JPH03116540A

JPH03116540A - ディスク装置

Info

Publication number: JPH03116540A
Application number: JP1254880A
Authority: JP
Inventors: Hidetoshi Ikeda; 英敏池田
Original assignee: Toshiba Corp
Current assignee: Toshiba Corp
Priority date: 1989-09-29
Filing date: 1989-09-29
Publication date: 1991-05-17
Anticipated expiration: 2013-09-17
Also published as: US5050150A; JP2799002B2

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】［発明の目的］（産業上の利用分野）この発明は、例えば光ディスクに対して情報の記録ある
いは再生を行うディスク装置に関する。

（従来の技術）周知のように、例えば半導体レーザより出力されるレー
ザ光によって、光ディスクに情報を記録したり、光ディ
スクに記録されている情報を読出す光デイスク装置が種
々開発されている。

上記光デイスク装置において、その光ディスクの標準化
により、記録エリア外（内周部の案内溝やサーボバイト
のない領域）に特性データ記録エリアを設け、このエリ
アに特性データとしてコントロールトラックというどの
製造者による光ディスクにも共通に付与されたモード情
報（仕様に合せた）がバーコード状に記録されるものが
考えられている。

このフントロールトラックには、読取り、書込みモード
（仕様）を決定するために、反射率、書込み時、読取り
時のレーザパワー　１周のセクタ数等の情報が記録され
るようになっている。

上記コントロールトラックについては考えられているが
正確な読取りについては何ら考えられていなかった。

したがって、特性データ記録エリアに記録されているコ
ントロールトラック（特性データ）の正確な読取りを行
うことができないという欠点があった。

（発明が解決しようとする課題）この発明は、特性データ記録エリアの特性データの正確
な読取りを行うことができないという欠点を除去するも
ので、特性データ記録エリアの特性データの正確な読取
りを行うことができるディスク装置を提供することを目
的とする。

［発明の構成］（課題を解決するための手段）この発明のディスク装置は、記憶情報としてのデータが
記録されるデータ記録エリアとモード情報としての特性
データが記録されている特性データ記録エリアとを有す
るディスクに光を照射することによって得られる光を検
出して光電変換する光学ヘッド、この光学ヘッドを上記
ディスクのデータ記録エリアあるいは特性データ記録エ
リアに移動する移動手段、この移動手段により上記光学
ヘッドが上記ディスクの特性データ記録エリアに移動さ
れた際に、上記光学ヘッドの光電変換出力により記録部
分と未記録部分とを検知する検知手段、およびこの検知
手段からの検知信号の記録部分と未記録部分の時間間隔
により特性データの読取りを行う読取手段から構成され
ている。

（作用）この発明は、記憶情報としてのデータが記録されるデー
タ記録エリアとモード情報としての特性データが記録さ
れている特性データ記録エリアとを有するディスクに光
を照射することによって得られる光を光学ヘッドで検出
して光電変換し、この光学ヘッドを上記ディスクのデー
タ記録エリアあるいは特性データ記録エリアに移動手段
で移動し、この移動手段により上記光学ヘッドが上記デ
ィスクの特性データ記録エリアに移動された際に、上記
光学ヘッドの光電変換出力により記録部分と未記録部分
とを検知し、この検知信号の記録部分と未記録部分の時
間間隔により特性データの読取りを行うようにしたもの
である。

（実施例）以下、この発明の一実施例について図面を参照して説明
する。

第２図は、ディスク装置を示すものである。光ディスク
（ディスク）１の表面には、スパイラル状に溝（記録ト
ラック）が形成されており、この光ディスク１は、モー
タ２によって例えば一定の速度で回転される。このモー
タ２は、モータ制御回路１８によって制御されている。

上記光ディスク１は、たとえば５，２５インチ（約１３
．３ｃｍ）で、ガラスあるいはプラスチックスなどで円
形に形成された基板の表面にテルルあるいはビスマスな
どの金属被膜層つまり記録膜がドーナツ型にコーティン
グされており、その金属被膜層の中心部近傍には切欠部
つまり基準位置マークが設けられている。

