JPS63124246A - 光学的記録媒体用原盤の製造方法 - Google Patents

光学的記録媒体用原盤の製造方法

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JPS63124246A
JPS63124246A JP26861086A JP26861086A JPS63124246A JP S63124246 A JPS63124246 A JP S63124246A JP 26861086 A JP26861086 A JP 26861086A JP 26861086 A JP26861086 A JP 26861086A JP S63124246 A JPS63124246 A JP S63124246A
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JP
Japan
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resist layer
layers
layer
resist
sensitivity
Prior art date
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Pending
Application number
JP26861086A
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English (en)
Inventor
Reiko Sakata
坂田 禮子
Hiroshi Komata
小俣 宏志
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Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、光ビームにより記録、再生を行うことが可能
な光学的記録媒体用原盤の製造方法に関する。
(従来の技術) 光ディスクの基板には光学的にトラッキングを行うため
の溝と、アドレス信号を取り出すためのビットが形成し
である。一般に、それぞれの深さはλ/8、λ/4 (
λ:読み取り光の波長)としている。
従来、この様な溝とビットを形成するための原盤の製造
方法は、第4図に示すガラス基板1にλ/4程度の厚さ
のフォトレジストを塗布し、ベークした後(第5図)、
光量の異なるレーザー光を用いてアドレスピットと案内
溝の深さがλ/4、λ/8になるように露光、現像し、
第6図にある様な断面形状になる工程で行われている。
〔発明が解決しようとする問題点〕
前記した方法による原盤製造方法では、レーブー光の露
光量の違いによってのみ深さを変えるため、フォトレジ
ストを底まで抜くアドレスピットでは矩形になるが、ア
ドレスピットの1/2の深さの案内溝ではレジストを中
間までしか抜かないので、レーザーの光量分布そのまま
に、底が丸まってしまい、十分大きなトラッキング信号
が得にくいという問題があった。また、案内溝はレーザ
ー光のパワー変動がそのまま深さの変動となるため、全
面均一な深さに形成するのが困難であった。
本発明は以上の問題点に鑑みなされたものでありその目
的は、矩形な光学的案内溝を有する光学的記録媒体用原
盤を容易に製造する方法を提供することにある。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明の上記目的は、フォトレジストを塗布しベークす
るという方法を用いて基板上に第1のレジスト層と感度
の異なる第2のレジスト層を順次積層、形成した後、各
々の層の感度に応じて露光し現像することで第2のレジ
スト層のみを貫通する光学的案内溝と両方のレジスト層
を貫通するアドレスピットを形成する方法であって、フ
ォトレジスト塗布後のベーク温度を変えることによって
2つのレジスト層の感度に差を生じさせる光学的記録媒
体用原盤の製造方法によって達成される。
以下、本発明の製造方法を第1図〜第3図を用いて説明
する。
図中1は、ガラスやポリカーボ製の基板であり、この基
板上に読み取り波長λのl/8に相当する厚さ725人
に第−層フォトレジストを塗布後、120℃以上でベー
クすることで低感度の第1のレジスト層3が得られる。
次に、厚さ725人に第二層フォトレジストを塗布後、
 120℃未満でベークすることで第1のレジスト層よ
り高感度の第2のレジスト層4が得られる。本発明にお
いては、第二層フォトレジストと第−層フォトレジスト
は同じ材料を用いることができる。
この様に得られた感度の異なる二層のレジスト層に対し
て、高感度の第2のレジスト層4だけを感光させる光量
のレーザー光と二層とも感光させる光量のレーザー光を
用いて露光、現像することで、アドレスピットと案内溝
