JPS6283753A - 電子写真感光体 - Google Patents

電子写真感光体

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Publication number
JPS6283753A
JPS6283753A JP22405485A JP22405485A JPS6283753A JP S6283753 A JPS6283753 A JP S6283753A JP 22405485 A JP22405485 A JP 22405485A JP 22405485 A JP22405485 A JP 22405485A JP S6283753 A JPS6283753 A JP S6283753A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
electrophotographic photoreceptor
region
silicon
hydrogen
Prior art date
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Pending
Application number
JP22405485A
Other languages
English (en)
Inventor
Hideji Yoshizawa
吉澤 秀二
Tatsuya Ikesue
龍哉 池末
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Toshiba Intelligent Technology Co Ltd
Original Assignee
Toshiba Corp
Toshiba Automation Equipment Engineering Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp, Toshiba Automation Equipment Engineering Ltd filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP22405485A priority Critical patent/JPS6283753A/ja
Publication of JPS6283753A publication Critical patent/JPS6283753A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03GELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
    • G03G5/00Recording members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat, to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
    • G03G5/02Charge-receiving layers
    • G03G5/04Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor
    • G03G5/08Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic
    • G03G5/082Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic and not being incorporated in a bonding material, e.g. vacuum deposited
    • G03G5/08214Silicon-based
    • G03G5/08221Silicon-based comprising one or two silicon based layers

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は、帯電特性、光感度特性及び耐環境性等が優
れた電子写真感光体に関する。
[従来の技術及びその問題点] 従来、電子写真感光体の光導電層を形成する材料として
、CdS、ZnO,Se、5e−Te若しくはアモルフ
ァスシリコン等の無機材料又はポリ−N−ビニルカルバ
