JPS6294951A - 円板物体の位置決め装置 - Google Patents

円板物体の位置決め装置

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JPS6294951A
JPS6294951A JP23450685A JP23450685A JPS6294951A JP S6294951 A JPS6294951 A JP S6294951A JP 23450685 A JP23450685 A JP 23450685A JP 23450685 A JP23450685 A JP 23450685A JP S6294951 A JPS6294951 A JP S6294951A
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JP
Japan
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wafer
notch
signal
output
counter
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JP23450685A
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English (en)
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Takahiro Akamatsu
赤松 孝弘
Takashi Matsumura
松村 尊
Hiroshi Nakazato
博 中里
Kenji Fukui
健司 福井
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Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
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Publication date
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Priority to US06/898,222 priority patent/US4853880A/en
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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70691Handling of masks or workpieces
    • G03F7/70733Handling masks and workpieces, e.g. exchange of workpiece or mask, transport of workpiece or mask
    • G03F7/7075Handling workpieces outside exposure position, e.g. SMIF box

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の属する分野] 本発明は、単導体ウェハ等の円板状物体の微小切欠きを
検出することによりこの円板状物体を所定の向きに位置
決めする装置に関する。本発明は、特に、マスクアライ
ナ等の露光装置やウエハブローバ等の測定装置、検査装
置等に対して半導体ウェハを載置する際に使用する位置
決め装置に適用して好適なものである。
[従来技術] 従来、この種の装置は、ウェハの周囲の一部に設けられ
た切欠きを用いて位置決めを行なうように構成されてい
る。普通、この切欠きは円板状のウェハの周囲を直線状
に切欠いたもので、オリエンテーションフラット(以下
、オリフラと呼ぶ)と呼ばれている。
オリフラを用いて位置決めする一例として、特開昭58
−18713号「円板物体の位置決め装置」に光型素子
を用いてウェハ端部変化を求め、その微分値によってオ
リフラの中心を求めて位置決めを行なう装置が示されて
いる。また、特開昭57−198642号「ウェハ位置
検出装置」には光電素子によってウェハ端部位置を各回
転位置で比較し、回転位置変化に対するウェハ端部位置
の極値を求めることによってウェハ位置を検出する装置
が示されている。
ところが、近年、オリフラに加えて微小切欠き(以下、
