JP2732847B2

JP2732847B2 - 光記録媒体評価装置

Info

Publication number: JP2732847B2
Application number: JP63027437A
Authority: JP
Inventors: 豊幸布村; 保飯田
Original assignee: Hitachi Maxell Ltd
Current assignee: Maxell Holdings Ltd
Priority date: 1988-02-10
Filing date: 1988-02-10
Publication date: 1998-03-30
Anticipated expiration: 2013-03-30
Also published as: JPH01204240A

Description

【発明の詳細な説明】〔産業上の利用分野〕本発明は、光デイスク等の光記録媒体の評価装置に係
り、更に詳しくは、レーザビームによつて情報記録を行
なう各種形態の光記録媒体において、再生時に基準レベ
ル以上の再生信号を得るに必要な記録レーザパワーを求
めるようにした、或いは、再書込み型（消去型）の光記
録媒体において、消去時に必要な消去レーザパワーを求
めるようにした光記録媒体評価装置に関するものであ
る。

〔従来の技術〕

従来のこの種光記録媒体評価装置、例えば光デイスク
の記録感度の測定評価装置においては、光デイスク上の
１つのブロツク（セクタやトラツク）を最小単位とし、
各ブロツク毎に順次レーザパワーを変えて記録を行な
い、然る後、これを再生してオシロスコープで波形観察
し、記録レーザパワーによる媒体の記録感度を測定して
いた。

また、光磁気タイプ、相変化タイプ等の再書込み型の
光記録媒体においては、前記した複数のブロツクに対
し、総べて同一レベルで予め記録を行なつておき、この
各ブロツクに対して順次レーザパワーを変えて消去を行
なつた後、上述と同様にこれを順次再生してオシロスコ
ープで波形観察し、消去レーザパワーによる媒体の消去
感度を測定していた。

〔発明が解決しようとする課題〕

ところが上記した従来の測定評価装置による手法で
は、複数のブロツクにわたつて記録或いは消去を行なう
ため試験領域が多くなること、並びにオシロスコープに
よる波形観察なので、測定時間が比較的長くなるという
問題があつた。

従つて、本発明の解決すべき技術的課題は上記従来技
術のもつ問題点の解消にあり、その目的とするところ
は、試験領域を少くできて、測定時間の短縮が計れると
共に、測定の自動化を行ない得る光記録媒体評価装置を
提供するにある。

〔課題を解決するための手段〕

上記目的を達成するため、本発明による光記録媒体評
価装置は、再書込み型（消去型）の光記録媒体上に光ビ
ームを照射するためのレーザ光源と、記録・再生の同期
をとるために前記光記録媒体上の基準点を検出するため
の位置検出手段と、予め一定の記録パワーレベルで記録
された記録域に対し前記基準点を基点として、前記レー
ザ光源による消去レーザパワーを段階的に変化させる信
号を発生するレーザ駆動回路と、前記パワーが段階変化
する消去レーザビームを照射された部分による段階的に
レベルが変化する再生信号と予め定められた基準レベル
とを比較し、再生信号が基準レベルを超えたか否かを検
出するコンパレータと、前記基準点から前記再生信号が
前記基準レベルを超えるまでの時間を計測するカウンタ
とを、備え、前記カウンタの計測時間から、消去時に必
要な消去パワーを求めるように、構成される。

また、前記レーザ駆動回路は、前記基準点を基点とし
て前記レーザ光源による記録レーザパワーを段階的に変
化させる信号を発生するようにも構成され、前記コンパ
レータは、前記パワーが段階変化する記録レーザビーム
を照射された部分による段階的にレベルが変化する再生
信号と予め定められた基準レベルとを比較し、再生信号
が基準レベルを超えたか否かを検出するようにも構成さ
れ、前記カウンタの計測時間から、再生時に前記基準レ
ベル以上の再生信号を得るために必要な記録パワーを、
求めるように構成される。

〔作用〕

本発明は上述の如く、基準点を基点として段階的に記
録レーザパワーを変化させて記録を行ない、この試験記
録情報による再生信号と基準レベルを比較して、再生信
号が基準レベルを超えるまでの時間を基準点からカウン
トするので、例えば、１つのセクタのみを試験領域とす
ることができ、且つ測定時間も短縮できる。また計測さ
れた時間からこれに対応する記録レーザパワーは容易に
識別でき、測定の自動化が達成される。

また、予め一定レベルで記録された情報を、基準点を
基点として段階的に消去レーザパワーを変化させて消去
し、然る後、この消去域からの再生信号と基準レベルと
を比較して、再生信号が基準レベルを超えるまでの時間
を基準点からカウントするので、同様に、例えば１つの
セクタのみを試験領域とでき、測定時間が短縮され、必
要とする消去レーザパワーの自動計測が達成される。

