JPS6310521A - 真空処理室 - Google Patents

真空処理室

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JPS6310521A
JPS6310521A JP61154031A JP15403186A JPS6310521A JP S6310521 A JPS6310521 A JP S6310521A JP 61154031 A JP61154031 A JP 61154031A JP 15403186 A JP15403186 A JP 15403186A JP S6310521 A JPS6310521 A JP S6310521A
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JP
Japan
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chamber
arm
wafer
vacuum
processing chamber
Prior art date
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Application number
JP61154031A
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JPH0722157B2 (ja
Inventor
Tsunehiko Tsubone
恒彦 坪根
Yoshinao Kawasaki
義直 川崎
Katsuyoshi Kudo
勝義 工藤
Minoru Soraoka
稔 空岡
Hironori Kawahara
川原 博宣
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は真空処理室に係り、特番こ半導体製造装置等の
ドライエツチング装514こ好適な真空処理室に関する
ものである。
〔従来の技術〕
従来の装置は、特開昭59−94435号に記載のよう
に、真空室と、真空室内の処理室と、アーム等の搬送機
構の待避した空間を避けて真空室の増を上下から挾む方
式の仕切弁によって形成される予備室の構成になってい
た。しかしウェハの大口径化による仕切弁の構成要素の
小型化および、搬送系の制御性の点について配慮されて
いなかった。
〔発明が解決しようとする問題点〕
上記従来技術は、ウェハの大口径化による仕切弁のJf
t成要素の小型化および、q1送系の制御性の点につい
て配慮がされておらず、ウェハの大口径に伴ない予備室
と真空室とを継な(゛開口が太き(なり、予備室を大気
圧にシー4した時に開口を仕切る仕切弁が大きな圧力を
受け、それに伴って仕切弁を支持する駆動系を大型化さ
せなければならないという問題があった。また、ウェハ
の搬送機構のアームの停止位置が多(、搬送系の制御が
複推化するという問題があった。
本発明の目的は、予備室とぼ空室との仕切機構を簡単で
小型化するとともに、試料の搬送系の制@1.−B単に
して、真空処理室の保守性、制御性を向上させることの
できる真空処理室を提供することにある。
〔問題点を解決するための手段〕
上記目的は、所定圧力に減圧排気される真空室と、該真
空室内で上下移動可能に設けられ前記真空室内の空間を
仕切る仕切弁と、該仕切弁により形成される処理室と、
前記真空室に設けられ前記処理室内にアーム先端を移動
可能で試料を搬送する第1の搬送装置と、該mlの搬送
装置のアーム待避位l上部にj)#10を有して設けら
れ真空またはリーグ可能な予備室と、該予備室)こ上下
動可能に設けられ前記開口を前記予備室側から仕切る仕
切弁と、前記第1の搬送装置のアーム待避位置下部に設
けられ前記試料を前記予備室と前δC真空室との間で受
は渡しする第1の押上装置と、前記予備室に設けられ@
記真空室に継ながる開口部にアーム先端を移動可能で前
記試料を搬送する@2の撤退装置と、該第2の搬送装置
のアーム待避位置上部の前記予備室に設けた開口を大気
側から仕切るフタと、前記952の搬送装置のアーム待
避位置下部に設けられ前記試料1大気側と前記予備室と
の間で受は渡しする第2の押上装ことで構成することに
より達成される。
〔作  用〕
大気と予備室との仕切弁は大気側Eこ設けてあり、また
予備室と真空室との仕切弁は予備室側に設けてあり、予
備室を減圧した場合および予備室を大気開放した場合に
、大気側の仕切弁および予備室側の仕切弁は逆圧を受け
ることがなく、仕切弁の駆動系が小さくなる。また、真
空室のアームの待避位置上を予備室と真空室との試料の
受は渡し位置すなわち仕切弁の位置とし、また予備室の
アームの待避位置上を大気と予備室との試料の受は渡し
位置すなわち仕切弁の位置とすることによって、各アー
ムの停止位置は、2位置となるので、制御および機構が
簡単になる。
〔実 施 例〕
以下、本発明の一実施例を図により説明する。
図は、例えば平行平板式の枚葉式ドライエツチング装置
を示す。
真空室l内をこは、リング状の仕切弁2が設けられ、仕
切弁2の上下駆動装riL4により仕切弁2が上昇して
処理室3が形成され、処理室3は真空室lと仕切られる
処理室3には、図示しないガス供給装置よりガスが導入
される上部*極5と、ウェハ6が載置される電極7が設
けである。電極7には、ウェハ6の受は渡しのためのウ
ェハ受番18およびその上下駆動装M9が設けられてい
る。また、処理室3は、電極7の下方より、排気装!1
0により真空排気される。
真空室1+こは、ロード側のアーム13を取り付けたア
ーム旋回駆動装置11と、アンロード側のアーム14を
取り付けたアーム旋回駆動装置112が設けられると共
に、各アームの待避位置の下方にウェハ受け17および
18を取り付けた上下駆動装置1i15および16が設
けられている。
ロード側およびアンロード側のアーム13および14の
待避位置の上方には、真空室!に開けられた開口の外側
に設けた仕切弁19および美により、真空室lと仕切ら