また、光デイスク１上は、第３図に示すように、案内溝
（記録トラック）が形成されているデータ記録エリア１
ａと、このデータ記録エリア１ａよりも内周側に設けら
れた案内溝やサーボバイトの無い特性データ記録エリア
１ｂとから構成されている。

上記特性データ記録エリア１ｂにはコントロールトラッ
クＣが製造時にあらかじめ記録されるようになっている
。このコントロールトラックＣには、円周方向にバーコ
ード状に、１回転につき３回１同じ特性データ（ｐｈａ
ｓｅ　ｅｎｃｏｄｅｄ　ｐａｒｔ；ＰＥＰ）が記録され
ている。この特性データとしては、光ディスク１の膜の
特性（反射率）、半導体レーザの記録、再生時のパワー
　フォーマット形式（１周のセクタ数）等が記録される
ようになっている。

上記コントロールトラックＣは、第３図に示すように、
ビット列の連続、不連続で情報を示し、光ディスク１の
半径方向に放射状に記録されており、その記録位置は光
ディスク１の中心からの距離（半径位置）によって規定
されている。

たとえば、上記コントロールトラックＣは、半径２９．
Ｑｃｍの位置から半径２９．３ｃｍの位置にわたって記
録されるようになっている。

上記コントロールトラックＣは、第４図に示すように、
３つのセクタから構成され、各セクタごとに、プリアン
プル、同期信号、特性データ、セクタ、トラックアドレ
スデータ、ＣＲＣチエツクデータなどによって構成され
ており、各セクタ間にはブランクギャップが設けられて
いる。

上記コントロールトラックＣにおけるデータの１ビツト
は、第５図に示すように、ピット列が８２ピツト連続し
て前半にある場合、“０“と判断され、後半にある場合
、“】　“と判断されるようになっている。

また、上記コントロールトラックＣにおけるデータの１
ビツトは、第６図に示すように、前半の３２８チヤネル
ビツトのなかに複数のピット列がある場合、０“と判断
され、後半の３２８チヤネルビツトのなかに複数のピッ
ト列がある場合、“１”と判断されるようになっている
。

上記データ記録エリア１ａにおいて、基準マークを基準
として複数のセクタに分割されている。

上記光デイスク１上には可変長の情報が複数のブロック
にわたって記録されるようになっており、光デイスク１
上には３６０００トラツクに３０万のブロックが形成さ
れるようになっている。

上記先ディスク１に対する情報の記録再生は、光学ヘッ
ド３によって行われる。この光学ヘッド３は、リニアモ
ータ３１の可動部を構成する駆動コイル１３に固定され
ており、この駆動コイル１３はりニアモータ制御回路１
７に接続されている。

このリニアモータ制御回路１７には、リニアモータ位置
検出器２６が接続されており、このリニアモータ位置検
出器２６は、光学ヘッド３に設けられた光学スケール２
５を検出することにより、位置信号を出力するようにな
っている。

また、リニアモータ３１の固定部には、図示せぬ永久磁
石が設けられており、前記駆動コイル１３がりニアモー
タ制御回路１７によって励磁されることにより、光学ヘ
ッド３は、光ディスク１の半径方向に移動されるように
なっている。

前記光学ヘッド３には、対物レンズ６が図示しないワイ
ヤあるいは板ばねによって保持されており、この対物レ
ンズ６は、駆動コイル５によってフォーカシング方向（
レンズの光軸方向）に移動され、駆動コイル４によって
トラッキング方向（レンズの光軸と直交方向）に移動可
能とされている。

また、レーザ制御回路１４によって駆動される半導体レ
ーザ９より発生されたレーザ光は、コリメータレンズ１
１ａ１ハーフプリズム１１ｂ１対物レンズ６を介して光
デイスク１上に照射され、この光ディスク１からの反射
光は、対物レンズ６、ハーフプリズム１１ｂ１集光“レ
ンズ１０ａ１およびシリンドリカルレンズ１０ｂを介し
て光検出器８に導かれる。

