JPH03198236A - 光ディスク検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は光ディスクの欠陥を光学的に検出する光ディス
ク検査装置に関するものである。

従来の技術 近年、大容量記録媒体として光ディスクが開発された。

この光ディスクとは、同心円や螺旋形の情報記録トラッ
クに凹凸や磁気で形成したビットにより情報をデジタル
で記録再生するものである。

このような光ディスクの情報記録トラックは微小なので
、塵芥や損傷等の欠陥が存すると情報の記録再生が実行
不能となるため、これを検査して欠陥を検出する必要が
ある。

そこで、このような光ディスクの検査を実施する装置と
しては、特開昭６４−８８３４７号公報に開示されてい
るものが存する。これは、光ディスクの反射光の光量レ
ベルや光量の微分値に基づいて欠陥の有無を検出し、光
ディスクの一回転毎に出力されるパルスに基づいて、予
め設定した所定数の情報記録トラックからなるブロック
毎に欠陥のデータを記録し、光ディスクの欠陥を各ブロ
ック毎に検出すると共に、光ディスクの半径方向での欠
陥の分布密度も測定できるようになっている。

発明が解決しようとする課題 ここで、光ディスクに対する情報の記録再生は、実際に
は光ディスクの情報記録トラックを周方向に分割したセ
クタ毎に行なわれており、例えば、セクタに情報を記録
する時にエラーが発生すると、そのセクタは不良と見な
されて代わりのセクタに情報の記録を行なうことになる
。このような欠陥は光ディスクの半径方向で数本の情報
記録トラックを連続してまたぐように存する場合が多い
ので、実際には欠陥の検出を数トラツクおきに行なって
も充分である。

だが、上述の光ディスク検査装置では、欠陥の検出を光
ディスクの全情報記録トラックに対して行なっており、
数トラツクおきに欠陥を検出する方法に比して冗長度が
高いので、検査時間が長くなっている。

課題を解決するための手段 光ディスクを回転自在に支持する回転駆動系に取付けら
れたエンコーダと、光ディスクの情報記録トラックにレ
ーザ光を照射すると共に反射光量に応じた電気信号を出
力する光学ヘッドと、この光学ヘッドを光ディスクの半
径方向に移動自在に支持するトラッキング駆動装置に接
続されたトラッキング制御回路と、光学ヘッドが出力す
る電気信号から情報記録トラックの各セクタを検出する
セクタ検出回路と、このセクタ検出回路の出力信号から
セクタ内のデータ部を検出するデータ部検出回路と、こ
のデータ部検出回路と光学ヘッドの出力信号からセクタ
のデータ部内の欠陥を検出すると共に欠陥の内容に対応
した欠陥データを出力する欠陥検出回路と、エンコーダ
の出力パルスから光ディスクの回転位置を検知する回転
検出回路と、この回転検出回路の出力信号に基づいて光
学ヘッドにトラックジャンプを行なわせる信号をトラッ
キング制御回路に出力するトラックジャンプ信号発生回
路とよりなり、トラックジャンプを繰返して光ディスク
の欠陥検査を散発的に行なう。

作用 光ディスクを回転自在に支持する回転駆動系に取付けら
れたエンコーダと、光ディスクの情報記録トラックにレ
ーザ光を照射すると共に反射光量に応じた電気信号を出
力する光学ヘッドと、この光学ヘッドを光ディスクの半
径方向に移動自在に支持するトラッキング駆動装置に接
続されたトラッキング制御回路と、光学ヘッドが出力す
る電気信号から情報記録トラックの各セクタを検出する
セクタ検出回路と、このセクタ検出回路の出力信号から
セクタ内のデータ部を検出するデータ部検出回路と、こ
のデータ部検出回路と光学ヘッドの出力信号からセクタ
のデータ部内の欠陥を検出すると共に欠陥の内容に対応
した欠陥データを出力する欠陥検出回路と、エンコーダ
の出力パルスから光ディスクの回転位置を検知する回転
検出回路と、この回転検出回路の出力信号に基づいて光
学ヘッドにトラックジャンプを行なわせる信号をトラッ
キング制御回路に出力するトラックジャンプ信号発生回
路とよりなり、トラックジャンプを繰返して光ディスク
の欠陥検査を散発的に行なうことにより、光ディスクに
連続的に形成された情報記録トラックから所定の情報記
録トラックのみ欠陥検査することになるので、実際の欠
陥分布に比して冗長度が高い部分の欠陥検査が省略され
て動作時間が短縮される。