れるロード側の予備室21と、アンロード側の予備室n
が設けられている。仕切弁19および美は、上下駆動装
置コおよび冴に取り付けられ、ロード側の予備室21お
よびアンロード側の予備室乙に増付けられる。
ロード側およびアンロード側の予備室21およびnには
、ロード側のアーム27を取り付けたアーム旋回駆動装
置5とアンロード側のアーム28f:取り付けたアーム
旋回駆動装g!L26が設けられる。アームnおよび囚
の待避位置の下方には、ウェハ受31および!を取り付
けた上下駆動装rj129および父が設けられる。一方
その上方には、大気と予備室21およびnとを仕切るフ
タ莫およびあが、予備室4およびnに開けられた開口の
外側に設けられている。また、各予備室21および乙に
は大気開放のためのリーク装置35およびIと、真空排
気のための排気装5!πおよび羽が設けられている。
上記構成により、予備室■は仕切弁194こより真空室
1と仕切られ、リーク装置あにより大気にもどされて、
フタあの上昇によって大気開放される。
次に、図示しない搬送装置によりロード側のカセット等
からウェハ6が予備室21の開口上に搬送され、このウ
ェハ6をウェハ受け31が上昇して受は取り、次にウェ
ハ受31が下降して、予備室乙内のアーム待避位置に移
動したアームnの上に載置する。次にフタ(を閉じ、排
気装置ごてロード側の予備室ガな真空排気した後に仕切
弁19を開放し、その開放した位置にアームTを旋回さ
せて、アーム13の待避位置の上方にもっていき、ウェ
ハ受け17を上昇させ、ウェハ6をアームnから浮かし
、アーム刀な待避位置にもどし、その後、ウェハ受け1
7も下降させて、アーム13上にウェハ6を載置する。
次に、仕切弁2を下降させ、真菟室lと処理室3を連通
させ、アーム13を旋回させて、電極70f&載面上に
ウェハ6を搬送する。次蕃こウェハ受け8を上昇させ、
ウェハ6をアーム13から浮かし、アーム13’l待避
位置に6どした後、ウェハ受け8〉下降°させて電極7
上薔こウェハ61戦置する。
その後、仕切弁2を上昇させ、処理室3を形成して、ウ
ェハ6の処理を行なう。ウェハ6の処理中に上記搬送動
作もこより、アーム13の待避位置まで次のウェハを搬
送し、アーム13に載置しておく。
処理終了後、仕切弁2を下降させ、アンロード側のアー
ム14を処理室3に旋回させ、ウェハ受け8によってア
ーム14上にウェハ6を搭載させる。
一方、ロード側のアーム13を処理室3に旋回させ、次
処理のウェハをTIL極7上にウメハ受け8によって載
置する。処理を終了し処理室3から搬出されたウェハ6
は前述の逆の動作により、アンロード側のカセットまで
搬送される。
以下同様の動作をくり返す。
以上本実施例によれば、仕切弁19および美を予備室4
および22(1i11+に設けているので、予備室Zお
よびnをリークして大気圧にした場合に、仕切弁19お
よびIは大気圧力を受けて、開口部に押し付けられるの
で、仕切弁19およびIの上下駆動装置nおよびスは仕
切弁19および囚を動かすだけの力で済み、上下駆動装
置幻および冴を小型、簡素化できるという効果がある。
また、フタおおよびあも圧力が高4なる側に設けである
ので上記と同様の効果がある。
また、アーム13および14は、処理室lの電極7上と
、アームの待避位置である仕切弁19およびIの下との
2箇所で旋回停止するだけで、旋回途中での停止がない
ので、アーム旋回駆動装置11および口の制御ならびに
機構が簡単になるという効果がある。また、アームnお
よび田を旋回させるアーム旋回駆動装置3および謳につ
いても同様の効果がある。
これらにより、真空処理室の構成が簡単になり、また、
ウェハの搬送制御も簡単になって、保守性、制御性が向
上するという効果がある。
〔発明の効果〕
本発明によれば、予備室と真空室との仕切機構を簡単で
小型化できるとともに、試料の搬送系の制御を簡単にで
きるので、真空処理室の保守性、制御性を向上できると
いう効果がるる。
【図面の簡単な説明】
図は本発明の一実施例である真空処理室を示す縦断面図
である。 l・・・・・・真空室、2・・・・・・仕切弁、3・・
・・・・処理室。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、所定圧力に減圧排気される真空室と、該真空室内で
    上下移動可能に設けられ前記真空室内の空間を仕切る仕
    切弁と、該仕切弁により形成される処理室と、前記真空
    室に設けられ前記処理室内にアーム先端を移動可能で試
    料を搬送する第1の搬送装置と、該第1の搬送装置のア
    ーム待避位置上部に開口を有して設けられ真空またはリ
    ーク可能な予備室と、該予備室に上下動可能に設けられ
    前記開口を前記予備室側から仕切る仕切弁と、前記第1
    の搬送装置のアーム待避位置下部に設けられ前記試料を
    前記真空室との間で受け渡しする第1の押上装置と、前
    記予備室に設けられ前記真空室に継ながる開口部にアー
    ム先端を移動可能で前記試料を搬送する第2の搬送装置
    と、該第2の搬送装置のアーム待避位置上部の前記予備
    室に設けた開口を大気側から仕切るフタと、前記第2の
    搬送装置のアーム待避位置下部に設けられ前記試料を大
    気側と前記予備室との間で受け渡しする第2の押上装置
    とから成ることを特徴とする真空処理室。
JP61154031A 1986-07-02 1986-07-02 真空処理室 Expired - Lifetime JPH0722157B2 (ja)

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JPS6310521A true JPS6310521A (ja) 1988-01-18
JPH0722157B2 JPH0722157B2 (ja) 1995-03-08

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