JPH05325267A

JPH05325267A - 光ディスク検査方法及び装置

Info

Publication number: JPH05325267A
Application number: JP15130192A
Authority: JP
Inventors: Kenta Watase; 賢太渡瀬; Akihiko Shimizu; 明彦清水
Original assignee: Ricoh Co Ltd
Current assignee: Ricoh Co Ltd
Priority date: 1992-05-19
Filing date: 1992-05-19
Publication date: 1993-12-10

Abstract

(57)【要約】【目的】クロストークの大きさ及びクロストークによ
る影響を検査できる光ディスク検査装置を提供するこ
と。【構成】光ディスク検査装置は、位置情報検出手段
（角度検出回路１１、半径位置検出回路１３）と、ヘッ
ダ検出部１５と、タイミング発生部１９と、データ処理
回路２１とを備えている。ここで、位置情報検出手段
は、現在走行中のプリフォーマットのヘッダ部の位置情
報を検出する。前記ヘッダ検出部１５は、光ディスクか
らの再生信号Ｓａから特定信号Ｓｄを検出する。データ
処理回路２１は、回転角度信号Ｓｈ、位置信号Ｓｆ、特
定信号Ｓｄを基に、クロストーク発生タイミングＳｉ、
Ｓｏ、クロストーク発生時間Ｓｌを得る。タイミング発
生部１９では、タイミングＳｉ、Ｓｏ、発生時間Ｓｌ
と、特定信号Ｓｄ、ＷＥ信号Ｓｃとを基に再生信号から
クロストーク成分を除去する信号ＳＧを形成する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、光ディスクを検査・評
価できる光ディスク検査方法及び装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】この種の光ディスクは、周知のとおり、
記憶容量が大きく、かつアクセス速度が磁気テープより
も４桁も速く、しかも単位面積当たりの記憶容量もＩＣ
メモリの数十倍もあることから、音楽、映像、各種デー
タ等の記憶媒体として使用されている。この光ディスク
には、コンパクトディスク（ＣＤ）のようなリードオン
リー型、一度だけ書込み可能なライト・ワンス型、及び
再書込みができるリライタブル型の３種類があることも
周知のとおりである。

【０００３】これらの型式の光ディスクの内のいずれの
ものであっても、当該光ディスクを回転させながら、直
径が数ミクロンに集光されたレーザ光スポットをデータ
等に基づいて当該光ディスクに照射することによりデー
タ等を記録し、また、当該光ディスクを回転させなが
ら、レーザ光スポットを照射し、その反射光から再生信
号（データ等）を得ている。このような再生信号の中に
は、通常の書込み領域の反射光量の他に、プリフォーマ
ットのヘッダ部信号、欠陥信号、クロストーク信号等に
よる反射光量が含まれている。

【０００４】ところで、上記光ディスクを製造等する場
合、光ディスクの性能の検査を行っている。このような
検査行う理由は、光ディスクの特徴である高感度性、高
ＳＮ比、長期保存性という特性が得られ、かつ確実に記
録でき、再生時にエラー等が発生しないという特性を備
えているかを確認するためである。かかる検査について
は、従来、光ディスクからの反射光を基に反射光量や反
射率を測定する方法や、あるいはクロストーク信号の大
きさを測定する方法等が提案されている。

【０００５】上述した反射光量や反射率を測定する方法
の場合、通常の書込み領域の反射光量以外のプリフォー
マットのヘッダ部信号、欠陥信号、クロストーク信号等
による反射光量を除去する必要がある。このような通常
の書込み領域の反射光量以外の光量を除去する従来技術
としては、再生信号をサンプリングし、その平均値より
も大きなサンプリング値を除いて、反射率を測定するよ
うにしたものがある（特開昭６０−２１９６５１）。一
方、クロストーク信号の大きさを測定する従来技術とし
ては、上記再生信号をオシロスコープの入力端子に入力
し、オシロスコープのＣＲＴ上に表示された波形からク
ロストーク信号の大きさを観察するものがある。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述の
如き、通常の書込み領域の反射光量以外の信号による光
量を除去する従来技術の場合、再生信号をサンプリング
して、その平均する母集団に問題がある。例えば、光デ
ィスクのような円盤型の場合、内周部の反射率と外周部
の反射率とは、数パーセント異なることは製造上の常識
であるため、サンプリング位置によって内周部または外
周部のすべての再生信号が欠落することがある。そこ
で、このような再生信号の欠落という欠陥をなくすため
に、平均値が大きくなる条件を考察すると、サンプリン
グ値をかなり分散しなければならないことになる。この
条件のためには、再生信号の中では、プリフォーマット
のヘッダ部信号、欠陥信号、クロストーク信号の割合が
多くなければならない。しかし、前記各信号の全部を合
わせても、長さで１０パーセント未満であるために、平
均値が大きくなる条件とは言いがたい。このため、上記
従来技術のような平均値以上のサンプリング値を単に除
去する方式では、再生信号が欠落する場合が多くなる欠
点がある。

【０００７】一方、クロストーク信号の大きさをオシロ
スコープで測定する従来技術にあっては、クロストーク
信号の大きさや、クロストークが発生する位置を正確に
特定できないという欠点があった。本発明は、上述した
欠点を解消し、確実に反射光量・反射率を得て確実に再
生を可能にし、クロストークの大きさ及びクロストーク
による影響を検査できる光ディスク検査方法及び装置を
提供することを目的とする。

