JPS628844B2 - - Google Patents
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- JPS628844B2 JPS628844B2 JP52141211A JP14121177A JPS628844B2 JP S628844 B2 JPS628844 B2 JP S628844B2 JP 52141211 A JP52141211 A JP 52141211A JP 14121177 A JP14121177 A JP 14121177A JP S628844 B2 JPS628844 B2 JP S628844B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- level
- output
- circuit
- signal
- output signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 20
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 7
- 230000004069 differentiation Effects 0.000 claims description 3
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 14
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Signal Processing For Digital Recording And Reproducing (AREA)
- Manipulation Of Pulses (AREA)
- Digital Magnetic Recording (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、高密度に記録された磁気記録情報も
正確に読取ることを可能とする磁気記録情報の読
取方式に関するものである。
正確に読取ることを可能とする磁気記録情報の読
取方式に関するものである。
磁気ドラム、磁気デイスク、磁気テープ等の磁
気記録媒体に記録された情報の読取りにはピーク
検出方式が多く採用されている。一方、NRZ方式
等の記録方式の場合には、読出信号レベルが或る
閾値を越えたことを検出するレベル検出方式とピ
ーク検出方式を併用するのが一般的である。これ
は、例えば“０”が連続するような場合に読出信
号波形に平担部が存在し、その平担部に雑音等が
混入することがあり、ピーク検出のみでは、その
雑音等のピークも検出して誤読取りが行なわれる
ので、正規信号の振巾レベルより低いレベルの雑
音等をレベル検出により除去し、誤読取りを防止
する為である。しかし、記録密度が高くなると、
第１図ａに示すような情報“00011100”の読出信
号波形が同図ｂに示すように、所謂パルス・クラ
ウデイング現象により振巾が低下したものとな
る。このパルス・クラウデイング現象が著しくな
ると、読出信号のピークが０レベル以下になる場
合が生じ、レベル検出方式を適用した場合には誤
読取りが生じる欠点があつた。この欠点を除く
為、ヘツド読取り信号を微分し、レベル検出する
方法も用いられているが（特開昭50−103312
号）、さらに高密度記録になると、微分によつて
もパルス・クラウデイング現象を抑止できず、微
分波形にもパルス・クラウデイング現象が生じる
ようになる。例えば第２図に示すように、
“001100”なる情報パターンのレベルが低くな
り、検出レベルの変動可能範囲が小さくなり、信
号に比し、雑音レベルが高い場合に、誤読取りが
多くなるという欠点があつた。
気記録媒体に記録された情報の読取りにはピーク
検出方式が多く採用されている。一方、NRZ方式
等の記録方式の場合には、読出信号レベルが或る
閾値を越えたことを検出するレベル検出方式とピ
ーク検出方式を併用するのが一般的である。これ
は、例えば“０”が連続するような場合に読出信