この光検出器８は、４分割の光検出セル８　ａ　５８ｂ
１８Ｃ１８ｄによって構成されている。

なお、上記ワイヤ４．５による対物レンズ駆動装置につ
いては、特願昭６１−２８４５９１号に記載されている
ので、ここではその説明を省略する。

上記光検出器８の光検出セル８ａの出力信号は、増幅器
１２ａを介して加算器３０ａ、３０Ｃの一端に供給され
、光検出セル８ｂの出力信号は、増幅器１２ｂを介して
加算器３０ｂ、３０ｄの一端に供給され、光検出セル８
Ｃの出力信号は、増幅器１２ｃを介して加算器３０ｂ、
３０ｃの他端に供給され、光検出セル８ｄの出力信号は
、増幅器１２ｄを介して加算器３０ａ、３０ｄの他端に
供給されるようになっている。

上記加算器３０ａの出力信号は差動増幅器ＯＰＩの反転
入力端に供給され、この差動増幅器ＯＰＩの非反転入力
端には上記加算器３０ｂの出力信号が供給される。これ
により、差動増幅器ＯＰＩは、上記加算器３０ａ、３０
ｂの差に応じてトラック差信号をトラッキング制御回路
１６に供給するようになっている。このトラッキング制
御回路１６は、ＯＰＩから供給されるトラック差信号に
応じてトラック駆動信号を作成するものである。

上記トラッキング制御回路１６から出力されるトラック
駆動信号は、前記トラッキング方向の駆動コイル４に供
給される。また、上記トラッキング制御回路１６で用い
られたトラック差信号は、リニアモータ制御回路１７に
供給されるようになっている。

また、上記加算器３０ｃの出力信号は差動増幅器ＯＰ２
の反転入力端に供給され、この差動増幅器ＯＰ２の非反
転入力端には上記加算器３０ｄの出力信号が供給される
。これにより、差動増幅器ＯＰ２は、上記加算器３０ｃ
、３０ｄの差に応じてフォーカス点に関する信号をフォ
ーカシング制御回路１５に供給するようになっている。

このフォーカシング制御回路１５の出力信号は、フォー
カシング駆動コイル５に供給され、レーザ光が光デイス
ク１上で常時ジャストフォーカスとなるように制御され
る。

上記のようにフォーカシング、トラッキングを行なった
状態での光検出器８の各光検出セル８　ａ　ｓ〜８ｄの
出力の和信号、つまり加算器３０ａ１３０ｂからの出力
信号は、トラック上に形成されたビット（記録情報）の
凹凸が反映されている。

この信号は、映像回路１９に供給され、この映像回路１
９において画像情報、アドレス情報（トラック番号、セ
クタ番号等）が再生される。

この映像回路１９で再生された再生信号はインターフェ
ース回路７０を介して外部装置としての光デイスク制御
装置７１に出力されるようになっている。

また、上記加算器３０ａ、３０ｂからの出力信号はコン
トロールトラック読取回路３１に供給される。このコン
トロールトラック読取回路３１は上記加算器３０ａ、３
０ｂからの出力信号により、上記コントロールトラック
Ｃの記録データに対応する記録部分と未記録部分のそれ
ぞれに対応する時間間隔としてのカウント値を出力する
ものである。

また、コントロールトラックＣへのアクセス時、上記カ
ウント値は後述するＣＰＵ２３に出力されるようになっ
ている。

上記ＣＰＵ２３は、コントロールトラックＣへのアクセ
ス時、光ディスク１の最内周から光学ヘッド３を移動さ
せ、光学スケール２５により１１．５スケ一ル分、移動
した際、光学ヘッド３がコントロールトラックＣの中心
部近傍に対応していると判断し、光学へラド３を停止し
、このとき、コントロールトラック読取回路３１の後述
する人カポ−）５１．５２から供給されるカウント値、
つまり記録部分と未記録部分の時間間隔を調べることに
より、コントロールトラックＣの特性データの読取りを
行い、この読取った特性データに対応する制御を行うよ
うになっている。すなわち、種々の仕様（会社）の異な
る光ディスク１に対応する制御が行えるようになってい
る。

