JPS623446A - 光デイスクの欠陥検査方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、光ディスクに形成したトラックを多数のセク
タに分割し、この各セクタに区画設定されたデータフィ
ールドに欠陥があるか否かに関するディスク特性を検査
する光ディスクの欠陥検査方法に関するものである。

〔従来の技術〕

光ディスクは一般に、ディスク表面にその回転中心と同
心円状または螺線状のトラックを形成し、このトラック
に沿って多数の微小凹凸部からなるプリピットを形設す
ることによりセクタを形成し、各セクタのデータフィー
ルドに対して例えばレーザビームを照射するピックアッ
プ等のトラッキング装置を使用して情報の記録再生を行
うように構成されている。従って、製品としての光ディ
スクが適正なものであるためには、このデータフィール
ドが正規に形成されていなければならない。

そこで、この光ディスクのデータフィールドに欠陥があ
るか否かの検査を行うために、記録再生装置と同様のト
ラッキング装置を備えた検査装置が用いられ、この検査
装置により各セクタを走査させることによって、ディス
ク特性の検査を行うようにしている。

ところで、前述した光ディスクの欠陥発生原因としては
、例えば製造工程時において、該ディスクの表面に塵埃
等の異物が付着することにより生じる場合が多く、欠陥
検査はかかる欠陥のを無を目的として行われる。そして
、前述のような欠陥は、通常半径方向に相当の幅を有す
るので、検査時間の短縮を図るために、トラックを非連
続的にサンプリングする方式が、特にトラックを多数の
セクタに分割して、該各セクタにセクタマーク部、アド
レス部及びデータ部からなる情報を記録した光ディスク
の検査において、広く用いられている。

このサンプリングによる検査としては、従来、セクタマ
ーク検出部とトラックジャンプ信号発生部とからなるト
ラック制御部を備え、第４図に示したように、まず所定
のトラック口こおいて、光ディスクｄの一回転分のセク
タをサンプリングし、セクタマーク検出部が所定のセク
タマークを検出したときに、トラックジャンプ信号発生
部でジャンプ信号を発生させてトラッキング位置をジャ
ンプさせ、このジャンプ先のトラックｔを確認すると共
に、所定のセクタ位置から再びサンプリングを開始し、
セクタマーク検出部がジャンプすべきセクタのセクタマ
ークをネ★出するまでサンプリングを継続するようにし
ている。そして、このサンプリング及びジャンプを順次
繰返すことによって、光ディスクｄのサンプリングする
ことによって、その検査を行うようにしている。

〔発明が解決しようとする問題点〕

ところで、前述した従来の検査方法において、その検査
時間を短縮するためにジャンプ間隔を長くとると、トラ
ッキング装置によるジャンプ先への移動時間が長くなり
、このジャンプ時間中に光ディスクが相当角度回転する
ことになり、しかもジャンプ先での位置決めに誤差が生
じるおそれがある。従って、ジャンプ先では直ちにサン
プリングを開始することができず、ジャンプ先において
トラッキング装置から照射される光ビームがターゲット
となるデータトラック上に位置しているか否かをまず確
認し、しかもサンプリング開始セクタに到達するまで成
る数のセクタを通過させる必要があり、従って、従来技
術の方法では、各ジャンプ後において、サンプリングを
開始するまでに相当の時間を要し、この待期時間分だけ
検査時間が長くなる欠点があった。

本発明は斜上の点に鑑みてなされたもので、その目的と
するところは、ジャンプ時におけるサンプリング待期時
間をなくすことによって、光ディスクの欠陥検査におけ
る時間を短縮するようにすることにある。

〔問題点を解決するための手段〕

前述の目的を達成するために、本発明の方法は、光ディ
スクのトラックにおける所定のセクタ位置から予じめ設
定した複数のセクタ分だけをトラッキングすることによ
りサンプリングを行い、当該数のセクタのサンプリング
完了後、ディスクの半径方向において１ないしジャンピ
ングにより移動量の誤差が生じない範囲の少数のトラッ
ク分だけジャンプし、当該ジャンプ先において光ビーム
が照射される最初のセクタから開始して所定数のセクタ
分のサンプリングを行い、さらに前回のジャンプ量と同
じ量だけジャンプして前述と同様ジャンプ後に光ビーム
が照射される最初のセクタから所定数のセクタとなるま
でサンプリングを行い、この操作を光ディスクの１回転
につき複数のセクターについて順次繰返すことによって
光ディスクにおけるデータトラックの欠陥を検査するよ
うにしたことを特徴とするものである。