〔実施例〕

以下、本発明を第１図〜第３図に示した１実施例によ
つて説明する。

該実施例においては、光記録媒体として光磁気ディス
クに適用したものを示しているが、光磁気方式以外の相
変化方式等の再書込み型光記録媒体が適用可能である。
また、記録感度測定及び消去感度測定は、光デイスク以
外にも、カード状、テープ状等の光記録媒体に適用可能
である。

第１図において、１は光磁気デイスクで、適宜回転駆
動源によつて回転せしめられる。２は、半導体レーザよ
りなるレーザ光源で、該レーザ光源から射出された光ビ
ームは、コリメータレンズ３によつて平行光束とされた
後、ビームスプリツタ４を経て対物レンズ５に導かれ、
該対物レンズ５で絞り込まれた光ビームが光スポツトと
して，前記光磁気デイスク１の記録膜（垂直磁化膜）1a
に照射される。また、記録膜1aからの反射ビームは、前
記ビームスプリツタ４で照射され、入/2波長板６、偏光
ビームスプリツタ７を介して、第１デイテクタ８及び第
２デイテクタ９へそれぞれ導かれるようになつている。

10は差動アンプ、11はアンプで、前記第１、第２デイ
テクタ８、９で光電変換されたＰ、Ｓの検出信号が供給
され、差動アンプ10からは光磁気信号に対応した信号
が、アンプ11からは両デイテクタ８、９の出力を重畳し
た光強度信号に対応した信号がそれぞれ出力されるよう
になつている。即ち、差動アンプ10からは磁気記録膜上
の情報の再生信号が、またアンプ11からは前記光磁気デ
イスク１上の各セクタ毎に予め穿孔されたセクタ先頭信
号（1D情報）が出力されるようになつている。

12はコンパレータで、ポテンシヨメータ13で所望値に
設定された基準電圧（基準レベル）と前記差動アンプ10
の出力とを比較し、差動アンプ10からの再生信号が上記
基準レベルを超えると、カウンタ14へカウント打切り信
号を出力するようになつている。15は位置検出部で、前
記アンプ11の出力によつてセクタの基準点を認知し、カ
ウンタ14にカウント開始信号を送出するようになつてい
る。

16は、クロツクパルスを発生する発振器で、該発振器
16の出力は前記カウタン14並びにレーザ駆動回路17に供
給される。上記レーザ駆動回路17は、前記位置検出部15
からの信号並びに発振器16からのクロツクパルスに基づ
き、定められたタイミングでレーザ駆動信号を出力する
ようになつていると共に、図示せぬ制御回路からの指令
信号によつて後述する如く記録レーザパワー及び消去レ
ーザパワーを段階的に変化させるようになつている。

18は、前記光ビームが照射された部位の記録膜1aに磁
場を付与するための電磁コイルで、必要に応じて光ピツ
クアツプと連動して移送されるように構成される。19
は、磁場の強さを任意の値に設定可能な磁場設定部で、
該磁場設定部19のデイジタル出力は、D/Aコンバータ2
0、電圧−電流変換回路21を介して印加電流として前記
電磁コイル18に供給され、電磁コイル18は設定された所
望強さの磁場を発生するようになつている。なお、前記
電圧−電流変換回路21は、図示せぬ制御回路からの指令
信号に基づき、後述する記録時と消去時には各々逆方向
の磁界を発生させる機能も付加されている。

上述した該実施例の構成における記録感度の測定動作
を、第1,2図を参照して以下に説明する。

いま、前記光磁気デイスク１が回転し、これに前記レ
ーザ光源２から光ビームが照射されて、前述したように
前記アンプ11の出力によつて前記位置検出部15がセクタ
の先頭位置を認知すると、位置検出部15は第２図（ａ）
の如き基準位置パルスを前記レーザ駆動回路17に出力す
る。これによつてレーザ駆動回路17は、基準位置パルス
を基準として、前記発振器16からの第２図（ｂ）のクロ
ツクパルスに同期し、且つ、予め定められたタイミング
でパワー（レベル）が階段的に所定値で変化する第２図
（ｃ）の記録パルスを発生する。よつて、レーザ光源２
は、上記記録パルスに見合つた段階的にパワーが変化す
る記録レーザを出力して、前記記録膜1a上には試験記録
情報が書込まれる。なお、この際記録膜1aの光ビーム照
射部位には、前記磁場設定部19で設定した既知の強さの
磁界が前記電磁コイル18によつて付与されている。