実施例 本発明の実施例を第１図ないし第６図に基づいて説明す
る。まず、本実施例の光ディスク検査装置ｌは、エンコ
ーダ２が取付けられた回転駆動系３により光ディスク４
が回転自在に支持されるようになっており、この光ディ
スク４の情報記録トラック５と対向する位置に光学ヘッ
ド６がトラッキング駆動装置（図示せず）によりトラッ
キング移動自在に支持されている。そして、この光学ヘ
ッド６の出力部はセクタ検出回路７と欠陥検出回路８と
に接続され、前記セクタ検出回路７の出力部は回転検出
回路９とトラックジャンプ信号発生回路１０とデータ部
検出回路１１とに接続されている。このデータ部検出回
路１１の出力部は前記欠陥検出回路８に接続されており
、前記回転検出回路９の出力部は前記トラックジャンプ
信号発生回路１０に接続されている。また、このトラッ
クジャンプ信号発生回路１０の出力部は前記トラッキン
グ駆動装置に接続されたトラッキング制御回路１２に接
続されると共に前記回転検出回路９にもフィードバック
接続され、この回転検出回路９には前記エンコーダ２も
接続されている。

なお、この光ディスク検査装置ｌで検査する光ディスク
４の情報記録トラック５の各セクタ１３は、第２図に例
示するように、セクタマーク１４とアドレス部１５及び
データ部１６が順次形成された構造となっている。

このような構成において、この光ディスク検査装置１で
は、回転駆動系３の駆動により回転する光ディスク４の
情報記録トラック５にレーザ光を照射した光学ヘッド６
が反射光量に応じた電気信号ＲＦを出力し、この電気信
号がセクタ検出回路７と欠陥検出回路８とに入力される
。そこで、セクタ検出回路７は入力信号に基づいて情報
記録トラック５の各セクタ１３の先頭部に存するセクタ
マークＩ４を検出してセクタ検出パルスＳＦを出力する
。そこで、このセクタ検出パルスＳＦが入力されたデー
タ部検出回路１１は、セクタ１３内でアドレス部１５に
続くデータ部１６を検出し、このデータ部１６の有効範
囲内に光学ヘッド６が位置する間は、データ部有効信号
ＤＥを有効とする。

そして、このデータ部有効信号ＤＥと光学ヘッド６の出
力信号とが入力される欠陥検出回路８は、データ部有効
信号ＤＥが有効となったことにより事前の欠陥データを
クリアしてから、光学ヘッド６の出力信号ＲＦのレベル
変化検知等の公知技術に基づいてセクタ１３のデータ部
１６内の欠陥を検出し、欠陥データメモリ（図示せず）
等に記録する。なお、前記光学ヘッド６の出力信号ＲＦ
とセクタ検出パルスＳＦ及びデータ部有効信号ＤＥは、
第２図に例示するような形態となる。