【０００８】

【課題を解決するための手段】請求項１記載の発明によ
る光ディスク検査方法では、光ディスクの検査方法にお
いて、現在走行中のプリフォーマットのヘッダ部の位置
情報を基に隣接するプリフォーマットのヘッダ部の位置
情報を求め、当該求めた位置情報を基に再生信号からセ
クタを構成するプリフォーマットのヘッダ部及び隣接す
るプリフォーマットのヘッダ部の部分を除去して、その
除去後の再生信号から反射光量を測定して前記目的を達
成する。また、請求項２記載の発明による光ディスク検
査方法は、隣接するプリフォーマットのヘッダ部の位置
情報は、現在自分の走行するプリフォーマットのヘッダ
部の半径位置とセクタ長さより演算することにより前記
目的を達成する。

【０００９】請求項３記載の発明による光ディスク検査
装置は、光ディスクの性能を検査する光ディスク検査装
置において、現在走行中のプリフォーマットのヘッダ部
の位置情報を検出する位置情報検出手段と、前記光ディ
スクからの再生信号から特定信号を検出するヘッダ検出
部と、前記位置情報検出手段からの位置情報及びヘッダ
検出部からの特定信号を基に内周側クロストーク発生タ
イミング、外周側クロストーク発生タイミング、クロス
トーク発生時間を得るデータ処理回路と、前記データ処
理回路からの内周側クロストーク発生タイミング、外周
側クロストーク発生タイミング、クロストーク発生時間
と、ヘッダ検出部からの特定信号、書込み可信号とを基
に再生信号からクロストーク成分を除去するサンプリン
グゲート信号を形成するタイミング発生部とを備えて前
記目的を達成する。

【００１０】請求項４記載の発明による光ディスク検査
方法は、光ディスクの検査方法において、現在走行中の
プリフォーマットのヘッダ部の位置情報を基に隣接する
プリフォーマットのヘッダ部の位置情報を求め、当該求
めた位置情報を基に再生信号の波高値を求め、この位置
情報及び前記波高値を基にクロストーク信号の位置と割
合とを求めることにより前記目的を達成する。請求項５
記載の発明による光ディスク検査方法は、光ディスクの
検査方法において、現在走行中のプリフォーマットのヘ
ッダ部の位置情報を基に隣接するプリフォーマットのヘ
ッダ部の位置情報を求め、当該求めた位置情報を基にト
ラッキングエラー信号の波高値を求めことにより前記目
的を達成する。

【００１１】請求項６記載の発明による光ディスク検査
装置は、光ディスクの性能を検査する光ディスク検査装
置において、現在走行中のプリフォーマットのヘッダ部
の位置情報を検出する位置情報検出手段と、前記光ディ
スクからの再生信号から特定信号を検出するヘッダ検出
部と、前記位置情報検出手段からの位置情報及びヘッダ
検出部からの特定信号を基に内周側クロストーク発生タ
イミング、外周側クロストーク発生タイミング、クロス
トーク発生時間を得るデータ処理回路と、前記データ処
理回路からの内周側クロストーク発生タイミング、外周
側クロストーク発生タイミング、クロストーク発生時間
を基に再生信号からクロストーク成分を除去するサンプ
リングゲート信号を形成するタイミング発生部と、前記
データ処理回路からの内周側クロストーク発生タイミン
グ、外周側クロストーク発生タイミング、クロストーク
発生時間と、ヘッダ検出部からの特定信号、書込み可信
号とを基に再生信号からクロストーク成分を除去するサ
ンプリングゲート信号、クロストーク信号及びトラッキ
ングエラー信号をサンプリングさせるためのクロストー
ク信号を形成するタイミング発生部とを備えて前記目的
を達成する。

【００１２】

【作用】請求項１記載の発明によれば、現在走行中のプ
リフォーマットのヘッダ部の位置情報から隣接するプリ
フォーマットのヘッダ部の位置情報が分かるから、その
位置情報を基に再生信号からセクタを構成するプリフォ
ーマットのヘッダ部及び隣接するプリフォーマットのヘ
ッダ部の部分を除去する。これにより、各ヘッダ部の影
響のない再生信号を得ることができる。また、請求項２
記載の発明によれば、隣接するプリフォーマットのヘッ
ダ部の位置情報が、現在自分の走行するプリフォーマッ
トのヘッダ部の半径位置とセクタ長さから分かっている
ので、これを基に演算して当該隣接プリフォーマットの
ヘッダ部の位置を演算して求めている。

【００１３】請求項３記載の発明によれば、現在走行中
のプリフォーマットのヘッダ部の位置情報が位置情報検
出手段で得られる。また、前記再生信号から特定信号が
ヘッダ検出部で得られる。データ処理回路は、前記位置
情報及び特定信号から、隣接するプリフォーマットのヘ
ッダ部の位置を求め、必要な信号を形成する。この信号
を基にタイミング発生部でヘッダ部を除去するための信
号を作り、これで再生信号をサンプリングするため、ヘ
ッダ部の影響が除去できる。

【００１４】請求項４記載の発明よれば、現在走行中の
プリフォーマットのヘッダ部の位置情報から隣接するプ
リフォーマットのヘッダ部の位置情報が求められるか
ら、当該求めた位置情報のときの再生信号の波高値を求
めるようにする。これにより、クロストーク信号の位置
と割合とを求めることができる。請求項５記載の発明に
よれば、隣接するプリフォーマットのヘッダ部の位置情
報が請求項４で求められるから、その求めた位置情報で
発生しているトラッキングエラー信号の波高値を求める
ことで、トラッキングエラー信号の影響を知ることが可
能になる。