ゾール (PVCz)若しくはトリニトロフルオレン(TNF)
等の有機材料が使用されている。しかしながら、これら
の従来の光導電性材料においては、光導電特性上、又は
製造上、種々の問題点があり、感光体システムの特性を
ある程度犠牲にして使用目的に応じてこれらの材料を使
い分けている。
例えば、Se及びCdSは、人体に対して有害な材料で
あり、その製造に際しては、安全対策上、特別の配慮が
必要である。従って、製造装置が複雑となるため製造コ
ストが高いと共に、特に、Seは回収する必要があるた
め回収コストが付加されるという問題点がある。また、
Se又はSe−Te系においては、結晶化温度が65℃
と低いため、複写を繰り返している間に、熱電等により
光導電特性上の問題が生じ、このため、寿命が短いので
実用性が低い。
更に、ZnOは、酸化還元が生じやすく、環境雰囲気の
影響を著しく受けるため、使用上、信頼性が低いという
問題点がある。
更にまた、PVCz及びTNF等の有機光導電性材料は
、発癌性物質である疑いが持たれており、人体の健康上
問題があるのに加え、有機材料は熱安定性及び耐摩耗性
が低く、寿命が短いという欠点がある。
一方、アモルファスシリコン(以下、a−Siと略す)
は、近時、光導電変換材料として注目されており、太陽
電池、薄膜トランジスタ及びイメージセンサへの応用が
活発になされている。このa−3iの応用の一環として
、a−Siを電子写真感光体の光導電性材料と・して使
用する試みがなされており、a−Siを使用した感光体
は、無公害の材料であるから回収処理の必要がないこと
、他の材料に比して可視光領域で高い分光g度を有する
こと、表面硬度が高く耐摩耗性及び耐衝撃性が優れてい
ること等の利点を有する。
このa−Siは、カールソン方式に基づく感光体として
検討が進められているが、この場合に、感光体特性とし
て抵抗及び光感度が高いことが要求される、しかしなが
ら、この両特性を単一層の感光体で満足させることが困
難であるため、光導電層と導電性支持体との間に障壁層
を設け、光導電層上に表面電荷保持層を設けた積層型の
構造にすることにより、このような要求を満足させてい
る。
ところで、a−3iは、通常、シラン系ガスを使用した
グロー放電分解法により形成されるが、この際に、a−
3ilQ中に水素が取り込まれ、水素量の差により電気
的及び光学的特性が大きく変動する。即ち、a−Si膜
に侵入する水素の壷が多くなると、光学的バンドギャッ
プが大きくなり、a−3iの抵抗が高くなるが、それに
ともない、長波長光に対する光感度が低下してしまうの
で、例えば、半導体レーザを搭載したレーザビームプリ
ンタに使用することが困難である。また、a−Sill
l中の水素の含有量が多い場合は、成膜条件によって、
(StH2)n及びs iH2等の結合構造を有するも
のが膜中で大部分の領域を占める場合がある。そうする
と、ボイドが増加し、シリコンダングリングボンドが増
加するため、光導電特性が劣化し、電子写真感光体とし
て使用不能になる。逆に、a−3i中に侵入する水素の
量が低下すると、光学的バンドギャップが小さくなり、
その抵抗が小さくなるが、長波長光に対する光感度が増
加する。しかし、通常の成膜条件で作成した従来のa−
8iにおいては、水素含有量が少ないと、シリコンダン
グリングボンドと結合してこれを減少させるべき水素が
少なくなる。このため、発生するキャリアの移動度が低
下し、寿命が短くなると共に、光導電特性が劣化してし
まい、電子写真感光体として使用し難いものとなる。
なお、長波長光に対する感度を高める技術として、シラ
ン系ガスとゲルマンQeH4とを混合し、グロー放電分
解することにより、光学的バンドギャップが狭い膜を生
成するものがあるが、一般に、シラン系ガスとQeH4
とでは、最適基板温度が異なるため、生成した腰は構造
欠陥が多く、良好な光導電特性を得ることができない。
また、GeH+の廃ガスは酸化されると有毒ガスとなる
ので、廃ガス処理も複雑である。従って、このような技
術は実用性がない。
この発明は、かかる事情に鑑みてなされたちのであって
、帯電能が浸れており、残留電位が低く、近赤外領域ま
での広い波長領域に亘って感度が高く、基板との密着性
が良く、耐環境性が優れた電子写真感光体を提供するこ
とを目的とする。
[問題点を解決するための手段] この発明に係る電子写真感光体は、導電性支持体と、こ
の導電性支持体の上に形成された画像形成層と、を有す
る電子写真感光体において、前記画像形成層の少なくと
