JPH0650566B2 - ドロツプアウト検査装置 - Google Patents
ドロツプアウト検査装置Info
- Publication number
- JPH0650566B2 JPH0650566B2 JP60212924A JP21292485A JPH0650566B2 JP H0650566 B2 JPH0650566 B2 JP H0650566B2 JP 60212924 A JP60212924 A JP 60212924A JP 21292485 A JP21292485 A JP 21292485A JP H0650566 B2 JPH0650566 B2 JP H0650566B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- detection level
- dropout
- signal
- difference signal
- light
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
- Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
- Optical Head (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は光ディスク等のドロップアウト検査を行う装置
に関するものである。
に関するものである。
従来の技術 第１の従来例として特開昭５９−１９３５６１号公報を
引用し、第６図にその全体の構成図、第７図に検出器の
構成図を示す。レーザー光３５はビームスプリッタ３６
により反射されλ/4板３７及び絞りレンズ３８を経て光
ディスク記録面３９に絞り込まれ、反射光は絞りレンズ
３８、λ/4板３７を経てビームスプリッタ３６を透過
し、凸レンズ４０にて絞られ、ファーフィールド位置に
設置された４分割ディテクター４１により受光される。
ディテクター４１の各セルにより得られる信号出力から
加算器４２により和信号４３、減算器４４により周方向
差信号４５、減算器４６により径方向差信号４７が得ら
れる。これらの和信号、差信号を適切な検出レベルで比
較し、ドロップアウトの検出を行う。
引用し、第６図にその全体の構成図、第７図に検出器の
構成図を示す。レーザー光３５はビームスプリッタ３６
により反射されλ/4板３７及び絞りレンズ３８を経て光
ディスク記録面３９に絞り込まれ、反射光は絞りレンズ
３８、λ/4板３７を経てビームスプリッタ３６を透過
し、凸レンズ４０にて絞られ、ファーフィールド位置に
設置された４分割ディテクター４１により受光される。
ディテクター４１の各セルにより得られる信号出力から
加算器４２により和信号４３、減算器４４により周方向
差信号４５、減算器４６により径方向差信号４７が得ら
れる。これらの和信号、差信号を適切な検出レベルで比
較し、ドロップアウトの検出を行う。
発明が解決しようとする問題点 一般にドロップアウト信号波形の振幅が同じでもその要
因によってビットエラーになるものとならないものが生
じる。従来のドロップアウト検出方法では基材内の遮光
性異物や溝面上の傷、記録膜の異常（膜内異物やピンホ
ール等）などのドロップアウト要因を分別することが出
来ないため、実際にビットエラーとなるドロップアウト
の正確な検出が不可能であった。
因によってビットエラーになるものとならないものが生
じる。従来のドロップアウト検出方法では基材内の遮光
性異物や溝面上の傷、記録膜の異常（膜内異物やピンホ
ール等）などのドロップアウト要因を分別することが出
来ないため、実際にビットエラーとなるドロップアウト
の正確な検出が不可能であった。
発明はかかる点に鑑みなされたもので、ドロップアウト
の要因を分別するとともに実際にビットエラーとなるド
ロップアウトを正確に検出できるものである。
の要因を分別するとともに実際にビットエラーとなるド
ロップアウトを正確に検出できるものである。
問題点を解決するための手段 光ディスクの記録面から反射し絞りレンズで集光された
反射光の、０次回折光光軸と直交し±１次回折光光軸と
交わる直線にて分割される２つの領域の光強度をそれぞ
れ検出し、各検出信号の和信号と差信号を得、差信号を
適切な検出レベルで比較し、検出レベルをこえる場合と
こえない場合とで和信号の検出レベルを切り換えるもの
である。
反射光の、０次回折光光軸と直交し±１次回折光光軸と
交わる直線にて分割される２つの領域の光強度をそれぞ