ノツチと呼ぶ)をもったウェハが出てぎた。このノツチ
は、オリフラとともにウェハに備えられることが多い。
第9図は、オリフラおよびノツチを有するウェハの平面
図を示す。同図において、21はウェハ、22はノツチ
、23はオリフラである。その場合、上記の二個の公知
例に係る装置では、ノツチとオリフラを区別することが
できずノツチ部での位置決めをすることは困難である。
また、第10図に示すように、両側にフォトセンサ25
を備えたビン24をウェハ21に押しつけなからウェハ
21を回転し、ノツチにビン24が入って両方のフォト
センサが同時に遮光されたとき、それを検出して位置決
めを行なう装置もある。しかし、この場合には、ビン2
4および26を常に接触させなからウェハ21を回転す
る必要があるため、ウェハ21に強い外力が加わること
となる。従って、ウェハを破損しやすく、また高速にウ
ェハを回転することができないため位置決めに時間がか
かるという欠点があった。
[発明の目的] 本発明は、上述従来形の問題点に鑑み、ノツチを備えた
ウェハ等の円板状物体においてノツチ部での位置決めを
行なうことができ、その際、ウェハに加わる外力を最小
に抑えてウェハを破損することがなく、さらに高速に位
置決めを行なうことが可能な円板物体の位置決め装置を
提供することを目的とする。さらに、ノツチとオリフラ
の両者を備えたウェハ等の円板状物体の位置決めにおい
ては、ノツチとオリフラの両者を正確に区別して、ノツ
チ部での位置決めを行なうことができる円板物体の位置
決め装置を提供することを目的とする。。
[実施例の説明] 以下、図面を用いて本発明の詳細な説明する。
第2図は、本発明の一実施例に係る位置決め装置の外観
を示す。同図において、1はウェハ、2はウェハ駆動ロ
ーラ、4はウェハ1をt置するテーブルである。テーブ
ル4はウェハ1を浮上させるためのエアベアリング機構
を持っており、さらに傾斜させることができる。5は全
体を保持する基台、6および7はウェハ1の最終位置決
め用押しつけローラである。この押しつけローラ6およ
び7は基台5に装備されており、押しつけ時は内側に、
その他のときは外側へ移動可能である。押しつりローラ
7の上部にはウェハ回転ローラ8が取付けである。この
ウェハ回転ローラ8は、テープ・ル4を傾斜させた場合
にウェハ駆動ローラ2とともにウェハ1を保持する。9
はノッチセンサユニッ1−であり、ノツチが位置すべぎ
所定箇所に配置されている。
第3図は、上記実施例の装置の要部の平面図および側面
図を示す。ここで、第3図aはテーブル4を傾斜させて
ノツチを検出している状態における平面図、第3図すお
よび第3図Cはともに第3図aの状態における側面図で
ある。特に、第3図すはノツチセンサユニット9の部分
を詳しく示し、第3図Cはウェハ駆動ローラ2の部分を
詳しく示す。また、第3図dおよび第3図eは、それぞ
机、ノツチの検出が終了しテーブル4を水平にして機械
的な位置決めを行なう状態における平面図および側面図
を示す。
第3図において、10は照明光源、11は押しつけビン
、12は集光レンズ、101は光電素子である。
これらの部分はすべてノツチセンサユニット9に取付け
てあり、ノツチの検出時および機械的な位置決めのため
の押しつけ時は内側へ、その他の場合は外側へと移動可
能である。
照明光源10はウェハ1の端部(外周部)を下部より照
明するためのものであり、充電素子101はこれと対向
する上部に設けられている。この照明光源10より出た
光は集光レンズ12により集光される。この場合、ウェ
ハ端部における遮光の変化を光電素子101において正
確に検出するため、光はウェハ面上にて長手方向がウェ
ハの半径方向となるような長方形に集光される。光電素
子101および集光された光の長手方向の寸法はウェハ
の外径バラツキおよびノツチ、オリフラによる遮光の変
化を充分に満足する寸法になっている。
第3図Cにおいて、114はパルスジェネレータ、11
5はウェハ1を回転するための駆動装置を構成するモー
タである。このモータ115の回転軸には歯車14が取
付けられており、ウェハ駆動ローラ2に取付けられた歯
車15と噛合している。すなわち、モータ115を駆動
することにより、ウェハ駆動ローラ2を回すことができ
る。同時に歯車15はパルスジェネレータ114に取付
けられた歯車16と噛合している。これらの歯車15お
よび16とパルスジェネレータ114は、例えばウェハ
