JPS63146226A - 光記録方法および光記録装置 - Google Patents

光記録方法および光記録装置

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JPS63146226A
JPS63146226A JP29397286A JP29397286A JPS63146226A JP S63146226 A JPS63146226 A JP S63146226A JP 29397286 A JP29397286 A JP 29397286A JP 29397286 A JP29397286 A JP 29397286A JP S63146226 A JPS63146226 A JP S63146226A
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JP
Japan
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recording
signal
reflected light
output
optical recording
Prior art date
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Pending
Application number
JP29397286A
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English (en)
Inventor
Masahiro Deguchi
出口 昌宏
Toshiyuki Kori
俊之 郡
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は光学式情報記録再生装置に関するもので、半導
体レーザ等のレーザ光源を使用し、光学的記録媒体に信
号を記録再生する場合に好適な信号の記録方法に関する
ものである。
従来の技術 回転する円板型の光学的記録媒体に半導体レーザ等のレ
ーザ光束を1μm程度の微少スポットに絞って照射し、
信号を記録再生する方式・装置が種々開発されている。
これらの記録方式としては信号の記録が1回しか行えな
い追記型のものと、信号の記録、消去が可能な消去可能
型のものがある。また信号の記録型体から分類すれば、
微少スポットのレーザ光を照射した部分が周囲の未照射
部分より再生時の反射光が減少するハイ・ツー・ロー型
(High to Low Type 、以降HTLと
略記する)と照射した部分が周囲の未照射部分より再生
時の反射光が増加するロー・ツー・ハイ型(Low t
o High Type 、以降LTHと略記する)が
ある。前者のHTL型のものとしては例えば、レーザ光
により記録膜に穴をあけて信号を記録するもの、レーザ
光により記録膜にガスを発生させ、そのガスにより突起
を生成して信号を記録するもの、記録膜の結晶状態から
アモルファスへの相変化を利用し、微少スポットのレー
ザ光による昇温急冷により結晶状態(反射重大)からア
モルファス状態(反射率小)に変化させて信号を記録し
、ややスポット径の大きいレーザ光等により昇温徐冷状
態を生じさせアモルファス状態から結晶状態に変化させ
て信号の消去を行う相変化型の消去可能型のものなどが
ある。またLTH型のものとしては、レーザ光によりア
モルファス状態(反射率小)から結晶状態(反射重大)
への相変化を利用して信号を記録する追記型のもの、レ
ーザ光の照射によシ記録膜の成分同士の合金を生成し反
射率を高めて信号の記録を行うものなどがある。
本発明は特にHTL型の記録型体を使用するものに好適
な記録方法を提供するものである。
このようなHTL型の記録型体を使用する記録媒体を使
用して情報信号を記録する場合には従来第3図に示す記
録方式が使用されていた。第3図に於いて端子11には
記録すべきデータ信号が加えられ、変調回路12により
記録に適した信号に変調される。この変調方式としては
一般公知の種々の変調方式が使用される。変調方式とし
てN RZ Z (Won Return to Ze
ro Inverted )を使用した場合につき説明
する。第4図は第3図における記録方式の各部の信号波
形および再生信号状態などを説明する波形図で、亀は端
子11に加えられるデータ信号例を示す。aのデータ信
号は変調回路12によりNRZI変調され、データ1の
中央で反転する第4図すの如き信号となる。
変調回路12の出力すは微分回路13により微分され出
力Cとなる。微分回路13は変調回路12の出力すの信
号変化部において一定幅のパルスを発生する(第4図C
)。微分回路13の出力Cはレーザ駆動回路14に加え
られ、出力Cのハイレベルの部分(パルスの部分)にお
いて半導体レーザ15が発光(ON)するよう半導体レ
ーザ15を駆動し記録媒体に信号を記録する。半導体レ
ーザ光が照射された部分は反射率の減少又は穴あき等を
生じ信号が記録される記録された信号を再生するには従
来公知の如く微小スポットの弱い光束を記録媒体に照射
するが、その反射光量(反射率)は記録時のレーザの照
射部分が反射光量が減少した第4図dの如くなり、公知
の検出素子にて検出しプリアンプ等により増幅して第4
図eの如く再生信号を得る。
発明が解決しようとする問題点 信号の記録再生に使用される光学記録媒体の構造図の一
例を第6図に示す。記録は一般に円板型の光学記録媒体
を一定角速度または一定周速で回転させ第1図にて示し
たごときレーザ光の照射により記録を行う。光学記録媒
体は透明な保護基板31、記録M32、接着層33、お
よび保護基材34から構成される。保護基材31は記録
膜32をホコリやキズから保護するだめのものであり、
矢印36の方向によシレーザ光を照射し記録再生を行う
。透明な保護基板31は一般にポリカーボネイトおよび
アクリル樹脂により作製されるが、樹脂中にホコリや成
型時の黒点などによる異物36の混入や保護基板31の
表面にホコリや汚れ37が付着し、記録膜32への光束
の遮へいおよび発散を生ぜしめる。このため第4図乙に
示すごときデータ信号を記録した場合には再生時には第
4図dまたは第6図dの実線の如き反射光量が得られる
べきところが、保護基板31内の異物36、表面のホコ
リおよび汚れ37の付着等により、その部分の記録およ
び再生光の減少を生じ、異物36、ホコリ37等の存在
する部分は第6図dの点線の如く再生光量の減少を生じ
る。検出素子およびプリアンプ等によシ得られる再生信
