JPS63111175A - 真空装置 - Google Patents
真空装置Info
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- JPS63111175A JPS63111175A JP25622986A JP25622986A JPS63111175A JP S63111175 A JPS63111175 A JP S63111175A JP 25622986 A JP25622986 A JP 25622986A JP 25622986 A JP25622986 A JP 25622986A JP S63111175 A JPS63111175 A JP S63111175A
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Landscapes
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は材料を連続的に大気中から真空中に導入し、又
真空中から大気中へ導出することが可能な真空装置に関
するものである。
真空中から大気中へ導出することが可能な真空装置に関
するものである。
近年エレクトロニクス産業等の発展に伴ない、金属、プ
ラスチック等の基板材料表面に蒸着、スパッタ、イオン
ブレーティング等のPVD法により薄膜を作製する技術
が注目されている。
ラスチック等の基板材料表面に蒸着、スパッタ、イオン
ブレーティング等のPVD法により薄膜を作製する技術
が注目されている。
前記薄膜作製は一般に真空室内で行なわれるが、量産化
のためには材料を連続的に処理することが必要である。
のためには材料を連続的に処理することが必要である。
従来こ)の様に真空室内で材料を連続的に処理するため
には、始めから該真空室内に材料及び材料の繰出し、巻
取り装置をセットしておき、該真空室内で材料を繰出し
ながら連続的に薄膜を作製する方法が一般に用いられて
いる。
には、始めから該真空室内に材料及び材料の繰出し、巻
取り装置をセットしておき、該真空室内で材料を繰出し
ながら連続的に薄膜を作製する方法が一般に用いられて
いる。
然しなから前記方法においては、非常に大きい真空室が
必要であると共に、所定の真空度を得るためには大きな
排気設備が必要であって、しかも排気時間が長くなシ、
従って製造コストが高くなる欠点が有る。又材料の繰出
し、巻取り等を真空室内で行なうため、駆動部の潤滑に
油系統の潤滑剤を使用出来ない等の問題もある。
必要であると共に、所定の真空度を得るためには大きな
排気設備が必要であって、しかも排気時間が長くなシ、
従って製造コストが高くなる欠点が有る。又材料の繰出
し、巻取り等を真空室内で行なうため、駆動部の潤滑に
油系統の潤滑剤を使用出来ない等の問題もある。
一方真空室の外部で材料の繰出し、巻取りを行なう方法
としては、通常下記の方法が行なわれている。即ち、大
気中よりスリットを通して材料を真空室中に導入して粗
引排気し、次に又スリットを通して個別に排気されてい
る次の真空室中に導入し、斯様にして順次高真空側の真
空室中に導入して所定の真空度で真空処理を施しだ後、
導入側と同じ様に個別に排気されている真空室のスリッ
トを通して、高真空側から低真空側へと段階的に移動さ
せ、最後に低真空側の真空室のスリットを通して大気中
に導出する方法がとられている。
としては、通常下記の方法が行なわれている。即ち、大
気中よりスリットを通して材料を真空室中に導入して粗
引排気し、次に又スリットを通して個別に排気されてい
る次の真空室中に導入し、斯様にして順次高真空側の真
空室中に導入して所定の真空度で真空処理を施しだ後、
導入側と同じ様に個別に排気されている真空室のスリッ
トを通して、高真空側から低真空側へと段階的に移動さ
せ、最後に低真空側の真空室のスリットを通して大気中
に導出する方法がとられている。
前記方法においては、所定の真空度を得るために個別に
排気されている一連の真空室が必要であって、装置全体
としてはかなり大掛かりになり、高価な装置になってし
まう。又材料も長手方向に変化がある形状、例えば孔あ
き条、段付き条の様なものは、真空度を落さずにスリッ
トを通すことが極めて困難である。
排気されている一連の真空室が必要であって、装置全体
としてはかなり大掛かりになり、高価な装置になってし
まう。又材料も長手方向に変化がある形状、例えば孔あ
き条、段付き条の様なものは、真空度を落さずにスリッ
トを通すことが極めて困難である。
本発明は上記の点に鑑みなされたものであり、その目的
