JPS63117246A - 書換型光デイスク検査装置 - Google Patents
書換型光デイスク検査装置Info
- Publication number
- JPS63117246A JPS63117246A JP26340786A JP26340786A JPS63117246A JP S63117246 A JPS63117246 A JP S63117246A JP 26340786 A JP26340786 A JP 26340786A JP 26340786 A JP26340786 A JP 26340786A JP S63117246 A JPS63117246 A JP S63117246A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- recording
- erasing
- power
- disk
- track
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 16
- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims abstract description 7
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 11
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 abstract description 2
- 238000004904 shortening Methods 0.000 abstract 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 2
- 230000008033 biological extinction Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/9506—Optical discs
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
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- Pathology (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
- Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
この発明は書換型光ディスクの検査装置に関し、特に記
録消去特性の測定に適する。
録消去特性の測定に適する。
従来の技術
書換型光ディスクのうち、相変化型光ディスクはφ１μ
ｍ以下に絞シ込んだパワー密度の高いレーザ光を照射す
ることによって記録を行ない、パワー密度が低く長楕円
状に形成したレーザ光を照射することによって消去を行
なうことができる。
ｍ以下に絞シ込んだパワー密度の高いレーザ光を照射す
ることによって記録を行ない、パワー密度が低く長楕円
状に形成したレーザ光を照射することによって消去を行
なうことができる。
書換型光ディスクの特性評価の１つとして、記録パワー
と消去パワーを変えて記録消去の繰返しを行ない、記録
消去特性を調べるサイクル特性評価がある。記録特性の
測定法としては単一周波数を記録してスペクトラムアナ
ライザーにてＣＮＲを測定するのが一般的である。また
消去特性は記録時のキャリア成分と消去時のキャリア成
分の比（以下消去比と呼ぶ）を測定する。
と消去パワーを変えて記録消去の繰返しを行ない、記録
消去特性を調べるサイクル特性評価がある。記録特性の
測定法としては単一周波数を記録してスペクトラムアナ
ライザーにてＣＮＲを測定するのが一般的である。また
消去特性は記録時のキャリア成分と消去時のキャリア成
分の比（以下消去比と呼ぶ）を測定する。
従来のサイクル特性評価は、ディスクの１トラソ、り上
に一定の記録パワー、消去パワーで記録消去の繰返しを
行なっていた。
に一定の記録パワー、消去パワーで記録消去の繰返しを
行なっていた。
発明が解決しようとする問題点
しかし、このような検介装置では記録消去パワ−条件を
変える毎に記録消去の繰返しを行なう必要があり、記録
消去パワー条件数、繰返し回数が多くなると測定時間が
長くなるという問題点があツタ。例えば、回転数１８０
Ｏｒｐｍ で１００ｙ５［Ｅｉｌｋ７）繰返しを行な
った場合、１つの記録消去パワー条件ばて約９時間かが
シ、記録消去パワー条件を９条件にすると約８１時間か
かることになる。