また、このディスク装置にはそれぞれフォーカシング制
御回路１５、トラッキング制御回路１６、リニアモータ
制御回路１７とＣＰＵ２３との間で情報の授受を行うた
めに用いられるＤ／Ａ変換器２２が設けられている。

また、上記トラッキング制御回路１６は、上記ＣＰＵ２
３からＤ／Ａ変換器２２を介して供給されるトラックジ
ャンプ信号に応じて対物レンズ６を移動させ、１トラッ
ク分、ビーム光を移動させるようになっている。

上記レーザ制御回路１４、フォーカシング制御回路１５
、トラッキング制御回路１６、リニアモータ制御回路１
７、モータ制御回路１８、映像回路１９等は、パスライ
ン２０を介してＣＰＯ２３によって制御されるようにな
っており、このＣＰＵ２３はメモリ２４に記憶されたプ
ログラムによって所定の動作を行うようになされている
。

上記コントロールトラック読取回路３１は、第１図に示
すように、加算回路３１ａ１下端検知回路３１ｂ％２値
化生成回路３１Ｃ１時間間隔計数部３１ｄから構成され
ている。下端検知回路３１ｂはダイオードＤ１、コンデ
ンサＣ１により構成される積分回路および増幅器３２に
より構成されている。２値化生成回路３１ｃはダイオー
ドＤ２、Ｄ３、抵抗Ｒ１、コンデンサＣ２、および比較
器３３によって構成されている。

時間間隔計数部３１ｄは、同期回路４０、出力切換タイ
ミング回路４１、クリア信号発生回路４２．４３、記録
部分測定カウンタ４４、未記録部分測定カウンタ４５、
インバータ回路４６、オア回路４７、フリップフロップ
回路（ＦＦ回路）４８．４９、スイッチ５０、および入
力ポート５１．５２によって構成されている。

上記加算回路３１ａは上記加算器３０ａ１３０ｂからの
出力信号を加算することにより、光検出セル８ａ〜８ｄ
の検出信号の和に対応する再生信号ｒを出力するもので
ある。上記下端検知回路３１ｂは上記加算回路３１ａか
らの再生信号ｒの下端を検知した下端検知信号（再生信
号「の暗レベルピークを検知した信号）ｌを出力するも
のである。上記２値化生成回路３１ｃは上記下端検知回
路３１ｂからの下端検知信号ｌとその下端検知信号ｌを
遅延した遅延信号ｄとを比較器３３で比較し、下端検知
信号１〉遅延信号ｄの場合、比較器３３は“Ｌ”レベル
の信号（未記録部分に対応）を出力し、下端検知信号ｌ
く遅延信号ｄの場合、比較器３３は“Ｈルベルの信号（
記録部分に対応）を出力することにより、上記コントロ
ールトラックＣの記録データに対応する２値化信号ｔを
上記時間間隔計数部３１ｄへ出力するものである。

たとえば、第７図（ａ）に示すような再生信号ｒからド
端検知信号ｌを検知しく同図（ｂ）参照）、この下端検
知信号ｌと下端検知信号ｌの遅延信号ｄとの比較により
２値化することにより、２値化信号ｔを得る（同図（ｃ
）参照）。

上記時間間隔計数部３１ｄは上記２値化生成回路３１ｃ
からの２値化ｌＪ号ｔにより、ブランクギャップを検出
し、このブランクギャップ以降の記録部分と未記録部分
のカウント数をＣＰＵ２Ｂへ出力するものである。

すなわち、上記同期回路４０は、上記２値化生成回路３
１ｃからの２値化信号ｔと図示しない発振器からのクロ
ックとの同期をとる回路であり、その出力は、出力切換
タイミング回路４１、クリア信号発生回路４２．４３、
記録部分測定カウンタ４４、入力ポート５１に供給され
るとともに、インバータ回路４６で反転された後、未記
録部分測定カウンタ４５に供給されるようになっている
。

出力切換タイミング回路４１は供給される信号が“Ｌ“
レベルの場合、スイッチ５０の切換接点５０ａを固定接
点５０ｂ側に切換え、“Ｈ°レベルの場合、スイッチ５
０の切換接点５０ａを固定接点５０ｃ側に切換えるよう
になっている。