れ検出し、各検出信号の和信号と差信号を得、差信号を
適切な検出レベルで比較し、検出レベルをこえる場合と
こえない場合とで和信号の検出レベルを切り換えるもの
である。
作 用 このように構成するとドロップアウトの要因判別が可能
となり、更にその判別結果に基づき要因別にドロップア
ウト検出レベルを設定することによって、実際にビット
エラーとなるドロップアウトの正確な検出が可能とな
り、ドロップアウトの検査機としてきわめて有用であ
る。
となり、更にその判別結果に基づき要因別にドロップア
ウト検出レベルを設定することによって、実際にビット
エラーとなるドロップアウトの正確な検出が可能とな
り、ドロップアウトの検査機としてきわめて有用であ
る。
実施例 本発明のドロップアウト検査装置の一実施例を第１図に
示す。レーザー光１はビームスプリッタ２により反射さ
れλ/4板３及び絞りレンズ更に光ディスク基板５を経て
光ディスク記録面６に絞り込まれ、反射光は光ディスク
基板５，絞りレンズ４，λ/4板３を経てビームスプリッ
タ２を透過し、凸レンズ７にて絞られ、分割ミラー８に
より分割され、透過光側はナイフエッヂ９にて一部遮光
されてニアフィールド位置の２分割ディスクター１０に
集光され、反射光側はファーフィールド位置の２分割デ
ィテクター１１に集光される。なおディテクター１０よ
り焦点誤差信号を得て絞りレンズ４を記録面６に追従さ
せている。第２図はディテクター１１上の反射光分布を
示す説明図である。反射光は０次回折光１２及び±１次
回折光１３，１４の絞りレンズ瞳径内に入ったものだけ
がディテクター１１上に集光される。なおディテクター
１１はその分割線１５が０次回折光１２の光軸が通り±
１次回折光の各光軸と交わるように設置されている。第
３図に本実施例のドロップアウト検出回路を示す。セル
１１−ａ，１１−ｂの出力信号をそれぞれva，vbとし、
加算器１６により（va＋vb）の和信号１７を得る。また
減算器１８により（va＋vb）の差信号１９を得る。
示す。レーザー光１はビームスプリッタ２により反射さ
れλ/4板３及び絞りレンズ更に光ディスク基板５を経て
光ディスク記録面６に絞り込まれ、反射光は光ディスク
基板５，絞りレンズ４，λ/4板３を経てビームスプリッ
タ２を透過し、凸レンズ７にて絞られ、分割ミラー８に
より分割され、透過光側はナイフエッヂ９にて一部遮光
されてニアフィールド位置の２分割ディスクター１０に
集光され、反射光側はファーフィールド位置の２分割デ
ィテクター１１に集光される。なおディテクター１０よ
り焦点誤差信号を得て絞りレンズ４を記録面６に追従さ
せている。第２図はディテクター１１上の反射光分布を
示す説明図である。反射光は０次回折光１２及び±１次
回折光１３，１４の絞りレンズ瞳径内に入ったものだけ
がディテクター１１上に集光される。なおディテクター
１１はその分割線１５が０次回折光１２の光軸が通り±
１次回折光の各光軸と交わるように設置されている。第
３図に本実施例のドロップアウト検出回路を示す。セル
１１−ａ，１１−ｂの出力信号をそれぞれva，vbとし、
加算器１６により（va＋vb）の和信号１７を得る。また
減算器１８により（va＋vb）の差信号１９を得る。
一般に基材内異物はレーザー光を遮断し記録時に記録膜
の加熱を妨げるため、未記録時に問題とならないドロッ
プアウトも記録後にはビットエラーを生じうる。これに
対し、溝異常は記録膜の加熱が充分に行われるから未記
録時に問題となるドロップアウトも記録後にはビットエ
ラーとならないことがある。すなわち未記録時の和信号
におけるドロップアウト振幅をある検出レベルで比較し
ても、ドロップアウト要因を分別しないかぎり、ビット
エラーの推定が出来ない。すなわち正確なビットエラー
の推定を行うには、ドロップアウト要因の分別を行い、
その分別結果にもとずき和信号検出レベルを切り換える
必要がある。第４図(a)はディテクター１１上の基材内
異物による反射光強度分布に与える影響を示す説明図で
ある。
の加熱を妨げるため、未記録時に問題とならないドロッ
プアウトも記録後にはビットエラーを生じうる。これに
対し、溝異常は記録膜の加熱が充分に行われるから未記
録時に問題となるドロップアウトも記録後にはビットエ
ラーとならないことがある。すなわち未記録時の和信号
におけるドロップアウト振幅をある検出レベルで比較し
ても、ドロップアウト要因を分別しないかぎり、ビット
エラーの推定が出来ない。すなわち正確なビットエラー
の推定を行うには、ドロップアウト要因の分別を行い、
