JPS6273427A - ドロツプアウト検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は光ディスク等のドロップアウト検査を行う装置
に関するものである。

従来の技術 第１の従来例として特開昭５９−１９３５６１号公報を
引用し、第６図にその全体の構成図、第７図に検出器の
構成図を示す。レーザー光３５はビームスプリッタ３６
により反射されλ／４板３板瓦７絞りレンズ３８を経て
光デイスク記録面３９に絞り込まれ、反射光は絞りレン
ズ３８、λ／４板３板瓦７てビームスプリッタ３６を透
過し、凸レンズ４ｏにて絞られ、ファーフィールド位置
に設置された４分割ディテクター４１により受光される
。

ディテクター４１の各セルにより得られる信号出力から
加算器４２により和信号４３、減算器４４により周方向
差信号４５、減算器４６により径方向差信号４７が得ら
れる。これらの和信号、差信号を適切な検出レベルで比
較し、ドロップアウトの検出を行う。

発明が解決しようとする問題点 一般にドロップアウト信号波形の振幅が同じでもその要
因によってビットエラーになるものとならないものが生
じる。従来のドロップアウト検出方法では基材内の遮光
性異物や溝面上の傷、記録膜の異常（膜内異物やピンホ
ール等）などのドロップアウト要因を分別することが出
来ないため、実際にビットエラーとなるドロップアウト
の正確な検出が不可能であった。

発明はかかる点に鑑みなされたもので、ドロップアウト
の要因を分別するとともに実際にビットエラーとなるド
ロップアウトを正確に検出できるものである。

問題点を解決するための手段 光ディスクの記録面から反射し絞りレンズで集光された
反射光の、０次回指光光軸と直交し±１次回折光光軸と
交わる直線にて分割される２つの領域の光強度をそれぞ
れ検出し、各検出信号の和信号と差信号を得、差信号を
適切な検出レベルで比較し、検出レベルをこえる場合と
こえない場合とで和信号の検出レベルを切り換えるもの
である。

作　　用 このように構成するとドロップアウトの要因判別が可能
となり、更にその判別結果に基づき要因別にドロップア
ウト検出レベルを設定することによって、実際にビット
エラーとなるドロップアウトの正確な検出が可能となり
、ドロップアウトの検査機としてきわめて有用である。

実施例 本発明のドロップアウト検査装置の一実施例を第１図に
示す。レーザー光１はビームスプリッタ２により反射さ
れλ／４板３及び絞りレンズ更に光λ／４板３を経てビ
ームスプリッタ２を透過し、凸レンズ７にて絞られ、分
割ミ２−８により分割され、透過光側はナイフエッヂ９
にて一部遮光されてニアフィールド位置の２分割ディス
クター１Ｑに集光され、反射光側はファーフィールド位
置の２分割ディテクター１１に集光される。なおディテ
クター１ｏより焦点誤差信号を得て絞りレンズ４を記録
面６に追従させている。第２図はディテクター１１上の
反射光分布を示す説明図である。

反射光は０次回指光１２及び±１次回折光１３゜１４の
絞りレンズ瞳径内に入ったものだけがディテクター１１
上に集光される。なおディテクター１１はその分割線１
６が０次回指光１２の光軸を通り±１次回折光の各光軸
と交わるように設置されている。第３図に本実施例のド
ロップアウト検出回路を示す。セル１１−ａ、１１−ｂ
の出力信号をそれぞれＶａ、　Ｖｂとし、加算器１６に
より（ｖａ＋　ｖｂ）の和信号１７を得る。また減算器
１８により（ｖ　ａ　十ｖｂ）の差信号１９を得る。

一般に基材内翼物はレーザー光を遮断し記録時に記録膜
の加熱を妨げるため、未記録時に問題とならないドロッ
プアウトも記録後にはビットエラーを生じうる。これに
対し、溝異常は記録膜の加熱が充分に行われるから未記
録時に問題となるドロップアウトも記録後にはビットエ
ラーとならないことがある。すなわち未記録時の和信号
におけるドロップアウト振幅をある検出レベルで比較し
ても、ドロップアウト要因を分別しないかぎり、ビット
エラーの推定が出来ない。すなわち正確なビットエラー
の推定を行うには、ドロップアウト要因の分別を行い、
その分別結果にもとすき和信号検出レベルを切り換える
必要がある。第４図（ａ）はディテクター１１上の基材
内翼物による反射光強度分布に与える影響を示す説明図
である。

