JPS63148503A - 架橋ポリエチレン電力ケ−ブル - Google Patents
架橋ポリエチレン電力ケ−ブルInfo
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- JPS63148503A JPS63148503A JP29605086A JP29605086A JPS63148503A JP S63148503 A JPS63148503 A JP S63148503A JP 29605086 A JP29605086 A JP 29605086A JP 29605086 A JP29605086 A JP 29605086A JP S63148503 A JPS63148503 A JP S63148503A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、内部半導電層を有する高圧電カケ−プルに関
し、特に、超低密度ポリエチレン(比重0.900〜0
.915 )に導電性カーボンを配合した半導電層を導
体上に形成して、絶縁体と内部半導電層との界面の表面
平滑性、密着性を改善した高圧電カケ−プルに関する。
し、特に、超低密度ポリエチレン(比重0.900〜0
.915 )に導電性カーボンを配合した半導電層を導
体上に形成して、絶縁体と内部半導電層との界面の表面
平滑性、密着性を改善した高圧電カケ−プルに関する。
(従来技術)
又は均一化するために、導体と絶縁体間に内部る共重合
体又はポリエチレン(低〜高密度)に導電性カーボンを
配合するか、更に架橋剤、老化防止剤および加工助剤な
どが適宜配合されたものであって、導体上に押出被覆さ
れて内部半導体層が形成される。この半導体層の形成、
すなわち内部半導電層の押出と絶縁体層の押出は、通常
連続タンデム押出法により、同時に行われる。
体又はポリエチレン(低〜高密度)に導電性カーボンを
配合するか、更に架橋剤、老化防止剤および加工助剤な
どが適宜配合されたものであって、導体上に押出被覆さ
れて内部半導体層が形成される。この半導体層の形成、
すなわち内部半導電層の押出と絶縁体層の押出は、通常
連続タンデム押出法により、同時に行われる。
例えば、エチレンアクリル酸エチル共重合体(EA)
、エチレンプロピレンゴム(E P R)、エチレン酢
酸ビニル共重合体(E V A)など、エチレンを主成
分とする共重合体の内部半導電層は絶縁体層のポリエチ
レン(低〜高密度)より柔らかいため、導体上にタンデ
ム押出をすると凹凸の突起が形成されやすく、電界緩和
に支障が生じ、ケーブルの破壊電圧を著しく低下させる
ことになる°。又、ポリエチレン(低〜高密度)に導電
性カーボンを20重量部以上を配合させた内部半導電層
では、伸び特性が殆んどないため、電カケープル形成後
において屈曲されると、その曲げ応力に追従できなくな
り、内部半導電層にクラックおよび突起を生じ、ケーブ
ルの破壊電圧を著しく低下させるので、いずれも実用に
供し得ないものとなる。
、エチレンプロピレンゴム(E P R)、エチレン酢
酸ビニル共重合体(E V A)など、エチレンを主成
分とする共重合体の内部半導電層は絶縁体層のポリエチ
レン(低〜高密度)より柔らかいため、導体上にタンデ
ム押出をすると凹凸の突起が形成されやすく、電界緩和
に支障が生じ、ケーブルの破壊電圧を著しく低下させる
ことになる°。又、ポリエチレン(低〜高密度)に導電
性カーボンを20重量部以上を配合させた内部半導電層
では、伸び特性が殆んどないため、電カケープル形成後
において屈曲されると、その曲げ応力に追従できなくな
り、内部半導電層にクラックおよび突起を生じ、ケーブ
ルの破壊電圧を著しく低下させるので、いずれも実用に
供し得ないものとなる。
そのため、ポリエチレン(低〜高密度)にエチレンプロ
ピレンゴム又はエチレン酢酸ビニル共重合体を配合する
ことが公表されている。
ピレンゴム又はエチレン酢酸ビニル共重合体を配合する
ことが公表されている。
しかし、上記配合の半導電層を使用すると、以下に説明
する問題がある。
する問題がある。
■ エチレン酢酸ビニル共重合体は、絶縁体に使用され
るポリエチレンとは異質であるため、絶縁体層との密着
性が弱い。
るポリエチレンとは異質であるため、絶縁体層との密着
性が弱い。
■ ポリエチレン(低〜高密度)にエチレンプロピレン
ゴムやエチレン酢酸ビニル共重合体を配合することは、
混和物の品質が不安定になりやすく、混練りの作業性も
低下する。又タンデム押出の被覆温度において、絶縁体
層と半導電層との流動特性が異なるため、それらの層間
の界面が平滑とならず、凹凸を生じやすい。
ゴムやエチレン酢酸ビニル共重合体を配合することは、
混和物の品質が不安定になりやすく、混練りの作業性も
