JPS63147645A - 半導体レ−ザの出力制御装置 - Google Patents

半導体レ−ザの出力制御装置

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Publication number
JPS63147645A
JPS63147645A JP15579387A JP15579387A JPS63147645A JP S63147645 A JPS63147645 A JP S63147645A JP 15579387 A JP15579387 A JP 15579387A JP 15579387 A JP15579387 A JP 15579387A JP S63147645 A JPS63147645 A JP S63147645A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
output
semiconductor laser
flop
flip
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP15579387A
Other languages
English (en)
Inventor
Shigeru Fukuda
茂 福田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Ricoh Co Ltd filed Critical Ricoh Co Ltd
Publication of JPS63147645A publication Critical patent/JPS63147645A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Exposure Or Original Feeding In Electrophotography (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 技術分野 本発明は、レーザプリンタ等に用いられる光書込み用の
半導体レーザの出力制御装置に関する。
従来技術 一般に、レーザプリンタ等にあっては、半導体レーザか
らの画像信号に応じた光出力を感光体上に照射すること
により像を形成するようにしている。ここに、半導体レ
ーザの出力強度は温度に対して非常に不安定であるとい
う特徴を持つ。そこで、半導体レーザの周囲温度が変化
する環境下では、半導体レーザ出力制御装置等によって
半導体レーザの出力強度を安定化させる必要がある。こ
のため、例えば本出願人による特開昭60−17186
3号公報に示されるようなカウンタ方式等の出力制御装
置が提案されている。
しかし、何れの出力制御方式であっても、プリンタ等の
走査系においては、その制御のための許容時間は短い。
これは、半導体レーザの光出力が感光体を照射しない領
域部分でのタイミングで行なわなければならない等の理
由による。この結果、出力制御装置によって半導体レー
ザの光出力を所定値に制御しようとする場合に、所定の
タイミング内では所定値に設定できないことが生ずる。
しかし、従来にあってはこのように所定値に設定されて
いない場合であっても、そのまま画像形成動作を実行し
てしまうものである。このような状態で光書込み走査を
行なうと、光量の不安定さ・不十分さ等により良質の画
像が得られず、ミス画像となり、印字用紙を無駄にする
ことにもなってしまう。
目的 本発明は、このような点に鑑みなされたもので、光出力
の制御状態を認識することによって不良状態での光走査
を未然に防止することができる半導体レーザの出力制御
装置を得ることを目的とする。
構成 本発明は、上記目的を達成するため、半導体レーザの光
出力を検出する光検出手段と、この光検出手段の出力信
号に応じた電流を前記半導体レーザに対して流す半導体
レーザ駆動回路とを備えた半導体レーザの出力制御装置
において、前記半導体レーザの光出力の変更を許容する
所定のタイミング信号を設定し、このタイミング信号の
出力中に前記光出力が所定値に固定されたかを判定して
記憶する判定記憶手段を設け、ある所定タイミング信号
の発生時に前記判定記憶手段の内容によって前記光出力
が前記所定値に固定されていない異常の有無を検出する
異常検出手段を設けたことを特徴とするものである。
以下、本発明の一実施例を図面に基づいて説明する。ま
ず、特開昭60−171863号公報等に示されるよう
な、半導体レーザによる光書込み装置の基本構成及び動