も一部の領域がマイクロクリスタリンシリコン、パラク
リスタリンシリコン又はアモルファスシリコンの1又は
2以上の材料で形成されており、この領域には水素が含
有され、この領域のホール移動度が10′2c1i/秒
・V以上であることを特徴とする。
この発明は、前述の従来技術の欠点を解消し、優れた光
導電特性(m子写真特性)と耐環境性とを兼備した電子
写真感光体を開発すべく本願発明者等が種々実験研究を
重ねた結果、マイクロクリスタリンシリコン(以下、μ
c−3iと略す)、パラクリスタリンシリコン(以下、
para−3iと略す)又はアモルファスシリコン<a
−8i)を電子写真感光体の少なくとも一部に使用する
と共に、これらの材料で形成された領域内の欠陥(シリ
コンダングリングボンド)を低減させることにより、こ
の目的を達成することができることに想到して、この発
明を完成させたものである。
以下、この発明について具体的に説明する。この発明に
係る電子写真感光体においては、導電性支持体の上に画
像形成層が形成されているが、この画像形成層は、重荷
を帯電させた後光照射するとキャリアを発生しそのキャ
リアが走行して光導電性を示す光導電層、又は光照射に
よりキャリアが発生する電荷発生層及びそのキャリアが
移動する電荷移動層の2層体として把握される。先ず、
光導電層を有する形式の電子写真感光体について説明す
る。
この発明の特徴は、従来のa−3iの替りに、ホールの
移動度が10”ctd/秒・V以上、好ましくは1o′
lcd/秒−V以上であるμc−8i、para−3i
又はa−3iを使用したことにある。このような材料に
おいては、電子スピン共鳴(以下、ESRと略1)によ
るスピン密度が1×10” /CIR3V下、好マシク
ハ、5X101S/cttr”以下である。つまり、光
導電層の全ての領域又は一部の領域がホールの移動度が
104CIi/秒・V以上、好ましくは10°lcd/
秒・V以上のμc−8i 、para−8i又はa−8
tの単体で形成されているか、それらの1若しくは2以
上の材料の混合体で形成されているか、又は各材料から
なる1又は2以上の層の積層体で形成されている。
μc−3iは、以下のような物性上の特徴により、a−
3i及びポリクリスタリンシリコン(多結晶シリコン)
から明確に区別される。即ち、X線回折測定においては
、a−8iは、無定形であるため、ハローのみが現れ、
回折パターンを認めることができないが、μc−8iは
、2θが28乃至28.5°付近にある結晶回折パター
ンを示す。また、ポリクリスタリンシリコンは暗抵抗が
106Ω・υであるのに対し、μc−3iは1Q11Ω
・1以上の暗抵抗を有する。このμC−3iは粒径が約
数十Å以上である微結晶が集合して形成されている。
para−8iは、μc−8iとa−3iとの中間の性
質を示す。para−3rは、μC−3iのように明瞭
な結晶回折パターンを示すことはないが、2θが27乃
至28°の近傍に幅広いピークを示す。para−8i
は、5乃至20人の粒径の微結晶シリコンを含有してい
ると考えられる。
例えば、μc−3iとa−8iとの氾合体とは、μc−
8iの結晶領域がa−3i中に混在していて、μc−3
i及びa−8iが同程度の体積比で存在するものをいう
。また、μc−8iとa−8iとの積層体とは、大部分
がa−8iからなる層と、μc−3iが充填された層と
が積層されているものをいう。
この発明において使用するμc−3i、para−8i
及びa−3iは、ホール移動度が104d/秒・V以上
と、従来のa−3iと比較して大きく、キャリアが高速
で移動するという特徴を有する。このような材料におい
ては、ESRにて求められるスピン密度が、1 X 1
0” /cta3以下と、従来のa−3tと比較して小
さい。つまり、従来のa−8iにおいては、スピン密度
が水素含有量に依存して1Q111乃至1019/Cr
R3の範囲で変化する。しかし、この発明においては、
スピン密度が、1 X 10” ’ /cj+3以下で
ある。
ESRにおけるスピン密度は、シリコンのダングリング
ボンド(未結合手)の数に対応しており、スピン密度が
小さい層程、ダングリングボンドが少なく、欠陥が少な
い良質の層である。このため、スピン密度が小さい程、
キャリアが欠陥に捕捉される頻度が少なくなり、移動度
が大きく寿命が長い良好な光導電性を示す層が得られる
。つまり、光導電層は、キャリアを捕獲するトラップが
存在しないことが理想的である。しかし、シリコン層は