低下する。又タンデム押出の被覆温度において、絶縁体
層と半導電層との流動特性が異なるため、それらの層間
の界面が平滑とならず、凹凸を生じやすい。
■ 導電性を高めるためには、導電性カーボンを多く配
合する必要があるが、カーボンを多量に充填させるには
、エチレンプロピレンゴムやエチレン酢酸ビニル共重合
体の配合比を多くしなければならないが、結果において
半導電層の硬度および熱変形温度が低下するため、ケー
ブル形成時、導体の重量などにより、半導電層が変形さ
れやすい。
合する必要があるが、カーボンを多量に充填させるには
、エチレンプロピレンゴムやエチレン酢酸ビニル共重合
体の配合比を多くしなければならないが、結果において
半導電層の硬度および熱変形温度が低下するため、ケー
ブル形成時、導体の重量などにより、半導電層が変形さ
れやすい。
■ 架橋ポリエチレン電カケープルの導体最高許容温度
は、90℃であり、通電時と非通電時では常温から90
″Cの範囲でヒートサイクルが行われるので、ポリエチ
レン(低〜高密度)にエチレンプロピレンゴムやエチレ
ン酢酸ビニル共重合体を配合した半導電層では、加熱収
縮率が大きいため、経年変化に伴って絶縁体層と半導電
層との間でズレが生じるか又は凹凸が生じやすくなる。
は、90℃であり、通電時と非通電時では常温から90
″Cの範囲でヒートサイクルが行われるので、ポリエチ
レン(低〜高密度)にエチレンプロピレンゴムやエチレ
ン酢酸ビニル共重合体を配合した半導電層では、加熱収
縮率が大きいため、経年変化に伴って絶縁体層と半導電
層との間でズレが生じるか又は凹凸が生じやすくなる。
以上の問題点は、高圧電カケ−プルにおいて、絶縁体に
かかる電気的ストレスの緩和又は均一化を阻害し、ケー
ブルの破壊電圧を著しく低下させるので電力保安上も好
ましくない問題が残されている。
かかる電気的ストレスの緩和又は均一化を阻害し、ケー
ブルの破壊電圧を著しく低下させるので電力保安上も好
ましくない問題が残されている。
(発明が解決しようとする問題点)
上記の問題点を解決し、長寿命の高圧電カケ−プルを得
るためには、半導電層は次の緒特性を具備する必要があ
る。
るためには、半導電層は次の緒特性を具備する必要があ
る。
■ 導電性カーボンの充填分散が均一で、得られる混和
物の品質が安定しており、導電性は10−sΩ・Cl1
1以下であること。
物の品質が安定しており、導電性は10−sΩ・Cl1
1以下であること。
■ 形成された半導電層の表面は平滑であり、絶縁体層
との界面において凹凸が生じないこと。
との界面において凹凸が生じないこと。
■ 絶縁体層との密着が強固なものであること。
■ 形成された半導電層は、ケーブルの屈曲に対して、
伸び縮みし、曲げ応力に追従できること。
伸び縮みし、曲げ応力に追従できること。
■ ケーブル導体の重量により変形を起さないこと。
■ ケーブルに通電されてヒートサイクルが繰返されて
も、半導電層と絶縁体層との層間でズレおよび凹凸が生
じない加熱収縮率を有するものであること。
も、半導電層と絶縁体層との層間でズレおよび凹凸が生
じない加熱収縮率を有するものであること。
である。本発明は、上記の技術的課題を解決することを
目的とすもので、電気的ストレスの緩和又は均一化にす
ぐれた高圧電カケ−プルを提供することにある。
目的とすもので、電気的ストレスの緩和又は均一化にす
ぐれた高圧電カケ−プルを提供することにある。
(問題点を解決するための手段)
本発明者らは、かかる目的を解決するために鋭意検討し
た結果、密度が0.900〜0.915の範囲にある超
低密度ポリエチレンは導電性カーボンの充填能が高く、
伸びが好ましくて内部半導電層に適した優れた素材であ
ることを見出して、本発明を完成させたものである。
た結果、密度が0.900〜0.915の範囲にある超
低密度ポリエチレンは導電性カーボンの充填能が高く、
伸びが好ましくて内部半導電層に適した優れた素材であ
ることを見出して、本発明を完成させたものである。
本発明は、ポリエチレン又は架橋ポリエチレンを絶縁体
とする高圧電カケ−プルにおいて、密度が0.900〜
0.915の範囲にある超低密度ポリエチレン100重
量部に対して、導電性カーボンを20〜120重量部の
割合で配合した導電性混和物から成る半導電層を有する
ことを特徴とするものである。
とする高圧電カケ−プルにおいて、密度が0.900〜
0.915の範囲にある超低密度ポリエチレン100重
量部に対して、導電性カーボンを20〜120重量部の
割合で配合した導電性混和物から成る半導電層を有する
ことを特徴とするものである。
以下、本発明の構成について更に説明する。
本発明にかかる半導電層に使用する導電性カーボンの配
合量は、超低密度ポリエチレン(密度0゜900〜0.