一方、この光ディスク検査装置ｌでは、上述のような欠
陥検査を一定数の情報記録トラック５に対して行なうと
所定数の情報記録トラック５をジャンプし、欠陥検査を
散発的に行なうようになっている。つまり、上述のよう
な欠陥検査の動作が開始されると、スタートセクタまで
光学ヘッド６をシークさせるため、トラックジャンプ信
号発生回路１０からトラッキング制御回路１２にトラッ
クジャンプ信号ＪＰが出力され、これに対応して光学ヘ
ッド６がトラックジャンプを行ない、所定のスタートセ
クタ１３のセクタマーク１４を検出するとセクタ検出回
路７からセクタ検出パルスＳＦが出力される。セクタ検
出パルスＳＦとトラックジャンプ信号ＪＰは回転検出回
路９へも出力されるが、回転検出回路９はトラックジャ
ンプ信号ＪＰの後の最初のセクタ検出パルスＳＦでカウ
ンタをクリアし、エンコーダ２の出力パルスをカウンタ
で数え始めて、光ディスク４の一回転を算定すると一回
転信号ＲＶを出力する。この一回転信号ＲＶはセクタ検
出パルスＳＦと共にトラックジャンプ信号発生回路ｌＯ
にも出力され、トラックジャンプ信号発生回路１０は、
一回転信号ＲＶの後の最初のセクタ検出パルスＳＦでト
ラッキング制御回路１２にトラックジャンプ信号ＪＰを
出力する。そこで、この光ディスク検査装置ｌでは、あ
るセクタ１３のセクタマーク１４を検出して光ディスク
４が一回転してから再度セクタマーク１４が検出される
と、トラッキング制御回路１２にトラックジャンプ信号
ＪＰが出力されて光学ヘッド６が所定数の情報記録トラ
ック５をジャンプすることになる。なお、トラックジャ
ンプ信号ＪＰとセクタ検出パルスＳＦ及び−回転信号Ｒ
Ｖは、第３図に例示するような形態となる。

二二で、このようなトラックジャンプは、第４図に例示
するように、情報記録トラック５が同心円の場合は情報
記録トラック５の一本分、情報記録トラック５が螺旋形
の場合は情報記録トラック５の二本分の移動を行なえば
一本の情報記録トラック５をジャンプすることになり、
このようにすることで連続する情報記録トラック５を交
互に欠陥検査できることになる。従って、この光ディス
ク検査装置１は、光ディスク４に連続的に形成された情
報記録トラック５を一トラックおきに欠陥検査するので
、その動作時間が全トラックを検査する従来の方法より
も短縮される。

なお、本実施例の光ディスク検査装置ｌでは、光ディス
ク４の一回転を検出して一本の情報記録トラック５を欠
陥検査すると次の一本の情報記録トラック５をジャンプ
するものを例示したが、本発明は上記方式に限定される
ものではなく、数本の情報記録トラック５を欠陥検査し
てからジャンプを行なうものも考えられ、また、このジ
ャンプする情報記録トラック５の数も様々な値に設定す
ることができる。

欠陥検査を何トラック分行なうかは、一回転信号ＲＶを
出力する回転数ｎを回転検出回路９に設定することで、
また、何トラック分ジャンプするかはトラックジャンプ
本数ｔをトラ・ツクジャンプ信号発生回路１０に設定す
ることで実現できる。

ここで、この光ディスク装置ｌでは、光学ヘッド６がト
ラックジャンプして情報記録トラック５を横断するので
、トラッキングエラー信号が得られることになる。そこ
で、例えば、第５図に例示するような装置を付加するこ
とで、トラッキングエラー信号の測定を行なうことがで
きる。つまり、光学ヘッド６の出力信号とトラックジャ
ンプ信号ＪＰとが入力されるピーク値検出回路１７でト
ラッキングエラー信号のピーク値を検出し、これをＡ／
Ｄ変換回路１８を介してメモリ回路１９に記録する。こ
のようにすることで、トラッキングエラー信号の振幅集
計を欠陥検査と同時に行なえることになる。

なお、ピーク値検出回路１７は、リセット信号の入力後
に入力信号のプラスビークとマイナスピークとをホール
ドして出力するようになっており、リセット信号として
はトラックジャンプ信号ＪＰを利用すればトラックジャ
ンプ間のトラッキングエラー信号の振幅のピーク値が検
出されることになる。なお、光学ヘッド６から出力され
るトラッキングエラー信号は、第６図に例示するような
形態となる。