、単結晶でない以上、多少の不規則性が存在し、ダング
リングボンドが存在する。この場合に、水素を含有させ
ると、水素がシリコンダングリングボンドのターミネー
タとして作用し、結合を補償する。この場合に、スピン
密度が1X10”/13以下のμc−3i 、para
−3i又はa−8iにおいては、少量の水素でダングリ
ングボンドが高効率で補償される。このため、この光導
電層は、キャリアの走行性が高く、良好な光導電性を示
す。
このような欠陥が少ないμc−3i、para−3i又
はa−3i層は、高周波グロー放電分解法により、シラ
ンガスを原料として、導電性支持体上に堆積させること
により製造することができる。しかしながら、その成膜
条件は従来のa−8iを成膜するときの条件と異なる。
つまり、支持体の温度はa−3iを形成でる場合よりも
高く設定し、高周波電力もa−3iの場合よりも高く設
定する。また、原料のシラン(SiH+)ガスを、水素
ガス又はヘリウムガス等で希釈する方が欠陥が少ない層
を形成することができる。具体的には、支持体の温度は
、200℃以上、好ましくは、300℃以上であり、高
周波電力の投入パワーは、パワー密度で0.1ワツト/
 cti以上、好ましくは、0.3ワット/C!4以上
である。また、水素ガス及び/又はヘリウムガスで、シ
ランガスを数分の1乃至10分の1に希釈する。
このようなプラズマ条件下においては、成膜中のシリコ
ン表面の水素原子が活性な水素原子及び又はヘリウム原
子による衝突を受けて弾き飛ばされ、シリコン層内の水
素含有量が少なくなる。このため、先導ri層の光学的
バンドギャップが小さくなるので、光導電層は長波長領
域の光を吸収しやすくなり、長波長光に対して感度を有
するようになる。つまり1.czc−31,para−
s r又はa−8i層は、その光学的エネルギギャップ
Eaよりも大きなエネルギの光を吸収し、小さなエネル
ギの光は透過する。このため、この光学的エネルギギャ
ップが大きい (1,65乃至1.70eV)従来のa
−8iは可視光エネルギしか吸収しないが、この発明の
ように、エネルギギャップが小さい場合は、可視光より
長波長であつでエネルギが小さな近赤外光までも吸収す
ることができる。
また、このプラズマ条件下においては、シリコンS1の
原子配列が4配位結合を示すft411!が多くなり、
ダングリングボンドが生じにくくなる。従って、このよ
うに成膜したシリコン層においては、従来のa−3i層
と異なり、水素含有曽が少量であるにも拘らず、欠陥が
少なくキャリアの移動度が大きい。
@1図は、この発明に係る電子写真感光体を製造する装
置を示す図である。ガスボンベ1,2゜3.4には、例
えば、夫々3iH4,B2 H6。
H2,He、CH4、N2等の原料ガスが収容されてい
る。これらのガスボンベ1.2.3.4内のガスは、流
量調整用のバルブ6及び配管7を介して混合器8に供給
されるようになっている。各ボンベには、圧力計5が設
置されており、この圧力計5を監視しつつ、バルブ6を
調整することにより、混合器8に供給する各原料ガスの
′f&量及び混合比を調節することができる。混合器8
にて混合されたガスは反応容器9に供給される。反応容
器9の底部11には、回転軸10が鉛直方向の回りに回
転可能に取りつけられており、この回転軸10の上端に
、円板状の支持台12がその面を回転軸1oに垂直にし
て固定されている。反応容器9内には、円筒状の電橋1
3がその軸中心を回転軸10の軸中心と一致させて底部
11上に設置されている。感光体のドラム基体14が支
持台12上にその軸中心を回転軸10の軸中心と一致さ
せて載置されており、このドラム基体14の内側には、
ドラム基体加熱用のヒータ15が配設されている。電極
13とドラム基体14との間には、高周波電源16が接
続されており、電極13及びドラム基体14間に高周波
電流が供給されるようになっている。回転軸10はモー
タ18により回転駆動される。反応容器9内の圧力は、
圧力計17により監視され、反応容器9は、ゲートバル
ブ18を介して真空ポンプ等の適宜の排気手段に連結さ
れている。
このように構成される装置により感光体を製造する場合
には、反応容器9内にドラム基体14を設置した後、ゲ
ートバルブ19を開にして反応容器9内を約0.1トル
(Torr)の圧力以下に排気する。次いで、ボンベ1
.2.3.4から所要の反応ガスを所定の混合比で混合
して反応容器9内に導入する。この場合に、反応容器9
