JPS6276440A - 粉粒体の流れ検出器 - Google Patents
粉粒体の流れ検出器Info
- Publication number
- JPS6276440A JPS6276440A JP21847885A JP21847885A JPS6276440A JP S6276440 A JPS6276440 A JP S6276440A JP 21847885 A JP21847885 A JP 21847885A JP 21847885 A JP21847885 A JP 21847885A JP S6276440 A JPS6276440 A JP S6276440A
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- JP
- Japan
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- powder
- pipe
- electrodes
- flow detector
- capacitance detection
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は静電容量式の流れ検出器に関する。
従来の技術
従来、この種の流れ検出器は第１４図と第１５図のよう
に構成されている。１は静電容量検出用電極で、粉粒体
２が通過する樹脂製パイプ３に差込まれており、パイプ
３とは別の位置に取付けられた電子回路〔図示せず〕と
前記電極１とをコード４で接続し、前記電子回路によっ
て電極１間の静電容量変化を測定して、粉粒体２の流れ
の状態が判定されている。
に構成されている。１は静電容量検出用電極で、粉粒体
２が通過する樹脂製パイプ３に差込まれており、パイプ
３とは別の位置に取付けられた電子回路〔図示せず〕と
前記電極１とをコード４で接続し、前記電子回路によっ
て電極１間の静電容量変化を測定して、粉粒体２の流れ
の状態が判定されている。
発明が解決しようとする問題点
このような従来の構成では、電極１がパイプ３内での粉
粒体２の流れを妨げており、粉粒体のスムーズな落下を
期待できない。
粒体２の流れを妨げており、粉粒体のスムーズな落下を
期待できない。
本発明は粉粒体の落下を妨げることのない流れ検出器を
提供することを目的とする。
提供することを目的とする。
問題点を解決するための手段
本発明は粉粒体の流れ検出器は、粉粒体通過経路形成部
材の内周面あるいは外周面に沿って一対以上の静電容量
検出用電極を設け、静電容量検出用電極間の容量変化か
ら粉粒体の流れ状態を検出する検出回路を設けたことを
特徴とする。
材の内周面あるいは外周面に沿って一対以上の静電容量
検出用電極を設け、静電容量検出用電極間の容量変化か
ら粉粒体の流れ状態を検出する検出回路を設けたことを
特徴とする。
作用
この構成によると、静電容量検出用電極を粉粒体通過経
路形成部材の内周面あるいは外周面に沿って設けたため
、内周面に沿って設けた場合には従来に比べて粉粒体通
過経路中への突出量がわずかであり、外周面に沿って設
けた場合にはその突出量を零に出来、粉粒体のスムーズ
な落下を期待できる。
路形成部材の内周面あるいは外周面に沿って設けたため
、内周面に沿って設けた場合には従来に比べて粉粒体通
過経路中への突出量がわずかであり、外周面に沿って設
けた場合にはその突出量を零に出来、粉粒体のスムーズ
な落下を期待できる。
実施例
以下、本発明の実施例を第１図〜第１３図に基づいて説
明する。
明する。
第１図は樹脂製パイプ３の外周面（Ａ）に銅箔等の導電
部を直接に貼着してホット電極５とグランド電極６□、
６□間の静電容量変化を検出回路〔図示せず〕で測定し
て、パイプ３中を通過する粉粒体２の流れ状態が判定さ
れる。
部を直接に貼着してホット電極５とグランド電極６□、
６□間の静電容量変化を検出回路〔図示せず〕で測定し
て、パイプ３中を通過する粉粒体２の流れ状態が判定さ
れる。
このように構成したため、静電容量検出用電極としての
電極５，６□、６□はパイプ３の内部通路（Ｂ□）には
突部として現われないため、粉粒体２の通過を妨げない
。
電極５，６□、６□はパイプ３の内部通路（Ｂ□）には
突部として現われないため、粉粒体２の通過を妨げない
。
第１図ではパイプ３の外周面（Ａ）に電極５゜６□、６
□を設けたが、これは第２図の一部切欠き図に示すよう
に、パイプ３の内周面（Ｃ）に銅箔等の導電部を直接に
貼着して電極５，６１．６□を形成しても同様である。
□を設けたが、これは第２図の一部切欠き図に示すよう
に、パイプ３の内周面（Ｃ）に銅箔等の導電部を直接に
貼着して電極５，６１．６□を形成しても同様である。
但し、この場合にはパイプ３の内部通路（Ｂ１）に導電