【００１５】請求項６記載の発明によれば、現在走行中
のプリフォーマットのヘッダ部の位置情報を位置情報検
出手段で検出する。また、ヘッダ検出部で再生信号から
特定信号を検出する。前記位置情報検出手段からの位置
情報及びヘッダ検出部からの特定信号をデータ処理回路
に与え、データ処理回路でクロストーク発生タイミン
グ、クロストーク発生時間を得る。そして、クロストー
ク発生タイミング、クロストーク発生時間から得たサン
プリングゲートにより、再生信号からクロストーク成分
を除去する。また、クロストーク発生タイミングにおけ
る再生信号のクロストーク信号の波高値を求める。さら
に、クロストーク発生タイミングにおけるトラッキング
エラー信号の波高値を求める。これにより、クロストー
ク信号の大きさ、トラッキングエラー信号の影響を求め
ることができる。

【００１６】

【実施例】以下、本発明について図示の実施例に基づい
て説明する。図１〜図８を参照して本発明の実施例を説
明する。図１は、本発明の光ディスク検査方法を実現す
る光ディスク検査装置の実施例を示すブロック図であ
る。図２は、上記検査装置で使用するピックアップ内の
フォトダイオードの説明図である。図１において、スピ
ンドルモータ１は、光ディスク３を、例えば線速度一定
方式（ＣＬＶ）で回転駆動できる。この光ディスク３に
は、ピックアップ５からレーザ光スポットが照射される
ようになっている。

【００１７】また、前記ピックアップ５は、横送り機構
７によって光ディスク３の径方向に例えばＣＬＶで移動
できるようにしてある。このピックアップ５は、図示し
ない光学系及び図２に示すような２分割フォトダイオー
ドＰＤを備えており、光ディスク３からの反射光を光学
系でもって光ビーム（Light beam）としてフォトダイオ
ードＰＤに照射し、当該フォトダイオードＰＤからの２
つの電流Ｉ₁、Ｉ₂を基に再生信号Ｓａも出力できるよ
うな回路構成となっている。

【００１８】前記スピンドルモータ１にはエンコーダ９
が取付けられている。このエンコーダ９は、スピンドル
モータ１の回転速度を検出して原点信号Ｓｊと回転信号
Ｓｇを出力できる。このエンコーダ９の出力端子は、角
度検出回路１１の入力端子に接続されており、エンコー
ダ９からの原点信号Ｓｊと回転信号Ｓｇを角度検出回路
１１に供給できる。角度検出回路１１は、前記原点信号
Ｓｊ及び回転信号Ｓｇを基に回転角度信号Ｓｈを形成す
るような回路構成となっている。また、上記横送り機構
７は半径位置検出回路１３に接続されており、横送り機
構７からの出力信号を半径位置検出回路１３に供給でき
る。半径位置検出回路１３は、前記横送り機構７からの
出力信号を基にピックアップ５からのレーザ光スポット
の焦点位置が光ディスク３のどの半径位置にあるかを検
出して半径位置信号Ｓｆを形成するような回路構成とな
っている。

【００１９】上記ピックアップ５からの再生信号Ｓａ
は、１セクタ当たり図３で示すようなフォーマット（詳
細は後述する）をしている。そして、フォトダイオード
ＰＤ（図２参照）からの検出信号（詳細は後述する）
は、図４に示すように、各信号において各々所定の電流
値を持つ波形となる。また、例えば図４に示すセクタマ
ーク（Sector Mark ）は、図５に示すような構造を有し
ている。ピックアップ５の出力は、ヘッダ検出部１５及
びＡ／Ｄコンバータ１７の入力端子にそれぞれ接続され
ており、ピックアップ５からの再生信号Ｓａをヘッダ検
出部１５及びＡ／Ｄコンバータ１７に供給できる。

【００２０】このヘッダ検出部１５は、前記再生信号Ｓ
ａを基に、アドレス（ＩＤ）信号Ｓｂ、ヘッダ部以外の
書込み領域であることを示すライトイネーブル（ＷＥ）
信号Ｓｃ、及び特定パターン（この実施例では、セクタ
マーク（ＳＭ）とする）を検出時に出力するＳＭ信号Ｓ
ｄを、それぞれ形成できるようになっている。ヘッダ検
出部１５はタイミング発生部１９及びデータ処理回路２
１に接続されており、ヘッダ検出部１５からのＷＥ信号
Ｓｃ及びＳＭ信号Ｓｄをタイミング発生部１９に、ヘッ
ダ検出部１５からのＩＤ信号Ｓｂ及びＳＭ信号Ｓｄをデ
ータ処理回路２１に、それぞれ供給できる。

【００２１】また、Ａ／Ｄコンバータ１７は、サンプル
信号Ｓｍを受けたときにのみ、再生信号Ｓａをデジタル
化してデジタルサンプリング信号Ｓｎとし、このデジタ
ルサンプリング信号Ｓｎをデータ処理回路２１に供給で
きるようになっている。上記タイミング発生部１９はＡ
／Ｄコンバータ１７及びデータ処理回路２１に接続され
ている。このタイミング発生部１９には、データ処理回
路２１からの内周側クロストーク発生タイミングＳｉ、
外周側クロストーク発生タイミングＳｋ、クロストーク
発生時間Ｓｌとが導入されるようにしてある。また、前
記タイミング発生部１９は、前記内周側クロストーク発
生タイミングＳｉとクロストーク発生時間Ｓｌとで内周
クロストーク信号ＸＩを、前記外周側クロストーク発生
タイミングＳｋとクロストーク発生時間Ｓｌとで外周ク
ロストーク信号ＸＯを、それぞれ形成する。

【００２２】また、このタイミング発生部１９は、前記
内周クロストーク信号ＸＩ及び外周クロストーク信号Ｘ
Ｏの論理和をとり、その論理和結果からサンプリングゲ
ート信号ＳＧを形成し、かつサンプリングゲート信号Ｓ
Ｇとサンプリング間隔信号との論理積をとってサンプル
信号Ｓｍを形成できるようになっている。当該タイミン
グ発生部１９からのサンプル信号Ｓｍは、Ａ／Ｄコンバ
ータ１７及びデータ処理回路２１に供給できるようにし
てある。