変える毎に記録消去の繰返しを行なう必要があり、記録
消去パワー条件数、繰返し回数が多くなると測定時間が
長くなるという問題点があツタ。例えば、回転数１８０
Ｏｒｐｍ で１００ｙ５［Ｅｉｌｋ７）繰返しを行な
った場合、１つの記録消去パワー条件ばて約９時間かが
シ、記録消去パワー条件を９条件にすると約８１時間か
かることになる。
そこで、本発明は記録消去パワー条件が増えても測定時
間の増加がない書換型光ディスク検査装置を提供するも
のである。
間の増加がない書換型光ディスク検査装置を提供するも
のである。
問題点を解決するための手段
そして上記問題点を解決する本発明の技術的な手段は、
書換型光ディスクのトラックに設けられたセクタ領域に
少なくとも２種類以上の記録パワーと消去パワーの組合
せを変えてセクタ単位毎に記録消去を行なうものである
。
書換型光ディスクのトラックに設けられたセクタ領域に
少なくとも２種類以上の記録パワーと消去パワーの組合
せを変えてセクタ単位毎に記録消去を行なうものである
。
作 用
この技術的手段による作用は、書換型光ディスクのトラ
ックに設けられたセクタ領域毎に異なった記録パワーと
消去パワーの組合せで記録消去を行なうものである。こ
の結果、１度の繰返し測定にて複数の記録パワーと消去
パワーの組合せ条件の記録消去特性を調べることができ
、サイクル特性評価の時間短縮が可能となる。
ックに設けられたセクタ領域毎に異なった記録パワーと
消去パワーの組合せで記録消去を行なうものである。こ
の結果、１度の繰返し測定にて複数の記録パワーと消去
パワーの組合せ条件の記録消去特性を調べることができ
、サイクル特性評価の時間短縮が可能となる。
実施例
以下、本発明の一実施例を添付図面にもとづき説明する
。第１図において、１はディスクで１トラツクは複数の
七りタを有している。２は記録、再生用光源、３は記録
用光源駆動回路、４は消去用光源、６は消去用光源駆動
回路、６，７はコリメータレンズ、８は偏光ビームアッ
プスプリッタ、９，１０は％波長板、１１はバンドパス
フィルタ、１２は絞シレンズ、１３は集光レンズ、１４
はＰＩＮダイオードなどの光検出器、１５は増幅器でデ
ィスク１からの情報信号、コントロール信号を得る。１
θはシリンドリカルレンズであり、光ビームのディスク
１上の円周方向に相当する方向を・屈折させる向きにお
いである。光源２，４はそれぞれ異なる波長の光を発し
、バンドパスフィルタ１１は光源２０波長は透過し他の
波長は反射する。従って記録再生元は、実線の様に進み
、円盤上で円状に絞られた後その反射光が光検出器１４
で検出される。一方消去光は破線の様に進み、ディスク
上で楕円状に絞られ消去を行なう。１７は記録用ゲート
回路、１８は記録用パワー設定回路、１９は消去用ゲー
ト回路、２ｏは消去用パワー設定回路である。記録用パ
ワー設定回路１８にて各セクタ毎の記録パワー値を設定
しておく。しかる後、ディスク１からのセクタ情報図２
ａを光検出器１４で検出し増幅器１５を介し記録用ゲー
ト回路１７にて図２ｂの記録ゲートを発生させる。かか
る記録ゲートにより、記録用パワー設定回路１８、記録
用光源駆動回路３を働かせ図２０のような各セクタ毎に
異なる記録パワーにて記録を行なう。セクタ毎の消去も
記録と同様に、消去用ゲート回路１９にて図２ｄの消去
ゲートを発生させ。
。第１図において、１はディスクで１トラツクは複数の
七りタを有している。２は記録、再生用光源、３は記録
用光源駆動回路、４は消去用光源、６は消去用光源駆動
回路、６，７はコリメータレンズ、８は偏光ビームアッ
プスプリッタ、９，１０は％波長板、１１はバンドパス
フィルタ、１２は絞シレンズ、１３は集光レンズ、１４
はＰＩＮダイオードなどの光検出器、１５は増幅器でデ
ィスク１からの情報信号、コントロール信号を得る。１
θはシリンドリカルレンズであり、光ビームのディスク
１上の円周方向に相当する方向を・屈折させる向きにお
いである。光源２，４はそれぞれ異なる波長の光を発し
、バンドパスフィルタ１１は光源２０波長は透過し他の
波長は反射する。従って記録再生元は、実線の様に進み
、円盤上で円状に絞られた後その反射光が光検出器１４
で検出される。一方消去光は破線の様に進み、ディスク
上で楕円状に絞られ消去を行なう。１７は記録用ゲート
回路、１８は記録用パワー設定回路、１９は消去用ゲー
ト回路、２ｏは消去用パワー設定回路である。記録用パ
ワー設定回路１８にて各セクタ毎の記録パワー値を設定
しておく。しかる後、ディスク１からのセクタ情報図２
ａを光検出器１４で検出し増幅器１５を介し記録用ゲー
ト回路１７にて図２ｂの記録ゲートを発生させる。かか