915 ”) 100重量部に対して20〜120重量
部の範囲であり、特に30〜80重量部の範囲が好まし
い。
合量は、超低密度ポリエチレン(密度0゜900〜0.
915 ”) 100重量部に対して20〜120重量
部の範囲であり、特に30〜80重量部の範囲が好まし
い。
導電性カーボンの配合量が20重量部未満では、必要な
導電性が得られない。逆に120重量部を超えるときは
、機械特性の伸びが低下するので好ましくない。本発明
に使用する半導電層には、一般に使用される架橋剤、老
化防止剤および加工助剤を適宜、配合することができ、
使用されるカーボンは導電用カーボンであれば特に限定
されない。
導電性が得られない。逆に120重量部を超えるときは
、機械特性の伸びが低下するので好ましくない。本発明
に使用する半導電層には、一般に使用される架橋剤、老
化防止剤および加工助剤を適宜、配合することができ、
使用されるカーボンは導電用カーボンであれば特に限定
されない。
(作 用)
本発明にかかる半導電層は、以下に示す作用を有する。
■ 混和物中の導電性カーボンのバインダー材が超低密
度ポリエチレン単独であり、他のエチレンを主成分とす
る共重合体を配合しないため、形成される半導電層の品
質のバラツキが少ない。
度ポリエチレン単独であり、他のエチレンを主成分とす
る共重合体を配合しないため、形成される半導電層の品
質のバラツキが少ない。
■ 超低密度ポリエチレンは、従来のポリエチレン(低
〜高密度)よりも、導電性カーボンの充填能がすぐれて
おり、機械特性および配合の作業性がよく、又、加工コ
ストの軽減となる。
〜高密度)よりも、導電性カーボンの充填能がすぐれて
おり、機械特性および配合の作業性がよく、又、加工コ
ストの軽減となる。
■ タンデム押出時の半導電層の流れが均一なため、押
出表面が平滑であり、絶縁体層との界面において凹凸が
生じない。
出表面が平滑であり、絶縁体層との界面において凹凸が
生じない。
■ 半導電層と絶縁体層とは同質のポリエチレンである
ため、両層間の密着性が強固なものとなる。
ため、両層間の密着性が強固なものとなる。
■ ケーブルが屈曲されても半導電層にクランクおよび
突起を生ずることがなく、伸び縮みに追従することがで
きる。
突起を生ずることがなく、伸び縮みに追従することがで
きる。
■ 半導電層の加熱収縮率は、絶縁体層と同レベルであ
り、通電時と非通電時によるヒートサイクルを受けても
、両層界面でのズレや凹凸が生じにくい。
り、通電時と非通電時によるヒートサイクルを受けても
、両層界面でのズレや凹凸が生じにくい。
(実施例)
以下、実施例および比較例にもとづいて本発明を更に説
明するが、本発明はかかる実施例にのみに限定されるも
のでない。
明するが、本発明はかかる実施例にのみに限定されるも
のでない。
第1表に示す配合組成物を130℃のオープンロールで
混練りしシート出した後、このシートをゲージ圧180
kg/c++”、 180℃×5分間の加熱条件でプレ
スし、厚さ1.0 mmの半導電性シートとした後、伸
び特性と体積固有抵抗を測定し、結果を第1表に併記し
た。
混練りしシート出した後、このシートをゲージ圧180
kg/c++”、 180℃×5分間の加熱条件でプレ
スし、厚さ1.0 mmの半導電性シートとした後、伸
び特性と体積固有抵抗を測定し、結果を第1表に併記し
た。
伸び特性は、J I 303号ダンベルでシートを打ち
抜き、伸び値を測定し、101%以上を○印、51〜1
00%をΔ印、50%以下をX印として評価した。
抜き、伸び値を測定し、101%以上を○印、51〜1
00%をΔ印、50%以下をX印として評価した。
体積固有抵抗は、JIS K6911による測定法で
求めた。
求めた。
次に、断面積60 mm” (19/2.0)の撚線導
体上に、第1表に示す配合組成物を用いて、0.8mm
厚の内部半導電層と4.0mm厚の架橋剤DCP2.5
%を含むポリエチレン絶縁体層をタンデム押出被覆し、
乾式架橋装置で架橋反応を行ない架橋ポリエチレン電カ
ケープルを作製した。得られたケーブルについて、AC
破壊電圧による電気特性と電気特性測定後の内部半導電
層と絶縁体層との界面状態を調べ、結果を第1表に併記
