JPS6278805A - 結晶質軟磁性薄膜 - Google Patents

結晶質軟磁性薄膜

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JPS6278805A
JPS6278805A JP21873785A JP21873785A JPS6278805A JP S6278805 A JPS6278805 A JP S6278805A JP 21873785 A JP21873785 A JP 21873785A JP 21873785 A JP21873785 A JP 21873785A JP S6278805 A JPS6278805 A JP S6278805A
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和彦 林
Masatoshi Hayakawa
正俊 早川
Yoshitaka Ochiai
落合 祥隆
Hideki Matsuda
秀樹 松田
Osamu Ishikawa
理 石川
Hiroshi Iwasaki
洋 岩崎
Koichi Aso
阿蘇 興一
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、良好な軟磁気特性を示し磁気ヘッド材料等に
好適な軟磁性TiJ膜に関するものである。
〔発明の概要〕
本発明は、Fe、Co。Ga、Siを主成分とする新規
な組成を有する軟磁性yl膜を提供し、特に飽和磁束密
度Bsが極めて大きな軟磁性薄膜を提供するものである
(従来の技術〕 例えばオーディオテープレコーダやVTR(ビデオテー
プレコーダ)等の磁気記録再生装置においては、記録信
号の高密度化や高品質化等が進められており、この高記
録密度化に対応して、磁気記録媒体として磁性粉にFe
、Go、Ni等の金属あるいは合金からなる粉末を用い
た、いわゆるメタルテープや、強磁性金属材料を真空薄
膜形成技術によりベースフィルム上に直接被着した、い
わゆる蒸着テープ等が開発され、各分野で実用化されて
いる。
ところで、このような高抗磁力を有する磁気記録媒体の
特性を発揮せしめるためには、磁気ヘッドのコア材料の
特性として、高い飽和磁束密度を存するとともに、同一
の磁気ヘッドで再生を行なおうとする場合においては、
高透磁率を併せて有することが要求される。例えば、従
来磁気へ、ドのコア材料として多用されているフェライ
ト材では飽和磁束密度が低く、また、パーマロイでは耐
摩耗性に問題がある。
従来、かかる諸要求を満たすコア材料として、Fa−A
j!−3i系合金からなるセンダスト合金が好適である
と考えられ、すでに実用に供されていることは周知の通
りである。
しかしながら、このセンダスト合金のように軟磁気特性
に優れた材料においては、磁歪λSと結晶((i気嚢方
性Kが共に零付近であることが望ましく、磁気ヘッドに
使用可能な材料組成はこれら両者の値を考慮して決めら
れる。したがって、飽和磁束密度もこの組成に対応して
一義的に決まり、センダスト合金の場合、10〜llk
ガウスが限界である。
あるいは、上記センダスト合金にかわり、高周波数領域
での透磁率の低下が少なく高い飽和磁束密度を有する非
晶質磁性合金材料(いわゆるアモルファス磁性合金材料
)も開発されているが、この非晶質磁性合金材料でも飽
和磁束密度は12にガウス程度であり、また、熱的に不
安定で結晶化の可能性が大きいので500°C以上の温
度を長時間加えることはできず、例えばガラス融着のよ
うに各種熱処理が必要な磁気ヘッドに使用するには工程
上制限が生ずる。
〔発明が解決しようとする問題点〕
このような状況から、高品質化、高記録密度化を図るた
めの磁気記録媒体の高抗磁力化の試みも、従来のコア材
料を用いる限りにおいて、飽和磁束密度の限界から自ず
と制約を受けているのが現状である。
そこで本発明は、上述の従来の実情に鑑みて提案された
ものであって、センダスト合金と同程度の軟磁気特性(
透磁率や抗磁力等)を存し、高い飽和磁束密度を有する
軟磁性薄膜を提供することを目的とする。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明者等は、上述の目的を達成せんものと長期に亘り
鋭意研究の結果、次のような知見を得るに至った。
すなわち、 (1)センダスト合金以上の飽和磁束密度Bsを有する