内に導入するガス流量は、反応容器9内の圧力が0. 
1乃至1トルになるように設定する。次いで、モータ1
8を作動させてドラム基体14を回転させ、ヒータ15
によりドラム基体14を一定温度に加熱すると共に、高
周波電源16により電極13とドラム基体14との間に
高周波電流を供給して、両者間にグロー放電を形成する
。これにより、ドラム基体14上にμc−3i、par
a−8i又はa−3iが堆積する。なお、原料ガス中に
N20.NH3、NO2、N2 、CH4。
C2H4,02ガス等を使用することにより、これらの
元素をuC;−8i 、 para−3i又はa−3i
中に含有させることができる。
このように、この発明に係る電子写真感光体は従来のa
−8iを使用したものと同様に、クローズドシステムの
製造tjfi!で製造することができるため、人体に対
して安全である。また、この電子写真感光体は、耐熱性
、耐湿性及び耐摩耗性が優れているため、長期に亘り繰
り返し使用しても劣化が少なく、寿命が長いという利点
がある。さらに、GeH4等の長波長増感用ガスが不要
であるので、廃ガス処理設備を設ける必要がなく、工業
的生産性が著しく高い。
μc−8i 1pa ra−8i及びa−3iには、水
素Hを0.01乃至30@子%、好ましくは、0.05
乃至20原子%含有させることが好ましい。これにより
、暗抵抗と明抵抗とが調和のとれたものになり、光導電
特性が向上する。μC−8i 、para−8i又はa
−3iへの水素のドーピングは、例えば、グロー放電分
解法による場合は、SiH+及び5i2e6等のシラン
系の原料ガスと、水素又はヘリウム等のキャリアガスと
を反応容器内に導入してグロー放電させるか、S i 
F4及び5iCI4等のハロゲン化ケイ素と、水素ガス
又はヘリウムガスとの混合ガスを使用してもよいし、ま
た、シラン系ガスと、ハロゲン化ケイ素との混合ガスで
反応させてもよい。更に、グロー放電分解法によらず、
スパッタリング等の物理的な方法によってもμc−8i
t!1を形成することができる。なお、これらの材料で
形成された光導電層は、光導電特性上、1乃至80μm
の層厚を有することが好ましく、更に層厚を5乃至50
μmにすることが望ましい。
μc−8iに、窒素N、炭素C及び酸素Oから選択され
た少なくとも1種の元素をドーピングすることが好まし
い。これにより、μc−3iの暗抵抗を高くして光導電
特性を高めることができる。
これらの元素はシリコンダングリングボンドのターミネ
ータとして作用して、バンド間の禁制量中に存在する状
態密度を減少させ、これにより、暗抵抗が高くなると考
えられる。
導電性支持体と光導電層との間に、障壁層を配設づるこ
とか好ましい。この障壁層は、導電性支持体と、光導電
層との間の電荷の流れを抑制することにより、電子写真
感光体の表面における電荷の保持機能を高め、電子写真
感光体の帯電能を高める。カールソン方式においては、
感光体表面に正帯電させる場合には、支持体側から光導
電層へ電子が注入されることを防止するために、障壁層
をp型にする。一方、感光体表面に負帯電させる場合に
は、支持体側から光導電層へ正孔が注入されることを防
止するために、障壁層をn型にする。
また、障壁層として、絶縁性の膜を支持体の上に形成す
ることも可能である。障壁層はμc−8i又はpara
−8iを使用して形成してもよいし、a−8iを使用し
て障壁層を構成づることも可能である。この障壁層の層
厚は0.01乃至10μmであることが好ましい。
μc−8i及びa−5iをp型にするためには、周期律
表の第■族に属する元素、例えば、ホウ素B、アルミニ
ウムA1、ガリウムGa、インジウムln、及びタリウ
ムT1等をドーピングすることが好ましく、μc−8i
層をn型にするためには、周期律表の第V族に属する元
素、例えば、窒素N、リンP、ヒ素As、アンチモンs
b、及びビスマス81等をドーピングすることが好まし
い。
このn型不純物又はn型不純物のドーピングにより、支
持体側から光導電層へ電荷が移動することが防止される
また、バンドギャップを拡げることにより、障壁層を形
成することもできる。これは、a−8iにC,O,Nを
含有させればよい。このC,O。
Nを含有するa−3iに周規律表の第度族又は第V族に
+aする元素をドーピングすることによって、そのブロ
ッキング能を一層高めることができる。
更に、C,O,Nを含有するa−8i層と、周規律表の
第■族又は第V族に属する元素を含有するa−8i層と
を積層させることによっても、帯電能及び電荷保持能が