した。
体上に、第1表に示す配合組成物を用いて、0.8mm
厚の内部半導電層と4.0mm厚の架橋剤DCP2.5
%を含むポリエチレン絶縁体層をタンデム押出被覆し、
乾式架橋装置で架橋反応を行ない架橋ポリエチレン電カ
ケープルを作製した。得られたケーブルについて、AC
破壊電圧による電気特性と電気特性測定後の内部半導電
層と絶縁体層との界面状態を調べ、結果を第1表に併記
した。
電気特性は、得られたケーブルを90℃×2hr加熱し
、−20℃X1hr冷却して室温 (25℃)に放置し
、ケーブル外径の12倍のマンドレルに180 ”曲げ
て、再び直線に伸ばしたものを1サイクルとして、10
サイクル繰返した後に、AC破壊電圧による電気特性を
調べた。判定基準は、○印を優、Δ印を良、X印を可と
して評価した。
、−20℃X1hr冷却して室温 (25℃)に放置し
、ケーブル外径の12倍のマンドレルに180 ”曲げ
て、再び直線に伸ばしたものを1サイクルとして、10
サイクル繰返した後に、AC破壊電圧による電気特性を
調べた。判定基準は、○印を優、Δ印を良、X印を可と
して評価した。
内部半導電層と絶縁体層との界面状態は、電気特性測定
後のケーブルを適当間隔に切断し、撚線導体を抜き取っ
た後、被覆絶縁体をスパイラルカットし、絶縁体層をク
リスタルバイオレット溶液で煮沸染色して半導電層と絶
縁体層との界面を顕微鏡で観察した。○印は良好である
ことを示す。
後のケーブルを適当間隔に切断し、撚線導体を抜き取っ
た後、被覆絶縁体をスパイラルカットし、絶縁体層をク
リスタルバイオレット溶液で煮沸染色して半導電層と絶
縁体層との界面を顕微鏡で観察した。○印は良好である
ことを示す。
結果かられかるように、実施例1〜2は、伸び特性、体
積固有抵抗、電気特性、内部半導電層と絶縁体層との界
面状態のいずれにおいても良好な値を示す。
積固有抵抗、電気特性、内部半導電層と絶縁体層との界
面状態のいずれにおいても良好な値を示す。
しかし、比較例1は、カーボンブラック量が不足するた
め、電気特性が低下し好ましくない。
め、電気特性が低下し好ましくない。
比較例2は、逆にカーボンブラック量が多いため、伸び
特性がわるくなり、電気特性が極端に低下し、半導電層
と絶縁体層との界面状態もわるく、好ましくない。高密
度ポリエチレンとエチレンプロピレンゴムとのブレンド
した比較例8は、電気特性が良好で好ましいが、伸び特
性に難がある。
特性がわるくなり、電気特性が極端に低下し、半導電層
と絶縁体層との界面状態もわるく、好ましくない。高密
度ポリエチレンとエチレンプロピレンゴムとのブレンド
した比較例8は、電気特性が良好で好ましいが、伸び特
性に難がある。
(発明の効果)
以上説明した如く、本発明の高圧電カケ−プルの半導電
層は、良好な導電性、伸びを有すると共に、タンデム押
出時の表面が平滑となるため、絶縁体層との界面に凹凸
を生じることもなく、しかも絶縁体とは同質のポリエチ
レンを使用しているので、密着性が強固であり、加熱収
縮も好ましく、ケーブルが屈曲されても伸び縮みに追従
して半導電層に突起およびクランクを生じないので、電
カケープルにかかる電気的ストレスの緩和および均一化
させる効果が良好となり、その結果、電気特性において
ケーブルの破壊電圧を著しく向上させることができ、電
カケープルの長期寿命に寄与する効果が大である。
層は、良好な導電性、伸びを有すると共に、タンデム押
出時の表面が平滑となるため、絶縁体層との界面に凹凸
を生じることもなく、しかも絶縁体とは同質のポリエチ
レンを使用しているので、密着性が強固であり、加熱収
縮も好ましく、ケーブルが屈曲されても伸び縮みに追従
して半導電層に突起およびクランクを生じないので、電
カケープルにかかる電気的ストレスの緩和および均一化
させる効果が良好となり、その結果、電気特性において
ケーブルの破壊電圧を著しく向上させることができ、電
カケープルの長期寿命に寄与する効果が大である。
特許出願人 タック電線株式会社
代理人 弁理士 水 口 孝 −
(注1)超低密度ポリエチレン
(注6(注2)
(注7(注3)低密度ポリエチ
レン (注8(注4)
高密度ポリエチレン (注5)エチレン酢酸ビニル共重合体 )エチレンプロピレンジエンメチレンリンケージ)エチ
