JPS6271033A - ドロツプアウト検査装置 - Google Patents
ドロツプアウト検査装置Info
- Publication number
- JPS6271033A JPS6271033A JP60210784A JP21078485A JPS6271033A JP S6271033 A JPS6271033 A JP S6271033A JP 60210784 A JP60210784 A JP 60210784A JP 21078485 A JP21078485 A JP 21078485A JP S6271033 A JPS6271033 A JP S6271033A
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- JP
- Japan
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- order diffracted
- diffracted light
- light
- detector
- dropout
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は光ディスク等のドロップアウト検査を行なう装
置如関するものである。
置如関するものである。
従来の技術
第１図の従来例として（特開昭５９−１９３５６１号公
報）を引用し、第６図にその全体の構成図、第７図に検
出器の構成図を示す。レーザー光３６はビームスプリッ
タ３６によシ反射されλ／４板３７及び絞りレンズ３８
を経てディスク記録面３９に絞シ込まれ、反射光は絞り
レンズ３８、Ｖ４板３７を経てビームスプリッタ３６を
透過し、凸レンズ４０にて絞られ、ファーフィールド位
置ニ設置された４分割ディテクター４１により受光され
る。ディテクター４１の各セルにより得られる信号出力
から加算器４２により和信号４３、減算器４４により周
方向差信号４５、減算器４６により径方向差信号４７が
得られる。これらの和信号、差信号を適切な検出レベル
で比較し、ドロップアウトの検出を行なう。
報）を引用し、第６図にその全体の構成図、第７図に検
出器の構成図を示す。レーザー光３６はビームスプリッ
タ３６によシ反射されλ／４板３７及び絞りレンズ３８
を経てディスク記録面３９に絞シ込まれ、反射光は絞り
レンズ３８、Ｖ４板３７を経てビームスプリッタ３６を
透過し、凸レンズ４０にて絞られ、ファーフィールド位
置ニ設置された４分割ディテクター４１により受光され
る。ディテクター４１の各セルにより得られる信号出力
から加算器４２により和信号４３、減算器４４により周
方向差信号４５、減算器４６により径方向差信号４７が
得られる。これらの和信号、差信号を適切な検出レベル
で比較し、ドロップアウトの検出を行なう。
発明が解決しようとする問題点
従来方式によるとドロップアウトの検出ができても、ド
ロップアウトの要因分別を行なうことができなかった。
ロップアウトの要因分別を行なうことができなかった。
本発明はかかる点に鑑みなされたもので、ドロップアウ
トの要因を区別するものである。
トの要因を区別するものである。
問題点を解決するための手段
レーザー光を光ディスク記針面上にその長袖が案内溝と
直交する楕円状に絞り、記録面から反射し絞シレ、／ズ
で集光される反射光の、０次回折光のみを受光し、その
短軸方向に分割される２つの領域の光強度をそれぞれ検
出して各検出信号の差信号を得、その差信号を適切な検
出レベルで比較し、検出レベルをこえる場合とこえない
場合とでドロップアウトの要因分別を行なうものである
。
直交する楕円状に絞り、記録面から反射し絞シレ、／ズ
で集光される反射光の、０次回折光のみを受光し、その
短軸方向に分割される２つの領域の光強度をそれぞれ検
出して各検出信号の差信号を得、その差信号を適切な検
出レベルで比較し、検出レベルをこえる場合とこえない
場合とでドロップアウトの要因分別を行なうものである
。
−１乍 用
光ディスクのドロップアウト要因として基材内の遮光性
異物（以下基材内異物と呼ぶ）、案内溝上の傷や異物（
以下溝異常と呼ぶ）、記録膜内の異物やビンホー・ル（
以下膜異常と呼ぶ）等の３つが考えられている。溝異常
と膜異常をまとめて記録面異常と呼ぶ。一般に基材内異
物による差信号はその振幅が小さく、記録面異常ｌ／Ｃ
よる差信号はその振幅が大きい。以上より差信号を適切
な検出レベルで比較することによシ、その検出レベルを
こえるか否かで基材内異物か記録面異常かを分別するこ
とができる。
異物（以下基材内異物と呼ぶ）、案内溝上の傷や異物（
以下溝異常と呼ぶ）、記録膜内の異物やビンホー・ル（
以下膜異常と呼ぶ）等の３つが考えられている。溝異常
と膜異常をまとめて記録面異常と呼ぶ。一般に基材内異
物による差信号はその振幅が小さく、記録面異常ｌ／Ｃ
よる差信号はその振幅が大きい。以上より差信号を適切