号波形に平担部が存在し、その平担部に雑音等が
混入することがあり、ピーク検出のみでは、その
雑音等のピークも検出して誤読取りが行なわれる
ので、正規信号の振巾レベルより低いレベルの雑
音等をレベル検出により除去し、誤読取りを防止
する為である。しかし、記録密度が高くなると、
第１図ａに示すような情報“00011100”の読出信
号波形が同図ｂに示すように、所謂パルス・クラ
ウデイング現象により振巾が低下したものとな
る。このパルス・クラウデイング現象が著しくな
ると、読出信号のピークが０レベル以下になる場
合が生じ、レベル検出方式を適用した場合には誤
読取りが生じる欠点があつた。この欠点を除く
為、ヘツド読取り信号を微分し、レベル検出する
方法も用いられているが（特開昭50−103312
号）、さらに高密度記録になると、微分によつて
もパルス・クラウデイング現象を抑止できず、微
分波形にもパルス・クラウデイング現象が生じる
ようになる。例えば第２図に示すように、
“001100”なる情報パターンのレベルが低くな
り、検出レベルの変動可能範囲が小さくなり、信
号に比し、雑音レベルが高い場合に、誤読取りが
多くなるという欠点があつた。
本発明は、前述の如き従来の欠点を改善する為
になされたもので、読取り信号の微分波形にもパ
ルス・クラウデイング現象が生じるような高密度
記録に於いても確実に読取りができる方式を提供
することにある。以下、実施例について詳細に説
明する。
になされたもので、読取り信号の微分波形にもパ
ルス・クラウデイング現象が生じるような高密度
記録に於いても確実に読取りができる方式を提供
することにある。以下、実施例について詳細に説
明する。
第３図は本発明の一実施例のブロツク図、第４
図はその各部の信号波形の一例を示すものであ
る。第３図に於いて、HDは磁気ヘツド、AMPは
増幅器、DFは微分回路、LV１〜LV５はレベル
判定回路、FF１〜FF１６はＤ形フリツプフロツ
プ、LV１〜LV５はインバータ、DL１〜DL２０
は遅延回路、ORはオア回路であり、各部の信号
ａ〜βは第４図のａ〜βに対応するものである。
図はその各部の信号波形の一例を示すものであ
る。第３図に於いて、HDは磁気ヘツド、AMPは
増幅器、DFは微分回路、LV１〜LV５はレベル
判定回路、FF１〜FF１６はＤ形フリツプフロツ
プ、LV１〜LV５はインバータ、DL１〜DL２０
は遅延回路、ORはオア回路であり、各部の信号
ａ〜βは第４図のａ〜βに対応するものである。
今、磁気ヘツドHDによる読出信号ａが第４図
ａに示すものとすると、これは増幅器AMPで増
幅された後、微分回路DFにより微分されること
により、その微分出力信号ｂは第４図ｂに示すも
のとなる。この微分出力信号ｂはレベル判定回路
LV１〜LV５に加えられる。レベル判定回路LV
１は無信号時のレベル、即ち、OVの第１のレベ
ルＬ１以上の入力信号に対して出力を“１”とす
るものであり、レベル判定回路LV２は正の或る
レベルを第２のレベルＬ２としてそれ以上の入力
信号に対して出力を“１”とし、レベル判定回路
LV３は正の或るレベルを第３のレベルＬ３とし
てそれ以上の入力信号に対して出力を“１”と
し、レベル判定回路LV４は負の或るレベルを第
４のレベルＬ４として、それより負の入力信号に
対して出力を“１”とし、レベル判定回路LV５
は、負の或るレベルを第５のレベルＬ５として、
それより負の入力信号に対して出力を“１”とす
るものである。フリツプフロツプFF１，FF３，
FF５，FF７はそれぞれレベル判定回路LV２，
LV３，LV４，LV５の出力信号ｃ，ｋ，ｈ，ｏ
がトリガ端子Ｔに加えられると、その立上りでセ
ツトされ、その出力端子Ｑから出力信号ｕ，ｚ・
ｉ，ｐが送出されるとゝもに、該出力信号が遅延
回路DL１，DL３，DL５，DL７を介してリセツ
ト端子Ｒに加えられてリセツトされる。又、フリ
ツプフロツプFF２，FF４，FF６，FF８はイン
バータIV２，IV３，IV４，IV５を介した信号
ｃ，ｋ，ｈ，ｏによりその立上りでセツトされ、