高い障壁層を得ることができる。
光導電層の上に表面層を設けることが好ましい。
光導電層のtic−8i 、para−3i又はa−5
iは、その屈折率が3乃至4と比較的大きいため、表面
での光反射が起きやすい。このような光反射が生じると
、光導電層に吸収される光量の割合いが低下し、光損失
が大きくなる。このため、表面層を設けて反射を防止す
ることが好ましい。
また、表面層を設けることにより、光導電層が損傷から
保護される。さらに、表面層を形成することにより、帯
電能が向上し、表面に電荷がよくのるようになる。表面
層を形成する材料としては、Si3N+、SiO2、S
tC,A120x、8N、a−3iN :H,a−8i
o:H,a−8iC:H,para−8iN、1)ar
a−3to、para−8i C1μc−3iN、μC
−8iC及びμc−8iO等の無機化合物及びポリ塩化
ビニル及びポリアミド等の有機材料がある。
電子写真感光体としては、上述のごとく、支持体上に障
壁層を形成し、この障壁層上に光導電層を形成し、この
光導電層の上に表面層を形成したものに限らず、支持体
の上に電荷移動層(CTL)を形成し、電荷移動層の上
に電荷発生層(CGL)を形成した機能分離型の形態に
構成することもできる。この場合に、電荷移動層と、支
持体との間に、障壁層を設けてもよい。電荷発生層は、
光の照射によりキャリアを発生する。この電荷発生層は
、層の一部又は全部がホール移動度が104cd/秒−
V以上であるμC−3i 、 para−3i又はa−
8iで形成されていることが好ましい。
このようなu、C−8i 、 Da ra−8i又はa
−3i層は、その光学的バンドギャップEaが従来のa
−8iより低いので広い波長a域に亘って高感度である
。従って、特に、半導体レーザを使用したレーザプリン
タ用の感光体として好適である。
この電荷発生層の厚さは0.1乃至30μm、好ましく
は、3乃至10μmにする。電荷移動層は電荷発生層で
発生したキャリアを高効率で支持体側に到達させる層で
あり、このため、キャリアの庁命が長く、移動度が大き
く輸送性が高いことが必要である。この電荷移動層はホ
ール移動度が10’ci/秒−V以上であるμc−3i
、para−3i又はa−8iの1又は2以上の材料で
形成することができる。このような材料は少量の水素で
ダングリングボンドを補償することができ、欠陥が少な
く、キャリアの走行性が良好な電荷移動層を形成するこ
とができる。また、電荷移動層には、暗抵抗を高めて帯
電能を向上させるために、周期律表の第1族又は第V族
のいずれか一方に属する元素をライトドーピングするこ
とが好ましい。また、帯電能を一層向上させ、電荷移動
層と電荷発生層との両改能を持たせるために、C,N、
Oの元素のうち、いずれか1種以上を含有させてもよい
。電荷移動層は、その瑛厚が薄過ぎる場合及び厚過ぎる
場合はその機能を充分に発揮しない。このため、電荷移
動層の厚さは3乃至80μm1好ましくは、10乃至3
0Ltmである。
障壁層を設けることにより、電荷移動層と電荷発生層と
を有する機能分離型の感光体においても、その電荷保持
機能を高め、帯電能を向上させることができる。なお、
障壁層をp型にするか、又はn型にするかは、その帯電
特性に応じて決定される。この障壁層は、a−3iで形
成してもよく、またμc−3iで形成してもよい。
[実施例] 第2図及び第3図は、この発明を具体化した第1の具体
例に係る電子写真感光体を示づ一部断面図である。第2
図においては、導電性支持体21の上に、障壁層22が
形成され、障壁層22の上に光導電層23が形成されて
いる。第3図においては、光導電層23の上に、表面層
24が形成されている。
光導電層23は、水素を含有するμc−3i、para
−3i又はa−s−:r形成されており、この光導電層
23には周現イ11表の第1族又は第V族に属する元素
をドーピングすることが好ましい。
また、C,O,Nのうち、少なくとも1種の元素を含有
させることによって、帯電能及び電荷保持能を高めるこ
とができる。また、光導電層23のホール移動度は10
’ci/秒・7以上である。このため、その光学的エネ
ルギギャップは従来のa−3iよりも小さいので、光導
電層23は広い波長領域に亘って高感度である。また、
この光導電層は少量の水素でシリコンダングリングボン
ドが高効率で補償されており、欠陥が少なくキャリアの
走行性が高い。
第4図乃至第6図は、この発明の第2の具体例に係る電