号は第6図eの如くエラーの発生した信号となる。エラ
ーの発生は異物36、ホコリおよび汚れ37が反射率の
高い部分にある場合は異物36、ホコリ37等による再
生時の反射光量の減少によシ本来Highレベルにある
べきものがLowレベルとなるために生じる。従って記
録時のレーザ照射部の反射光量の少いLowレベルの部
分に異物36、ホコリ、汚れ37等があってもエラーの
発生にはならがい。
問題点を解決するための手段 本発明は上記の反射率の低い部分、信号のLowレベル
の部分に保護基板31の異物や気泡および基材31の表
面にホコリおよび汚れ、またはキズ等があってもエラー
の発生にならないことを利用し、信号の記録再生におけ
るエラーの発生率を減少するものである。
作用 本発明は保護基板31内の異物や気泡および、基板の表
面に付着するホコリや汚れおよびキズ等によるエラーの
発生率を減少する記録方式を提供し情報信号の記録再生
における信頼性を向上するものである。
実施例 第1図に本発明の一実施例を示す、また第2図にその波
形図を示す。第1図において、第3図と同一物は同一番
号にて示す。第1図において、微分回路13の出力Cは
符号反転回路61に加えられ、符号反転回路61の出力
fは第2図fに示す如く微分回路13の出力C(第2図
C)の符号反転となっている。この出力fによりレーザ
駆動回路14を経て半導体レーザ16を駆動し、出力f
がHighレベルにある区間が半導体レーザ15の発光
区間となる。従ってこの場合の再生時の反射光量(反射
率)は第2図dにて示すごとく第4図dを符号反転した
ものとなっている。NRZI変調回路12の出力すを微
分した出力C(第4図C1第2図C)は微分のパルス幅
tとしては出力すの最小反転区間即ちデータ信号が11
1と続く場合の周期T(第2図す参照)のに以下となる
ようにするため、データ信号が11111・・・・・・
とオール1の場合を除きパルスが出力されている期間、
すなわち第2図Cに於けるHighレベル区間の総和の
方がパルスが発生されていない区間、すなわち第2図C
におけるLOWレベル区間の総和より短い。従って微分
回路13の出力Cを符号反転した符号反転回路14の出
力rにて半導体レーザを駆動し記録すれば半導体レーザ
15の全発光期間の方が全不発光期間より長くなり、記
録により反射率が低くなる区間(再生時の反射光量が低
くなる区間)の方が反射率の高い区間より第2図dに示
す如く多くなる。従って第5図における記録媒体におけ
る保護基板31内の異物36や基板31の表面に付着し
たホコリや汚れ37やキズの発生により再生時の反射光
量が第2図dの点線に示す如く落ち込んでも反射光量が
高くて異物36等により影響を受はエラー発生を生じる
期間の方が短いためエラー発生の確率が減少する。従っ
て信頼性の高い情報信号の記録再生を実現することがで
きる。
以上本発明を第1図の実施例に基づき説明したが、本発
明は第1図に限定されることなく、反射率(再生時の反
射光量)の低い区間の方が反射率の高い区間よりも長く
なるよう半導体レーザ等のレーザ発光を変調駆動し、保
護基板内の異物や気泡および保護基板表面に付着したホ
コリ、ゴミおよびキズ等によるエラーの発生を減少する
ものである。従ってNRZI変調によらず、従来公知の
1−7、および2−7 RL L O(Run Len
gthLimited Code)やMFM変調等あら
ゆる変調方式に適用することができる。
発明の効果 本発明は記録媒体の保護基板内の異物や気泡および基板
表面のホコリ、ゴミの付着およびキズの発生等によるエ
ラー発生の確率を減少し信頼性の高い情報記録再生を実
現する効果を有する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例における光学式記録再生装置
の信号記録方式を実施した装置のブロック図、第2図は
第1図の実施例の信号記録方式を説明するための波形図
、第3図は従来例の光学式情報記録再生装置の信号記録
方式のブロック図、第4図は第3図の信号記録方式を説
明するだめの波形図、第5図は光学記録媒体の構造図、
第6図は光学記録媒体の保護基板内の異物や表面のホコ
リ、ゴミ、汚れなどによるエラーの発生を説明するため
の波形図である。 12・・・・・・変調回路、13・・・・・・微分回路
、14・・・・・・レーザ駆動回路、15・・・・・・
半導体レーザ、51・・・・・・符号反転回路。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第1
図 第2図 第3図 (の  f θ 01  θ If/  θ 00f第
5図 第6図

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)光学記録媒体と、この光学記録媒体に信号を記録
    するためのレーザ光源と、レーザ光源を駆動するための
    変調駆動手段を有し、前記変調駆動手段により前記レー
    ザ光源の発光を変調駆動して前記光学記録媒体に信号を
    記録し再生する装置において、再生時に反射光量が少く
    なる区間(反射率が低い区間)の方が反射光量が大きく
    なる区間(反射率が高い区間)より多くなるよう前記変
    調駆動手段により前記レーザ光源を駆動して信号を記録
    する光学式記録再生装置の信号記録方式。
  2. (2)光学記録媒体としてレーザ光源の照射により、未
    照射部分より再生時の反射光量が減少することにより記
    録状態とするものを使用する特許請求の範囲第1項記載
    の光学式記録再生装置の信号記録方式。
JP29397286A 1986-12-10 1986-12-10 光記録方法および光記録装置 Pending JPS63146226A (ja)

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60234233A (ja) * 1984-05-07 1985-11-20 Matsushita Electric Ind Co Ltd 光学的記録再生装置

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60234233A (ja) * 1984-05-07 1985-11-20 Matsushita Electric Ind Co Ltd 光学的記録再生装置

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