおき
、装置のランニング試験およびフォーマット書込みの際
に、被試験装置から直接欠陥位置情報を読出して使用す
ることにより、試験システムの簡素化と試験の効率化を
図る。

〔産業上の利用分野〕

本発明は、情報処理システムの外部記憶装置として使用
される磁気ディスク装置の試験方式に関する。

〔従来の技術〕

第３図は従来の磁気ディスク装置の試験方式を示すブロ
ック図である。１は試験が行なわれる磁気ディスク装置
（以下「被試験装置」と呼ぶ）であり、欠陥試験装置２
に接続され、該欠陥試験装置２は、低速インターフェー
ス３を介してサブセンターのプロセッサー４に接続され
ている。

このシステムにおいて、まず欠陥試験装置２により、被
試験装置１における磁気ディスク媒体面がアナログ的に
試験され、欠陥位置の検出が行なわれる。検出された欠
陥位置情報は、低速インク−フェース３でサブセンター
のプロセッサー４に転送され、ファイル装置５に収集記
録される。こうして各磁気ディスク装置の試験結果が、
ファイル装置５に収集される。

被試験装置１の欠陥試験が終了すると、次にランニング
試験機６でランニング試験（装置試験）が行なわれる。

このとき、当該被試験装置ｌの欠陥位置情報が、ランニ
ング試験機６め）らサブセンターのプロセッサー４に要
求され、ファイル装置５中の欠陥位置情報が低速インタ
ーフェース７を介してランニング試験機６に転送される
。

ランニング試験機６では、この欠陥位置情報に基づいて
ランニング試験が行なわれる。ランニング試験では、欠
陥位置情報に基づいて、欠陥位置には情報を記録不能と
し、かつユーザーの要望に応じて出荷フォーマットが書
込まれる。このようにして最終試験が終了した状態で、
出荷される。

〔発明が解決しようとする問題点〕 このように従来の試験方式では、欠陥位置情報を一旦サ
ブセンターのファイル装置５に転送して記録しておき、
ランニング試験の際に、該ファイル装置５から該欠陥位
置情報を呼び出してランニング試験機６に転送し、使用
している。そのため、サブセンターのプロセッサー４や
欠陥位置情報の転送系の障害や保守の際、あるいは試験
システムが停止した時は、試験が中断される。また欠陥
位置情報を欠陥試験装置２からサブセンターのファイル
装置Ｓに転送したり、ファイル装置５からランニング試
験ｍ６に転送するための待ち時間を要する。

本発明の技術的課題は、このような問題を解消し、被試
験装置の欠陥位置情報をいちいちサブセンターのファイ
ル装置に転送したり、該ファイル装置からランニング試
験機に転送したりしないで済むようにすることにある。

〔問題点を解決するための手段〕

第１図は本発明による磁気ディスク装置の試験方式の基
本原理を説明する図である。被試験装置の試験は欠陥試
験装置２で行なわれるが、その結果得られた欠陥位置情
報は、被試験装置１自身の磁気ディスク媒体面に記録さ
れる。そしてこの被試験装置ｌのランニング試験を行な
う場合は、被試験装置１をランニング試験機６に接続し
た状態で、被試験装置１自身の磁気ディスク媒体面から
直接に欠陥位置情報を読出して、ランニング試験および
フォーマット書込みに使用する。

〔作用〕

このように被試験装置１の欠陥位置情報は、直接被試験
装置１自身の磁気ディスク媒体に記録されるので、第３
図のように低速インターフェース３を介してサブセンタ
ーのファイル装置５に転送する必要がなく、したがって
低速インターフェース３も不必要となり、転送時間が節
減される。またランニング試験に際しては、被試験装置
１の磁気ディスク媒体面から欠陥位置情報を読出し使用
するので、従来のようにサブセンターのファイル装置５
から低速インターフェース７を介してランニング試験機
６に欠陥位置情報を転送する必要もなくなる。そのため
、サブセンターのファイル装置５からランニング試験機
６に欠陥位置情報を転送する時間が省かれ、試験作業の
簡素化と効率化が可能となる。なお被試験装置１の磁気
ディスク媒体に記録されている欠陥位置情報をファイル
装置５に保存する必要がある場合は、第３図のようにサ
ブセンターのファイル装置５に低速インターフェース７
を介してランニング試験機６を接続する必要性は残る。