遅延回路DL２，DL４，DL６，DL８を介して出
力信号ｄ，ｌ，ｒ，ｗによりリセツトされる。こ
れらの遅延回路DL１〜DL８の遅延時間は、信号
間隔より短く、又、微分出力信号ｂがレベルＬ２
からＬ１、レベルＬ３からＬ１、あるいはレベル
Ｌ４からＬ１、もしくはレベルＬ５からＬ１を通
過する時間より長くなるように設定するものであ
る。
ａに示すものとすると、これは増幅器AMPで増
幅された後、微分回路DFにより微分されること
により、その微分出力信号ｂは第４図ｂに示すも
のとなる。この微分出力信号ｂはレベル判定回路
LV１〜LV５に加えられる。レベル判定回路LV
１は無信号時のレベル、即ち、OVの第１のレベ
ルＬ１以上の入力信号に対して出力を“１”とす
るものであり、レベル判定回路LV２は正の或る
レベルを第２のレベルＬ２としてそれ以上の入力
信号に対して出力を“１”とし、レベル判定回路
LV３は正の或るレベルを第３のレベルＬ３とし
てそれ以上の入力信号に対して出力を“１”と
し、レベル判定回路LV４は負の或るレベルを第
４のレベルＬ４として、それより負の入力信号に
対して出力を“１”とし、レベル判定回路LV５
は、負の或るレベルを第５のレベルＬ５として、
それより負の入力信号に対して出力を“１”とす
るものである。フリツプフロツプFF１，FF３，
FF５，FF７はそれぞれレベル判定回路LV２，
LV３，LV４，LV５の出力信号ｃ，ｋ，ｈ，ｏ
がトリガ端子Ｔに加えられると、その立上りでセ
ツトされ、その出力端子Ｑから出力信号ｕ，ｚ・
ｉ，ｐが送出されるとゝもに、該出力信号が遅延
回路DL１，DL３，DL５，DL７を介してリセツ
ト端子Ｒに加えられてリセツトされる。又、フリ
ツプフロツプFF２，FF４，FF６，FF８はイン
バータIV２，IV３，IV４，IV５を介した信号
ｃ，ｋ，ｈ，ｏによりその立上りでセツトされ、
遅延回路DL２，DL４，DL６，DL８を介して出
力信号ｄ，ｌ，ｒ，ｗによりリセツトされる。こ
れらの遅延回路DL１〜DL８の遅延時間は、信号
間隔より短く、又、微分出力信号ｂがレベルＬ２
からＬ１、レベルＬ３からＬ１、あるいはレベル
Ｌ４からＬ１、もしくはレベルＬ５からＬ１を通
過する時間より長くなるように設定するものであ
る。
フリツプフロツプFF９はFF２の出力ｄがハイ
レベルにある時間内に、レベル検出回路LV１の
出力ｅをインバータIV１を通して得られるパル
スの立上り部が存在した時セツトされ、遅延回路
DL９を介して出力信号ｆでリセツトされる。フ
リツプフロツプFF１０はFF４の出力ｌがハイレ
ベルにある時間内に、レベル検出回路LV１の出
力ｅをインバータIV１を通して得られるパルス
の立上り部が存在した時セツトされ、遅延回路
DL１０を介して出力信号ｍでリセツトされる。
フリツプフロツプFF１１は、FF６の出力ｒがハ
イレベルにある時間内に、レベル検出回路LV１
の出力ｅの立上り部が存在する時セツトされ、
DL１１を介した出力ｓでリセツトされる。フリ
ツプフロツプFF１２は、FF８の出力ｗがハイレ
ベルにある時間内に、レベル検出回路LV１の出
力ｅの立上り部が存在する時セツトされ、DL１
２を介した出力ｘでリセツトされる。これらの遅
延回路DL９〜DL１２の遅延時間は、１情報間隔
より小さい値にとること以外特に制限はない。
レベルにある時間内に、レベル検出回路LV１の
出力ｅをインバータIV１を通して得られるパル
スの立上り部が存在した時セツトされ、遅延回路
DL９を介して出力信号ｆでリセツトされる。フ
リツプフロツプFF１０はFF４の出力ｌがハイレ
ベルにある時間内に、レベル検出回路LV１の出
力ｅをインバータIV１を通して得られるパルス
の立上り部が存在した時セツトされ、遅延回路
DL１０を介して出力信号ｍでリセツトされる。
フリツプフロツプFF１１は、FF６の出力ｒがハ
イレベルにある時間内に、レベル検出回路LV１
の出力ｅの立上り部が存在する時セツトされ、
DL１１を介した出力ｓでリセツトされる。フリ
ツプフロツプFF１２は、FF８の出力ｗがハイレ