【００２３】上記データ処理回路２１には、ＩＤ信号Ｓ
ｂ、ＳＭ信号Ｓｄ、位置信号Ｓｆ、回転角度信号Ｓｈ、
サンプル信号Ｓｍ、デジタルサンプリング信号Ｓｎが取
り込んでいる。このデータ処理回路２１は、これらの信
号から所定の演算をし、内周側クロストーク発生タイミ
ングＳｉ、外周側クロストーク発生タイミングＳｋ、ク
ロストーク発生時間Ｓｌを形成し、タイミング発生部１
９に与えるようになっている。上述したように構成され
た検査装置の動作を図１及び図２を基に、図３〜図８を
参照しながら以下に説明する。まず、図３以降の図面の
内容を説明した後に、上記装置の動作を説明することに
する。

【００２４】図３は、再生信号Ｓａのフォーマットを示
す説明図である。再生信号Ｓａの１セクタは、例えば１
３６０（バイト（Ｂ））からなる。１セクタの再生信号
Ｓａは、主に、５２Ｂのプリフォーマット部と、１２７
４Ｂのデータ部と、他の信号部とからなる。また、図３
に示す再生信号Ｓａのフォーマットにおいて、ＳＭはセ
クタ・マーク、ＶＦＯ₁〜ＶＦＯ₃はＰＬＬロック用の
連続データパターン、ＡＭはアドレス・マーク、ＳＹＮ
Ｃはデータ部の同期信号、ＩＤはアドレス、ＣＲＣはＩ
Ｄ部の誤り検出用コード、ＰＡはポスト・アンプル、Ｏ
ＤＦはプシュプル法を使用するトラックキグエラー検出
におけるオフセット検出用マーク、Ｇａｐはギャップ、
ＦＬＡＧは書込みの行われたことを示すフラッグ、ＡＬ
ＰＣはレーザのパワー・レベルを制御するためのテスト
部、ＤＡＴＡはユーザー・データを書く領域、Ｂｕｆｆ
ｅｒはディスク回転変動のマージン用の領域、をそれぞ
れ示す。

【００２５】また、ＩＤは、トラックナンバー（Track
No. ）、セクターナンバー（SectorNo.）、及びＣＲＣ
からなる。なお、各エリアに示される数字は、各エリア
のバイト数を示している。図４は、図２に示すフォトダ
イオードＰＤで検出した検出信号の内、プリフォーマッ
トのヘッダ部の信号波形を示すものである。図４の縦軸
には、前記信号波形の電流値が示されており、かつ図４
の横軸には、時刻ｔに従ってセクター・マーク領域（Se
ctor Mark Area) 、ＶＦＯ領域（ＶＦＯ Area)、アドレ
ス・マーク等の領域（AM,ID,PAArea) 、オフセット検出
用マーク（ＯＤＦ）が順次示されている。

【００２６】そして、トラックの記録がないときのビー
ム（Beam on unrecorded track）時には０レベルから出
力電流値はＩot、セクター・マーク領域では出力電流値
はＩsm、ＶＦＯ領域では出力電流値はＩvfo 、ＯＤＦで
は出力電流値はＩo となる。図５は、セクタ・マークの
構造を示す説明図である。図５において、セクタ・マー
クは、ノーマーク（no mark ）、マーク（ mark ）が所
定の時間で繰り返される信号からなる。また、図中の数
字（単位Ｔ）は、ノーマーク（no mark ）、マーク（ m
ark ）の構成時間を示している。

【００２７】図６は、光ディスク３の案内溝によってト
ラッキングされた光ピックアップ５のビームの軌跡を示
している。内周側よりトラッキングし、今、図中（イ）
から（ニ）までトラッキングするとき、隣接トラックの
プリフォーマットのヘッダ部位置は、内周側に（ロ）と
して存在し、外周側に（ハ）として存在することにな
る。そして、図中（ロ）及び（ハ）において、クロスト
ークが発生することになる。図７は、図６の点（イ）か
ら点（ニ）の手前までの１セクタの割合を１とし、半径
位置と内周側の点（ロ）と、外周側の点（ハ）の位置の
関係を算出して求めたものである。

【００２８】図８は、上記検査装置の動作を説明するた
めのタイムチャートである。図８において、横軸には時
刻ｔを、縦軸には、再生信号Ｓａ、ＷＥ信号Ｓｃ、内周
クロストーク信号ＸＩ、外周クロストーク信号ＸＯ、サ
ンプリングゲート信号ＳＧ、サンプル信号Ｓｍを、それ
ぞれ示したものである。次に、上記装置により反射光量
等を測定する動作について説明する。

【００２９】光ディスク３がスピンドルモータ１に固定
され、光ディスク３がスピンドルモータ１によりＣＬＶ
駆動される。また、ピックアップ５は、横送り機構７に
よりＣＬＶで径方向に内側から外側に向かって移動す
る。これにより、ピックアップ５からのレーザ光スポッ
トの焦点位置がＣＬＶ移動する。このとき、ピックアッ
プ５によって再生信号Ｓａが光ディスク３から読みださ
れている。ところで、図６に示すように、点（イ）から
点（ニ）までトラッキングすると、図８に示すように、
点（イ）においてプリフォーマット部のヘッダ部の信号
があり（時刻ｔ₀〜ｔ₁）、次いで主にデータ部が存在
する（時刻ｔ₁〜ｔ₁₂）。このとき、内側の点（ロ）で
内側のプリフォーマットのヘッダ部が存在することによ
るクロストークが発生し（時刻ｔ₃〜ｔ₄）、外側の点
（ハ）で外側のプリフォーマットのヘッダ部が存在する
ことによるクロストークが発生する（時刻ｔ₇〜
ｔ₈）。