基材内翼物による影はレーザー光の絞りレンズから記録
面までの往路において遮光され、溝面にて反射回折し、
復路において再度異物により遮光されるため、往路にお
ける遮光影響はＯ次回指光での影響部２０と±１次回折
光での影響部２１゜２２として現われ、復路における遮
光影響部２３は０次回指光での影響部２０と光軸対称に
現われる。各影響部は光ディスクの回転とともに図中矢
印の如く移動する。なお＋１次回折光での影響部２２は
瞳径外にあるため、ディテクター１１上には現われない
。なお影響部２０と２１との加えたものは影響部２３と
その光量変化量がほぼ等しいため、差信号においてその
光量変化量が相殺され波形振＠は小さい。

一方第４図（ｂ）は記録面異常による影響を示す説明図
であり、０次回指光での影響部２４と±１次回折光での
影響部２６．２６はそれぞれ図中矢印の方向に移動する
。なお＋１次回折光の影響Ｗ２６は瞳径外にあるため、
ディテクター１１上には現われない。影響部２４．２５
により差信号においてその波形振幅は犬きくなる。第５
図（ａ）は要因別の和信号波形を示す説明図であり、（
ｂ）はその差信号波形を示している。基材内異物を（イ
）、膜異常を（ｏ）、膜異常を（ハ）に示す。第６図（
ｂ）により差信号に±ｖ１の検出レベルを設けることで
膜異常←）及び膜異常（ハ）が検出されるが、基材内異
物（イ）は検出されない。すなわち差信号によって基材
内異物と記録面異常の分別が可能となる。

以上の分別結果にもとすき、第５図（ａ）に示すごとく
基材内異物の和信号検出レベルを±ｖ２．記録面異常の
和信号検出レベルを±ｖ３とする。前述のとうり基材内
異物はビットエラーになりやすいためｖ３＞　Ｖ２　）
Ｏの関係があり、また基材内異物はそのドロップアウト
波形が反射率低下方向にあるので、検出レベルは−ｖ２
のみでもよい。なお膜異常もビットエラーとなりやすい
傾向にあり、ｖ３〉ｖ４〉０　をみだす検出レベル±ｖ
４で和信号を比較すべきだが、他の要因に比ベドロップ
アウト振幅がきわめて大きいので膜異常と同じ±ｖ３で
検出しても問題がない。

発明の効果 以上述べてきたように本発明によれば、従来不可能とさ
れていたドロップアウトの要因判別が可能となり、更に
その判別結果に基づき要因別にドロップアウト検出レベ
ルを設定することによって、実際にビットエラーとなる
ドロップアウトの正確な検出が可能となり、ドロップア
ウトの検査機としてきわめて有用である。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例におけるドロップアウト検査
装置の原理図、第２図は同装置のディテクター上反射光
分布を示す図、第３図は同装置のドロップアウト検出回
路のブロック図、第４図（ａ）。 （１））はそれぞれ基村内異物、記録面異常の反射光分
布に与える影響を示す図、第６図（ａ）は要因別の和信
号波形図、（ｂ）は差信号波形図、第６図は従来のドロ
ップアウト検査装置の原理図、第７図はそのドロップア
ウト検出回路のブロック図である。 １・・・・・・レーザー光、２・・・・・・ビームスプ
リッタ、３・・・・・・λ／４板、４・・・・・・絞り
レンズ、５・・・−・・基板、６・・・・・・記録面、
了・・・・・・凸レンズ、８・・・・・・・・−７ミラ
ー、９・・・・・・ナイスエッヂ、１０．１１・・・・
・−ディテクター、１６・・・・・・加算器、１７・・
・・・・和信号、１８・・・・・・減算器、１９・・・
・・・差信号。 代理人の氏名　弁理士　中　尾　敏　男　ほか１名第１
図 第３図 第４図 Ｉ 第５図 第６図

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）案内溝の形成された記録媒体の面にレーザー光を
   絞って照射することにより得られる反射光を集光する絞
   りレンズと、前記反射光により焦点誤差信号を得て焦点
   制御を行う手段と、前記反射光の０次回折光光軸と直交
   し±１次回折光光軸と交わる直線にて分割される前記反
   射光の２つの領域の光強度をそれぞれ検出し、各検出信
   号の和信号と差信号を得る手段とを備え、差信号を適切
   な検出レベルで比較判別し、前記差信号がその検出レベ
   ルをこえる場合とこえない場合とに応じて和信号の検出
   レベルを切り換えることを特徴とするドロップアウト検
   出装置。
2. （２）差信号がその検出レベル±ｖ＿１をこえる場合の
   和信号検出レベルを±ｖ＿３とし、こえない場合の和信
   号検出レベルを±ｖ＿２とし、ｖ＿３＞ｖ＿２＞０に設
   定したことを特徴とする特許請求の範囲第１項記載のド
   ロップアウト検査装置。