ベルにある時間内に、レベル検出回路LV１の出
力ｅの立上り部が存在する時セツトされ、DL１
２を介した出力ｘでリセツトされる。これらの遅
延回路DL９〜DL１２の遅延時間は、１情報間隔
より小さい値にとること以外特に制限はない。
フリツプフロツプFF１３は、FF５の出力ｉが
ハイレベルにある時間内に、FF９の出力ｆの遅
延回路DL１３を介して得られる出力ｇの立上り
が存在する時、その立上りでセツトされ、遅延回
路DL１７を介した出力ｊでリセツトされる。同
様に、フリツプフロツプFF１４は、FF７の出力
ｐがハイレベルにある時間内に、FF１０の出力
ｍを遅延回路DL１４を介して得られる出力ｎの
立上りが存在する時、その立上りでセツトされ、
遅延回路DL１８を介した出力ｑでリセツトされ
る。フリツプフロツプFF１５は、FF１の出力ｕ
がハイレベルにある時間内に、FF１１の出力ｓ
を遅延回路DL１５を介して得られる出力ｔの立
上りが存在する時、その立上りでセツトされ、遅
延回路DL１９を介した出力ｖでリセツトされ
る。更に、フリツプフロツプFF１６は、FF３の
出力ｚがハイレベルにある時間内に、FF１２の
出力ｘをDL１６を介して得られる出力ｙの立上
りが存在する時、その立上りでセツトされ、遅延
回路DL２０を介した出力αでリセツトされる。
なお、DL１７，DL１８，DL１９，DL２０の遅
延回路の遅延時間は、情報間隔の最小値より小さ
ければ良い。オア回路ORは、FF１３，FF１
４，FF１５，FF１６の出力ｊ，ｑ，ｖ，αの論
理和をとり、信号βを出力する。
ハイレベルにある時間内に、FF９の出力ｆの遅
延回路DL１３を介して得られる出力ｇの立上り
が存在する時、その立上りでセツトされ、遅延回
路DL１７を介した出力ｊでリセツトされる。同
様に、フリツプフロツプFF１４は、FF７の出力
ｐがハイレベルにある時間内に、FF１０の出力
ｍを遅延回路DL１４を介して得られる出力ｎの
立上りが存在する時、その立上りでセツトされ、
遅延回路DL１８を介した出力ｑでリセツトされ
る。フリツプフロツプFF１５は、FF１の出力ｕ
がハイレベルにある時間内に、FF１１の出力ｓ
を遅延回路DL１５を介して得られる出力ｔの立
上りが存在する時、その立上りでセツトされ、遅
延回路DL１９を介した出力ｖでリセツトされ
る。更に、フリツプフロツプFF１６は、FF３の
出力ｚがハイレベルにある時間内に、FF１２の
出力ｘをDL１６を介して得られる出力ｙの立上
りが存在する時、その立上りでセツトされ、遅延
回路DL２０を介した出力αでリセツトされる。
なお、DL１７，DL１８，DL１９，DL２０の遅
延回路の遅延時間は、情報間隔の最小値より小さ
ければ良い。オア回路ORは、FF１３，FF１
４，FF１５，FF１６の出力ｊ，ｑ，ｖ，αの論
理和をとり、信号βを出力する。
第４図より、信号ｊ，ｑは、微分出力ｂが正か
ら負に変化する場合で、かつｂがレベルLV２，
LV１，LV４の順に、ある時間内に横切つた場合
に信号ｊが出力され、ｂがレベルLV３，LV１，
LV５の順に、ある時間内に横切つた場合に信号
ｑが出力される。この信号ｊ，ｑは、微分出力ｂ
が正から負に変化する場合の零点をある時間遅ら
せたものを示している。信号ｖ，αは、微分出力
ｂが負から正に変化する場合で、ｂがレベルLV
４，LV１，LV２の順に、ある時間内に横切つた
場合に信号ｖが出力され、ｂがレベルLV５，LV
１，LV３の順に、ある時間内に横切つた場合に
信号αが出力される。この信号ｖ，αは、微分出
力ｂが負から正に変化する場合の零点をある時間
遅らせたものを示している。かくして、オア回路
ORの出力βは、微分信号ｂの零点を出力するも
のであることが分かる。
ら負に変化する場合で、かつｂがレベルLV２，
LV１，LV４の順に、ある時間内に横切つた場合
に信号ｊが出力され、ｂがレベルLV３，LV１，
LV５の順に、ある時間内に横切つた場合に信号
ｑが出力される。この信号ｊ，ｑは、微分出力ｂ
が正から負に変化する場合の零点をある時間遅ら
せたものを示している。信号ｖ，αは、微分出力