上記のように、１つのブロツク（セクタ）を試験領域
として試験記録情報が書込まれた光磁気デイスク１に
は、今度は一定パワーの再生用ビームがレーザ光源２に
よつて照射される。（なお、この再生時には前記電磁コ
イル18は消磁されている。）そして、アンプ11の出力に
よつて位置検出部15が試験領域の先頭位置を認知する
と、前記した基準位置パルスが前記カウンタ14に送出さ
れ、カウンタ14はこれによつてクロツクパルスの計数を
開始する。一方、前記した第１、第２デイテクタ８、９
のＰ、Ｓ成分信号を供給される前記差動アンプ10から
は、試験記録情報による第２図（ｄ）のような順次レベ
ルの異なる再生信号が出力される。この差動アンプ10か
らの再生信号は、前記コンパレータ12によつて予め定め
られた基準レベル（スライスレベル）と比較され、再生
信号が基準レベルを超えると（第２図では左から３番目
の再生信号）、コンパレータ12は直ちにカウンタ14へカ
ウント打切り信号を出力する。よつて、カウンタ14は、
基準位置パルスの発生時点（セクタの基準点）から再生
信号が基準レベルを超えるまでのクロツクパルス数をカ
ウントし、これに基づき第２図でT1で示した時間が計測
されることになる。

上記したカウンタ14による計測値と前記記録レーザパ
ワーとの関係は既知であるので、例えば、カウンタ14の
直接出力、或いは記録レーザパワーへの換算結果を、図
示せぬ表示器、プリンタ等で出力することによつて、オ
ペレータは容易に、再生時に基準レベル以上の再生信号
を得るに必要な記録レーザパワーを知ることができる。
よつて、記録感度測定の自動化が達成できると共に、試
験領域を可及的に小さくし得て測定時間の短縮が計れる
ことになる。

次に、消去感度の測定動作を第１、３図を参照して説
明する。

消去感度の測定に際しては、光磁気デイスク１の記録
膜1aの１つのブロツク（例えばセクタ）を試験領域と
し、該試験領域には、第３図（ｃ）に示すような一定レ
ベルの記録パルスによつて消去試験用の情報が予め書込
まれている。この記録パルスは、該実施例においては、
前記位置検出部15からの基準位置パルスを基準として前
記発振器16のクロツクパルスに同期して前記レーザ駆動
回路17によつて出力されるようになつている。（なお、
上述の消去試験用の情報は、別異の装置によつて書込ん
でおいても良い。）そして、消去試験用の一定レベルの情報が書込まれた
回転する光磁気デイスク１に、レーザ光源２から光ビー
ムが照射され、アンプ11の出力によつて位置検出部15が
前記試験領域の基準点（所定セクタの先頭基準位置）を
検出すると、第３図（ａ）に示した基準位置パルスが、
レーザ駆動回路17に送出される。レーザ駆動回路17は、
この基準位置パルスを基準として前記クロツクパルスに
同期し、且つ定められたタイミングでパワー（レベル）
が段階的に所定値で変化する第３図（ｄ）の消去パルス
を発生する。よつて、レーザ光源２は、上記消去パルス
に見合つた段階的にパワーが変化する消去レーザを出力
し、前記試験領域に予め一定レベルで書込まれた情報
は、各々このレーザパワーに見合つて消去される。な
お、この消去用レーザビームの照射時には、前記電磁コ
イル18はビーム照射部位に、記録時とは逆向きの磁界を
発生させている。

然る後、光磁気デイスク１には一定パワーの再生用ビ
ームがレーザ光源２によつて照射される。（なお、この
再生時には電磁コイル18は消磁されている。）そして、
前述と同様にアンプ11の出力によつて位置検出部15が試
験領域の先頭位置を認知すると、前記した基準位置パル
スが前記カウンタ14に送出され、カウンタ14はこれによ
つてクロツクパルスの計数を開始する。一方、前記した
第１、第２デイテクタ8,9のＰ、Ｓ成分記号を供給され
る前記差動アンプ10からは、試験記録情報による第３図
（ｅ）のような０レベルから順次レベルの異なる再生信
号が出力される。この差動アンプ10からの再生信号は、
前記コンパレータ12によつて予め定められた基準レベル
（スライスレベル）と比較され、再生信号が基準レベル
を超えると（第３図では左から２番目に突出した再生信
号）、コンパレータ12は直ちにカウンタ14へカウント打
切り信号を出力する。よつて、カウンタ14は、基準位置
パルスの発生時点（セクタの基準点）から再生信号が基
準レベルを超えるまでのクロツクパルス数をカウント
し、これに基づき第２図でT2で示した時間が計測される
ことになる。

上記したカウンタ14による計測値と前記消去レーザパ
ワーとの関係は既知であるので、例えば、カウンタ14の
直接出力、或いは消去レーザパワーへの換算結果を、図
示せぬ表示器、プリンタ等で出力することによつて、オ
ペレータは容易に、消去時に基準レベルの記録信号を消
去するのに必要な記録レーザパワーを知ることができ
る。よつて、消去感度測定の自動化が達成できると共
に、試験領域を可及的に小さくし得て測定時間の短縮が
計れることになる。