部の厚み分の突部が発生するが、ごく僅かであるため粉
粒体２の通過を妨げるものではない。
部の厚み分の突部が発生するが、ごく僅かであるため粉
粒体２の通過を妨げるものではない。
なお、第１図と第２図の実施例では導電部を貼着して電
極５，６１．６２を形成したが、これは貼着によらずに
導電性塗料を印刷することによっても同様の効果が得ら
れる。
極５，６１．６２を形成したが、これは貼着によらずに
導電性塗料を印刷することによっても同様の効果が得ら
れる。
第１図と第２図では筒状のパイプ３の外周あるいは内周
に電極５，６１．６２を形成したが、これはパイプ３を
用いずに第３図、第４図のようにしても構成できる。
に電極５，６１．６２を形成したが、これはパイプ３を
用いずに第３図、第４図のようにしても構成できる。
第３図は電極５，６□、６□のパターンが形成されたフ
レキシブル配線基板７を、そのパターン面（Ｄ）を外側
にして筒状に巻き上げたもので、粉粒体２はパターン面
（Ｄ）の裏面（Ｅ）で囲まれた内部通路（Ｂ２）を通過
する。
レキシブル配線基板７を、そのパターン面（Ｄ）を外側
にして筒状に巻き上げたもので、粉粒体２はパターン面
（Ｄ）の裏面（Ｅ）で囲まれた内部通路（Ｂ２）を通過
する。
第４図はパターン面（Ｄ）を内側にして筒状に巻き上げ
たもので、粉粒体２はパターン面（Ｄ）で囲まれた内部
（Ｂ２）を通過する。
たもので、粉粒体２はパターン面（Ｄ）で囲まれた内部
（Ｂ２）を通過する。
第５図と第６図はパイプ３とフレキシブル配線基板７を
組合せた実施例を示し、フレキシブル配線基板７がパイ
プ３の外周面（Ａ）に被せられている。なお、この場合
にはフレキシブル配線基板７のパターン面（Ｄ）をパイ
プ３の外周面（Ａ）側に配設して巻き上げるか、または
裏面（Ｅ）をパイプ３の外周面（Ａ）側に配設して巻き
上げられる。第７図は第５図の具体例を示し、フレキシ
ブル配線基板７は環状のキャップ８□、８□でパイプ３
の外周面（Ａ）に押付けられており、キャップ８１，８
□の外側にパイプ３を囲むように筒状シールドケース９
が被せられている。１０は中空部で、浮遊容量の低減に
役立っている。
組合せた実施例を示し、フレキシブル配線基板７がパイ
プ３の外周面（Ａ）に被せられている。なお、この場合
にはフレキシブル配線基板７のパターン面（Ｄ）をパイ
プ３の外周面（Ａ）側に配設して巻き上げるか、または
裏面（Ｅ）をパイプ３の外周面（Ａ）側に配設して巻き
上げられる。第７図は第５図の具体例を示し、フレキシ
ブル配線基板７は環状のキャップ８□、８□でパイプ３
の外周面（Ａ）に押付けられており、キャップ８１，８
□の外側にパイプ３を囲むように筒状シールドケース９
が被せられている。１０は中空部で、浮遊容量の低減に
役立っている。
第５図の実施例ではパイプ３の外周にフレキシブル配線
基板７を被せたが、これは第８図と第９図のようにパイ
プ３の内側にフレキシブル配線基板７を挿入しても同様
である。なお、この場合には、パイプ３の内部通路（Ｂ
１）にフレキシブル配線基板７の厚み分の突部が発生す
るが、ごく僅かであるため粉粒体２の通過を妨げるもの
ではない。
基板７を被せたが、これは第８図と第９図のようにパイ
プ３の内側にフレキシブル配線基板７を挿入しても同様
である。なお、この場合には、パイプ３の内部通路（Ｂ
１）にフレキシブル配線基板７の厚み分の突部が発生す
るが、ごく僅かであるため粉粒体２の通過を妨げるもの
ではない。
第８図と第９図の実施例では、パターン面（Ｄ）をパイ
プ３の内周面（Ｃ）側にして挿入されるか、あるいは裏
面（Ｅ）をパイプ３の内周面（Ｃ）側にして挿入される
。
プ３の内周面（Ｃ）側にして挿入されるか、あるいは裏
面（Ｅ）をパイプ３の内周面（Ｃ）側にして挿入される
。
第１０図は静電容量変化から粉粒体の流れ状態を判定す
る検出回路１１と通路形成部材としてのパイプ３との位
置関係を示す。ここでは第１図における実施例のパイプ
３に隣接した近傍位置に検出回路１１を配設して、長い
コードを介さずに検出回路１１と電極５，６□、６２を
接続することによって、浮遊容量を小さく出来ると共に
、全体をコンパクト化できる。１２は電源電圧の印加お
よび流れ状態判定信号の出力などに使用されるケーブル
である。
る検出回路１１と通路形成部材としてのパイプ３との位
置関係を示す。ここでは第１図における実施例のパイプ
３に隣接した近傍位置に検出回路１１を配設して、長い
コードを介さずに検出回路１１と電極５，６□、６２を
接続することによって、浮遊容量を小さく出来ると共に
、全体をコンパクト化できる。１２は電源電圧の印加お
よび流れ状態判定信号の出力などに使用されるケーブル
である。
第１１図は通路形成部材としてのパイプ３を鉛直方向に
対して角度θだけ傾斜させた使用状態を示す。このよう