駆動ローラ2が1回転すると、パルスジェネレータ11
4が600個のパルスを発生するというように適当に選
択されている。従って、パルスジェネレータ114のパ
ルスをカウントすることによりウェハ駆動ローラ2の回
転吊すなわちウェハの回転量を検出することができる。
第1図は、本実施例の装置の制御系の構成を示すブロッ
ク図である。同図により、ウェハを回転しノツチを光電
検出する際の制御系の各部の機能を説明する。
まず、光電素子101より出力される光電流をプリアン
プ102により増幅する。これにより、充電素子101
で検出した光示の変化は電圧の変化に変換して出力され
る。この信号は傾き検出回路104に入力され、信号の
時間的変化量の傾きを検出し、ノツチの大まかな位置検
出に用いられる。ノツチが僅かに光電素子101を通過
した時点でのウェハ外周の位置による光電素子101か
らの出力は、レベルシフタ122により、ある値レベル
シフトされコンパレータ103の一端へ入力される。コ
ンパレータ103のもう一端には、プリアンプ102の
出力信号が直接入力されており、両者の大小に応じた信
号出力がコンパレータ103より得られる。レベルシフ
タ122のレベルシフト量については後述する。
モータ115はウェハ駆動ローラ2を回転する動力とな
るものであり、スイッチ117によりモータ115の回
転の向きと速度すなわちウェハの回転速度を高速あるい
は低速逆回転の2段階に切換えることができる。モータ
115の回転はパルスジェネレータ114に伝えられ、
パルスジェネレータ114はウェハの回転に応じたパル
スを出力する。
カウンタ105はノツチを検出するために使用されるカ
ウンタである。アンドゲート121の作用により、コン
パレータ103の出力が゛H″レベルの時のみ、パルス
ジェネレータ114の出力パルスがカウンタ105に入
力され計数が行なわれる。コンパレータ106は、この
計数値と設定器107に予め設定されている上限値およ
び下限値とをそれぞれ比較し、計数値がその上限値と下
限値の範囲内ならば計数を行なった時点に検知していた
ウェハ端部にノツチが存在していたことを示す検出信号
を出力する。
アップダウンカウンタ108はノツチの中心位置を求め
るために使用されるカウンタである。このアップダウン
力・シフタ108へ入力されるパルスは、カウンタ10
5に入力されるパルスと同一のものであるが、スイッチ
110を切換えることにより、直接入力と1/2に分周
されたものとのいずれか一方を選択できる。まIζ、ス
イッチ110の切換信号は同時にアップダウンカウンタ
108のアップダウン切換も行なっている。すなわら、
カウントアツプ時は1/2分周器を通したものを計数し
、カウントダウン時は直接計数を行なう。これは、後述
するようにノツチの中心に位置決めするためである。ア
ップダウンカウンタ108からは、カラン]へダウン時
、その値が零となったとぎにキャリー信号が出力される
カウンタ111は、ウェハが1回転したことを検知する
ためのものである。カウンタ111は、パルスジェネレ
ータ114の出力パルスを計数する。設定器113には
、予めウェハが1回転した場合にパルスジェネレータ1
14が出力するパルス数よりも若干大きい値を設定して
おく。コンパレータ112は、このカウンタ111の値
と設定器113の設定値とを比較し、カウンタ111の
値の方が大きいとき1回転したことを示す検知信号を出
力する。
シーケンサ120は上記のカウンタ、モータ等の制御を
すべて行なう。
以上のような構成において、第1図〜第3図、第4図の
フローチv−1−および第5図のタイムチャートを参照
しながら、ウェハを位置決めするまでの全体の動作につ
いて説明する。なお、第5図a〜hは、それぞれ第1図
のブロック図のa〜hの位置における電圧変化を示すタ
イムチャートである。以下、これらの信号を、それぞれ
、信Sa1信号b、・・・・・・、信号りと呼ぶ。また
、第5図a〜hのタイムチャートはすべて、時間を横軸
としている。この横軸は、ウェハが一定速度で回転して
いる間においては、ウェハの回転方向の位置を示す軸ど
みなずこともできる。
まず、テーブル4を斜め位置にセットし、エアベアリン
グは構によりエアフローを行なう。ノツチセンサユニッ
ト9、押しつけローラ6および7は最も内側となる位置
にセットしておく。この状態でウェハ1が搬入されテー
ブル4上にV、置されると、エアベアリング効果により
ウェハ1は滑り、ウェハ回転ローラ8とウェハ駆動ロー