その分別結果にもとずき和信号検出レベルを切り換える
必要がある。第４図(a)はディテクター１１上の基材内
異物による反射光強度分布に与える影響を示す説明図で
ある。
基材内異物による影はレーザー光の絞りレンズから記録
面までの往路において遮光され、溝面にて反射回折し、
復路において再度異物により遮光されるため、往路にお
ける遮光影響は０次回折光での影響部２０と±１次回折
光での影響部２１，２２として現われ、復路における遮
光影響部２３は０次回折光での影響部２０と光軸対称に
現われる。各影響部は光ディスクの回転とともに図中矢
印の如く移動する。なお＋１次回折光での影響部２２は
瞳径外にあるため、ディテクター１１上には現われな
い。なお影響部２０と２１との加えたものは影響部２３
とその光量変化量がほぼ等しいため、差信号においてそ
の光量変化量が相殺され波形振幅は小さい。
面までの往路において遮光され、溝面にて反射回折し、
復路において再度異物により遮光されるため、往路にお
ける遮光影響は０次回折光での影響部２０と±１次回折
光での影響部２１，２２として現われ、復路における遮
光影響部２３は０次回折光での影響部２０と光軸対称に
現われる。各影響部は光ディスクの回転とともに図中矢
印の如く移動する。なお＋１次回折光での影響部２２は
瞳径外にあるため、ディテクター１１上には現われな
い。なお影響部２０と２１との加えたものは影響部２３
とその光量変化量がほぼ等しいため、差信号においてそ
の光量変化量が相殺され波形振幅は小さい。
一方第４図(b)は記録面異常による影響を示す説明図で
あり、０次回折光での影響部２４と±１次回折光での影
響部２５，２６はそれぞれ図中矢印の方向に移動する。
なお＋１次回折光の影響部２６は瞳径外にあるため、デ
ィテクター１１上には現われない。影響部２４，２５に
より差信号においてその波形振幅は大きくなる。第５図
(a)は要因別の和信号波形を示す説明図であり、(b)はそ
の差信号波形を示している。基材内異物を(イ)、溝異常
を(ロ)、膜異常を(ハ)に示す。第５図(b)により差信号に
±v1の検出レベルを設けることで溝異常(ロ)及び膜異常
(ハ)が検出されるが、基材内異物を(イ)は検出されない。
すなわち差信号によって基材内異物と記録面異常の分別
が可能となる。
あり、０次回折光での影響部２４と±１次回折光での影
響部２５，２６はそれぞれ図中矢印の方向に移動する。
なお＋１次回折光の影響部２６は瞳径外にあるため、デ
ィテクター１１上には現われない。影響部２４，２５に
より差信号においてその波形振幅は大きくなる。第５図
(a)は要因別の和信号波形を示す説明図であり、(b)はそ
の差信号波形を示している。基材内異物を(イ)、溝異常
を(ロ)、膜異常を(ハ)に示す。第５図(b)により差信号に
±v1の検出レベルを設けることで溝異常(ロ)及び膜異常
(ハ)が検出されるが、基材内異物を(イ)は検出されない。
すなわち差信号によって基材内異物と記録面異常の分別
が可能となる。
以上の分別結果にもとずき、第５図(a)に示すごとく基
材内異物の和信号検出レベルを±v2，記録面異常の和信
号検出レベルを±v3とする。前述のとうり基材内異物は
ビットエラーになりやすいためv3＞v2＞０の関係があ
り、また基材内異物はそのドロップアウト波形が反射率
低下方向にあるので、検出レベルは−v2のみでよい。な
お膜異常もビットエラーとなりやすい傾向にあり、v3＞
v4＞０をみたす検出レベル±v4で和信号を比較すべきだ
が、他の要因に比べドロップアウト振幅がきわめて大き
いもので溝異常と同じ±v3で検出しても問題がない。
材内異物の和信号検出レベルを±v2，記録面異常の和信
号検出レベルを±v3とする。前述のとうり基材内異物は
ビットエラーになりやすいためv3＞v2＞０の関係があ
り、また基材内異物はそのドロップアウト波形が反射率
低下方向にあるので、検出レベルは−v2のみでよい。な
お膜異常もビットエラーとなりやすい傾向にあり、v3＞
v4＞０をみたす検出レベル±v4で和信号を比較すべきだ
が、他の要因に比べドロップアウト振幅がきわめて大き
いもので溝異常と同じ±v3で検出しても問題がない。
発明の効果 以上述べてきたように本発明によれば、従来不可能とさ
れていたドロップアウトの要因判別が可能となり、更に
その判別結果に基づき要因別にドロップアウト検出レベ
ルを設定することによって、実際にビットエラーとなる
ドロップアウトの正確な検出が可能となり、ドロップア
ウトの検査機としてきわめて有用である。