クリア信号発生回路４２は供給される信号が“Ｈ”レベ
ルから“Ｌルーベルに切換わった場合に、未記録部分測
定カウンタ４５にクリア信号を出力するものである。ク
リア信号発生回路４３は供給される信号が“Ｌ”レベル
から“Ｈ”レベルに切換わった場合に、記録部分測定カ
ウンタ４４にクリア信号を出力するものである。記録部
分測定カウンータ４４は、上記同期回路４０から“Ｈ”
レベルの信号が供給されている場合に、上記発信器から
供給されるクロック数を計数するものである。未記録部
分１１ＰＩ定カウンタ４５は、上記同期回路４０からイ
ンバータ回路４６を介して′Ｈ”レベルの信号が供給さ
れている場合に、上記発信器から供給されるクロック数
を計数するものである。

上記記録部分測定カウンタ４４、未記録部分測定カウン
タ４５のカウント値は、選択的にスイッチ５０、人力ボ
ート５２、およびパスライン２０を介してＣＰＵ２３へ
出力されるようになっている。上記未記録部分測定カウ
ンタ４５は、ブランクギャップに対応している際、オー
バフローとなり、キャリー信号を出力するようになって
おり、上記記録部分測定カウンタ４４は、ごみに対応し
ている際、オーバフローとなり、キャリー信号を出力す
るようになっている。また、記録部分測定カウンタ４４
のキャリー信号はオア回路４７を介してＦＦ回路４８に
出力され、ＦＦ回路４８により入力ポート５１へ出力さ
れるようになっている。

また、未記録部分測定カウンタ４５のキャリー信号はＦ
Ｆ回路４９に出力され、ＦＦ回路４９により入力ポート
５１へ出力されるようになっている。

上記同期回路４０から入力ポート５１に供給される信号
が“Ｈ２レベルから′Ｌｗレベルに切換わった場合に、
入力ポート５２はスイッチ５ｏがら供給される記録部分
測定カウンタ４４のカウント値をパスライン２０を介し
てＣＰＵ２３へ出力し、上記同期回路４０から入力ポー
ト５１に供給される信号が“Ｌ″レベルら“Ｈ”レベル
に切換わった場合に、入力ポート５２はスイッチ５゜か
ら供給される未記録部分測定カウンタ４５のカウント値
をパスライン２０を介してＣＰＵ２３へ出力するように
なっている。

次に、このような構成において、第８図に示すフローチ
ャートを参照しつつ、コントロールトラックの読取動作
を説明する。たとえば今、光デイスク制御装置７１から
コントロールトラックＣのアクセスの指示がＣＰＵ２３
に供給される。すると、ＣＰＵ２３はりニアモータ制御
回路１７を制御することにより、光学ヘッド３を光ディ
スク１の最内周から外側に向けて移動する。

そして、ＣＰＵ２３は、リニアモータ４１が１１．５ス
ケ一ル分移動したところ、つまり光学ヘッド３のレーザ
光がコントロールトラックＣの中心部近傍に対応したと
ころで光学ヘッド３を停止させる。

ついで、ＣＰＵ２３は半導体レーザ９がらレーザ光を発
生させる。これにより、半導体レーザ９から発生された
レーザ光は、コリメータレンズ１１ａ１ハーフプリズム
１１ｂ１対物レンズ６を介して光デイスク１上に照射さ
れ、この光ディスク１からの反射光は、対物レンズ６、
ハーフプリズム１１ｂ１集光レンズ１０ａ１およびシリ
ンドリカルレンズ１０ｂを介して光検出器８に導かれる
。

したがって、上記光検出器８の光検出セル８ａの出力信
号は、増幅器１２ａを介して加算器３０ａ、３０ｃの一
端に供給され、光検出セル８ｂの出力信号は、増幅器１
２ｂを介して加算器３０ｂ、３０ｄの一端に供給され、
光検出セル８Ｃの出力信号は、増幅器１２ｃを介して加
算器３０ｂ、３０ｃの他端に供給され、光検出セル８ｄ
の出力信号は、増幅器１２ｄを介して加算器３０ａ、３
０ｄの他端に供給される。