ラ2の両者に当って停止する(ステップSl)。
次に、傾き検出回路104、カウンタ105、アップダ
ウンカウンタ108およびカウンタ111の内容を零に
クリアし、スイッチ117を高圧V+側にしてウェハ1
の高速回転を行なう(ステップS2 )。
このときウェハ1とウェハ駆動ローラ2の間のスリップ
を防止するため、モータ115の回転は急加速や急減速
をしないようにする。すなわち、モータ115に対する
印加電圧は徐々に昇圧し一定の電圧にもっていく。モー
タ115の回転を止めるときも同様である。第5図りは
、このようななだらかな加減速駆動を行なうためにモー
タ115に与える電圧を示している。
このようにウェハ1を回転すると、その外周部のノツチ
およびオリフラにより、照明光源10から照光される光
の遮光量は変化する。その光量変化を光電素子101に
より電気信号の変化に変換する。
第5図aは、この電気信号をプリアンプ102により増
幅した後の信号aを示す。同図aにおいて、急′aなビ
ークはノツチ部分を示し、なだらかなピークはオリフラ
部分を示している。この信号aは傾き検出回路104に
入力し、信号の時間変化に対する変化堡(傾ぎ)が検出
される。この傾きの値をノツチによる光量変換の傾きの
値と比較することによりノツチ検出をすることができる
(ステップS3)。これらが一致したときノツチ検出信
号がシーケンサ120に出力される(第5図b)。
この傾き検出回路104の動作については後に詳しく説
明する。
ウェハの回転量に応じたパルスジェネレータ114か・
らの出力パルスは、カウンタ111に入力し計数する。
コンパレータ112は、このカウンタ111の計数tl
+”Iど設定器113に設定されている値とを比較する
。前述したように、設定器113の設定値としては、ウ
ェハが1回転したときにパルスジェネレータ114から
出力されるパルス数に若干のパルス数を加えた値を、予
め設定しておく。従って、ウェハが1回転以上すると、
コンパレータ112より検知信号が出力され、これによ
りシーケンサ120はウェハが1回転以上したことを検
知する(ステップ84)。
ウェハが1回転してもノツチが検出できなかった場合は
、異常であるからステップS2から再びノツチ検出を行
なう。それでもなお検出できない場合は、第4図フロー
チャートには示していないが、エラーとして処理する。
ノツチが光電素子101を通過し、ノツチ検出信号がシ
ーケンサ120に入力されると、シーケンサ120はノ
ツチが光電素子101を完全に通過するのを持って、モ
ータ115をオフ゛し、ウェハの回転を停止する。この
停止したところのウェハ外周位置を傾き検出回路104
により測定し、その値を保持させる。この保持された信
号Cはレベルシフタ122に入力され、予め決められて
いるノツチの高さの半分に相当する電圧レベルだけシフ
トされ(信号d)、スライスレベルとして以後のノッチ
中心検出に用いられる(ステップ85)。
スライスレベルが決まると、次にスイッチ117を低圧
VLに切換えて、モータ115すなわちウェハを低速逆
転させる。すなわち、モータ115には今までと逆向き
の電圧をかける(第5図h)。これによりウェハのノツ
チの後縁を検出できる。
次に、上述のスライスレベル(信号d)と光電素子10
1からの信号a(第5図dの点線部分)とをコンパレー
タ103により比較する。このとき、ノツチやオリフラ
により光電素子101の出力レベルが増大し、スライス
レベルを越えた間、コンパレータ103は゛H″レベル
を出力する。第5図eは、このときのコンパレータ10
3の出力を示す。
この出力信@eはアンドゲート121に入力し、パルス
ジェネレータ114からの出力バルスがカウンタ105
およびアップダウンカウンタ108に加えられるのを制
御する。すなわち、ノツチやオリフラが光電素子101
の下を通過している門のみ、コンパレータ103の出力
は11 HITレベルとなりアンドゲート121が開く
ため、カウンタ105およびアップダウンカウンタ10
8が計数される。第5図fは、カウンタ105への入力
信号を示す。
このとき、スイッチ110は1/2分周器109側にな
っており、アップダウンカウンタ108はカウントアツ
プ可能となっている。従って、パルスジェネレータ11
4から2パルス出力されると7ツプダウンカウンタ10
8の内容は1カウントアツプする。第5図9は、このと
きのアップダウンカウンタ108への入力を示す。信号