とするところは、材料の大気中から真空中への導入及び
真空中から大気中への導出が連続的にかつ簡便に行なえ
る比較的安価な真空装置を提供することである。
とするところは、材料の大気中から真空中への導入及び
真空中から大気中への導出が連続的にかつ簡便に行なえ
る比較的安価な真空装置を提供することである。
即ち本発明による真空装置は、真空室内で材料を加工す
る真空装置において、真空室の材料導入部及び導出部に
真空室内圧力と大気圧とのヘッド差以上の高さを有する
液状物質が充填されているU字管部が設けられているこ
とを特徴とするものである。
る真空装置において、真空室の材料導入部及び導出部に
真空室内圧力と大気圧とのヘッド差以上の高さを有する
液状物質が充填されているU字管部が設けられているこ
とを特徴とするものである。
本発明による真空装置は、U字管部に封入された液状物
質中を通して、材料の真空室への導入及び該真空室から
の導出を行なうので、前記材料の導入及び導出を連続的
にかつ簡便に行なうことが出来る。
質中を通して、材料の真空室への導入及び該真空室から
の導出を行なうので、前記材料の導入及び導出を連続的
にかつ簡便に行なうことが出来る。
本発明におけるU字管部は、真空室側が真空に引かれる
ことによって、真空側及び大気側における液状物質の間
に真空、大気間のヘッド差を生じるので、該ヘッド差以
上の高さが必要である。
ことによって、真空側及び大気側における液状物質の間
に真空、大気間のヘッド差を生じるので、該ヘッド差以
上の高さが必要である。
U字管部に封入される液状物質については特に限定はな
いが、該液状物質の比重が小さいと真空、大気間のヘッ
ド差が大きくなり、又該液状物質の蒸気圧が高いと真空
室内の真空度が低下するので、例えば水銀、ガリウム等
なるべく比重が小さくてかつ蒸気圧が低く、しかも低融
点である物質が好ましい。
いが、該液状物質の比重が小さいと真空、大気間のヘッ
ド差が大きくなり、又該液状物質の蒸気圧が高いと真空
室内の真空度が低下するので、例えば水銀、ガリウム等
なるべく比重が小さくてかつ蒸気圧が低く、しかも低融
点である物質が好ましい。
同前記液状物質としてガリウム等融点が室温よりも高い
物質を使用する際は、U字管部を加熱する装置を設置し
て上記物質を溶融させる必要がある。
物質を使用する際は、U字管部を加熱する装置を設置し
て上記物質を溶融させる必要がある。
又真空室内を高真空に維持するため、U字管部の真空室
側に液体窒素等で冷却されたコールド・トラップを設け
、U字管部に封入される液状物質の蒸気を固化凝縮させ
ることが望ましい。
側に液体窒素等で冷却されたコールド・トラップを設け
、U字管部に封入される液状物質の蒸気を固化凝縮させ
ることが望ましい。
伺前記コールド・トラップで液状物質の蒸気の一部が材
料上に固化凝縮するのを防止するだめ、材料を覆う管状
の凝縮防止板を設けることが望ましい。而して該凝縮防
止板はU字管部に挿入されている液状物質の直上からコ
ールド・トラップの部分連設けることが好ましい。
料上に固化凝縮するのを防止するだめ、材料を覆う管状
の凝縮防止板を設けることが望ましい。而して該凝縮防
止板はU字管部に挿入されている液状物質の直上からコ
ールド・トラップの部分連設けることが好ましい。
更に材料の真空室への導入部に設けられたU字管部の出
口側に材料の研磨設備を設け、材料の凹部等に付着した
液状物質を除去すると共に、酸化皮膜の除去等表面の清
浄化をはかることが好ましい。前記研磨設備の種類は特
に限定されるものではないが、例えばスチール・ウール
等で機械研磨した後、電子シャワー等の物理的方法で表
面を清浄化する方法等が考えられる。
口側に材料の研磨設備を設け、材料の凹部等に付着した
液状物質を除去すると共に、酸化皮膜の除去等表面の清
浄化をはかることが好ましい。前記研磨設備の種類は特
に限定されるものではないが、例えばスチール・ウール
等で機械研磨した後、電子シャワー等の物理的方法で表
面を清浄化する方法等が考えられる。
同本発明においては、大気と真空との遮断を液状物質に
より行なっているので、材料の形状には何等制約を要し
なく、長手方向に変化がある形状(例えば孔あき条、段
付き条等)であっても差支えない。
より行なっているので、材料の形状には何等制約を要し
なく、長手方向に変化がある形状(例えば孔あき条、段
付き条等)であっても差支えない。
又本発明による真空装置内での処理は前述のPVD法に
よる薄膜作製に限定されるものではなく、その他の真空
処理例えば熱処理等にも利用することが可能である。
よる薄膜作製に限定されるものではなく、その他の真空