る記録ゲートにより、記録用パワー設定回路１８、記録
用光源駆動回路３を働かせ図２０のような各セクタ毎に
異なる記録パワーにて記録を行なう。セクタ毎の消去も
記録と同様に、消去用ゲート回路１９にて図２ｄの消去
ゲートを発生させ。
この消去ゲートにより、消去用パワー設定回路２０、消
去用光源駆動回路６を働かせ図２０のような各セクタ毎
に異なる消去パワーにて消去を行なう。この結果、ディ
スク１の１トラツク上に複数の記録パワーと消去パワー
の組合せにて記録消去を行なうことができる。そして増
幅器１６からの情報信号、コントロール信号をスペアド
ラムアナライザーの入力端子および外部トリガ一端子に
入力することにより、各セクタ毎のＣＮＲ、消−表化を
測定することが可能となる。したがって、記録消去の繰
返し回数が多い場合、従来は各記録パワーと消去パワー
の組合せ毎に繰返しを行なっており、測定に莫大な時間
がかかっていたが、本発明では一度の繰返しだけで複数
の記録消去パワーの組合せによる記録消去特性が測定で
き、測定時間の短縮化がはかれる。
去用光源駆動回路６を働かせ図２０のような各セクタ毎
に異なる消去パワーにて消去を行なう。この結果、ディ
スク１の１トラツク上に複数の記録パワーと消去パワー
の組合せにて記録消去を行なうことができる。そして増
幅器１６からの情報信号、コントロール信号をスペアド
ラムアナライザーの入力端子および外部トリガ一端子に
入力することにより、各セクタ毎のＣＮＲ、消−表化を
測定することが可能となる。したがって、記録消去の繰
返し回数が多い場合、従来は各記録パワーと消去パワー
の組合せ毎に繰返しを行なっており、測定に莫大な時間
がかかっていたが、本発明では一度の繰返しだけで複数
の記録消去パワーの組合せによる記録消去特性が測定で
き、測定時間の短縮化がはかれる。
また、１トラツクに設けられたセクタ数をｎ等分し、ｎ
個の異なる記録パワー、消去パワーの組合せにて、同一
のパワー条件の記録消去をｎ番目置きのセクタ領域に行
なうことにより、記録消去特性測定をｎ番泪置きのセク
タ毎に測定し平均化す、ると、１トランク中の面振れ、
芯振れ等の影響による記録消去の変動を軽減することが
でき、ばらつきの少ない測定が可能となり測定種度が向
上する。
個の異なる記録パワー、消去パワーの組合せにて、同一
のパワー条件の記録消去をｎ番目置きのセクタ領域に行
なうことにより、記録消去特性測定をｎ番泪置きのセク
タ毎に測定し平均化す、ると、１トランク中の面振れ、
芯振れ等の影響による記録消去の変動を軽減することが
でき、ばらつきの少ない測定が可能となり測定種度が向
上する。
発明の効果
本発明は、書換型光ディスクのトラックに設けられたセ
クタ領域に少なくとも２種類以上記録パワーと消去パワ
ーの組合せを変えて、セクタ単位毎に記録消去を行なう
ことにより、従来のような各記録パワーと消去パワーの
組合せ毎に記録消去の繰返しを行なう測定に較べ、−度
の繰返しだけで複数の記録消去パワーの組合せによる記
録消去特性が測定でき、測定時間の大幅な時間短縮がは
かれその効果は大きい。
クタ領域に少なくとも２種類以上記録パワーと消去パワ
ーの組合せを変えて、セクタ単位毎に記録消去を行なう
ことにより、従来のような各記録パワーと消去パワーの
組合せ毎に記録消去の繰返しを行なう測定に較べ、−度
の繰返しだけで複数の記録消去パワーの組合せによる記
録消去特性が測定でき、測定時間の大幅な時間短縮がは
かれその効果は大きい。
また、１トラツクに設けられたセクタ数をｎ等分し、ｎ
個の異なる記録パワー、消去パワーの組合せにて、同一
のパワー条件の記録消去をｎ番目置きのセクタ領域に行
なうことてより、１トラツク中の面振れ、芯振れ等の影
響による記録消去の変動を軽減することができ、ばらつ
きの少ない測定が可能となり測定精度が向上できその効
果は大きい。
個の異なる記録パワー、消去パワーの組合せにて、同一
のパワー条件の記録消去をｎ番目置きのセクタ領域に行
なうことてより、１トラツク中の面振れ、芯振れ等の影
響による記録消去の変動を軽減することができ、ばらつ
きの少ない測定が可能となり測定精度が向上できその効
果は大きい。
第１図は本発明の一実施例における書換型光ディスク検
査装置の原理図、第２図は同装置説明のだめの記録消去
のタイミングを示す図である。 １・・・・・・ディスク、２・・・・・・記録用光源、
３・・・・・・記録用光源駆動回路、４・・・・・・消
去用光源、６・・・・・・消去用光源駆動回路、１４・
・・・・・光検出器、１６・・・・・・増幅器、１７・
・・・・・記録用ゲート回路、１８・・・・・・記録用