fのパルス部分が信号qでは半分のカウント数となって
いる。
また、コンパレータ106は、カウンタ105の内容と
予め設定器107に設定された上限値および下限値とを
それぞれ比較する。この上限値はノツチが光電素子10
1の下を通過したときにカウンタ105に入力されるパ
ルス数に所定値を加えた値であり、下限値は同様に上記
のパルス数から所定値を減じた値である。
ノツチまたはオリフラが光電素子101の下を通過した
後にアンドゲート121が閉じられるが、その際、カウ
ンタ105の内容が設定器107に予め設定された上記
の上限値および下限値の間に入っていればノツチと判断
される。もし、この2つの設定値の範囲外であれば、そ
れはオリフラかその他のものであると判断される。「ノ
ツチである」ことを示すコンパレータ106からの信号
はシーケンサ120に入力し、シーケンサ120はこれ
によりノツチを検出する(ステップS6)。ざらに、こ
の検出において、カウンタ105にはノツチのパルス巾
が、またアップダウンカウンタ108にはその1/2の
値が設定されることとなる。
ステップ$6でノツチが検出されると、シーケンサ12
0はモータ115をオフしウェハの回転を停止する。次
に、モータ115を低速正転する。すなわち、モータ1
15には再び正方向の電圧をかける(第5図h)。これ
により、光電素子101は先程ウェハの逆回転の際に下
を通過したノツチの前縁を検知する。このとき、スイッ
チ110はパルスジェネレータ114の出力パルスが直
接アップダウンカウンタ108に入力される側となって
おり、アップダウンカウンタ108はダウンカウント可
能となっている。ここで、アップダウンカウンタ108
には、ノツチが通過するとぎに発生したパルス数の1/
2の値がセットされている。従って、ノツチの前縁を検
知した時点より、アップダウンカウンタ108の値をパ
ルスジェネレータの出力で減算してゆき、アップダウン
カウンタ108の内容が零となりキャリー信号が出力さ
れた時点で、モータ115を停止する。これにより、ノ
ツチの中心位置が検出されたことになる(ステップ37
)。
以上の手順でウェハのノツチの位置決めは行なうが、さ
らに高精度にθ位置決めおよびセンタリングを行なうた
め、線機的に押しつけ動作を行なう(ステップ38)。
まず、上述のようなノツチの位置決めの後、ウェハ1を
テーブル4に吸着し固定する。次にノツチセンサユニッ
ト9、押しつけローラ6および7を外側へ動かす。これ
は、テーブル4を水平にするときの妨げにはならないよ
うにするためである。
そうしておいて、テーブル4を水平にする。次に、押し
つけピン11をまずノツチ部に挿入する。挿入完了後、
・クエへを再びエアによってテーブル4より浮上させる
。そして、押しつけローラ6および7をウェハに押しつ
けることにより、θ位置決めおよび中心位置決めを行な
う。第3図dおよびeは、以上のような押しつけ動作の
様子を示している。
次に、ウェハ1をテーブル4に吸着し固定した後、押し
つけビン11、押しつけロー56および7を外側へ動か
し開放する。
以上により、本装置での位置決め動作は完了し、ウェハ
は露光装量、検査装置等のウェハ設置台へ位置決めされ
た状態のまま搬出される。(ステップS9)。
次に、傾き検出回路104の動作を第6図のブロック回
路図および第5図A部の拡大図である第7図のタイムチ
ャートを参照して詳しく説明する。
なお、第7図(アン〜(ケ)はそれぞれ第6図の回路図
の(ア)・〜(ケ)の位置における電圧変化を示す一タ
イムチャートである。以下、これらの信号をそれぞれ信
号(ア)、信号(イ)、・・・・・・、信号(ケ)と呼
ぶ。
まず、プリアンプ102より出力された光電素子101
の信号は、D/Aコンバータ201、カウンタ202、
コンパレータ203、ゲート205および発振器206
により構成される△/Dコンバータに入力される。
発振器206より出力されたクロック信号は、ゲート2
05を通してカウンタ202のクロック信号計数入力端
子に接続されている。カウンタ202の出力はD/Aコ
ンバータ201のデジタル入力端子に接続されているの
で、カウンタ202がアップまたはダウンすると、D/
Aコンバータ201の出力信号(つ)が増減する。この
信号(つ)とプリアンプ102の出力信号(イ)とはコ
ンパレータ203により比較される。その結果、(イ)
〉(つ)のときはコンパレータ203からカウンタ20
2ヘアツブ信号が出力され、(イ)<(つ)のときはコ