な検出レベルで比較することによシ、その検出レベルを
こえるか否かで基材内異物か記録面異常かを分別するこ
とができる。
実施例
不発明のドロップアウト検査装置の一実施例を第１図に
示す。レーザー光１はビームスプリッタ２により反射で
れλ／４板３及び絞りレンズｔ、更に光デイスク基板５
を経て光デイスク記録面６に絞り込まれ、反射光は光デ
イスク基板５、絞りレンズ４、）／４板３を経てビーム
スプリッタ２を透過し、凸レンズ７にて絞られ、分割ミ
ラー８により分割され、透過光側はナイフエッヂ９にて
一部遮光されてニアフィールド位置の２分割ディテクタ
ー１ｏに集光され、反射光側はファーフィールド位置の
２分割ディテクター１２に集光される。
示す。レーザー光１はビームスプリッタ２により反射で
れλ／４板３及び絞りレンズｔ、更に光デイスク基板５
を経て光デイスク記録面６に絞り込まれ、反射光は光デ
イスク基板５、絞りレンズ４、）／４板３を経てビーム
スプリッタ２を透過し、凸レンズ７にて絞られ、分割ミ
ラー８により分割され、透過光側はナイフエッヂ９にて
一部遮光されてニアフィールド位置の２分割ディテクタ
ー１ｏに集光され、反射光側はファーフィールド位置の
２分割ディテクター１２に集光される。
なおディテクター１ｏより焦点誤差信号を得て絞りレン
ズ４を記録面６に追従させている。第２図はディテクタ
ー１２上の反射光分布を示す説明図である。反射光はス
リット１１よりに±１次回折光１４．１６が遮光され、
ディテクター上には０次回折光１３のみが集光される。
ズ４を記録面６に追従させている。第２図はディテクタ
ー１２上の反射光分布を示す説明図である。反射光はス
リット１１よりに±１次回折光１４．１６が遮光され、
ディテクター上には０次回折光１３のみが集光される。
なおディテクター１２はその分割線１６が０次回折光１
３の短軸と一致するように設置されている。第３図にこ
の実施例のドロップアウト検出回路を示す。セル１２−
ａ、１２−ｂの出力信号をそれぞれｖａ、ｖｂとし７、
加算器１７により（ｖａ＋ Ｗｂンのね信号１８゜を得
る。また減算器１９により（ｖａｖｂ）の差信号２０を
得る。第４図ａはディテクター１２上り基材内翼物によ
る反射光強度分布に与える影響を示す説明図である。基
材内翼物による影はレーザー光の絞りレンズから記録面
までの往路において遮光され、溝面にて反射回折し、復
路において再度異物により遮光されるため、往路におり
る遮光影響は０次回折光での影響部２１と±１次回折光
での影響部２２．２３として現われ、復路における遮光
影響部２４は０次回折光での影響部２１と元軸対称に現
われる。各影響部は光ディスクの回転とともに図中矢印
の如く移動する。なお±１次回折光は遮光されているた
め、ディテクター上の影響部は２１と２４しか現われな
い。なお影響部２１は影響部２４とその光量変化量がほ
ぼ等しいため、差信号においてその光量変化量が相殺さ
れ波形振幅は小さい。
３の短軸と一致するように設置されている。第３図にこ
の実施例のドロップアウト検出回路を示す。セル１２−
ａ、１２−ｂの出力信号をそれぞれｖａ、ｖｂとし７、
加算器１７により（ｖａ＋ Ｗｂンのね信号１８゜を得
る。また減算器１９により（ｖａｖｂ）の差信号２０を
得る。第４図ａはディテクター１２上り基材内翼物によ
る反射光強度分布に与える影響を示す説明図である。基
材内翼物による影はレーザー光の絞りレンズから記録面
までの往路において遮光され、溝面にて反射回折し、復
路において再度異物により遮光されるため、往路におり
る遮光影響は０次回折光での影響部２１と±１次回折光
での影響部２２．２３として現われ、復路における遮光
影響部２４は０次回折光での影響部２１と元軸対称に現
われる。各影響部は光ディスクの回転とともに図中矢印
の如く移動する。なお±１次回折光は遮光されているた
め、ディテクター上の影響部は２１と２４しか現われな
い。なお影響部２１は影響部２４とその光量変化量がほ
ぼ等しいため、差信号においてその光量変化量が相殺さ
れ波形振幅は小さい。
一方第４図すは記録面異常による影響を示す説明図であ
り、０次回折光での影響部２６と±１次回折光での影響
部２６ 、２７はそれぞれ図中矢印の方向に移動する。
り、０次回折光での影響部２６と±１次回折光での影響
部２６ 、２７はそれぞれ図中矢印の方向に移動する。
なお±１次回折光は遮光されているため、ディテクター
上には影響部２５しか現われない。従って差信号におい
てその波形振幅は大きくなる。第６図ａは要因別の和信
号波形を示す説明図であり、ｂはその差信号波形を示し
ている。基材内翼物をイ、溝異常を口、膜異常を／・に
示す。第５図すにより差信号に±ｖ１の検出レベルを設
けることで膜異常口及び膜異常ノ・が検出されるが、基
材内置物イは検出されない０すなわち差信号に−よって
基材内翼物と記録面異常の分別が可能となる。
上には影響部２５しか現われない。従って差信号におい