れていたドロップアウトの要因判別が可能となり、更に
その判別結果に基づき要因別にドロップアウト検出レベ
ルを設定することによって、実際にビットエラーとなる
ドロップアウトの正確な検出が可能となり、ドロップア
ウトの検査機としてきわめて有用である。
第１図は本発明の一実施例におけるドロップアウト検査
装置の原理図、第２図は同装置のディテクター上反射光
分布を示す図、第３図は同装置のドロップアウト検出回
路のブロック図、第４図(a)，(b)はそれぞれ基材内異
物、記録面異常の反射光分布に与える影響を示す図、第
５図(a)は要因別の和信号波形図、(b)は差信号波形図、
第６図は従来のドロップアウト検査装置の原理図、第７
図はそのドロップアウト検出回路のブロック図である。 １……レーザー光、２……ビームスプリッタ、３……λ
/4板、４……絞りレンズ、５……基板、６……記録面、
７……凸レンズ、８……ハーフミラー、９……ナイスエ
ッヂ、１０，１１……ディテクター、１６……加算器、
１７……和信号、１８……減算器、１９……差信号。
装置の原理図、第２図は同装置のディテクター上反射光
分布を示す図、第３図は同装置のドロップアウト検出回
路のブロック図、第４図(a)，(b)はそれぞれ基材内異
物、記録面異常の反射光分布に与える影響を示す図、第
５図(a)は要因別の和信号波形図、(b)は差信号波形図、
第６図は従来のドロップアウト検査装置の原理図、第７
図はそのドロップアウト検出回路のブロック図である。 １……レーザー光、２……ビームスプリッタ、３……λ
/4板、４……絞りレンズ、５……基板、６……記録面、
７……凸レンズ、８……ハーフミラー、９……ナイスエ
ッヂ、１０，１１……ディテクター、１６……加算器、
１７……和信号、１８……減算器、１９……差信号。
Claims (2)
- 【請求項１】案内溝の形成された記録媒体の面にレーザ
ー光を絞って照射することにより得られる反射光を集光
する絞りレンズと、前記反射光により焦点誤差信号を得
て焦点制御を行う手段と、前記反射光の０次回折光光軸
と直交し±１次回折光光軸と交わる直線にて分割される
前記反射光の２つの領域の光強度をそれぞれ検出し、各
検出信号の和信号と差信号を得る手段とを備え、差信号
を適切な検出レベルで比較判別し、前記差信号がその検
出レベルをこえる場合とこえない場合とに応じて和信号
の検出レベルを切り換えることを特徴とするドロップア
ウト検査装置。 - 【請求項２】差信号がその検出レベル±v1をこえる場合
の和信号検出レベルを±v3とし、こえない場合の和信号
検出レベルを±v2とし、v3＞v2＞０に設定したことを特
徴とする特許請求の範囲第１項記載のドロップアウト検
査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60212924A JPH0650566B2 (ja) | 1985-09-26 | 1985-09-26 | ドロツプアウト検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60212924A JPH0650566B2 (ja) | 1985-09-26 | 1985-09-26 | ドロツプアウト検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6273427A JPS6273427A (ja) | 1987-04-04 |
| JPH0650566B2 true JPH0650566B2 (ja) | 1994-06-29 |
Family
ID=16630539
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60212924A Expired - Lifetime JPH0650566B2 (ja) | 1985-09-26 | 1985-09-26 | ドロツプアウト検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0650566B2 (ja) |
-
1985
- 1985-09-26 JP JP60212924A patent/JPH0650566B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6273427A (ja) | 1987-04-04 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |