JPS6315179A - Ｌｓｉテスタのタイミングスキユ−調整方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、ＬＳＩテスタにおけるタイミングスキュー調
整方法に関し、特に標準ドライバよシ出力する信号波形
をＬＳＩテスタ内部の複数のコンパレータに加えてその
ＬＳＩテスタのタイミングスキュー調整を行なう方法に
関するものである。

〔従来の技術〕

従来、この種のスキュー調整法としては第３図に示すも
のがある。これは、第３図に示すよりに標準ドライバ１
とＬＳＩテスタ本体２と、該テスタ本体２内の複数のピ
ン４１〜４ｎにそれぞれ接続された複数のコンパレータ
３１〜３ｎと、これら標準ドライバ１と各ピン４１〜４
ｎとを選択的につなぐ多数の切シ換えリレー１０１１〜
１０ｍｎ　（ｍ、　ｎ：任意の整数）からなるスイッチ
ング回路１０を具備する。そして、標準ドライバ１よ多
発生した信号波形を、スイッチング回路１０の各リレー
１０１１〜１Ｑｍｎのうちできるだけ少ないリレー数を
経由して目的のピン４１〜４ｎに接続するとともに、標
準ドライバ１の信号波形を鈍らでない工夫をして、１ピ
ン毎に各リレー１０１１〜１Ｑｍｎで切換えることによ
ｆｉ、ＬＳＩテスタ本体２の内部の各コンパレータ３ｌ
−３ｎのタイミングスキュー調整を行うものとなってい
る。

〔発明が解決しよりとする問題点〕

しかし、従来のスキュー調整は以上のよりな方法で行っ
ているので、ピン数が多くなれば、それだけ調整時間も
かかる。また、リレーで切換えているので、リレーの接
触抵抗のばらつきやリレーの内部線長の違いなどによシ
、各ピンのコンパレータ間の精度がばらつき、？らにリ
レーの故障の虞れもあった。

本発明は上記のよりな問題点を解消するためになされた
もので、その目的は、スキュー調整を早くでき、しかも
各ピンのコンパレータ間のばらつきを除去できるＬＳＩ
テスタのタイミングスキュー調整方法を提供することに
ある。

〔問題点を解決するだめの手段〕

本発明に係るＬＳＩテスタのスキュー調整方法は、標準
のドライバよ）発生する信号波形をＬＳＩテスタ内部の
複数のコンパレータに加えてそのＬＳＩテスタのタイミ
ングスキュー調整を行なう方法において、前記ドライバ
から前記各コンパレータとそれぞれ対応する複数のピン
までの配線を放射状にし、かつその配線長を等長にして
なるタイミングスキューボードを備え、前記ドライバの
信号波形を前記スキューボードを介して前記複数のピン
に同時に付与するよりにしたものである。

〔作用〕

本発明におけるスキュー調整方法は、リレーを用いるこ
となく、標準ドライバの信号波形を全てのピンに接続さ
せることによシ、全ピンに同じ波形を同時に与えること
ができる。

〔実施例〕

以下、本発明を図面に示す実施例に基づいて説明する。

第１図は本発明の一実施例によるスキュー調整方法を示
す概略図でおる。この実施例では、外部回路のドライバ
としてドライブ能力の高い標準ドライバ１を用い、この
標準ドライバ１からＬＳＩテスタ本体２内の各コンパレ
ータ３１〜３ｎとそれぞれ接続された複数のピン４１〜
４ｎまでの配線５１〜５ｎを放射状にし、かつその配線
長を等長にして構成されたタイミングスキューボード５
を設け、標準ドライバ１かも出力する信号波形を、前記
スキューボード５を介して複数のピン４１〜４ｎに同時
に付与するよりに構成されている。な・お、図中、同一
符号は同一または和尚部分を示している０ しかして、上記実施例の構成によると、標準ドライバ１
にで作夛出される信号波形は、上記スキューボード５の
配７８５１〜５ｎを通してＬＳＩテスタ本体２のピン４
１〜４ｎに付与されるとともに、そのテスタ本体２内部
のコンパレータ３１〜３ｎに接続される。このとき、コ
ンパレータ３１〜３ｎは各ピン４１〜４ｎにそれぞれ対
応して１つ設けであるので、標準ドライバ１の信号波形
は各ピン４１〜４ｎのコンパレータ３１〜３ｎへ並列に
接続される。

これによシ、各ピン４１〜４ｎ全てのスキュー調整が標
準ドライバ１からの信号波形によシ行われることとなる
。従って、この実施例によれば、スキュー調整時間が早
くなυ、また、従来のよりに、リレーを切）換える必要
もないため、多ピンになってもスキュー調整時間がほと
んど変わらない。

さらに、リレーを使わないために、リレーによるばらつ
きが々く、各ピンのコンパレータ３１〜３ｎ間の精度の
ばらつきを少な（シ、シかもリレーによる故障を解消す
ることもできる。

なお、上記実施例では、ドライブ能力の高い標準ドライ
バ１を使用したが、ピン数が多くなシ、ドライブ能力が
不足する時は、第２図に示すよりに、複数の標準ドライ
バ１１〜ｊｘ（ｘ：任意の勢数）を並列に接続すること
によシ、ドライブ能力を高める方法でも同様な効果が得
られる。

〔発明の効果〕 以上のよりに、本発明によるときは、ドライブ能力の高
い銀準ドライバを用い、この標準ドライバの信号波形を
ＬＳＩテスタ本体の全てのピンに同時に接続式せること
によシ、全ピンに同じ信号波形を同時に付与できるので
、ＬＳＩテスタのスキュー調整時間を短くでき、また全
ピンを同じ精度に調整できる効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例によるスキュー調整方法を示
す概略図、第２図は本発明の他の実施例を糸す第１図和
尚の概略図、第３図は従来のスキュー調整方法を示す概
堵図である。 １．１１〜１ｘΦψ・・標準ドライバ、２・−・・ＬＳ
Ｉｆスタ本体、３１〜３Ｈｅ−・・コンパレータ、４１
〜４ｎ争１１＠ｅピン、５＠・φ・タイミングスキュー
ボード、５１〜５ｎ・・・・配線。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 標準のドライバより発生する信号波形をＬＳＩテスタ内
   部の複数のコンパレータに加えてそのＬＳＩテスタのタ
   イミングスキュー調整を行なう方法において、前記ドラ
   イバから前記各コンパレータとそれぞれ対応する複数の
   ピンまでの配線を放射状にし、かつその配線長を等長に
   してなるタイミングスキューボードを備え、前記ドライ
   バの信号波形を前記スキューボードを介して前記複数の
   ピンに同時に付与することを特徴とするＬＳＩテスタの
   タイミングスキュー調整方法。