【００３０】この再生信号Ｓａは、ヘッダ検出部１５に
供給される。ヘッダ検出部１５は、再生信号ＳａからＩ
Ｄ信号Ｓｂを形成するとともに、プリフォーマット部の
ヘッダ部の信号があるときＷＥ信号Ｓｃをオフとし（時
刻ｔ₀〜ｔ₁）、ヘッダ部以外の書込み領域であるとき
にＷＥ信号Ｓｃをオンとする（時刻ｔ₁〜ｔ₁₂）。ま
た、ヘッダ検出部１５は、再生信号Ｓａに特定パターン
（ここでは、ＳＭ）を検出したときにＳＭ信号Ｓｄを形
成し、タイミング発生部１９とデータ処理回路２１に供
給する。

【００３１】また、横送り機構７からの移動信号を受け
た半径位置検出回路１３は、ピックアップ５のレーザ光
スポットの焦点位置が光ディスク３のどの半径位置にあ
るかを検出し、その位置信号Ｓｆを形成する。この位置
信号Ｓｆは、データ処理回路２１に供給される。上記ス
ピンドルモータ１に取り付けたエンコーダ９からの原点
信号Ｓｊ及び回転信号Ｓｇは、角度検出回路１１に入力
される。角度検出回路１１では、その原点信号Ｓｊ及び
回転信号Ｓｇを基に回転角度信号Ｓｈを生成して出力す
る。この回転角度信号Ｓｈは、データ処理回路２１に供
給される。

【００３２】前記データ処理回路２１は、特定パターン
であるＳＭ信号Ｓｄを受けたとき、当該トラッキング時
のプリフォーマットのヘッダ部の位置信号Ｓｆ及びプリ
フォーマットのヘッダ部の長さにより、下記式１及び当
該式１から算出した図６の関係を基に、前述の内周側ク
ロストーク発生タイミングＳｉ、外周側クロストーク発
生タイミングＳｋ、クロストーク発生時間Ｓｌを算出
し、タイミング発生部１９に供給する。なお、クロスト
ークの発生する位置関係の算出式は、

【００３３】

【式１】内周側割合＝１−〔セクタ数−（セクタの整数値）〕外周側割合＝〔セクタ数−（セクタの整数値）〕セクタ数＝（２π×半径）／セクタ長さとなる。ここで、半径は位置信号Ｓｆで分かっており、
またセクタ長さは固定で分かっている。タイミング発生
部１９では、内周側クロストーク発生タイミングＳｉ及
びクロストーク発生時間Ｓｌから内周クロストーク信号
ＸＩを形成し、また外周側クロストーク発生タイミング
Ｓｋ及びクロストーク発生時間Ｓｌとから外周クロスト
ーク信号ＸＯが掲載する。

【００３４】また、タイミング発生部１９では、上述の
ように取り込んだＷＥ信号Ｓｃと、内周クロストーク信
号ＸＩと、外周クロストーク信号ＸＯとを論理和し、そ
の論理和結果であるサンプリングゲート信号ＳＧを形成
する（図８の時刻ｔ₀〜ｔ₁、ｔ₃〜ｔ₄、ｔ₇〜ｔ₈
でオフとなる信号）。そして、タイミング発生部１９
は、サンプリングゲート信号ＳＧとサンプリング間隔信
号との論理積をとり、時刻ｔ₂，ｔ₅，ｔ₆，ｔ₉，ｔ
₁₀，ｔ₁₁で“１”となるサンプル信号Ｓｍを形成する。

【００３５】このサンプル信号Ｓｍは、Ａ／Ｄコンバー
タ１７とデータ処理回路２１に供給される。Ａ／Ｄコン
バータ１７は、サンプル信号Ｓｍを受けたとき、再生信
号Ｓａをデジタルサンプリング信号Ｓｎとして出力す
る。また、上述したように時刻ｔ₂，ｔ₅，ｔ₆，
ｔ₉，ｔ₁₀，ｔ₁₁で“１”となるサンプル信号Ｓｍが入
力されたデータ処理回路２１では、ＩＤ信号Ｓｂ、位置
信号Ｓｆ、回転角度信号Ｓｈ、デジタルサンプリング信
号Ｓｎをそれぞれ記憶する。

【００３６】要するに、本実施例では、再生信号Ｓａの
内部に、ピックアップ５のレーザ光スポットがトラッキ
ングしている現在場所にプリフォーマットのヘッダ部の
信号が存在するか（例えば図８の期間ｔ₀〜ｔ₁）、隣
接するトラックのプリフォーマットのヘッダ部の信号が
クロストークしているときに（例えば図８の期間ｔ₃〜
ｔ₄、ｔ₇〜ｔ₈）、図８の時刻ｔ₀〜ｔ₁、ｔ₃〜ｔ
₄、ｔ₇〜ｔ₈でオフとなるサンプリングゲート信号Ｓ
Ｇを形成し、このサンプリングゲート信号ＳＧを基に形
成したサンプル信号Ｓｍでデータ処理回路２１に所定の
信号を記憶させるようにしたものである。したがって、
本実施例では、現在の再生信号Ｓａでのプリフォーマッ
トのヘッダ部、隣接するプリフォーマットのヘッダ部の
影響がなく、正常な信号のみの取り込み、記憶が可能に
なる。