ンパレータ203からカウンタ202ヘダウン信号が出
力される。従って、信号(イ)に追従するように信号(
つ)は変化している。このような構成のA/Dコンバー
タは追従比較A/Dコンバータとして知られている。
さて、まずゲート205が開くと、発振器206.から
のクロック信号がカウンタ202に入力する(信号(1
))。それによって、D/Aコンバータ201の出力信
号〈つ)が変化し、信号(イ)と一致したところで、コ
ンパレータ203の出力がN HI+がらL″へ、また
は“シ″から“H″へと切換ねる。この変化をエツジ検
出鼎204で検出し、ゲート205を閉じる。すると、
D/Aコンバータ201の出力は、グーh205が閉じ
られた時点での値をボールドする(信号くつ))。
グー1〜205を開く信号は、パルスジェネレータ11
4を分周器210で分周したパルスによりノツチ212
をクリアし作られる。すなわち、このクリア信号(ア)
は、ウェハ外周が光電素子101の下を通過する一定長
さごとに出力されることになる。
この信号(ア)は、カウンタ207およびラッチ211
も同時にクリアする。
信号(ア)によりゲート205が開き、信号(イ)と信
号(つ)が一致するまでパルス(1)が出力される。も
し、ゲート205が閉じて次に開くまでに信号(イ)が
大きく変化していると、信号(イ)と信号(つ)が一致
するまでに出力されるパルスの数も増加する。すなわち
、信号(ア)が出力される間のプリアンプ出力(イ)の
変化量に比例したパルス数が(1)に出力される。従っ
て、パルス(1)をカウントすることによって、信号(
イ)の傾きすなわちウェハ外周が一定距離進むときのウ
ェハ外周変化を知ることができる。オリフラよリノッチ
の方が外周変化が激しくこの信号の傾きが大きいので、
ノツチが光電素子101を通過すると、パルス(1)の
数は増える。例えば、オリフラの場合、パルス(1)は
5パルス出力され、ノツチの場合は10パルス出力され
るというような差が現れる。従って、この場合7バルス
を基準とし、7バルスより少ないときはオリフラであり
、7バルスより多いときはノツチであると判別すること
ができる。この機能は、カウンタ207により実現して
いる。すなわち、カウンタ207に信号(1)のパルス
が7個入力されたときにII H11となる出力より信
号を取出す(信号(オ))。すなわち、カウンタ207
より信号(オ)が出力されたときは、ノツチが通過して
いる場合であると判断される。
この信号(オ)は、カウンタ208およびラッチ211
に供給される。カウンタ 208およびラッチ211の
機能は、ノツチであるという信号(オ)がある回数連続
して(例えば3回)出力されたときに初めて、ノツチを
検出したという信号を出力するものである。これにより
ノツチ検出の信頼性を増している。すなわち、ノツチで
あるという信号くオ)をそのまま用いると、ウェハ外周
のキズ等によりこの信号が出力される可能性がある。し
かし、正しくノツチを検出したときは信号(オ)は連続
して出力されるので、例えば、3回連続していれば確実
にノツチであると判別することができる。
この動作をさらに詳しく説明すると、まずラッチ211
は信号(ア)により毎回クリアされる。そのとき、ラッ
チ211の出力はゲート213を開くようにしておく。
カウンタ207の出力(オ)が出力されるとラッチ21
1はセットされ、ゲート213は閉じるように働く。ま
た、ゲート213には、信号〈イ)と信号(つ)が一致
したときにエツジ検出回路204が出力するパルス(り
)が供給されている。すなわち、ノツチが検出されない
ときは信号(オ)が出力されないため、カウンタ208
はA/D変換が終了するごとにクリアされている。とこ
ろが、ノツチが検出され信号(オ)が出力されると、カ
ウンタ208をカウントアツプすると同時にラッチ21
1をセットするため、ゲート213が閉じられる。従っ
て、カウンタ208はエツジ検出回路204からの出力
(り)によってはクリアされず、その値は保持される。
続けて、信号(オ)が出力されるとカウンタ208はカ
ウントアツプされ内容は2になる。従って、カウンタ2
08が3をカウントしたときにH″が出力される出力(
キ)をチェックしていれば、ノツチ検出が3回連続した
ということを知ることができる。この信号(キ)をノツ
チが光電素子101を完全に通過し終わるディレィ20
9に通した信号(ケ)によって、ゲート205を閉じれ