作を第2図により説明する。
半導体レーザ1より発生したレーザビームはコリメータ
レンズ2によりコリメートされて回転多面鏡3及びこの
回転多面!la3を回転させる駆動モータ4等よりなる
光走査装置で偏向される。偏向されたレーザビームはf
θレンズ5により感光体ドラム6の帯電済み表面に結像
される。このレーザビームの結像スポットが回転多面鏡
3の回転によって矢印X方向に反復して移動する(主走
査)と同時に感光体ドラム6が回転する(副走査)。感
光体ドラム6の上方書込み領域外には光検出器7が設け
られており、回転多面鏡3によって偏向されたレーザビ
ームを検出して同期信号BDを発生するものである。そ
して、信号処理回路8は情報信号を半導体レーザ駆動回
路9に印加するが、そのタイミングを前記光検出器7か
らの同期信号BDにより制御する。この半導体レーザ駆
動回路9は信号処理回路8からの情報信号に応じて半導
体レーザ1を駆動する。従って、情報信号で変調された
レーザビームが感光体ドラム6上に照射されて静電潜像
が形成される。この静電潜像は電子写真プロセス等に従
い、現像部で現像された後、転写部で紙等に転写される
又、半導体レーザ1から後方に出射されるレーザビーム
は光検出器10に入射し、その光強度が検出される。そ
して、制御回路11がこの光検出器10の出力信号に応
じて前記半導体レーザ駆動回路9を制御することで半導
体レーザ1の出力光量を一定に制御する。
しかして、第2図中の半導体レーザ駆動回路9及び制御
回路11の詳細を第1図に示し、各部の信号のタイミン
グを第3図に示す。半導体レーザ1から後方に出射され
るレーザビームはフォトダイオードにより構成された光
検出器1oに入射し、フォトダイオード10はそのレー
ザビームの強度に比例した電流を出力する。この検出電
流は増幅器12により電圧に増幅変換され、比較器13
ににおいて基準電圧Vrefと比較される。ここに、比
較器13の出力電圧はこの比較器13に対する再入力端
子の大小関係により高レベル又は低レベルとなり、アッ
プダウンカウンタ14のカウンタモードを制御する。例
えば、半導体レーザ1からのレーザビームの強度が基準
値より弱い時には比較器13の出力が低レベルとなり、
アップダウンカウンタ14はアップカウンタとして動作
する状態となる。このアップダウンカウンタ14にはD
/Aコンバータ15を介して半導体レーザ駆動回路9が
接続されている。
そして、特開昭60−171863号公報に示されるよ
うなエツジ検出回路16は所定のタイミング信号T1が
入力されると、このタイミング信号T1 によりJKフ
リップフロップ17がクリアされてその出力信号が低レ
ベルになることによりアップダウンカウンタ14がイネ
ーブル状態となる。又、比較器13の出力信号はDフリ
ップフロップ18で発振器19からのクロック信号によ
りラッチされ、このDフリップフロップ18の出力信号
はアップダウンカウンタ14に計数モード信号として加
えられてその計数モードを制御すると同時に、Dフリッ
プフロップ2oで発振器19からのクロック信号により
ラッチされる。Dフリップフロップ18の非反転出力及
びDフリップフロップ20の反転出力はノア回路21に
入力され、ノア回路21の出力信号により前記JKフリ
ッププロップ17がセットされる。
今、比較器13の出力が高レベル(半導体レーザ1の光
出力が基準値より大きい)とする。このような場合には
、タイミング信号T、によりアップダウンカウンタ14
がイネーブル状態となると、アップダウンカウンタ14
はDフリップフロップ18の高レベル出力によりダウン
カウンタとして動作する。よって、半導体レーザ1の駆
動電流が減少し、増幅器12の出力電圧が低下する。そ
して、比較器13の出力が高レベルから低レベルに反転
すると、Dフリップフロップ18の出力が低レベルにな
ってノア回路21の出力が高レベルになり、JKフリッ
プフロップ17がセットされてアップダウンカウンタ1
4がディスエーブル状態となる。
一方、比較器13の出力が低レベル(半導体レーザ1の
光出力が基準値より小さい)とする。このような場合に
は、タイミング信号T、によりアップダウンカウンタ1
4がイネーブル状態となると、アップダウンカウンタ1
4はDフリップフロップ18の低レベル出力によりアッ
プカウンタとして動作する。よって、半導体レーザ1の
駆動電流が増大し、増幅器12の出力電圧が上昇する。
そして、比較器13の出力が低レベルから高レベルにな
ると、Dフリップフロップ18の出力が高レベルになっ
てアップダウンカウンタ14がダウンカウンタとして動