【００３７】そして、検出動作が終了した後、データ処
理回路２１では、位置信号Ｓｆ、回転角度信号Ｓｈ、デ
ジタルサンプリング信号Ｓｎによって反射光量の集計を
行うことができる。また、データ処理回路２１では、反
射光量のうち、欠陥信号の除去については、通常、円周
方向、半径方向とも近隣部分で数パーセントも変化する
ことはないので、位置信号Ｓｆ、回転角度信号Ｓｈを利
用して除去することができる。例えば、８０パーセント
以下のデータを除けばよいと考える。

【００３８】このように本実施例では、当該トラッキン
グ部分のプリフォーマットのヘッダ部の影響と、隣接の
プリフォーマットのヘッダ部の影響を、当該トラッキン
グ部分の位置とセクタ位置から算出して得たサンプル信
号Ｓｍにより取り除いているので、正確に反射光量を測
定することができる。また、上記サンプル信号Ｓｍは、
自分の走行しているプリフォーマットのヘッダ部の半径
位置とセクタ長さから、隣接するプリフォーマットのヘ
ッダ部の位置と長さを演算するため、隣接するプリフォ
ーマットのヘッダ部の位置と長さを正確に特定すること
ができる。

【００３９】特に、上記実施例では、ヘッダ部の中で特
定パターン（ＳＭ信号Ｓｄ）を検出することにより、上
記ヘッダ部の位置を判定しているので、正確な検出とな
ることが分かる。なお、上記式１では簡易式を使用して
隣接するプリフォーマットのヘッダ部を演算している
が、隣接するプリフォーマットまでの半径距離（トラッ
クピッチ）を加減して演算するようにすれば、隣接する
プリフォーマットをより正確に検出ができることにな
る。図９及び図１０は本発明の光ディスク検査方法及び
装置の第２の実施例を説明するためのものであり、図９
が本発明の光ディスク検査方法を実現する検査装置の第
２の実施例を示すブロック図、図１０が同実施例の検査
動作を説明するためのタイムチャートである。

【００４０】図９に示す第２の実施例は、図１に示す第
１の実施例に対して、クロストークピークトウピーク
（ＣＴＰＰ）検出回路２３と、トラッキングエラーピー
クトウピーク（ＴＥＰＰ）検出回路２５と、トラッキン
グ制御回路２７とを追加し、かつタイミング発生部１９
ａで内周クロストーク信号ＴＥ₁，ＣＥ₁、外周クロス
トーク信号ＴＥ₂，ＣＥ₂、重複クロストーク発生信号
ＴＥ₃，ＣＥ₃、トラッキング制御を保持するトラッキ
ング保持信号Ｐをも形成できるようにした点が異なる。

【００４１】上記ＣＴＰＰ検出回路２３は、タイミング
発生部１９ａからクロストーク信号ＣＥ₁、外周クロス
トーク信号ＣＥ₂、あるいは重複クロストーク発生信号
ＣＥ₃の入力が（それら信号がオンで）あるときに、そ
のときの再生信号Ｓａのピークトウピーク値を検出し、
クロストーク信号ＣＥ₁，ＣＥ₂，ＣＥ₃がオフする
（立ち下がる）ときに、デジタルサンプリング信号Ｓｑ
を発生する。上記ＴＥＰＰ検出回路２５は、タイミング
発生部１９ａからクロストーク信号ＴＥ₁、外周クロス
トーク信号ＴＥ₂、あるいは重複クロストーク発生信号
ＴＥ₃の入力が（それら信号がオンで）あるときに、そ
のときのトラッキングエラー信号Ｓｒのピークトウピー
ク値を検出し、クロストーク信号ＴＥ₁，ＴＥ₂，ＴＥ
₃がオフする（立ち下がる）ときに、デジタルサンプリ
ング信号Ｓｓを発生する。

【００４２】トラッキング制御回路２７は、トラッキン
グ保持信号Ｐを受ける。トラッキング制御回路２７は、
トラッキングを制御し、その制御信号をピックアップ５
に与える。また、トラッキング制御回路２７は、ピック
アップ５がトラッキングエラーを起こすと、トラッキン
グエラー信号Ｓｒを出力する。上述した構成の他の実施
例の作用を図９及び図１０を基に、図２〜図７を参照し
て以下に説明する。光ディスク３がスピンドルモータ１
に固定され、光ディスク３がスピンドルモータ１により
ＣＬＶ駆動され、また、ピックアップ５が横送り機構７
によりＣＬＶで径方向に内側から外側に向かって移動す
ることは上記第１の実施例と同様である。このとき、ピ
ックアップ５によって再生信号Ｓａが光ディスク３から
読みだされている。

【００４３】ところで、図６に示すように、点（イ）か
ら点（ニ）までトラッキングすると、図８に示すよう
に、点（イ）においてプリフォーマット部のヘッダ部の
信号があり（時刻ｔ₂₀〜ｔ₂₁）、次いで主にデータ部が
存在する（時刻ｔ₂₁〜ｔ₂₉）。このとき、内側の点
（ロ）で内側のプリフォーマットのヘッダ部が存在する
ことによるクロストークが発生し（時刻ｔ₂₄〜ｔ₂₅）、
外側の点（ハ）で外側のプリフォーマットのヘッダ部が
存在することによるクロストークが発生する（時刻ｔ ₂₆
〜ｔ₂₇）。

【００４４】この再生信号Ｓａは、ヘッダ検出部１５に
供給される。ヘッダ検出部１５は、再生信号ＳａからＩ
Ｄ信号Ｓｂを形成するとともに、プリフォーマット部の
ヘッダ部の信号があるときＷＥ信号Ｓｃをオフとし（時
刻ｔ₂₀〜ｔ₂₁）、ヘッダ部以外の書込み領域であるとき
にＷＥ信号Ｓｃをオンとする（時刻ｔ₂₁〜ｔ₂₉）。ま
た、ヘッダ検出部１５は、再生信号Ｓａに特定パターン
（ＳＭ信号）を検出したときにＳＭ信号Ｓｄを形成し、
タイミング発生部１９とデータ処理回路２１に供給す
る。また、半径位置検出回路１３は、ピックアップ５の
レーザ光スポットの焦点位置が光ディスク３のどの半径
位置にあるかを検出し、その位置信号Ｓｆを形成し、こ
れをデータ処理回路２１に供給する。