軟磁性材料を得るためには、磁歪λ、=0の線と結晶磁
気異方性に=Oの線との交点がよりFe高濃度側になけ
ればならないこと。しかも、磁化の減少の割合が34や
Aβよりも穏やかな元素が望ましいこと。
(2)また、磁気モーメントの減少という観点から見る
と、絶対零度における磁気モーメントの減少の割合は、
l原子%あたりA1で−2,66μm、Siで−2,2
9μm 、 Gaで−1,43μl 、 Geで−1,
36μ8であることから、これらの元素を適当に組み合
わせることにより、Fe−3i−A6の組み合わせより
も高飽和磁束密度が得ら−れる可能性があること。
f31 Coの添加は飽和磁束密度のみならず耐蝕性や
耐摩耗性の向上に効果があること。
である。
そこで、本発明においては、その組成をFe−Co−G
a−3i系合金とし、さらに検討を加えた。
先ず、Fe−Co−Ga−3i系合金を各々3成分系に
分割し、それぞれ結晶6d気異方性に=0と磁歪λ1=
0の線を調べると、第1図(A)ないし第1図(C)に
示すようなものであった。即ち、Fe−Ga−5iの3
元系においては、第1図(B)に示すようにに=Oとλ
8=0の交点が存在し、その領域で軟磁気特性が得られ
る。Fc−Co−3i3元系においても、第1図(C)
に示すように、同様にに=Oとλ、=0の交点が存在す
る。一方、Fe−Go−Ga3元系においては、第1図
(Δ)に示すようにに=Oの線は存在するが、λ、−0
の線は不明確で、しかもFe高濃度側では存在しない。
したがって、Fe−C0−Ga−3iの状態図を立体的
に考えると、K=0の面とλ3−0の面が少なくともF
eA1?ffi度側の領域で存在し、その交線で軟磁気
特性が得られるものと推定される。
また、Fe−Ga−3i系合金にCOを添加するという
観点から見ると、COの添加量の増加とともに飽和磁束
密度のみならず耐蝕性、耐摩耗性は明らかに向上するが
、CO添加量が多過ぎると飽和磁束密度の劣化が顕著に
なるばかりか、軟磁気特性も悪化する。
例えば、Fett、4−++C0xGat、+S il
s、sとし、Go添加量と熱処理(500℃および55
0℃)後の抗磁力Hcとの関係を調べたところ、第3図
に示すように、CO添加量10原子%付近で抗磁力Hc
は穫小値を示し、20原子%を越えると軟仔(気持性が
著しく悪化することがわかった。したがって、CO添加
量には最適値が存在する。
以上の点を併せ考え、さらに実験を重ねた結果、本発明
の軟磁性薄膜は、FeXCo、GaaS ’rb(ただ
しx、y、a、bはそれぞれ組成比を原子%として表す
。)なる組成式で示され、その組成範囲が 65≦z+y≦85 Q<y≦20 1≦a≦35 ■≦b≦35 z+y+a+b=100 なる関係を満足することを特徴とした。
すなわち、本発明の軟磁性薄膜は、Fe、Co。
Ga、Siを主成分とするものであって、センダスト合
金よりも飽和磁束密度BSははるかに高く、また、Fe
−3i系合金である電磁鋼板よりも軟磁気特性や耐蝕性
に優れるものである。なお、上記組成式において、Ga
の一部をAJで置換してもよく、また、Siの一部をG
em:置換してもよい。
本発明の軟磁性薄膜においては、各成分元素の組成比を
所定の範囲内に設定することが好ましく、この範囲を外
れると磁歪が大きくなり、磁気特性が劣化する。
上記軟磁性薄膜の製造方法としては種々の方法が考えら
れるが、なかでも真空薄膜形成技術によるのが良い。
この真空薄膜形成技術の手法としては、スパッタリング
やイオンブレーティング、真空蒸着法。
クラスター・イオンビーム法等が挙げられる。
また、上記各成分元素の組成を調節する方法としては、 1)Fe、にo、Ga、Siを所定の割合となるように
秤量し、これらをあらかしめ例えば高周波溶解炉等で溶
解して合金インゴットを形成しておき、この合金インゴ
ットを蒸発源として使用する方法、 11)各成分の単独元素の蒸発源を用意し、これら蒸発
源の数で組成を制御する方法、 111)各成分の単独元素の蒸発源を用意し、これら蒸
発源に加える出力(印加電圧)を制御して蒸発スピード
をコントロールし組成を制御する方法、 iv)合金を蒸発源として蒸着しながら他の元素を打ち
込む方法、 等が挙げられる。
なお、上述の真空薄膜形成技術等により膜付けされた軟
磁性薄膜は、そのままの状態では保磁力は若干高い値を
示し良好な軟磁気特性が得られないので、熱処理を施し
て膜の歪を除去し、軟磁気特性を改善することが好まし