作するようになる。この時、ノア回路21の出力は低レ
ベルのままでJKフリップフロップ17がリセットされ
ず、アップダウンカウンタ14はイネーブル状態のまま
となる。
即ち、アップダウンカウンタ14は半導体レーザ1の光
出力が増加して基準値を越えた時にはディスエーブルに
ならず、半導体レーザ1の光出力が減少して基準値を越
えた時にディスエーブル状態になる。従って、半導体レ
ーザlの保持電流は常に一定となる。
ところで、信号処理回路8は外部装置(図示せず)より
情報信号の送信開始を知らせるフレーム信号T2を受は
取ると、光検出器7による検出信号を増幅器22により
電圧に増幅変換した同期信号BDによるタイミングでD
フリップフロップ23によりラッチし、情報データの受
信を許可する信号T2 を出力する。次に、信号処理回
路8は同期信号BDを基準とした所定タイミング後に、
情報データを要求する信号L−5yncを出力する。
外部装置はこのL −5ync信号を受けると、所定タ
イミング後に1ライン分の情報データを信号処理回路8
に送る。信号処理回路8はこの1ライン分の情報データ
を受取り、ラインバッファ(図示せず)に入力する。こ
こに、情報データをラインバッファに取り込まずに直接
半導体レーザ1を駆動して変調信号とし、感光体ドラム
6上に照射して静電潜像を形成する方法もある。しかる
に、外部装置の情報データの転送速度能力は各々の外部
装置によって異なるため、汎用性を持たせるためには、
本実施例のようにラインバッファを設けて一時このライ
ンバッファに格納させる方式が一般的である。より具体
的には、ラインバッファを2ライン分設け、外部装置か
らの情報データの受取りと半導体レーザ1への出力のた
めの読出しとを交互に行なう、所謂トグルラインバッフ
ァ方式が採用されている。
次に、Dフリップフロップ24は同期信号BDにより前
記受信許可信号T6 をラッチして光走査を許可する信
号T、を出力する。又、信号処理回路8は同期信号BD
を基準とした所定タイミングの後で光走査開始信号T 
l lを出力する。これにより、前述したラインバッフ
ァより情報データを読出し、この情報データを半導体レ
ーザ駆動回路9へ送り変調信号とする。なお、この時、
信号処理回路8は外部装置より2ライン目の情報データ
の受取りを並行して行なっており、もう一方のラインバ
ッファに取込む。
そして、外部装置は所定のライン分の情報データを送り
終えると、前記フレーム信号T2の出力を停止する。そ
こで、信号処理回路8は同期信号BDによりフレーム信
号T2をラッチし、受信許可信号T、の出力を停止する
。つづいて、前述した場合と同様に、同期信号BDより
所定タイミング経過後に光走査開始信号T l 1を出
力してラインバッファより情報データを読出し、変調信
号とする。1ライン分の光走査終了後には次の同期信号
BDによりDフリップフロップ24で受信許可信号T、
をラッチし、光走査許可信号T、の出力を停止し、一連
の光走査を終了する。
上述した構成及び動作は、特開昭60.−171863
号公報に示したものと同様である。
半導体レーザ1の光強度が温度によって変動するため、
上述したように光強度を検出し、所定の値に制御する訳
であるが、このような制御タイミングは半導体レーザ1
の出力光が感光体ドラム6を照射しない範囲でなければ
ならない。又、光検出器1o、増幅器12、比較器13
及びD/Aコンバータ15の温度特性による半導体レー
ザ1の光出力の変動を考慮すると、1頁分の光走査の繰
返し中に光出力の再設定を行なうことは、前ラインの光
走査時の光強度と再設定後の光走査時の光強度とに差が
生じ、この差が画像濃度差となり画像を見にくいものと
してしまうことがある。このため、1頁分の光走査の繰
返し中には光出力の再設定を行なわないようにすること
が好ましい。そこで、本実施例では、半導体レーザ1の
出力光量を設定するために光出力の変更を許容する所定
のタイミング信号としてのタイミング信号T1  を受
信許可信号T6と光走査許可信号T、とのアンド回路2
5による論理積信号をノット回路26で反転させた反転
出力信号T7を作成し、この反転出力信号T7 と半導
体レーザ1が光出力時において感光体ドラム6を照射し
ない範囲のタイミング信号T、とのアンド回路27によ
る論理積により生成しているものである。より具体的に
は、タイミング信号T1 はJKフリップフロップ17
をクリアするための短いパルス信号であり、タイミング
信号T、をパルス発生器39を通して短いパルス信号に