【００４５】上記角度検出回路１１では、エンコーダ９
からの原点信号Ｓｊ及び回転信号Ｓｇを基に回転角度信
号Ｓｈを生成し、これをデータ処理回路２１に供給す
る。前記データ処理回路２１は、特定パターンであるＳ
Ｍ信号Ｓｄを受けたとき、当該トラッキング時のプリフ
ォーマットのヘッダ部の位置信号Ｓｆ及びプリフォーマ
ットのヘッダ部の長さにより、下記式１及び当該式１か
ら算出した図６の関係を基に、前述の内周側クロストー
ク発生タイミングＳｉ、外周側クロストーク発生タイミ
ングＳｋ、クロストーク発生時間Ｓｌを算出し、タイミ
ング発生部１９に供給する。タイミング発生部１９で、
内周クロストーク信号ＸＩと、外周クロストーク信号Ｘ
Ｏと、ＷＥ信号Ｓｃとを論理和してサンプリングゲート
信号ＳＧをえる（時刻ｔ₂₀〜ｔ₂₁、ｔ₂₄〜ｔ₂₅、ｔ₂₆〜
ｔ₂₇でオフとなる信号）。

【００４６】そして、タイミング発生部１９では、この
サンプリングゲート信号ＳＧとサンプリング間隔信号と
の論理積をとり、時刻ｔ₂₂，ｔ₂₃，ｔ₂₈で“１”となる
サンプル信号Ｓｍを形成する。このサンプル信号Ｓｍ
は、Ａ／Ｄコンバータ１７とデータ処理回路２１に供給
する。Ａ／Ｄコンバータ１７は、サンプル信号Ｓｍを受
けたとき、再生信号Ｓａをデジタルサンプリング信号Ｓ
ｎとして出力する。

【００４７】また、データ処理回路２１は、デジタルサ
ンプリング信号Ｓｓ，デジタルサンプリング信号Ｓｑを
受けたとき、ＩＤ信号Ｓｂ、位置信号Ｓｆ、回転角度信
号Ｓｈ、デジタルサンプリング信号Ｓｎを記憶する。そ
して、光ディスク３をトラッキング動作が終了した後
に、データ処理回路２１は、デジタルサンプリング信号
Ｓｎ，Ｓｓ，Ｓｑによってクロストークの影響をなくし
ている。要するに、本実施例では、再生信号Ｓａの内部
に、ピックアップ５のレーザ光スポットがトラッキング
している現在場所にプリフォーマットのヘッダ部の信号
が存在するか（例えば図１０の期間ｔ₂₀〜ｔ₂₁）、隣接
するトラックのプリフォーマットのヘッダ部の信号がク
ロストークしているときに（例えば図１０の期間ｔ₂₄〜
ｔ₂₅、ｔ₂₆〜ｔ₂₇）、このサンプリングゲート信号ＳＧ
を基に形成したサンプル信号Ｓｍでデータ処理回路２１
に所定の信号を記憶させるようにし、かつクロストーク
信号ＣＥ₁，ＣＥ₂，ＣＥ₃があるときにトラッキング
エラー信号Ｓｒの最大値を、及びクロストーク信号ＴＥ
₁，ＴＥ₂，ＴＥ₃があるときに再生信号Ｓａの最大値
を記憶させるようにしている。

【００４８】したがって、本実施例では、現在の再生信
号Ｓａでのプリフォーマットのヘッダ部、隣接するプリ
フォーマットのヘッダ部の影響がなく、正常な信号のみ
の取り込み、記憶が可能になる。また、クロストーク信
号ＣＥ₁，ＣＥ₂，ＣＥ₃及びクロストーク信号Ｔ
Ｅ₁，ＴＥ₂，ＴＥ₃があるときに、ＣＴＰＰ検出回路
２３、ＴＥＰＰ検出回路２５からのデジタルサンプリン
グ信号Ｓｓ、Ｓｑをデータ処理回路２１に与えることが
てきる。

【００４９】本実施例は、自分の走行しているプリフォ
ーマットのヘッダ部の半径位置とセクタ長さから、隣接
プリフォーマットのヘッダ部の位置と長さをと求めてい
るので、隣接プリフォーマットのヘッダ部の位置や長さ
を正確に特定することが可能となる。

【００５０】また、本実施例では、データの再生エラー
を求める場合、クロストークの発生状況、特に左右のク
ロストークが合わさった場合に最悪になるが、そのとき
の位置と、そのときの信号レベルを測定できる。さら
に、クロストークが発生すると、トラッキング制御に影
響を与え、特に左右のクロストークが連続状態になると
大きな影響を与えることになるが、本実施例では、当該
状態の特定と、その時の信号レベルを測定できる。

