JPS6314475Y2 - - Google Patents

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JPS6314475Y2
JPS6314475Y2 JP1982007094U JP709482U JPS6314475Y2 JP S6314475 Y2 JPS6314475 Y2 JP S6314475Y2 JP 1982007094 U JP1982007094 U JP 1982007094U JP 709482 U JP709482 U JP 709482U JP S6314475 Y2 JPS6314475 Y2 JP S6314475Y2
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JP
Japan
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guide hole
substrate
resin
conductor pattern
package
Prior art date
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JP1982007094U
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JPS58111967U (ja
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Description

【考案の詳細な説明】 本考案は回路基板にあけられた集積回路(以下
ICという)実装のためのガイド穴の裏面を、樹
脂及び基板等で埋め、その上に回路が形成されて
いることを特徴とする高密度回路基板に関する。
従来のIC実装構造及び回路基板は第1図に示
す如く、IC1を回路基板2上の導体パターン3
に直接平面付けするタイプがある。この方式だ
と、小型多ピンICになるほど、ICリード4と導
体パターン3との位置合わせが困難になり、作業
性が悪く、実装した際、厚くなる。そこで第2図
に示すように、IC実装時に位置決めしやすいよ
うに基板にガイド穴6をさらつてあるタイプがあ
る。
しかし、基板に四角く穴をさらうのは製作が容
易でなく、工数がかかる。そこで、プレス等で基
板にICガイド穴を打ち抜けば、穴の製作に関し
ては容易である。しかしこの方法だと、第3図に
示すように両面配線基板の場合、IC実装面の裏
面のガイド穴部分7はデツドスペースとなる。本
考案はかかる欠点を除去したもので、その目的は
ICガイド穴裏面側のデツドスペースの活用にあ
る。
本考案の要旨は、両面に導体パターン3,3が
形成され上下に貫通したガイド穴7を有する基板
2と、ICリード4がガイド穴7周辺の表面側の
導体パターン3に接合され前記ガイド穴7内に部
分挿入されたパツケージIC1と、前記ガイド穴
7内に注入され前記パツケージIC1の裏面を覆
うとともに前記基板2の裏面とほぼ同一面に形成
された樹脂9と、前記樹脂9の裏面上に配設され
基板2の裏面側の導体パターン3に接続される導
体パターン10と、前記導体パターン10を覆う
レジスト11とを有することを特徴とする高密度
回路基板構造である。
以下実施例に基づいて本考案を詳しく説明す
る。
第4図において、2は基板、3は導体パター
ン、4はICリード、5はハンダ付け部、1はテ
ープキヤリアタイプのパツケージIC、8はポリ
イミドテープ、9はガイド穴7に注入された樹
脂、10は樹脂9上に印刷された導体パターン、
11は導体パターン10を保護するためのレジス
ト、AはIC実装面、Bは裏面である。A面側に
パツケージIC1を第4図の様に実装した後、裏
面側のガイド穴7に液状のエポキシ樹脂をデイス
ペンサー(定量噴出機)を用い充填する。この場
合、エポキシ樹脂の硬化時の収縮を考虜しわずか
に裏面側が凸面になるように十分に充填する。こ
の状態で回路基板2を恒温槽に入れ150℃で3時
間の硬化処理を施す。前記エポキシ樹脂が硬化す
ると、エポキシ樹脂がパツケージIC1の裏面を
覆うとともにその裏面が回路基板2の裏面とほぼ
同一面に形成される。次に、このエポキシ樹脂の
裏面に一部裏面側の導体パターン3と接触するよ
うに液状のカーボンペースト又は銀ペーストを通
常のスクリーン印刷法で第4図の導体パターン1
0の形に形成する。一般的には、カーボンペース
トを印刷し、特に低抵抗値を必要とする場合は銀
ペーストを印刷する。この印刷後、前述のように
恒温槽にて150℃、30分の焼成を施すと導体パタ
ーン10が得られる。次に導体パターン10の上
面に通常の液状のソルダーレジスト11をスクリ
ーン印刷し、前述のように恒温槽で150℃、30分
の硬化処理によりレジスト11を硬化させる。上
記レジストは紫外線硬化型ものを使用し紫外線を
照射して硬化させれば加熱の必要がなく導体パタ
ーン10に対して熱による変化が少なくなりより
好ましいものとなる。
以上のように本考案によれば、両面に導体パタ
ーン3,3が形成された基板2に貫通したガイド
穴7を設けこのガイド穴7にパツケージIC1が
部分挿入されるから、上記ガイド穴7が設けられ
ていない基板上にパツケージICを載置する場合
に比べ薄い実装体が得られる。又、ガイド穴7内
に樹脂9が注入されてパツケージIC1の裏面を
覆うのでパツケージIC1の耐湿性をより向上さ
せ、又樹脂9が接着剤の役割を有するのでパツケ
ージIC1を基板2に強固に接合できるものであ
る。しかも前記樹脂9の裏面に導体パターン3を
形成したので、基板2の貫通したガイド穴7の平
面スペースを無駄とせず有効利用できその分は高
密度実装が可能となる。この場合、樹脂9の裏面
が基板2の裏面とほぼ同一面となることから樹脂
裏面上の導体パターン3との接続箇所に大きな段
差が生ぜず断線などの欠陥もないものである。
以上の如く本考案は、両面に導体パターンが形
成された基板を用いその貫通穴を巧みに利用して
表面側と裏面側とにパツケージICと導体パター
ンを配設したので、高密度にして信頼性の高い実
装基板が得られたものである。
【図面の簡単な説明】
第1図,第2図,第3図は従来のIC実装構造
と、回路基板形状図、第4図は本考案の実施例の
構造図である。 1はパツケージIC、2は基板、3は導体パタ
ーン、4はICリード、5ははんだ付け部、6は
ICガイド用のさらい穴、7はICガイド用打ち抜
き穴、8はポリイミドテープ、9は樹脂、10は
印刷された導体パターン、11はレジストであ
る。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 両面に導体パターン3,3が形成され上下に貫
    通したガイド穴7を有する基板2と、ICリード
    4がガイド穴7周辺の表面側の導体パターン3に
    接合され前記ガイド穴7内に部分挿入されたパツ
    ケージIC1と、前記ガイド穴7内に注入され前
    記パツケージIC1の裏面を覆うとともに前記基
    板2の裏面とほぼ同一面に形成された樹脂9と、
    前記樹脂9の裏面上に配設され基板2の裏面側の
    導体パターン3に接続される導体パターン10
    と、前記導体パターン10を覆うレジスト11と
    を有することを特徴とする高密度回路基板構造。
JP709482U 1982-01-22 1982-01-22 高密度回路基板構造 Granted JPS58111967U (ja)

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JP709482U JPS58111967U (ja) 1982-01-22 1982-01-22 高密度回路基板構造

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JP709482U JPS58111967U (ja) 1982-01-22 1982-01-22 高密度回路基板構造

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS58111967U JPS58111967U (ja) 1983-07-30
JPS6314475Y2 true JPS6314475Y2 (ja) 1988-04-22

Family

ID=30019858

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JP709482U Granted JPS58111967U (ja) 1982-01-22 1982-01-22 高密度回路基板構造

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Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57104568U (ja) * 1980-12-18 1982-06-28

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Publication number Publication date
JPS58111967U (ja) 1983-07-30

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