この状態において、上記加算器３０ａ、３０ｂからの信
号は加算回路３１ａに供給される。すると、加算回路３
１ａは光検出セル８ａ〜８ｄの検出信号の和に対応する
第７図（ａ）に示すような、再生信号ｒを下端検知回路
３１ｂに出力する。

これにより、下端検知回路３１ｂは上記加算回路３１ａ
からの再生信号ｒの下端を検知し、この検知した下端検
知信号１　（第７図（ｂ）に実線で示す）を２値化生成
回路３１ｃへ出力する。上記２値化生成回路３１ｃは上
記下端検知回路３１ｂからの下端検知信号ｌとその下端
検知信号１を遅延した遅延信号ｄ（同図（ｂ）に破線で
示す）とを比較器３３で比較し、下端検知信号ｌ〉遅延
信号ｄの場合、比較器３３は“Ｌ”レベルの信号を出力
し、下端検知信号ｌく遅延信号ｄの場合、比較器３３は
“Ｈ“レベルの信号を出力することにより、上記コント
ロールトラックＣの記録データに対応する２値化信号ｔ
（同図（ｃ）参照）を上記時間間隔計数部３１ｄへ出力
する。

したがって、上記時間間隔計数部３１ｄは上記２値化生
成回路３１ｃからの２値化信号ｔにより、ブランクギャ
ップを検出し、このブランクギャップ以降の記録部分と
未記録部分のカウント数をＣＰＵ２３へ出力するもので
ある。

すなわち、同期回路４ｏから未記録部分に対応する“Ｌ
”レベルの信号が出力されている際、未記録部分測定カ
ウンタ４５は発振器からのクロックを計数する。この計
数により、未記録部分測定カウンタ４５のカウント値が
オーバフローとなった際、キャリー信号がＦＦ回路４９
に出力され、ＦＦ回路４９により入力ポート５１、パス
ライン２０を介してＣＰＯ２３へ出力される。これによ
り、ＣＰＵ２３はそのキャリー信号によりブロックギャ
ップを検知し、コントロールトラックＣの１つのセクタ
の始まりを判断する。

ついで、同期回路４０からの出力が未記録部分に対応す
る”Ｌ”レベルから記録部分に対応する“Ｈ″レベルな
ると、クリア信号発生回路４３からのクリア信号および
同期回路４０からの“Ｈ″ルベル信号が記録部分測定カ
ウンタ４４に供給される。これにより、記録部分測定カ
ウンタ４４はクリアされ、発振器からのクロックの計数
を開始する。

そして、同期回路４０からの出力が記録部分に対応する
°Ｈ″レベルから未記録部分に対応する′Ｌ“レベルと
なると、記録部分測定カウンタ４４のカウント動作が停
止されるとともに、出力切換タイミング回路４１からの
切換信号によりスイッチ５０の可動接点５０ａが固定接
点５０ｂ側に切換えられる。これにより、記録部分測定
カウンタ４４からのカウント値がスイッチ５０を介して
入力ポート５２へ出力される。

また、クリア信号発生回路４２からのクリア信号および
同期回路４０からの“Ｌ”レベルの信号が未記録部分測
定カウンタ４５に供給される。これにより、未記録部分
測定カウンタ４５はクリアされ、発振器からのクロック
の計数を開始する。

そして、同期回路４０からの出力が未記録部分に対応す
るＬ”レベルから記録部分に対応する“Ｈ”レベルとな
ると、入力ポート５２はスイッチ５０から供給されてい
る記録部分測定カウンタ４４のカウント値をパスライン
２０を介してＣＰＵ２３へ出力する。これにより、ＣＰ
Ｕ２３は記録部分のカウント値をメモリ２４に記憶する
。

この際、未記録部分測定カウンタ４５のカウント動作は
停止されている。

ついで、出力切換タイミング回路４１からの切換信号に
よりスイッチ５０の可動接点５０ａが固定接点５０ｃ側
に切換えられる。これにより、未記録部分測定カウンタ
４５からのカウント値がスイッチ５０を介して人力ボー
ト５２へ出力される。