【００５１】

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、ク
ロストークの影響を除去して反射光量を測定しているの
で、正確に反射光量を測定できる効果がある。また、請
求項２記載の発明によれば、自分の走行しているプリフ
ォーマットのヘッダ部の位置情報から、隣接するプリフ
ォーマットのヘッダ部の位置情報等を演算して求めるこ
とができるため、正確にプリフォーマットを特定できる
効果がある。さらに、請求項３記載の発明によれば、ク
ロストークの影響を除去して反射光量を測定しているの
で、正確に反射光量を測定できる測定装置を得ることが
できる。加えて、請求項４記載の発明によれば、現在走
行中のプリフォーマットのヘッダ部の位置情報を基に隣
接するプリフォーマットのヘッダ部の位置情報を求め、
当該求めた位置情報を基に再生信号の波高値を求めてい
るため、クロストーク信号の位置と割合とを正確に求め
ることができる効果がある。また、請求項５記載の発明
によれば、請求項４で求めた隣接するプリフォーマット
のヘッダ部の位置情報を基にトラッキングエラー信号の
波高値を求めているため、正確にトラッキングエラーの
影響を検査できる。請求項６記載の発明によれば、デー
タ処理回路からのクロストーク発生タイミング、クロス
トーク発生時間を基に再生信号からクロストーク成分を
除去し、かつそのクロストーク発生タイミングでクロス
トーク信号の波高値、トラッキングエラーの波高値を測
定できるようにしたので、クロストーク信号、トラッキ
ングエラー信号の影響を正確に測定できる測定装置を得
ることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の光ディスク検査方法及び装置の実施例
を示すブロック図である。

【図２】本発明の実施例で使用する光ビームとフォトダ
イオードの関係の説明図である。

【図３】本発明の実施例で使用する再生信号のフォーマ
ットの説明図である。

【図４】本発明の実施例における再生信号の一部波形図
である。

【図５】本発明の実施例における再生信号の一部波形図
である。

【図６】本発明の実施例におけるクロストーク発生の説
明図である。

【図７】本発明の実施例におけるクロストーク発生の位
置関係の説明図である。

【図８】本発明の実施例の動作を説明するためのタイム
チャートである。

【図９】本発明の他の実施例を示すブロック図である。

【図１０】同他の実施例の動作を説明するためのタイム
チャートである。

【符号の説明】

１スピンドルモータ３光ディスク５ピックアップ７横送り機構９エンコーダ１１角度検出回路１３半径位置検出回路１５ヘッダ検出部１５ａヘッダ検出部１７Ａ／Ｄコンバータ１９タイミング発生部１９ａタイミング発生部２１データ処理回路２３ＣＴＰＰ検出回路２５ＴＥＰＰ検出回路２７トラッキング制御回路

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】光ディスクの検査方法において、現在走行中のプリフォーマットのヘッダ部の位置情報を
基に隣接するプリフォーマットのヘッダ部の位置情報を
求め、当該求めた位置情報を基に再生信号からセクタを
構成するプリフォーマットのヘッダ部及び隣接するプリ
フォーマットのヘッダ部の部分を除去して、その除去後
の再生信号から反射光量を測定することを特徴とする光
ディスク検査方法。
【請求項２】隣接するプリフォーマットのヘッダ部の
位置情報は、現在自分の走行するプリフォーマットのヘ
ッダ部の半径位置とセクタ長さより演算することを特徴
とする請求項１記載の光ディスク検査方法。
【請求項３】光ディスクの性能を検査する光ディスク
検査装置において、現在走行中のプリフォーマットのヘッダ部の位置情報を
検出する位置情報検出手段と、前記光ディスクからの再生信号から特定信号を検出する
ヘッダ検出部と、前記位置情報検出手段からの位置情報及びヘッダ検出部
からの特定信号を基に内周側クロストーク発生タイミン
グ、外周側クロストーク発生タイミング、クロストーク
発生時間を得るデータ処理回路と、前記データ処理回路からの内周側クロストーク発生タイ
ミング、外周側クロストーク発生タイミング、クロスト
ーク発生時間と、ヘッダ検出部からの特定信号、書込み
可信号とを基に再生信号からクロストーク成分を除去す
るサンプリングゲート信号を形成するタイミング発生部
とを備えたことを特徴とする光ディスク検査装置。
【請求項４】光ディスクの検査方法において、現在走行中のプリフォーマットのヘッダ部の位置情報を
基に隣接するプリフォーマットのヘッダ部の位置情報を
求め、当該求めた位置情報を基に再生信号の波高値を求
め、この位置情報及び前記波高値を基にクロストーク信
号の位置と割合とを求めることを特徴とする光ディスク
検査方法。
【請求項５】光ディスクの検査方法において、現在走行中のプリフォーマットのヘッダ部の位置情報を
基に隣接するプリフォーマットのヘッダ部の位置情報を
求め、当該求めた位置情報を基にトラッキングエラー信
号の波高値を求めことを特徴とする光ディスク検査方
法。
【請求項６】光ディスクの性能を検査する光ディスク
検査装置において、現在走行中のプリフォーマットのヘッダ部の位置情報を
検出する位置情報検出手段と、前記光ディスクからの再生信号から特定信号を検出する
ヘッダ検出部と、前記位置情報検出手段からの位置情報及びヘッダ検出部
からの特定信号を基に内周側クロストーク発生タイミン
グ、外周側クロストーク発生タイミング、クロストーク
発生時間を得るデータ処理回路と、前記データ処理回路からの内周側クロストーク発生タイ
ミング、外周側クロストーク発生タイミング、クロスト
ーク発生時間を基に再生信号からクロストーク成分を除
去するサンプリングゲート信号を形成するタイミング発
生部と、前記データ処理回路からの内周側クロストーク発生タイ
ミング、外周側クロストーク発生タイミング、クロスト
ーク発生時間と、ヘッダ検出部からの特定信号、書込み
可信号とを基に再生信号からクロストーク成分を除去す
るサンプリングゲート信号、クロストーク信号及びトラ
ッキングエラー信号をサンプリングさせるためのクロス
トーク信号を形成するタイミング発生部とを備えたこと
を特徴とする光ディスク検査装置。