処理例えば熱処理等にも利用することが可能である。
以下に本発明を図によって更に具体的に説明する。まず
本発明による真空装置の構成の一例を第1図に示す。
本発明による真空装置の構成の一例を第1図に示す。
1は材料、2はU字管部、3は液状物質、4は真空室、
5は研磨設備、6は蒸発源、IはU字管部、8はコール
ド・トラップ、9は凝縮防止板、10は加熱装置、11
は真空ポンプである。
5は研磨設備、6は蒸発源、IはU字管部、8はコール
ド・トラップ、9は凝縮防止板、10は加熱装置、11
は真空ポンプである。
材料1はU字管部2に封入されている液状物質う中を通
して真空室4に導入され、研磨設備5より発生させた電
子シャワーによって表面の清浄化が行なわれる。しかる
後電子銃、ルツボ、蒸着金属からなる蒸発源6よシ発生
させた金属蒸気が前記材料1の片面(下面)に蒸着され
る。以上の様にして真空中で処理された材料1ばU字管
部7に封入されている液状物質う中を通して大気中へ導
出される。尚U字管部2.7の真空室側にはコールド・
トラップ8が水平方向に設けられており、更に′液状物
質5の直上からコールド・トラップ8の部分迄凝縮防止
板9が設けられている。前記コールド・トラップ8及び
凝縮防止板っけ第2図に示す様にU字管部2(或いは7
)の鉛直部に設けられていても差し支えないが、この場
合はU字管部2に充填されている液状物質うが固化しな
い様に、コールド・トラップ8は液状物質5の真空側表
面からある距離(1,)だけ離す必要があり、U字管部
の高さHとしては、液状物質うのヘッド差をり、コール
ド・トラップ8の長さを11とする時、h + 1+
+It以上の高さが必要である。又凝縮防止板9の上端
部は、コールド・トラップで固化凝縮しきれなかった液
状物質の蒸気が入りこまない様に、らっは状にすること
が望ましい。
して真空室4に導入され、研磨設備5より発生させた電
子シャワーによって表面の清浄化が行なわれる。しかる
後電子銃、ルツボ、蒸着金属からなる蒸発源6よシ発生
させた金属蒸気が前記材料1の片面(下面)に蒸着され
る。以上の様にして真空中で処理された材料1ばU字管
部7に封入されている液状物質う中を通して大気中へ導
出される。尚U字管部2.7の真空室側にはコールド・
トラップ8が水平方向に設けられており、更に′液状物
質5の直上からコールド・トラップ8の部分迄凝縮防止
板9が設けられている。前記コールド・トラップ8及び
凝縮防止板っけ第2図に示す様にU字管部2(或いは7
)の鉛直部に設けられていても差し支えないが、この場
合はU字管部2に充填されている液状物質うが固化しな
い様に、コールド・トラップ8は液状物質5の真空側表
面からある距離(1,)だけ離す必要があり、U字管部
の高さHとしては、液状物質うのヘッド差をり、コール
ド・トラップ8の長さを11とする時、h + 1+
+It以上の高さが必要である。又凝縮防止板9の上端
部は、コールド・トラップで固化凝縮しきれなかった液
状物質の蒸気が入りこまない様に、らっは状にすること
が望ましい。
又U字管部2.7には加熱装置10が設けられている。
次に本発明の具体釣力実施例について説明する。
第1図において材料の導入部及び導出部に高さ1mのU
字管部2、γを設け、液状物質5として水銀を封入した
。又U字管部2.7の真空室側には40mの長さに渡っ
て液体窒素冷却のコールド・トラップ8を設けると共に
、液状物質5の直上からコールド・トラップ8の部分迄
材料1を覆う銅から成る管状の凝縮防止板9を設けた。
字管部2、γを設け、液状物質5として水銀を封入した
。又U字管部2.7の真空室側には40mの長さに渡っ
て液体窒素冷却のコールド・トラップ8を設けると共に
、液状物質5の直上からコールド・トラップ8の部分迄
材料1を覆う銅から成る管状の凝縮防止板9を設けた。
コールド・トラップ8を充分に効く状態にした後真空排
気を始めたが、水銀はU字管部におけるヘッド差即ち大
気側表面と真空側表面との高さの差が760瓢になった
時点で安定した状態になった。同水銀の20℃での蒸気
圧はO,OO12torrであるが、水銀蒸気は前記コ
ールド・トラップ8で固化凝縮するため、真空室内は必
要とする真空度10−’ torrを得ることが出来た
。斯様な状態にして、材料1として厚さ0.5 mm、
巾100.の銅シートをU字管部2に封入された水銀中
を通して連続的に真空室4内に導入し、電子シャワーに
よって表面を清浄化した後、蒸発源6にて間を電子ビー
ムで溶解蒸発させ、該Nbを前記銅シートの片面(下面
)に蒸着させた。しかる後該銅シートをU字管部7に封