い。
〔作用〕
このように、軟磁性薄膜の構成元素としてFe。
Co、Ga、Siを選び、これらの組成比を所定の範囲
内に設定することにより、飽和磁束密度BSはセンダス
ト合金等に比べて大幅に大きなものとなり、抗磁力、透
磁率等の軟磁気特性や耐蝕性。
耐摩耗性も確保される。
〔実施例〕
以下、本発明の具体的な実施例について説明するが、本
発明がこの実施例に限定されるものではない。
先ず、Fe、Co、Ga、Siをそれぞれ所定の組成比
となるように秤遺し、アルゴン雰囲気中で高面′$L誘
導力U熱炉を用いて・)8解・鋳造後、さらに機械加工
を行って直径4インチ、厚み4■曽のスパックリング用
合金ターゲットを得た。
次に、この合金ターゲットを用いて、高周波マグネトロ
ンスパッタ装置により、アルゴン分圧5X 10−3T
orr、投入電力300Wの条件でスパッタリングを行
い、水冷した結晶化ガラス基板(保谷ガラス社製、商品
名HOYA  PEG3L30C)上に膜厚約1μmの
薄膜を得た。
さらに、このvR膜を、l X l O−’Torr以
下の真空下でTaなる温度で1時間焼鈍し、徐冷して軟
磁性薄膜を得た。
上述の方法に従い、合金ターゲットの組成比を次表中に
示すような値に設定し、サンプル1ないしサンプル11
を作製した。
得られた各サンプルについて、軟磁性薄膜の膜組成を分
析し、飽和磁束密度Bs、抗磁力Hc。
i3 K’を率#(IMIIzおよび100M1lzに
おける値)。
磁歪および耐蝕性について調べた。
ここで、飽和磁束密度Bsは試料振動磁束計(VSM)
、抗61力HeはB−Hループトレーサ、透磁率μは8
の字コイル型透磁率計で測定した。
また、各サンプルの膜厚は、試料表面にアルミニウムを
薄く蒸着し、多重干渉膜厚計によって膜と基板との段差
を測定することにより求めた。さらに、各サンプルの組
成分析は、E P M A (Electron Pr
obe Micro−Analysis)法によった。
各サンプルの耐蝕性は、室温で水道水に約−週間浸した
後の膜面の表面の観察に依った。この耐蝕性の評価は、
下記のような表面状態から判定した。
A;膜面に変化がなく、鏡面を保ったままの状態。
B:膜面に薄く錆が発生した状態。
C:膜面に濃く錆が発生した状態。
D=膜自体が消失する程度に錆が発生した状態。
結果を次表に示す。なお、比較のために、上述の方法と
同様に成膜したFe−3i合金(電磁鋼板)およびFe
−3i−AJ金合金センダスト)についても、それぞれ
比較サンプルlおよび比較サンプル2として、各値を測
定した。
(以下余白) この表より、本発明に係る各サンプルにあっては、セン
ダスト合金よりも若干軟磁気特性に劣るものの、飽和磁
束密度Bsははるかに高いことがわかる。また、これら
各サンプルの軟し’tl気特性や耐蝕性はFe−Si合
金よりも優れていることがわかる。
ところで、本実施例においては、軟磁性薄膜をスパッタ
リングにより被着した後、温度450〜650℃の条件
で熱処理を施しているが、これは次のような理由による
例えば、Fe6x、eCO+o、oGaz、3S ’+
x、qなる組成を有する軟磁性薄膜(膜厚2μm)につ
いて、スパッタリングにより被着したままの状態で抗磁
力Hcを測定したところ、約20エルステツドとかなり
高い値を示した。
そこで、本発明者等はさらに実験を重ね、スパッタリン
グにより被着した薄膜に対して熱処理を加え、この熱処
理温度と得られる軟磁性薄膜の抗磁力t(c及びI M
 llzにおけるi3佑率μの関係について調べた。結
果を第3図及び第4図に示す。
この第3図より、スパッタリングにより被着した薄膜に
対して熱処理を施すことにより得られる軟磁性薄膜の抗
磁力Hcが大幅に低減し、特にりへ処Il’tFjz度
が450℃の時に極小値を示すことがわかった。同様に
、第4図より、熱処理により透磁率μが向上し、熱処理
温度が45(1℃の時に極大(直を示すことがわ力・っ
た。
実際、この軟磁性薄膜について、熱処理前と温度450
°C,1時間の条件での焼鈍・徐冷後の磁化曲線を求め
たところ、第5図および第6図に示すように、温度45
0℃での熱処理により得られる軟磁性薄膜の磁気特性(
特に抗磁力)が著しく改善されたことがわかった。
上記熱処理温度の最適値は組成比によって若干界なり、
したがって、熱処理温度Taはサンプル毎に決めた。
〔発明の効果〕