なお、上記した実施例においては、光磁気デイスクを
例にとつて説明したが、本発明はこの実施例項の冒頭で
述べたように、他の種々の光記録媒体に適用可能である
ことは、上述してきた説明で当業者には明らかであろ
う。また、実施例においては記録感度測定用の記録パル
スのレベルを漸次増大させているが、これを漸次減少さ
せても良く、また同様に、消去感度測定用の消去信号も
漸次増大させるようにしても良い。更にまた、光記録媒
体がデイスクである場合には、基準位置信号はスピンド
ルの同期回転信号を利用することができる。

なおまた、実施例のように光磁気記録媒体を用いた場
合、磁場強さが可変設定できる磁場付与手段を設ける
と、磁場強さを種々変えた条件下の測定も可能となる。

〔発明の効果〕

以下詳述したように本発明によれば、光記録媒体上の
試験領域を少くでき、測定時間の短縮と測定の自動化が
図れる、特に再書込み型の光記録媒体に適用して好適
な、光記録媒体評価装置が提供でき、その産業的価値は
多大である。

【図面の簡単な説明】

図面は何れも本発明の１実施例に係り、第１図は光記録
媒体評価装置のブロツク図、第２図（ａ）〜（ｄ）は記
録感度測定時のタイミングチヤート図、第３図（ａ）〜
（ｅ）は消去感度測定時のタイミングチヤート図であ
る。１……光磁気デイスク、1a……記録膜、３……コリメー
タレンズ、４……ビームスプリツタ、５……対物レン
ズ、６……入/2波長板、７……偏光ビームスプリツタ、
８……第１デイテクタ、９……第２デイテクタ、10……
差動アンプ、11……アンプ、12……コンパレータ、13…
…ポテンシヨメータ、14……カウンタ、15……位置検出
部、16……発振器、17……レーザ駆動回路、18……電磁
コイル、19……磁場設定部、20……D/Aコンバータ、21
……電圧−電流変換回路。

Claims

(57)【特許請求の範囲】

【請求項１】再書込み型（消去型）の光記録媒体上に光
ビームを照射するためのレーザ光源と、記録・再生の同期をとるために前記光記録媒体上の基準
点を検出するための位置検出手段と、予め一定の記録パワーレベルで記録された記録域に対し
前記基準点を基点として、前記レーザ光源による消去レ
ーザパワーを段階的に変化させる信号を発生するレーザ
駆動回路と、前記パワーが段階変化する消去レーザビームを照射され
た部分による段階的にレベルが変化する再生信号と予め
定められた基準レベルとを比較し、再生信号が基準レベ
ルを超えたか否かを検出するコンパレータと、前記基準点から前記再生信号が前記基準レベルを超える
までの時間を計測するカウンタとを、備え、前記カウンタの計測時間から、消去時に必要な消去パワ
ーを求めるようにしたことを特徴とする光記録媒体評価
装置。
【請求項２】請求項１記載において、前記光記録媒体が
光磁気記録媒体とされた場合、光磁気記録媒体に付与す
る磁場の強さを自動設定する磁場付与手段が付加された
ことを特徴とする光記録媒体評価装置。
【請求項３】再書込み型（消去型）の光記録媒体上に光
ビームを照射するためのレーザ光源と、記録・再生の同期をとるために前記光記録媒体上の基準
点を検出するための位置検出手段と、前記基準点を基点として前記レーザ光源による記録レー
ザパワーを段階的に変化させる信号を発生すると共に、
予め一定の記録パワーレベルで記録された記録域に対し
前記基準的を基点として、前記レーザ光源による消去レ
ーザパワーを段階的に変化させる信号を発生するレーザ
駆動回路と、前記パワーが段階変化する記録レーザビームを照射され
た部分による段階的にレベルが変化する再生信号と予め
定められた基準レベルとを比較し、再生信号が基準レベ
ルを超えたか否かを検出すると共に、前記パワーが段階
変化する消去レーザビームを照射された部分による段階
的にレベルが変化する再生信号と予め定められた基準レ
ベルとを比較し、再生信号が基準レベルを超えたか否か
を検出するコンパレータと、前記基準点から前記再生信号が前記基準レベルを超える
までの時間を計測するカウンタとを、備え、前記カウンタの計測時間から、再生時に前記基準レベル
以上の再生信号を得るために必要な記録パワーと、前記
カウンタの計測時間から、消去時に必要な消去パワーと
を、求めるようにしたことを特徴とする光記録媒体評価
装置。
【請求項４】請求項３記載において、前記光記録媒体が
光磁気記録媒体とされた場合、光磁気記録媒体に付与す
る磁場の強さを自動設定する磁場付与手段が付加された
ことを特徴とする光記録媒体評価装置。