ｂが負から正に変化する場合で、ｂがレベルLV
４，LV１，LV２の順に、ある時間内に横切つた
場合に信号ｖが出力され、ｂがレベルLV５，LV
１，LV３の順に、ある時間内に横切つた場合に
信号αが出力される。この信号ｖ，αは、微分出
力ｂが負から正に変化する場合の零点をある時間
遅らせたものを示している。かくして、オア回路
ORの出力βは、微分信号ｂの零点を出力するも
のであることが分かる。
このように、５つのレベルで微分出力ｂをセン
スすることにより、例えばLV2＞LV3、｜LV5｜
＞｜LV4｜とすると、“０”の続く平担部で、LV
３をOV近くにセツトしても、LV５を充分大きく
とれば、ノイズを“１”と誤まることは防止でき
る。又、LV５が大きすぎて、信号レベルを割つ
た場合は、出力ｑが出ないが、LV２を大きく、
LV４を０近くにセツトしておけば、出力ｊが出
ることになり、“１”を“０”と誤まることはな
くなる。
スすることにより、例えばLV2＞LV3、｜LV5｜
＞｜LV4｜とすると、“０”の続く平担部で、LV
３をOV近くにセツトしても、LV５を充分大きく
とれば、ノイズを“１”と誤まることは防止でき
る。又、LV５が大きすぎて、信号レベルを割つ
た場合は、出力ｑが出ないが、LV２を大きく、
LV４を０近くにセツトしておけば、出力ｊが出
ることになり、“１”を“０”と誤まることはな
くなる。
以上説明したように、本発明の読取方式によれ
ば、高密度記録の場合に読取信号の微分波形にパ
ルス・クラウデイング現象が生じても正しく余裕
をもつて情報を検出することができる。例えば、
第２図に示すように、パルス・クラウデイング効
果により２ビツトパターンの負のピークレベルが
零点方向に低下しても、零点をはさんだもう一方
の正のピークレベルは、前記負の部分のレベルの
４倍程度あり、従つて、負の検出レベルを充分小
さく零付近に設定しても、正の検出レベルを大き
く設定することで情報を検出でき、この場合にも
ノイズを“１”と読み誤まることはない。
ば、高密度記録の場合に読取信号の微分波形にパ
ルス・クラウデイング現象が生じても正しく余裕
をもつて情報を検出することができる。例えば、
第２図に示すように、パルス・クラウデイング効
果により２ビツトパターンの負のピークレベルが
零点方向に低下しても、零点をはさんだもう一方
の正のピークレベルは、前記負の部分のレベルの
４倍程度あり、従つて、負の検出レベルを充分小
さく零付近に設定しても、正の検出レベルを大き
く設定することで情報を検出でき、この場合にも
ノイズを“１”と読み誤まることはない。
更に、従来の微分信号をもとにする検出方式で
は、検出レベルは前記２ビツトパターンの最低レ
ベルより小さく、かつ、ノイズレベルより大きく
取らねばならなかつたのに対し、本発明の方式で
は、検出レベルは零レベル付近まで下げることが
できる為、検出レベルの設定可能範囲（マージ
ン）が拡大されるという利点がある。
は、検出レベルは前記２ビツトパターンの最低レ
ベルより小さく、かつ、ノイズレベルより大きく
取らねばならなかつたのに対し、本発明の方式で
は、検出レベルは零レベル付近まで下げることが
できる為、検出レベルの設定可能範囲（マージ
ン）が拡大されるという利点がある。
第１図は記録密度による読出波形の変化の一例
を示す図、第２図はヘツド読出し信号の微分波形
の一例を示す図、第３図は本発明の一実施例のブ
ロツク図、第４図は第３図の各部の信号波形の一
例を示す図である。 HD……磁気ヘツド、AMP……増幅器、DF…
…微分回路、LV１〜LV５……レベル判定回路、
FF１〜FF１６……フリツプフロツプ、DL１〜
DL１９……遅延回路、IV１〜IV５……インバー
タ、OR……オア回路。
を示す図、第２図はヘツド読出し信号の微分波形
の一例を示す図、第３図は本発明の一実施例のブ
ロツク図、第４図は第３図の各部の信号波形の一
例を示す図である。 HD……磁気ヘツド、AMP……増幅器、DF…
…微分回路、LV１〜LV５……レベル判定回路、
FF１〜FF１６……フリツプフロツプ、DL１〜