上述の説明からも明らかなように、軟磁性薄膜の成分元
素としてFe、Co、Ga、Siを選び、これらの組成
比を所定の値に設定することにより、センダスト合金を
凌ぐ飽和磁束密度Bsを達成することができるとともに
、軟磁気特性や耐蝕性。
耐摩耗性を確保することが可能となった。
したがって、この軟磁性薄膜を例えば(イl気へノドの
コア材料として用いることにより、磁気記録媒体の高抗
磁力化に充分対処することができ、高品質化や高記録密
度化を図ることが可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図(A)はFe−Co−1ca3元系における結晶
磁気異方性に=Oの線を表す特性図、第1図(B)はF
e−Ga−3t3元系における結晶6ff気異方性に=
0の線とけ歪λ、−〇の線を表す特性図、第1図(C)
はF’e−Co−3t3元系における結晶磁気異方性に
=0の線と磁歪λ1−〇の線を表す特性図である。 第2図はFe7t1−xcolGa7.+s ils、
sにおけるCo添加量Xと抗磁力Hcの関係を熱処理温
度500℃及び550℃の場合について求めた特性図で
ある。 第3図はスパッタリングにより被着した軟磁性薄膜(F
 e bs、ac O+o、aG a 1m、3S i
 11.11)の抗磁力II cと熱処理温度の関係を
示す特性図であり、第4図は透!n率と熱処理温度の関
係を示す特性図である。第5図はこの軟磁性薄膜の熱処
理前の磁化曲線を示す特性図、第6図は450°C,1
時間の熱処理後の磁化曲線を示す特性図である。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】  Fe_xCo_yGa_aSi_b(ただしx、y、
    a、bはそれぞれ組成比を原子%として表す。)なる組
    成式で示され、その組成範囲が 65≦x+y≦85 0<y≦20 1≦a≦35 1≦b≦35 x+y+a+b=100 なる関係を満足することを特徴とする軟磁性薄膜。
JP60218737A 1985-04-11 1985-10-01 結晶質軟磁性薄膜 Expired - Lifetime JPH0746653B2 (ja)

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Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60218737A JPH0746653B2 (ja) 1985-10-01 1985-10-01 結晶質軟磁性薄膜
US06/850,108 US4748000A (en) 1985-04-11 1986-04-10 Soft magnetic thin film
DE8686104897T DE3681056D1 (de) 1985-04-11 1986-04-10 Weichmagnetischer duenner film.
EP86104897A EP0198422B1 (en) 1985-04-11 1986-04-10 Soft magnetic thin film

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JP60218737A JPH0746653B2 (ja) 1985-10-01 1985-10-01 結晶質軟磁性薄膜

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4953050A (en) * 1987-02-04 1990-08-28 Sony Corporation Magnetic head with Ru containing soft magnetic alloy in gap

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58153757A (ja) * 1982-03-05 1983-09-12 Takeshi Masumoto ガリウム含有非晶質磁性合金

Patent Citations (1)

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JPH0746653B2 (ja) 1995-05-17

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