〔実施例〕

以下、図面を参考にして本発明の実施例について説明す
る。

まず第１図は本発明の方法を実施するための装置構成の
一例を示したもので、図中１は通常の記録再生装置と同
様の光ビームを照射するビ°ツクアップ等からなるトラ
ッキング装置を示し、該トラッキング装置１により光デ
ィスクのトラックに記録された情報が再生され、この信
号は欠陥拳蚕出部２に入力されると共に、トラック制御
部３にも入力されるようになっている。トラック制御部
３は、前述のトラッキング装置１からの入力信号のうち
セクタマークを認識して、セクタマーク毎にパルス信号
を発生させるセクタマーク認識部４と、このパルス信号
を計数し、予じめ設定したセクタ数を計数したときに制
御信号を出力するカウンタ部５と、該カウンタ部５の制
御信号に基づいて、トラッキング装置１をトラックジャ
ンプさせるためのジャンプ信号を発生するトラックジャ
ンプ信号発生部６とで構成されている。

一方、欠陥検出部２にもトラッキング装置１におけるサ
ンプリング信号が入力されるようになっている。この入
力信号は、プリフォーマットマスキング部７において出
力されるマスキング信号によってセクタマーク信号とア
ドレス信号とをマスキングし、このマスキング処理後の
信号が比較器８に入力されて、該比較器８において予じ
め設定したスライスレベルと比較され、このスライスレ
ベルを越える電圧を検出すると、これを欠陥信号として
カウンタ９によって計数するように構成されている。

次に、第２図及び第３図に基づいて検査方法について説
明するＧ巳、第２図ではトラックＴが最内周側から外周
側に向けて光ディスクＤの回転中心と同心円状に多数形
成されているものが示されている。

而して、第２図に示した如くまずトラッキング装置１を
検査開始セクタ（イ）に位置させる。この検査開始セク
タへの位置決めは、例えば最内周のトラックのうちの８
セクタ分だけのアドレスを読み出すことによりトラック
位置を認識し、当該最内周における残りのセクタを通過
させて、次のトラックにジャンプさせ、次間のトラック
のゼロセクタを検査開始セクタと設定すればよい。

このようにして、検査開始セクタ（イ）にトラッキング
装Ｗ、１を位置決めした状態から光ビームを照射してデ
ータトラックのサンプリングを行うが、このサンプリン
グは第３図（ａ）に示した如く、セクタマーク信号と、
アドレス信号と、データ信号とから１セクタが構成され
、各セクタにおける続出信号は刻々欠陥検出部２に入力
されて、第３図（ｂ）に示したように、プリフォーマッ
トマスキング部７におけるマスキング信号によりセクタ
信号とアドレス信号とをマスキングする。そして、第３
図（ｃ）に示したようにマスク処理されたプリフォーマ
ットマスキング部７の出力信号は、比較器８においてス
ライスレベルＬと比較されて、このスライスレベルＬを
越える電圧を検出したときには、第３図（ｄ）に示した
パルス信号をカウンタ９に入力し、該カウンタ９ではこ
れを欠陥信号と、して計数する。

これと同時に、各セクタの信号はトラック制御部３にお
けるセクタマーク認識部４にも人力されて、該セクタマ
ーク認識部４でセクタマークを検出する毎に、第３図（
ｅ）および第３図（ｅ′）に示したようにパルス信号を
発生し、このパルス信号はカウンタ部５に入力される。

該カウンタ部５には所定のカウント数、即ちサンプリン
グすべきセクタ数が設定されており、該カウンタ部５に
おいて、前記設定数のカウントが行われ、トラッキング
装置１が第２図中の（ロ）の位置までトラッキングした
ことを認識すると、第３図（ｆ）に示したように該カウ
ンタ部５からトラックジャンプ信号発生部６に制御信号
が入力され、この信号に基づいて、該トラックジャンプ
信号発生部６からトラッキング装置１にジャンプ信号が
入力されて、トラッキング装置１は第２図の（ハ）の位
置にトラックジャンプさせる。このトラックジャンプに
おけるジャンプ間隔は、ジャンピングにより移動量に誤
差が生じない範囲、即ち確実にジャンプ先に位置決めで
きる範囲の少数のトラック分とする。従って、２〜３個
のトラック分のジャンプを行ってもよいが、１トラック
分だけジャンプするように設定しておくのが好ましい。