入された水銀中を通して大気中へ導出し、巻取り装置で
連続的に巻取った。
気を始めたが、水銀はU字管部におけるヘッド差即ち大
気側表面と真空側表面との高さの差が760瓢になった
時点で安定した状態になった。同水銀の20℃での蒸気
圧はO,OO12torrであるが、水銀蒸気は前記コ
ールド・トラップ8で固化凝縮するため、真空室内は必
要とする真空度10−’ torrを得ることが出来た
。斯様な状態にして、材料1として厚さ0.5 mm、
巾100.の銅シートをU字管部2に封入された水銀中
を通して連続的に真空室4内に導入し、電子シャワーに
よって表面を清浄化した後、蒸発源6にて間を電子ビー
ムで溶解蒸発させ、該Nbを前記銅シートの片面(下面
)に蒸着させた。しかる後該銅シートをU字管部7に封
入された水銀中を通して大気中へ導出し、巻取り装置で
連続的に巻取った。
本発明の真空装置は、材料の真空室への導入及び該真空
室からの導出を連続的にかつ簡便に行なうことが出来、
しかも比較的安価であり、かつ材料の形状に何等制約を
要しない等工業上顕著な効果を奏するものである。
室からの導出を連続的にかつ簡便に行なうことが出来、
しかも比較的安価であり、かつ材料の形状に何等制約を
要しない等工業上顕著な効果を奏するものである。
第1図は本発明による真空装置の構成の一例を示す説明
図、第2図は本発明による真空装置におけるU字管部の
構成の一例を示す拡大説明図である。
図、第2図は本発明による真空装置におけるU字管部の
構成の一例を示す拡大説明図である。
Claims (6)
- (1)真空室内で材料を加工する真空装置において、真
空室の材料導入部及び導出部に真空室内圧力と大気圧と
のヘッド差以上の高さを有する液状物質が充填されてい
るU字管部が設けられていることを特徴とする真空装置
。 - (2)U字管部の真空室側にコールド・トラップが設置
されていることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載
の真空装置。 - (3)導入部に設けられたU字管部の出口側に材料の研
磨設備が設置されていることを特徴とする特許請求の範
囲第1項記載の真空装置。 - (4)U字管部に充填されている液状物質が水銀又はガ
リウムであることを特徴とする特許請求の範囲第1項記
載の真空装置。 - (5)U字管部を加熱する装置が設置されていることを
特徴とする特許請求の範囲第1項記載の真空装置。 - (6)導入部U字管部の真空室側及び導出部U字管部の
真空室側に凝縮防止板が設置されていることを特徴とす
る特許請求の範囲第1項記載の真空装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25622986A JPS63111175A (ja) | 1986-10-28 | 1986-10-28 | 真空装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25622986A JPS63111175A (ja) | 1986-10-28 | 1986-10-28 | 真空装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63111175A true JPS63111175A (ja) | 1988-05-16 |
Family
ID=17289725
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP25622986A Pending JPS63111175A (ja) | 1986-10-28 | 1986-10-28 | 真空装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63111175A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2019151882A (ja) * | 2018-03-02 | 2019-09-12 | 株式会社豊田中央研究所 | 気密処理装置 |
-
1986
- 1986-10-28 JP JP25622986A patent/JPS63111175A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2019151882A (ja) * | 2018-03-02 | 2019-09-12 | 株式会社豊田中央研究所 | 気密処理装置 |
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