の深さがλ/4、λ/8で、両方の形状が矩形となった
第6図に示すような原盤が得られる。
本発明においてフォトレジストは従来使用されていたA
Z−1350:ヘキスト社製等が使用できる。
これらのフォトレジストのうち1種類を用いて第1と第
2の両レジスト層を形成する場合、第2のレジスト層の
ベーク温度を従来と同様の約90℃に、すると、第1の
レジスト層のベーク温度は120℃もしくはそれ以上の
温度にすれば両層の感度に有意の差が表れる。
本発明の製造方法においては、案内溝の深さは露光量に
対して鈍感であるので、容易に第2のレジスト層の厚さ
に等しくできるため、均一なトラッキング信号が得られ
る。
〔実施例〕
以下に本発明の具体的実施例を挙げる。
実施例1 直径250mm、厚さl Ommのガラス基板1を用意
した。この上に第−層フォトレジスト(AZ−1350
:ヘキスト社製)を厚さ725人に塗布後、 120”
Cで30分間ベークした。次に、第−層フォトレジスト
上に第二層フォトレジストを厚さ725人に塗布後、9
0℃で30分間ベークした。これに、各々の層に応じた
光量(線速4.2m/secで19mWと27mW)の
レーザー光で露光し現像することで、第6図のようなア
ドレスピット、案内溝とも矩形の光学的記録媒体用原盤
を得ることができた。
この原盤を用いて光デイスク基板を作り、ドライブ装置
にのせて読み取り波長830nmでトラッキング信号を
測定したところ、均一で大きな信号が得られた。
実施例2 実施例1で用いたのと同じ第−層フォトレジストを厚さ
725人に塗布した後、 120℃の代りに 140℃
で30分間ベークした以外は実施例1と全く同様にして
原盤の製造を行った。その結果、第6図のような原盤を
得ることができ、光デイスク基板を作りドライブ装置に
のせて読み取り波長830nmでトラッキング信号を測
定したところ、均一で大きな信号が得られた。
比較例1 実施例1で用いたのと同じ基板上に、厚さ1450人に
フォトレジスト2 (AZ−1350:ヘキスト社製)
を塗布し、これに深さがλ/8、λ/4になるように露
光しく線速4.2m/secで15mWと22mW)現
像することにより案内溝とアドレスピットを形成し、第
6図のような原盤を得た。
この原盤を用いて光デイスク基板を作り、ドライブ装置
にのせて読み取り波長830nmでトラッキング信号を
測定したところ、従来法で製造したものより大きな値で
あった。
〔発明の効果〕
以上に説明したように本発明の製造方法によれば、均一
で大きなトラッキング信号の得られる光学的記録媒体用
原盤を容易に製造することができる。また、1種類のフ
ォトレジストのみを用い、ベーク温度を変えるだけで感
度を変化させるので生産性がよく、更に従来の設備をそ
のまま使用することかできるという有利さを備えている
【図面の簡単な説明】
第1図〜第3図は、本発明の光学的記録媒体用原盤の製
造方法の実施例を示す模式断面図である。また第4図〜
第6図は、従来の光学的記録媒体用原盤の製造方法の実
施例を示す模式断面図である。 l;基板 2;フォトレジスト 3;第1のレジスト層 4:第2のレジスト層

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)、フォトレジストを塗布しベークするという方法
    を用いて基板上に第1のレジスト層と感度の異なる第2
    のレジスト層を順次積層、形成した後、各々の層の感度
    に応じて露光し現像することで第2のレジスト層のみを
    貫通する光学的案内溝と両方のレジスト層を貫通するア
    ドレスピットを形成する方法であって、フォトレジスト
    塗布後のベーク温度を変えることによって2つのレジス
    ト層の感度に差を生じさせることを特徴とする光学的記
    録媒体用原盤の製造方法。
  2. (2)、前記フォトレジスト塗布後のベーク温度が、前
    記第1のレジスト層においては120℃以上であり、前
    記第2のレジスト層においては120℃未満である特許
    請求の範囲第1項記載の光学的記録媒体用原盤の製造方
    法。
JP26861086A 1986-11-13 1986-11-13 光学的記録媒体用原盤の製造方法 Pending JPS63124246A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5489757A (en) * 1991-03-06 1996-02-06 Elpatronic Ag Process for resistance welding arrangement for carrying out the process
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