にすれば、粉粒体２は確実にパイプ３の内周底部１３上
で、電極５，６．．６□に近い位置を確実に通過するよ
うになるため、第１４図のようにパイプ３を真直すぐに
鉛直方向に取付けて粉粒体２を流した場合に比べて検出
感度が大幅に向上する。
対して角度θだけ傾斜させた使用状態を示す。このよう
にすれば、粉粒体２は確実にパイプ３の内周底部１３上
で、電極５，６．．６□に近い位置を確実に通過するよ
うになるため、第１４図のようにパイプ３を真直すぐに
鉛直方向に取付けて粉粒体２を流した場合に比べて検出
感度が大幅に向上する。
なお、第１０図のような検出回路１１の取付は位置と第
１１図のような傾斜取付けによって得られる効果は、第
１図の実施例のみならず、第２図、第３図、第４図、第
５図、および第８図の何れの実施例においても同様に得
られる。
１１図のような傾斜取付けによって得られる効果は、第
１図の実施例のみならず、第２図、第３図、第４図、第
５図、および第８図の何れの実施例においても同様に得
られる。
上記各実施例においては、静電容量検出用電極として１
つのホット電極５と２つのグランド電極６１．６２とを
設けたが、電極の数量および電極形状は上記実施例に限
定されるものではなく、静電容量検出用電極はホット電
極とグランド電極が一対以上設けられていればよい。
つのホット電極５と２つのグランド電極６１．６２とを
設けたが、電極の数量および電極形状は上記実施例に限
定されるものではなく、静電容量検出用電極はホット電
極とグランド電極が一対以上設けられていればよい。
第１２図と第１３図はそれぞれ第３図、第４図、第５図
、および第８図の実施例に使用して有効なフレキシブル
配線基板７の全体の展開図で、矢印Ｆ方向が粉粒体２の
通過方向である。ここでは、５１゜５□がホット電極、
６□、６□、６３がグランド電極であり、第１２図では
ホット電極相互間、グランド電極相互間がそれぞれフレ
キシブル配線基板７のパターン１４□、１４□で連結さ
れている。また、第１３図では外部リード線１５１ に
よってホット電極相互間が接続され、グランド電極相互
間が外部リード線 １５□、１５３によって接続されている。
、および第８図の実施例に使用して有効なフレキシブル
配線基板７の全体の展開図で、矢印Ｆ方向が粉粒体２の
通過方向である。ここでは、５１゜５□がホット電極、
６□、６□、６３がグランド電極であり、第１２図では
ホット電極相互間、グランド電極相互間がそれぞれフレ
キシブル配線基板７のパターン１４□、１４□で連結さ
れている。また、第１３図では外部リード線１５１ に
よってホット電極相互間が接続され、グランド電極相互
間が外部リード線 １５□、１５３によって接続されている。
発明の詳細
な説明のように本発明の粉粒体の流れ検出器は、粉粒体
通過経路形成部材の内周面あるいは外周面に沿って一対
以上の静電容量検出用電極を設けたため、粉粒体通過経
路中への検出用電極の突出量が零あるいは微量であるた
め、粉粒体の流れを妨げることなくその流れ状態を判定
できるものである。
通過経路形成部材の内周面あるいは外周面に沿って一対
以上の静電容量検出用電極を設けたため、粉粒体通過経
路中への検出用電極の突出量が零あるいは微量であるた
め、粉粒体の流れを妨げることなくその流れ状態を判定
できるものである。
第１図は本発明の第１の実施例の要部斜視図。
第２図は第２の実施例の一部切欠き斜視図、第３図は第
３の実施例の要部斜視図、第４図は第４′の実施例の一
部切欠き斜視図、第５図は第５の実施例と第６の実施例
の概略斜視図、第６図は第５図の平面図、第７図は第５
図の具体例を示す一部切欠き正面図、第８図は第７の実
施例と第８の実施例の概略斜視図、第９図は第８図の平
面図、第１０と 図は通路形成部材ｌ検出回路との位置関係を示す斜視図
、第１１図は通路形成部材の取付姿勢を示す一部切欠き
斜視図、第１２図と第１３図はそれぞれフレキシブル配
線基板の展開図、第１４図は従来の流器 れ検出器の要部斜視図、第１５図は第１４図の水平断面
図である。 ２・・・粉粒体、３・・・パイプ、５・・・ホット電極
、。 ６□、６２・・・グランド電極、７・・・フレキシブル
配線基板、９・・・シールドケース、１１・・・検出回
路 −代理人 森 本 義 弘 第３図 第４図 第５図 第７図 第３図 第π図 第１／図 九 第１２図 ７υ 第１３図 第１４図 第６図
３の実施例の要部斜視図、第４図は第４′の実施例の一
部切欠き斜視図、第５図は第５の実施例と第６の実施例
の概略斜視図、第６図は第５図の平面図、第７図は第５
図の具体例を示す一部切欠き正面図、第８図は第７の実
施例と第８の実施例の概略斜視図、第９図は第８図の平
面図、第１０と 図は通路形成部材ｌ検出回路との位置関係を示す斜視図
、第１１図は通路形成部材の取付姿勢を示す一部切欠き