レンプロピレンジエンメチレンリンケージ/低密度ポリ
エチレンCp : 0.921 ))エチレンプロピレ
ンジエンメチレンリンケージ/高密度ポリエチレン(ρ
: 0.947 )手続補正書(自発) 昭和62年1り/ア日 昭和61年特 許願第296050号3、補正をす
る者 事件との関係 特許出願人 住 所 大阪府東大阪市岩田町2丁目3番1号氏 名
(名称)タック電線株式会社 代表取締役 大 石 健 雄 4、代理人 ]脣 6、補正により増加する発明の数 (1)明細書第2頁第13行目のr(EA)Jをr(F
AA)Jに訂正します。
(注6(注2)
(注7(注3)低密度ポリエチ
レン (注8(注4)
高密度ポリエチレン (注5)エチレン酢酸ビニル共重合体 )エチレンプロピレンジエンメチレンリンケージ)エチ
レンプロピレンジエンメチレンリンケージ/低密度ポリ
エチレンCp : 0.921 ))エチレンプロピレ
ンジエンメチレンリンケージ/高密度ポリエチレン(ρ
: 0.947 )手続補正書(自発) 昭和62年1り/ア日 昭和61年特 許願第296050号3、補正をす
る者 事件との関係 特許出願人 住 所 大阪府東大阪市岩田町2丁目3番1号氏 名
(名称)タック電線株式会社 代表取締役 大 石 健 雄 4、代理人 ]脣 6、補正により増加する発明の数 (1)明細書第2頁第13行目のr(EA)Jをr(F
AA)Jに訂正します。
(2)同第4頁第18行目の「加熱収縮率が大きいため
、」ヲ「絶縁体との加熱収縮率が大きいため、」に訂正
します。
、」ヲ「絶縁体との加熱収縮率が大きいため、」に訂正
します。
(3) 同第5頁tgx2行目ノ「1σ’A’−cm
J @ 「1g’。
J @ 「1g’。
nacmJに訂正します。
以 上
Claims (1)
- 密度が0.900〜0.915の範囲にある超低密度
ポリエチレン100重量部に対して、導電性カーボンを
20〜120重量部の割合で配合した導電性混和物から
成る半導電層を有することを特徴とする架橋ポリエチレ
ン電力ケーブル。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP29605086A JPS63148503A (ja) | 1986-12-11 | 1986-12-11 | 架橋ポリエチレン電力ケ−ブル |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP29605086A JPS63148503A (ja) | 1986-12-11 | 1986-12-11 | 架橋ポリエチレン電力ケ−ブル |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63148503A true JPS63148503A (ja) | 1988-06-21 |
Family
ID=17828451
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP29605086A Pending JPS63148503A (ja) | 1986-12-11 | 1986-12-11 | 架橋ポリエチレン電力ケ−ブル |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63148503A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2018536062A (ja) * | 2015-11-27 | 2018-12-06 | ボレアリス エージー | 半導電性ポリエチレン組成物 |
-
1986
- 1986-12-11 JP JP29605086A patent/JPS63148503A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2018536062A (ja) * | 2015-11-27 | 2018-12-06 | ボレアリス エージー | 半導電性ポリエチレン組成物 |
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