DL１９……遅延回路、IV１〜IV５……インバー
タ、OR……オア回路。
Claims (1)
- １ 磁気ヘツドにより読出した磁気記録情報を微
分する微分回路と、該微分回路の出力信号のレベ
ルを判定する判定回路と、該判定回路のレベル判
定結果が一定条件のとき信号を出力する論理回路
とを有し、前記判定回路の判定レベルを、前記微
分出力信号の無信号時のレベルを示す第１レベル
と、該第１レベルより正の第２レベルと、前記第
１レベルと第２レベルとの間の第３レベルと、前
記第１レベルより負の第４レベルと、該第４レベ
ルより負の第５レベルとの５値に設定し、前記微
分回路の出力信号が第２、第１、第４のレベルの
順、又は第４、第１、第２のレベルの順、あるい
は、第３、第１、第５のレベルの順、もしくは、
第５、第１、第３のレベルの順のいずれかの順に
それらのレベルを横切つた条件のときのみ、前記
微分出力信号が前記第１レベルを横切つた時点よ
り一定時間遅延した時点に於いて前記論理回路は
検出信号を出力することを特徴とする磁気記録情
報読取方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14121177A JPS5473614A (en) | 1977-11-25 | 1977-11-25 | Reading method of magnetic recorded information |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14121177A JPS5473614A (en) | 1977-11-25 | 1977-11-25 | Reading method of magnetic recorded information |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5473614A JPS5473614A (en) | 1979-06-13 |
| JPS628844B2 true JPS628844B2 (ja) | 1987-02-25 |
Family
ID=15286715
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14121177A Granted JPS5473614A (en) | 1977-11-25 | 1977-11-25 | Reading method of magnetic recorded information |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5473614A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58218261A (ja) * | 1982-06-11 | 1983-12-19 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | デ−タ打抜回路 |
| JP2810267B2 (ja) * | 1991-12-26 | 1998-10-15 | 株式会社日立製作所 | 情報記録再生装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS50103312A (ja) * | 1974-01-14 | 1975-08-15 |
-
1977
- 1977-11-25 JP JP14121177A patent/JPS5473614A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS50103312A (ja) * | 1974-01-14 | 1975-08-15 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5473614A (en) | 1979-06-13 |
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