斜視図、第１２図と第１３図はそれぞれフレキシブル配
線基板の展開図、第１４図は従来の流器 れ検出器の要部斜視図、第１５図は第１４図の水平断面
図である。 ２・・・粉粒体、３・・・パイプ、５・・・ホット電極
、。 ６□、６２・・・グランド電極、７・・・フレキシブル
配線基板、９・・・シールドケース、１１・・・検出回
路 −代理人 森 本 義 弘 第３図 第４図 第５図 第７図 第３図 第π図 第１／図 九 第１２図 ７υ 第１３図 第１４図 第６図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、粉粒体通過経路形成部材の内周面あるいは外周面に
沿って一対以上の静電容量検出用電極を設け、静電容量
検出用電極間の容量変化から粉粒体の流れ状態を検出す
る検出回路を設けた粉粒体の流れ検出器。 ２、粉粒体通過経路形成部材を樹脂製筒体で構成し、静
電容量検出用電極を、前記筒体の内周あるいは外周に直
接に導電部を印刷、貼着の何れかにより形成したことを
特徴とする特許請求の範囲第１項記載の粉粒体の流れ検
出器。 ３、粉粒体通過経路部材と静電容量検出用電極を、電極
パターンの形成された可撓性配線基板を筒状に巻き上げ
て構成したことを特徴とする特許請求の範囲第１項記載
の粉粒体の流れ検出器。 ４、粉粒体通過経路形成部材を樹脂製筒体で構成し、静
電容量検出用電極を、電極パターンの形成された可撓性
配線基板を筒状に巻き上げて前記筒体の内周面上に挿入
あるいは外周面上に被せて構成したことを特徴とする特
許請求の範囲第１項記載の粉粒体の流れ検出器。 ５、検出回路と粉粒体通過経路形成部材とを近接して配
設したことを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の粉
粒体の流れ検出器。 ６、静電容量検出用電極を、粉粒体通過経路が鉛直方向
に対して傾斜した部分に配設したことを特徴とする特許
請求の範囲第１項、第２項、第３項、あるいは第４項記
載の粉粒体の流れ検出器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60218478A JPH0656308B2 (ja) | 1985-09-30 | 1985-09-30 | 粉粒体の流れ検出器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60218478A JPH0656308B2 (ja) | 1985-09-30 | 1985-09-30 | 粉粒体の流れ検出器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6276440A true JPS6276440A (ja) | 1987-04-08 |
| JPH0656308B2 JPH0656308B2 (ja) | 1994-07-27 |
Family
ID=16720557
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60218478A Expired - Lifetime JPH0656308B2 (ja) | 1985-09-30 | 1985-09-30 | 粉粒体の流れ検出器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0656308B2 (ja) |
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5450744A (en) * | 1993-09-14 | 1995-09-19 | Senson Limited | Contamination monitoring system |
| WO1996030725A1 (fr) * | 1995-03-30 | 1996-10-03 | Nihon Parkerizing Co., Ltd. | Dispositif de mesure du debit d'une poudre, procede et appareil d'alimentation en poudre |
| JPH08278180A (ja) * | 1995-04-04 | 1996-10-22 | Chichibu Onoda Cement Corp | 粉体流量測定装置 |
| US5945831A (en) * | 1997-06-10 | 1999-08-31 | Sargent; John S. | Volume charge density measuring system |
| JP2005300482A (ja) * | 2004-04-15 | 2005-10-27 | Takenaka Komuten Co Ltd | 打設中のコンクリート欠陥検出方法及び該欠陥の検査装置 |