また、クリア（ｇ号発生回路４３からのクリア信号およ
び同期回路４０からの°Ｈ”レベルの信号が記録部分測
定カウンタ４４に供給される。これにより、記録部分測
定カウンタ４４はクリアされ、発振器からのクロックの
計数を開始する。

そして、同期回路４０からの出力が記録部分に対応する
“Ｈ”レベルから記録部分に対応する“Ｌ″レベルなる
と、入力ポート５２はスイッチ５０から供給されている
未記録部分測定カウンタ４５のカウント値をパスライン
２０を介してＣＰＵ２３へ出力する。これにより、ＣＰ
Ｕ２３は未記録部分のカウント値をメモリ２４に記憶す
る。

以後、上記同様に、記録部分のカウント値と未記録部分
のカウント値をメモリ２４に記憶する。

そして、１セクタ分のデータを読み取った際、つまり再
び未記録部分測定カウンタ４５からのキャリー信号がＣ
ＰＵ２Ｂへ供給され、ＣＰＵ２３がブランクギャップを
判断した際、ＣＰＵ２３は、上記メモリ２４に記憶した
カウント値により記録部分と未記録部分の時間間隔を調
べることにより、コントロールトラックＣの特性データ
の読取り（復調）を行い。この読取った特性データに対
応する制御を行う。すなわち、種々の仕様（会社）の異
なる光ディスク１に対応する制御を行う。

たとえば、光ディスク１の膜の特性（反射率）、半導体
レーザの記録、再生時のパワー　フォーマット形式（１
周のセクタ数）等が対応した仕様で制御される。

上記したように、再生信号の記録部分のカウント値と未
記録部分のカウント値とを測定し、この測定したカウン
ト値をメモリに一旦記憶し、その後記録部分と未記録部
分の時間間隔を調べることにより、コントロールトラッ
クの特性データの読取り（復調）を行うようにしたもの
である。

これにより、特性データ記録エリアのコントロールトラ
ックの特性データを、正確に読取ることができる。

［発明の効果コ以上詳述したようにこの発明によれば、特性データ記録
エリアの特性データの正確な読取りを行うことができる
ディスク装置を提供できる。

【図面の簡単な説明】

図面はこの発明の一実施例を示すもので、第１図はコン
トロールトラック読取回路の概略構成を示す図、第２図
はディスク装置の構成図、第３図は光ディスクにおける
コントロールトラックを説明するための図、第４図、第
５図はコントロールトラックにおける１ビツトの構成例
を示す図、第６図はコントロールトラックの構成例を説
明するための図、第７図はコントロールトラック読取回
路における各部の信号波形を示す信号波形図、第８図は
コントロールトラックの読取動作を説明するためのフロ
ーチャートである。１・・・光ディスク、１ａ・・・データ記録エリア、１
ｂ・・・特性データ記録エリア、Ｃ・・・コントロール
トラック、３・・・光学ヘッド、８・・・光検出器、１
つ・・・映像回路、２３・・・ＣＰＵ、２４・・・メモ
リ、３１・・・コントロールトラック読取回路、３１ａ
・・・加算回路、３１ｂ・・・下端検知回路、３１ｃ・
・・２値化生成回路、３１ｄ・・・時間間隔計数部、４
４・・・記録部分測定カウンタ、４５・・・未記録部分
測定カウンタ。

Claims

【特許請求の範囲】記憶情報としてのデータが記録されるデータ記録エリア
とモード情報としての特性データが記録されている特性
データ記録エリアとを有するディスクに光を照射するこ
とによって得られる光を検出して光電変換する光学ヘッ
ドと、この光学ヘッドを上記ディスクのデータ記録エリアある
いは特性データ記録エリアに移動する移動手段と、この移動手段により上記光学ヘッドが上記ディスクの特
性データ記録エリアに移動された際に、上記光学ヘッド
の光電変換出力により記録部分と未記録部分とを検知す
る検知手段と、この検知手段からの検知信号の記録部分と未記録部分の
時間間隔により特性データの読取りを行う読取手段と、を具備したことを特徴とするディスク装置。