変換してからアンド回路27に入力させることになる。
又、タイミング信号T1 のパルス幅は発振器19から
出力される信号のパルス幅よすも短い方がよい。
なお、このようなタイミング信号T1の生成のためのタ
イミング信号T3は例えば第4図に示すような回路によ
り生成される。即ち、光強度の再設定を出力光が感光体
ドラム6を照射しない範囲で行なわせるために、周波数
の固定された発振器28からのパルス出力を同期信号B
Dを基準としてカウンタ29,30によりカウントし、
このカウンタ29,30のカウント値を制御用ROM3
1のアドレスデータとし、このROM31よりそのアド
レスに対応したデータを出力させ信号T S lを取出
している。そこで、この信号T3Iのタイミングにて半
導体レーザ1を発光状態とし、光検出器1o、増幅器1
2及び比較器13の状態が出力光に対応した安定した値
となる時間をおいて、JKフリップフロップ17をクリ
アして光強度の再設定を許可する信号T3を発生させる
ための短いタイミング信号T1 を出力させる。これに
より、アップダウンカウンタ14は比較器13の出力に
基づきアップカウンタ又はダウンカウンタとして前述し
たような動作を行なうものである。
しかして、前記エツジ回路16のJKフリップフロップ
17には判定記憶手段となるDフリップフロップ32が
接続されている。このDフリップフロップ32はタイミ
ング信号T ff Iを入力とし、タイミング信号T1
 によりアップダウンカウンタ14をイネーブル状態と
し比較器13の出力信号が所定の一方向に反転したこと
を検出してアップダウンカウンタ14をディスエーブル
とするJKフリップフロップ17の出力信号T、により
タイミング信号T 31をラッチするものである。即ち
、出力光量の再設定のために与えられた所定のタイミン
グ信号T、1が発生している間に比較器13の出力信号
が所定の一方向に反転し、JKフリップフロップ17に
よりアップダウンカウンタ14をディスエーブル状態と
し、光出力が所定値に固定されたことを知らせる信号T
、が出力されたか否かを判定する機能を持つものである
このDフリップフロップ32での判定結果が肯定である
場合には、光出力が所定値に固定されたことを知らせる
ための信号T、が出力されるとともに、この信号T、に
より点灯するLED等による表示器33がドラ゛イバ3
4を介して設けられている。一方、Dフリップフロップ
32での判定結果が否定である場合には、信号T、が出
力される。
ここに、光走査を開始するタイミング信号T l 1の
発生時にのみ光出力異常信号T I 4を出力させるた
めの、異常検出手段としてのアンド回路35及びDフリ
ップフロップ36が設けられている。このDフリップフ
ロップ36からの異常信号T I 4により点灯して異
常発生を表示するためのLED等による表示器37がド
ライバ38を介して設けられている。
即ち、光走査前の所定のタイミングT、において異常の
有無の検出がなされてDフリップフロップ32に格納さ
れ、信号T、も第3図中に仮想線で示すようにLレベル
となっているので、実際に光走査すべき光走査開始信号
T l 1のタイミングでは異常があれば信号〒7に基
づき、信号T + 3、従って異常信号T I 4が出
力されて書込み禁止等の処置がとられる。これにより、
レーザビーム光量の不安定状態のままでの不良作像等の
動作が行なわれず、不良画像発生が未然に防止される。
又、このような処置と並行して表示器37により異常表
示がされるので、保守・点検に際しての異常箇所・原因
の発見が容易となり、保守・点検時間の短縮化を図るこ
とができる。
なお、Dフリップフロップ32は情報データの受信許可
信号T6を入力としてこの信号T6の発生時に短いパル
スを発生するパルス発生器39によりクリアされる。即
ち、光走査開始直前の光出力の再設定に備えてクリアさ
れるものである。又、前記Dフリップフロップ36は異
常処理終了後に入力される復帰信号T1.によりクリア
されるように設定されている。
又、本実施例においては、光出力の変更を許容するタイ
ミング信号T1 を、受信許可信号T3、光走査許可信
号T、及びタイミング信号T3により生成したが、所定
のタイミング信号T、を入力したパルス発生器39より
出力する短いパルス信号をそのままタイミング信号T、
  としてもよい。
これは、例えば光検出器10、増幅器12、比較器13
及びD/Aコンバータ15の温度特性による半導体レー
ザ1の光出力の変動を無視し得る場合等においては、1
ラインの光走査毎に光出力の再設定を行なった方がよい