前述の如く、ジャンプによる移動量と極めて少ないため
、ジャンプ先での位置決めを厳極に行うことができ、改
めて当該トラックがサンプリングすべきトラックである
か否かの確認を行う必要がなく、またジャンピング中の
光ディスクＤの回転角度も極めて小さいため、ジャンプ
先においてトラッキング装置１による光ビームが最初に
照射されるセクタからサンプリングを開始することがで
き、サンプリング待期時間をなくすことができる。

而して、第２図（ハ）から（ニ）の間におけるサンプリ
ング、（ニ）から（ホ）へのジャンプ、（ホ）から（へ
）までのサンプリングというように、サンプリングとジ
ャンプとからなる操作を光ディスクの１回転中に複数回
繰返しながら、最外周までサンプリングを行うことによ
り光ディスクＤの欠陥検査を行なう。

而して、カウンタ部５における設定カウント数及びトラ
ックジャンプにおいてジャンプするトラック数を適宜設
定しておけば、円周方向全体に亘って前述の欠陥検査に
必要な間隔でサンプリングを行うことができ、欠陥検査
精度を低下させることなく迅速に検査を行うことができ
る。

なお、前述の実施例では、光ディスクの回転中心と同心
円状に配列するようにしたものを示したが、螺線状のト
ラックを有する光ディスクにも本発明の方法を適用する
ことができる。また、最外周のトラックから内周側に向
けて欠陥検査を行うようにすることができるのはいうま
でもない。

〔発明の効果〕

以上詳述したように、本発明に係る光ディスクの欠陥検
査方法は光ディスクの１回転中にサンプリングとジャン
プとを複数回繰返すようにし、かつジャンプ量をジャン
プ先で直ちにサンプリングするのに差支えない程度の微
小なものとしたから、ジャンプ先での待期時間をなくす
ことができ、検査時間を著しく短縮することができ、し
かも１回当りのサンプリングセクタ数及びジャンプ量を
適宜設定することによって欠陥検査に必要な半径方向の
間隔においてサンプリングできるので、欠陥検出精度を
良好に保つことができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の方法を実施するための装置構成図、第
２図は動作説明図、第３図（ａ）はトラッキング装置に
おける信号説明図、第３図（ｂ）はプリフォーマットマ
スキング部のマスキンゲイ言号説明図、第３図（ｃ）は
比較器の信号説明図、第３図（ｄ）はカウ゛ンタの出力
信号説明図、第３図（ｅ）、　　（ｅｉはセクタマーク
認識部における信号説明図、第３図（「）はカウンタ部
の信号説明図、第４図は従来技術の動作説明図である。 ■・・・トラッキング装置、２・・・欠陥検出部、３・
・・トラック制御部、４・・・セクタマーク認識部、５
・・・トラックジャンプ信号発生部、Ｄ・・・光ディス
ク、Ｔ・・・データトラック。 第１図 １　トラ、代ング装置 ２；アＰ６梗出静 ３゛　卜う、り釈）非１ｖＰ ４・　名りダＺ−り１述９牧茗Ｐ ５　カウング音Ｙ ６、　Ｆラーックシ゛ギンブイｚ号之に−首Ｐ第２図 第４図 第３図 （ｆ） 手続補正書動式） ％式％ 事件の表示 特願昭６０−１４０６２４号 発明の名称 光ディスクの欠陥検査方法 補正をする者 事件との関係　出願人

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 多数のセクタに分割したデータトラックを有する光ディ
   スクに対して光ビームを走査させることによつて、光デ
   ィスクのデータフィールドの欠陥を検査する方法におい
   て、前記データフィールドの所定のセクタ位置から予じ
   め設定した複数のセクタ分だけトラッキングすることに
   よりサンプリングを行い、当該数のセクタのサンプリン
   グの完了後に半径方向において１ないしジャンピングに
   よつて移動量の誤差が生じない範囲で少数のトラック分
   ジャンプし、当該ジャンプ先において最初に光ビームが
   照射されるセクタから所定数のセクタのサンプリングを
   行い、さらに前記ジャンプ量と同じ量だけジャンプして
   サンプリングを行ない、この操作を光ディスクの１回転
   につき複数度づつ順次繰返すことにより、光ディスクに
   おけるデータフィールドの欠陥を検査する光ディスクの
   欠陥検査方法。