発明の効果 本発明は上述のように、光ディスクを回転自在に支持す
る回転駆動系に取付けられたエンコーダと、光ディスク
の情報記録トラックにレーザ光を照射すると共に反射光
量に応じた電気信号を出力する光学ヘッドと、この光学
ヘッドを光ディスクの半径方向に移動自在に支持するト
ラッキング駆動装置に接続されたトラッキング制御回路
と、光学ヘッドが出力する電気信号から情報記録トラッ
クの各セクタを検出するセクタ検出回路と、このセクタ
検出回路の出力信号からセクタ内のデータ部を検出する
データ部検出回路と、このデータ部検出回路と光学ヘッ
ドの出力信号からセクタのデータ部内の欠陥を検出する
と共に欠陥の内容に対応した欠陥データを出力する欠陥
検出回路と、エンコーダの出力パルスから光ディスクの
回転位置を検知する回転検出回路と、この回転検出回路
の出力信号に基づいて光学ヘッドにトラックジャンプを
行なわせる信号をトラッキング制御回路に出力するトラ
ックジャンプ信号発生回路とよりなり、トラックジャン
プを繰返して光ディスクの欠陥検査を散発的に行なうこ
とにより、光ディスクに連続的に形成された情報記録ト
ラックから所定の情報記録トラックのみ欠陥検査するこ
とになるので、実際の欠陥分布に比して冗長度が高い部
分の欠陥検査が省略されて動作時間が短縮され、なおか
っ、従来は別工程で実施されていたトラッキングエラー
信号が欠陥検出と同時に測定可能であり、実用性が高い
光ディスク検査装置を得ることができる等の効果を有す
るものである。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の実施例を示すブロック図、第２図はセ
クタの内容を示す概念説明図、第３図はパルスの形態を
示す説明図、第４図は情報記録トラックの形状を示す説
明図、第５図はブロック図、第６図はパルスの形態を示
す説明図である。 ｌ・・・光ディスク検査装置、２・・・エンコーダ、３
・・・回転駆動系、４・・・光ディスク、５・・・情報
記録トラック、６・・・光学ヘッド、７・・・セクタ検
出回路、８・・・欠陥検出回路、９・・・回転検出回路
、１１・・・データ部検出回路、１２・・・トラッキン
グ制御回路、１３・・・セクタ、１６・・・データ部−
第　」　図 一第Ｚ図 ３ 図 Ｐ 」し−一一−−−−−−−−−ゴし一一−−−−−−Ｆ ｕ−−−−−−」しゴしＵ−−−−−−Ｖ −一−−・−几一一−−−−−−−−−、：ｆ３硅ス （ａ） （ｂ） 」５図 逼 ５図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 光ディスクを回転自在に支持する回転駆動系に取付けら
   れたエンコーダと、前記光ディスクの情報記録トラック
   にレーザ光を照射すると共に反射光量に応じた電気信号
   を出力する光学ヘッドと、この光学ヘッドを前記光ディ
   スクの半径方向に移動自在に支持するトラッキング駆動
   装置に接続されたトラッキング制御回路と、前記光学ヘ
   ッドが出力する電気信号から前記情報記録トラックの各
   セクタを検出するセクタ検出回路と、このセクタ検出回
   路の出力信号から前記セクタ内のデータ部を検出するデ
   ータ部検出回路と、このデータ部検出回路と前記光学ヘ
   ッドの出力信号から前記セクタのデータ部内の欠陥を検
   出すると共に前記欠陥の内容に対応した欠陥データを出
   力する欠陥検出回路と、前記エンコーダの出力パルスか
   ら前記光ディスクの回転位置を検出する回転検出回路と
   、この回転検出回路の出力信号に基づいて前記光学ヘッ
   ドにトラックジャンプを行なわせる信号を前記トラッキ
   ング制御回路に出力するトラックジャンプ信号発生回路
   とよりなり、トラックジャンプを繰返して光ディスクの
   欠陥検査を散発的に行なうことを特徴とする光ディスク
   検査装置。