子写真感光体を示す一部断面図である。
第4図に示す感光体においては、アルミニウム製の導電
性支持体31の上に、障壁132が形成されており、こ
の障壁層32の上に電荷移vJ層33が形成されていて
、電荷移fjJ層33の上には、電荷発生層34が形成
されている。第5図に示す感光体においては、電荷発生
層34の上に、表面層35が形成されている。更に、第
6図に示す感光体は、電荷発生層34と表面層35との
間に、従来の成膜条件によって成膜したa−8i重電荷
生層36が形成されている。
電荷発生層34は、水素を含有するμc−3i、par
a−3i又はa−8iで形成することができ、この電荷
発生層34には周規律表の第1族又は第V族に属する元
素をドーピングすることが好ましい。また、C,O,N
のうち、少なくとも1種の元素を含有させることによっ
て、帯電能及び電荷保持能を高めることかできる。また
、電荷発主層34のホール移e度は110−2cm2/
秒・V以上である。このため、その光学的エネルギギャ
ップは従来のa−3iよりも小さいので、電荷発生層3
4は広い波長領域に亘って高感度である。従って、感光
体を可視光領域から近赤外領域(例えば、半導体レーザ
の発振波長である790nm付近)まで、高感度化する
ことができる。また、電荷移動層33を水素を含有する
と共に、そのホール移動度が10 ” ai、/秒・V
以上のμc−8i、para−8!又はa−3iで形成
することができる。これらの材料においては、9罐の水
素でシリコンダングリングボンドが高効率で補償されて
おり、欠陥が少なくキャリアの走行性が高い。従って、
これらの材料を使用することにより、キャリアの走行性
が高い電荷移動層を得ることができる。
次に、この発明の実施例について説明する。
実施例1 この実施例は、第3図に示す光導N層を有する型の電子
写真感光体についてのものである。導電性基板としての
Allドラム(直径80an、長さ350an)をトリ
クレンで脱脂した後、反応容器内に装填し、反応容器内
を、図示しない拡散ポンプにより、排気し、約10ろト
ルの真空度にする。
なお、必要に応じて、ドラム基体表面を酸処理、アルカ
リ処理及びサンドブラスト処理等する。その後、ドラム
基体を加熱して約300℃に保持し、5008CCM(
7)ilf7)S i H4fjス、コノS i H4
ガス流量に対する流量比が10−6の82 H6ガス、
及び11005CCのCH4ガスを混合して反応容器に
供給した。その後、メカニカルブースタポンプ及びロー
タリポンプにより反応容器内を排気し、その圧力を1ト
ルに調整した。
ドラム基体を回転(毎分10回転)させつつ、電極に1
3.56MHzで300ワツトの高周波電力を印加して
、電極とドラム基体との間に、SiH+、BzHs及び
C)−14のプラズマを生起させ、所定時間成膜を継続
した後、ガスの供給及び電 力の印加を停止した。これにより、p型のアモルファス
炭化シリコンからなる障壁層を形成した。
その後、S i H4ガス流量を200SCCM、82
 Hsガス流量をSiH+ガスに対して10−Tに設定
し、更に28LMの流量でH2ガスを反応容器に導入し
た。そして、反応圧力が1.2トル、高周波電力が2k
Wの条件で、30μmの光導電層を形成した。その後、
同様の操作により、C2O及びNを含有したa−8iか
らなる表面層を形成した。
このようにして成膜した電子写真感光体を半導体レーザ
プリンタに81してカールソンプロセスにより画像を形
成したところ、感光体表面の露光量が25erg/7で
あっても、鮮明で解像度が高い画像を得ることができた
。また、複写を繰返して転写プロセスの再現性及び安定
性を調査したところ、転写画像は極めて良好であり、耐
コロナ性、耐湿性及び耐摩耗性等の耐久性が優れている
ことが実証された。
この実施例は、第5図に示す機能分離型の電子写真感光
体であって、電荷発生層がこの発明の特許請求の範囲に
て規定された材料で形成されたものである。障壁層の成
膜条件は実施例1と同様である。電荷移動層は、SiH
+ガスに対するB2H6の流量比が10う、CH4ガス
の流量が01投入電力が350kWの条件で成膜した。
これにより、20μmの厚みを有するa−8iからなる
電荷移動層が形成された。
次いで、SiH+ガスを200SCCM。
82 H6ガスのSiH+ガスに対する流量比を10−
”、)−12ガスの流量を23LMに設定してこれらの
ガスを反応容器内に導入した。そして、反応圧力が1.