場合もあるからである。
更には、本実施例では半導体レーザ1の光出力が減少し
て基準値を越えた時にのみアップダウンカウンタ14を
イネーブル状態としたが、逆に半導体レーザ1の光出力
が増加して基準値を越えた時にのみアップダウンカウン
タ14をイネーブル状態にするようにしてもよい。
効果 本発明は、上述したように温度による光出力の変動を防
止するために半導体レーザに流す電流を制御して光出力
が一定となるようにするが、この際に判定記憶手段及び
異常検出手段を設けて光出力が所定値に固定されたかを
所定タイミングでチェックするようにしたので、光出力
が所定値に固定されていないような状態での不良書込み
を未然に防止することができ、不良画像の生じない光書
込みを行なわせることができるものである。
【図面の簡単な説明】
図面は本発明の一実施例を示すもので、第1図はブロッ
ク図、第2図はレーザプリンタ構成を示す概略ブロック
図、第3図はタイミングチャート、第4図はブロック図
である。 1・・・半導体レーザ、9・・・半導体レーザ駆動回路
、10・・・光検出器(光検出手段)、32・・・Dフ
リップフロップ(判定記憶手段)、35・・・アンド回
路(異常検出回路)、36・・・Dフリップフロップ(
異常検出回路) 出 願 人   株式会社  リ コ −33図 T、3     “

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 半導体レーザの光出力を検出する光検出手段と、二の光
    検出手段の出力信号に応じた電流を前記半導体レーザに
    対して流す半導体レーザ駆動回路とを備えた半導体レー
    ザの出力制御装置において、前記半導体レーザの光出力
    の変更を許容する所定のタイミング信号を設定し、この
    タイミング信号の出力中に前記光出力が所定値に固定さ
    れたかを判定して記憶する判定記憶手段を設け、ある所
    定タイミング信号の発生時に前記判定記憶手段の内容に
    よつて前記光出力が前記所定値に固定されていない異常
    の有無を検出する異常検出手段を設けたことを特徴とす
    る半導体レーザの出力制御装置。
JP15579387A 1986-07-22 1987-06-23 半導体レ−ザの出力制御装置 Pending JPS63147645A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP17250286 1986-07-22
JP61-172502 1986-07-22

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS63147645A true JPS63147645A (ja) 1988-06-20

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ID=15943159

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP15579387A Pending JPS63147645A (ja) 1986-07-22 1987-06-23 半導体レ−ザの出力制御装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS63147645A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4024463A1 (de) * 1989-08-01 1991-02-07 Ricoh Kk Einrichtung zum feststellen einer laserstrahl-abtastposition
JPH04145679A (ja) * 1990-10-08 1992-05-19 Nec Corp レーザ走査ユニットのレーザドライバ

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4024463A1 (de) * 1989-08-01 1991-02-07 Ricoh Kk Einrichtung zum feststellen einer laserstrahl-abtastposition
JPH04145679A (ja) * 1990-10-08 1992-05-19 Nec Corp レーザ走査ユニットのレーザドライバ

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