| US8035051B2 (en) | 2009-12-22 | 2011-10-11 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Electronic device |
| JP2015194446A (ja) * | 2014-03-31 | 2015-11-05 | ミネベア株式会社 | 検出装置 |
| JP2019523868A (ja) * | 2016-06-03 | 2019-08-29 | ブランデンバーグ （ユーケイ） リミテッド | 物体の検知 |
| JP2020064013A (ja) * | 2018-10-18 | 2020-04-23 | Ｓｉｍｐｌｅｘ Ｑｕａｎｔｕｍ株式会社 | 配管、配管システム、及び配管管理方法 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5748617A (en) * | 1980-09-08 | 1982-03-20 | Hitachi Ltd | Level detector for finely divided particles |
-
1985
- 1985-09-30 JP JP60218478A patent/JPH0656308B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5748617A (en) * | 1980-09-08 | 1982-03-20 | Hitachi Ltd | Level detector for finely divided particles |
Cited By (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5450744A (en) * | 1993-09-14 | 1995-09-19 | Senson Limited | Contamination monitoring system |
| WO1996030725A1 (fr) * | 1995-03-30 | 1996-10-03 | Nihon Parkerizing Co., Ltd. | Dispositif de mesure du debit d'une poudre, procede et appareil d'alimentation en poudre |
| JPH08278180A (ja) * | 1995-04-04 | 1996-10-22 | Chichibu Onoda Cement Corp | 粉体流量測定装置 |
| US5945831A (en) * | 1997-06-10 | 1999-08-31 | Sargent; John S. | Volume charge density measuring system |
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| JP4525967B2 (ja) * | 2004-04-15 | 2010-08-18 | 株式会社竹中工務店 | 打設中のコンクリート欠陥検出方法及び該欠陥の検査装置 |
| US8035051B2 (en) | 2009-12-22 | 2011-10-11 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Electronic device |
| JP2015194446A (ja) * | 2014-03-31 | 2015-11-05 | ミネベア株式会社 | 検出装置 |
| US9927380B2 (en) | 2014-03-31 | 2018-03-27 | Minebea Co., Ltd. | Detection device |
| JP2019523868A (ja) * | 2016-06-03 | 2019-08-29 | ブランデンバーグ （ユーケイ） リミテッド | 物体の検知 |
| JP2022071167A (ja) * | 2016-06-03 | 2022-05-13 | ブランデンバーグ （ユーケイ） リミテッド | 物体の検知 |
| JP2020064013A (ja) * | 2018-10-18 | 2020-04-23 | Ｓｉｍｐｌｅｘ Ｑｕａｎｔｕｍ株式会社 | 配管、配管システム、及び配管管理方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0656308B2 (ja) | 1994-07-27 |
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