ば、その時点でのウェハ外周の位置を保持し続けること
ができる。また、この信号は、シーケンサ120にノツ
チを検出したという信号としても用いられる。
本実施例によれば、ノツチとオリフラの両者を備えたウ
ェハにおいて、ウェハを回転させたときの充電素子10
1より得られるウェハ端部位置の時間的変化の傾きによ
り、ノツチの通過を検出し、ノツチ近傍のウェハ端部位
置によって決められたスライスレベルにより、光電素子
101の出力を2値化しているため、ウェハの外径バラ
ツキにかかわらず安定してノツチを検出することができ
る。
また、ノツチかオリフラかの最終判別には、ウェハを駆
動するウェハ駆動ローラ2と連動して回転するパルスジ
ェネレータ114からの出力パルスにより、2値化され
た結果のパルスの巾を計数し、その計数値と予め設定さ
れた設定値とを比較することにより行なっている。この
計数値は、ウェハの回転速度とは無関係に常に一定値と
なるため、正確にノツチのみを検出することが可能であ
る。
さらに、上記の設定値をオリフラのパルス巾の計数値と
等しくなるように設定し、傾き検出回路104の傾き設
定値を変えることにより、ノツチではなくオリフラが検
出できるという効果もある。
ウェハはノツチ検出時までは高速で回転される。
そして、ノツチが検出されると減速停止し、次に低速で
逆転しノツチの後縁が検出され次に前縁が検出される間
だけパルスジェネレータのパルス数を計数し、停止後、
計数値の1/2だけ正転することによりノツチの中心の
位置決めを行なっている。従って、比較的短時間で位置
決めを行なうことができるし、高速回転から減速停止す
るときにウェハとウェハ駆動ローラ間でスリップが起っ
ても影響が生じない。
さらに、本実施例では、ウェハを照光している照明光源
10より出た光は、集光レンズ12により、ウェハ面上
にて長手方向がウェハの半径方向となるような長方形に
集光されるため、この光を観測することでウェハの端部
の形状の変化を正確に得ることができ、正しく位置決め
を行なうことができる。
なお、このような集光レンズとして、シリンドリカルレ
ンズ等を用いれば、照明光源10から出た光を簡単に長
方形に集光することができる。第3図は、集光レンズと
してシリンドリカルレンズを用いた位置決め装置のウェ
ハ端部検出系の斜視図である。
本実施例では、全体のシーケンス制御にシーケンサ12
0を用いており、ざらにウェハ1回転の検出、ノツチ判
定およびノツチ中心検出等にそれぞれハードウェアによ
るカウンタやコンパレータ、設定器を設けているが、こ
れに限ることなく、マイクロコンピュータを使用するこ
ともできる。すなわち、シーケンス制御、ウェハ1回転
の検出、ノツチ判定およびノツチ中心検出等はマイクロ
コンピュータのソフトウェアとマイクロコンピュータに
接続されたメモリ上のソフト的なカウンタにより行なう
こともできる。
また、本実施例においては、ウェハの端部の形状の変化
を検出する光電素子101としてフォトディテクタを使
用しているが、これはCODのようなフォトアレイでも
良いし、ITVのような1次元以上の光電素子に置き代
えても良い。さらに、モータとしてパルスモータを使用
することもできる。このような場合、パルスエンコーダ
114は不要となる。
[発明の効果1 以上説明したように、本発明によれば、ウェハ等の円板
物体の端部の形状の変化を検出する光電素子の出力変化
の傾きによりノツチが光電素子を通過したことを検知し
、その通過した時点での充電素子の出力値から自動的に
決定したスライスレベルによりノツチに対する光電素子
の出力を2値化し、得られたパルスの中心に対応する円
板上の位置を所定箇所に合せて円板物体を停止するよう
にしているので、ノツチ部における位置決めを行なうこ
とができる。また、外力を加えながら円板物体を回転さ
せることもないので、円板物体を破損することがない。
また、ノツチを検出するまでは円板物体を高速で回転さ
せることができるので、比較的短時間で位置決めを行な
うことができる。
さらに、ノツチとオリフラの両者を備えた円板物体の位
置決めにおいては、ノツチとオリフラの両者を正確に区
別してノツチ部での位置決めを行なうことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の一実施例に係る位置決め装置の制御
系を示すブロック図、 第2図は、上記実施例の装置の外観図、第3図は、上記
実施例の装置の平面図および側面図、 第4図は、ト記実施例の装置の動作のシーケンスを示す