パワー設定回路、１９・・・・・・消去用ゲート回路、
２０・・・・・・消去用パワー設定回路。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか１名第１
図 第 ２ 図
査装置の原理図、第２図は同装置説明のだめの記録消去
のタイミングを示す図である。 １・・・・・・ディスク、２・・・・・・記録用光源、
３・・・・・・記録用光源駆動回路、４・・・・・・消
去用光源、６・・・・・・消去用光源駆動回路、１４・
・・・・・光検出器、１６・・・・・・増幅器、１７・
・・・・・記録用ゲート回路、１８・・・・・・記録用
パワー設定回路、１９・・・・・・消去用ゲート回路、
２０・・・・・・消去用パワー設定回路。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか１名第１
図 第 ２ 図
Claims (2)
- （１）書換型光ディスクに記録パワーあるいは消去パワ
ーを可変して記録消去を行ない、記録消去特性を検査す
る装置であって、書換型光ディスクのトラックに設けら
れたセクタ領域に少なくとも２種類以上記録パワーと消
去パワーの組合せを変えてセクタ単位毎に記録消去を行
なう手段を有することを特徴とする書換型光ディスク検
査装置。 - （２）書換型光ディスクのトラックに設けられたセクタ
数をｎ等分し、ｎ個の異なる記録パワー、消去パワーの
組合せにて、同一のパワー条件の記録消去をｎ番目置き
のセクタ領域に行なうことを特徴とする特許請求の範囲
第１項記載の書換型光ディスク検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26340786A JPS63117246A (ja) | 1986-11-05 | 1986-11-05 | 書換型光デイスク検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26340786A JPS63117246A (ja) | 1986-11-05 | 1986-11-05 | 書換型光デイスク検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63117246A true JPS63117246A (ja) | 1988-05-21 |
Family
ID=17389069
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26340786A Pending JPS63117246A (ja) | 1986-11-05 | 1986-11-05 | 書換型光デイスク検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63117246A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04364225A (ja) * | 1991-06-12 | 1992-12-16 | Mitsubishi Kasei Corp | 相変化型光学的情報記録媒体の製造時の抜取検査方法 |
| JPH05189827A (ja) * | 1990-03-01 | 1993-07-30 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | 磁気光学記録装置に用いられるレーザ装置の出力レベル・カリブレーション方法及び装置 |
-
1986
- 1986-11-05 JP JP26340786A patent/JPS63117246A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05189827A (ja) * | 1990-03-01 | 1993-07-30 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | 磁気光学記録装置に用いられるレーザ装置の出力レベル・カリブレーション方法及び装置 |
| JPH04364225A (ja) * | 1991-06-12 | 1992-12-16 | Mitsubishi Kasei Corp | 相変化型光学的情報記録媒体の製造時の抜取検査方法 |
| JP2757585B2 (ja) * | 1991-06-12 | 1998-05-25 | 三菱化学株式会社 | 相変化型光学的情報記録媒体の製造時の抜取検査方法 |
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