てその波形振幅は大きくなる。第６図ａは要因別の和信
号波形を示す説明図であり、ｂはその差信号波形を示し
ている。基材内翼物をイ、溝異常を口、膜異常を／・に
示す。第５図すにより差信号に±ｖ１の検出レベルを設
けることで膜異常口及び膜異常ノ・が検出されるが、基
材内置物イは検出されない０すなわち差信号に−よって
基材内翼物と記録面異常の分別が可能となる。
発明の効果
以上述べてきたように本発明によれば従来不可能とされ
ていたドロップアウトの要因分別が可能となり、ドロッ
プアウト検出装置としてきわめて有用である。
ていたドロップアウトの要因分別が可能となり、ドロッ
プアウト検出装置としてきわめて有用である。
第１図は本発明の一実施例におけるドロップアウト倹査
装置の原理図、第２図は同装置のディテクター上反射光
分布を示す図、第３図は同装置のドロップアウト検出回
路ブロック図、第４図ａ。 ｂはぞれぞれ基材内異物、記録面異常の反射光分布に与
える影響を示す図、第５図ｄは要因別の和信号波形図、
ｂは差信号波形図、第６図は従来のドロップアウト検査
装置の原理図、第７図はそのドロップアウト検出回路ブ
ロック図である。 １・・・・・レーザー光、２・・・・・ビームスプリッ
タ、３・・・・・・λ／４板、４・・・・・・絞りレン
ズ、６・・・・・・基板、６・・・・・・記録面、７・
・・・・・凸レンズ、８・・・・・・・・〜フミラー、
９・・・・・・ナイフエッヂ、１０．１２・・−・・・
ディテクター、１１・・・・・・スリット、１７・・・
・・・加算器、１８・・・・・・和信号、１９・・・・
・・減算器、２ｏ・・・・・差信号０ 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか１名第１
図 第３図 第４図 第５図
装置の原理図、第２図は同装置のディテクター上反射光
分布を示す図、第３図は同装置のドロップアウト検出回
路ブロック図、第４図ａ。 ｂはぞれぞれ基材内異物、記録面異常の反射光分布に与
える影響を示す図、第５図ｄは要因別の和信号波形図、
ｂは差信号波形図、第６図は従来のドロップアウト検査
装置の原理図、第７図はそのドロップアウト検出回路ブ
ロック図である。 １・・・・・レーザー光、２・・・・・ビームスプリッ
タ、３・・・・・・λ／４板、４・・・・・・絞りレン
ズ、６・・・・・・基板、６・・・・・・記録面、７・
・・・・・凸レンズ、８・・・・・・・・〜フミラー、
９・・・・・・ナイフエッヂ、１０．１２・・−・・・
ディテクター、１１・・・・・・スリット、１７・・・
・・・加算器、１８・・・・・・和信号、１９・・・・
・・減算器、２ｏ・・・・・差信号０ 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか１名第１
図 第３図 第４図 第５図
Claims (1)
- 案内溝の形成された記録媒体の面にレーザー光を前記
案内溝を短軸方向とする楕円状に絞って照射することに
より得られる反射光を集光する絞りレンズと、前記反射
光により焦点誤差信号を得て焦点制御を行なう手段と、
前記反射光の０次回折光のみを受光する手段と前記０次
回折光の短軸方向に分割される２つの領域の光量をそれ
ぞれ検出し各検出各検出信号の差信号を得る手段とを備
え、差信号を適切な検出レベルで比較判別することを特
徴とするドロップアウト検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60210784A JPS6271033A (ja) | 1985-09-24 | 1985-09-24 | ドロツプアウト検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60210784A JPS6271033A (ja) | 1985-09-24 | 1985-09-24 | ドロツプアウト検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6271033A true JPS6271033A (ja) | 1987-04-01 |
Family
ID=16595076
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60210784A Pending JPS6271033A (ja) | 1985-09-24 | 1985-09-24 | ドロツプアウト検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6271033A (ja) |
-
1985
- 1985-09-24 JP JP60210784A patent/JPS6271033A/ja active Pending
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