フローチャート、 第5図は、第3図の各部の信号の波形を示すタイムチャ
ート図、 第6図は、上記実施例の傾き検出回路のブロック回路図
、 第7図は、第6図の各部における信号の波形を示すタイ
ムチャート図、 第8図は、集光レンズとしてシリンドリカルレンズを用
いた位置決め装置のウェハ端部検出系の斜視図、 第9図は、ノツチおよびオリフラを備えたウェハの平面
図、 第10図は、ビンをウェハに押しつけながら位置決めを
行なう様子を示す平面図である。 9:ノツチセンサユニット、10:照明光源、12:集
光レンズ、101:光電素子、102;プリアンプ、1
03,106,112,203 :コンパレータ、10
4:傾き検出回路、105.108.111,202,
207,208 :カウンタ、107,113:設定器
、110.117 :スイッチ、109:1/2分周器
、114:パルスジェネレータ、115:モータ、11
6:ドライバ、120;シーケンサ、122ニレベルシ
フタ、204:エツジ検出器、206:発振器、209
:ディレィ、210:分周器。 j 図 二ニーj 第3図C 第4図 ア 箸7 図 〆 第9図 第10図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】  周囲の一部に微小切欠きを設けた円板物体を回転する
    手段と、 該微小切欠きが位置すべき所定箇所に配置され、該円板
    物体を回転した際に該円板物体の端部の形状の変化を検
    出する一対の照明光源および光電素子と、 該円板物体の回転時の該光電素子の出力変化の傾きによ
    り上記微小切欠きが上記所定箇所を通過したことを検知
    する手段と、 該通過時点での上記光電素子の出力値から自動的に決定
    したスライスレベルを用いて、上記微小切欠きに対する
    光電素子の出力を2値化する手段と、 該2値化手段により得られたパルスの中心に対応する円
    板物体上の位置を上記所定箇所に合せて該円板物体を停
    止させる回転制御手段と を具備することを特徴とする円板物体の位置決め装置。
JP23450685A 1985-08-23 1985-10-22 円板物体の位置決め装置 Pending JPS6294951A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP23450685A JPS6294951A (ja) 1985-10-22 1985-10-22 円板物体の位置決め装置
US06/898,222 US4853880A (en) 1985-08-23 1986-08-20 Device for positioning a semi-conductor wafer

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP23450685A JPS6294951A (ja) 1985-10-22 1985-10-22 円板物体の位置決め装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS6294951A true JPS6294951A (ja) 1987-05-01

Family

ID=16972093

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP23450685A Pending JPS6294951A (ja) 1985-08-23 1985-10-22 円板物体の位置決め装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6294951A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03501840A (ja) * 1987-05-21 1991-04-25 ハイン・デザイン・インコーポレイテッド シリコンウエハの整列方法及びその装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03501840A (ja) * 1987-05-21 1991-04-25 ハイン・デザイン・インコーポレイテッド シリコンウエハの整列方法及びその装置

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