この場合でも、ランニング試験の前後あるいは最中にラ
ンニング試験機６からサブセンターのファイル装置５に
転送するのみでたり、任意のタイミングで行なうことが
できる。

〔実施例〕

次に本発明による磁気ディスク装置の試験方式が実際上
どのように具体化されるかを実施例で説明する。第２図
は本発明の試験方式の実施例を示すブロンク図である。

この実施例においても、被試験装置１のアナログ的な欠
陥試験の結果得られた欠陥位置情報は、直接被試験装置
１の磁気ディスク媒体面に記録される。そしてこの被試
験装置１をランニング試験機６でランニング試験すると
きは、被試験装置１をランニング試験機６に接続して行
なわれる。また欠陥位置情報は、直接被試験装置１の磁
気ディスク媒体面から読出して、ランニング試験に使用
される。

この実施例では、欠陥位置情報をサブセンターのファイ
ル装置５に記録して保存できるようになっている。すな
わち、ランニング試験機６が低速インターフェース７を
介して、サブセンターのプロセッサー４に接続されてお
り、被試験装置１から読取った欠陥位置情報を低速イン
ターフェース７を介してサブセンターのファイル装置５
に逆送し記録保存できる。この場合、被試験装置１の磁
気ディスク媒体面に記録されている欠陥位置情報を、保
存のためにファイル装置５に転送記録するのみで足りる
ので、転送のタイミングは特に制限を受けず、ランニン
グ試験の最中あるいは前後に行なうことができる。なお
欠陥位置情報は情報量が少ないので、被試験装置自身の
磁気ディスク媒体面に余裕があるときは、その一部を利
用して記録保存してもよい。あるいは、記録用紙に打ち
出してハードコピーの状態で記録保存することもできる
。

磁気ディスク装置の磁気ディスク媒体には、無欠陥保証
トラックが必要とされているが、被試験装置における欠
陥位置情報は、被試験装置自身の無欠陥保証トラックに
記録することもできる。このように一義的に記録領域を
決定しておけば、欠陥位置情報の書込みおよびランニン
グ試験時の読出しが単純で容易になり、試験システムの
プログラムの負担が軽減される。

〔発明の効果］ 以上のように本発明によれば、磁気ディスク媒体の欠陥
位置情報が、被試験装置自身の磁気ディスク媒体面に記
録されるため、従来のように欠陥試験装置２とサブセン
ターのプロセッサー４を接続する必要がなく、試験シス
テムが簡素化される。

また欠陥位置情報を転送する必要がな（なるので、転送
時間が節減される。被試験装置１と欠陥試験装置２また
はランニング試験機６との間のみで試験が可能なため、
回線やサブセンターシステムなどの保守や障害などで、
試験が中断されることもなく、この点でも試験作業が効
率化される。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明による磁気ディスク装置の試験方式の基
本原理を説明するブロック図、第２図は本発明による磁
気ディスク装置の試験方式の実施例を示す図、第３図は
従来の磁気ディスク装置の試験方式を説明するブロック
図である。 図において、１は被試験装置、２は欠陥試験装置、３．
７は低速インターフェース、４はサブセンターのプロセ
ッサー、５はファイル装置、６はランニング試験機をそ
れぞれ示す。 特許出願人　　　　　富士通株式会社 復代理人　弁理士　　福　島　康　文 竿１図 火諸合１１ 第２ＦＸＪ

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 磁気ディスク装置の欠陥試験を行なって磁気ディスク媒
   体面の欠陥位置を検出し、該欠陥位置情報に基づいて装
   置のランニング試験を行ない、かつ磁気ディスク媒体面
   にフォーマットを書込む際に、 欠陥試験装置（２）で試験して得られた欠陥位置情報を
   被試験装置（１）自身の磁気ディスク媒体面に書込み、
   装置のランニング試験およびフォーマット書込みの際は
   、該欠陥位置情報を被試験装置（１）から直接読出して
   使用することを特徴とする磁気ディスク装置の試験方式
   。