2トルの状態で2kWの電力を投入して成膜し、5μm
の厚みを有するμc−8iからなる電荷発生層を形成し
た。その後、同様の操作により、C1o及びNを含有し
たa−8iからなる表面層を形成した。
このようにして成膜した電子写真感光体を半導体レーザ
プリンタに装着してカールソンプロセスにより画像を形
成したところ、感光体表面の露光計が25erg/cI
11であっても、鮮明でwI像度が高い画像を得ること
ができた。また、複写を繰返して転写プロセスの再現性
及び安定性を調査したところ、転写画像は極めて良好で
あり、耐コロナ性、耐湿性及び耐摩耗性等の耐久性が擾
れていることが実証された。
jL3 この実施例は、第5図に示す機能分離型の電子写真感光
体であって、電荷移動層がこの発明の特許請求の範囲に
て規定された材料で形成されたものである。障壁1の成
膜条件は実施例1と同様である。電荷移動層は、SiH
+ガスの流量が200SCCM、S i H4ガスに対
するB2 H6の流量比が10−’、CH+ガスの流量
がO,H2ガスの流量が28LM、反応圧力が1.2ト
ル、投入電力が2kWの条件で成膜した。これにより、
20amの厚みを有するμc−8iからなる電荷移り層
が形成された。
次いで、S i H4ガスを増量し、投入電力を低下さ
せてa−8iからなる電荷発生層を5μm形成した。そ
の後、同様の操作により、C9○、Nを含有するa−3
tからなる表面層を形成した。
このようにして成膜した電子写真感光体を半導体レーザ
プリンタに装着してカールソンプロセスにより画像を形
成したところ、感光体表面の露光量が25erg/cI
iであっても、鮮明で解像度が高い画像を(ηることが
できた。また、複写を繰返して転写プロセスの再現性及
び安定性を調査したところ、転写画像は極めて良好であ
り、耐コロナ性、耐湿性及び耐摩耗性等の耐久性が優れ
ていることが実証された。
[発明の効果〕 この発明によれば、高抵抗で帯電特性が優れており、ま
た可視光及び近赤外光領域において高光感度特性を有し
、製造が容易であり、実用性が高い電子写真感光体を得
ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明に係る電子写真感光体の製造装置を示
す図、第2図乃至第6図はこの発明の実施例に係る電子
写真感光体を示す断面図である。 1.2,3,4;ボンベ、5;圧力計、6;バルブ、7
;配管、8;混合器、9;反応容器、10;回転軸、1
3;電穫、14ニドラム基体、15;ヒータ、16;高
周波電源、19;ゲートバルブ、21,31 :支持体
、22,32:障壁層、23;光導電層、24.35:
表面層、33;電荷移tI1層、34;電荷発生層、3
6 ; a−8i電荷発生層。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 d 第1図 第2図 第3図 第4図 第5図

Claims (11)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)導電性支持体と、この導電性支持体の上に形成さ
    れた画像形成層と、を有する電子写真感光体において、
    前記画像形成層の少なくとも一部の領域がマイクロクリ
    スタリンシリコン、パラクリスタリンシリコン又はアモ
    ルファスシリコンの1又は2以上の材料で形成されてお
    り、この領域には水素が含有され、この領域のホール移
    動度が10^−^2cm^2/秒・V以上であることを
    特徴とする電子写真感光体。
  2. (2)前記ホール移動度は10^−^1cm^2/秒・
    V以上であることを特徴とする特許請求の範囲第1項に
    記載の電子写真感光体。
  3. (3)前記領域は、周規律表の第III族又は第V族に属
    する元素を含有することを特徴とする特許請求の範囲第
    1項又は第2項に記載の電子写真感光体。
  4. (4)前記領域は、炭素、酸素又は窒素の1又は2以上
    の元素を含有することを特徴とする特許請求の範囲第1
    項乃至第3項のいずれか1項に記載の電子写真感光体。
  5. (5)前記画像形成層は、導電性支持体の上に形成され
    た障壁層を有することを特徴とする特許請求の範囲第1
    項乃至第4項のいずれか1項に記載の電子写真感光体。
  6. (6)前記領域は、光導電層であることを特徴とする特
    許請求の範囲第1項乃至第5項のいずれか1項に記載の
    電子写真感光体。
  7. (7)前記領域は、電荷発生層であることを特徴とする
    特許請求の範囲第1項乃至第5項のいずれか1項に記載
    の電子写真感光体。
  8. (8)前記領域は、電荷輸送層であることを特徴とする
    特許請求の範囲第1項乃至第5項のいずれか1項に記載
    の電子写真感光体。
  9. (9)前記障壁層は、マイクロクリスタリンシリコン、
    パラクリスタリンシリコン又はアモルファスシリコンの
    1又は2以上の材料で形成されており、周規律表の第I
    II族又は第V族に属する元素を含有することを特徴とす
    る特許請求の範囲第5項に記載の電子写真感光体。
  10. (10)前記障壁層は、炭素、酸素又は窒素の1又は2
    以上の元素を含有することを特徴とする特許請求の範囲
    第9項に記載の電子写真感光体。
  11. (11)前記画像形成層は、導電性支持体の反対側に配
    設された表面層を有することを特徴とする特許請求の範
    囲第1項に記載の電子写真感光体。
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