JPH02126429A - 焦点誤差検出装置 - Google Patents
焦点誤差検出装置Info
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- JPH02126429A JPH02126429A JP63279655A JP27965588A JPH02126429A JP H02126429 A JPH02126429 A JP H02126429A JP 63279655 A JP63279655 A JP 63279655A JP 27965588 A JP27965588 A JP 27965588A JP H02126429 A JPH02126429 A JP H02126429A
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- light beam
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- 230000010287 polarization Effects 0.000 claims abstract description 5
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 9
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 3
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 claims description 2
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 claims description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 1
- 108091008695 photoreceptors Proteins 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明はディスク状の記録担体を回転させながら光学
的手段により情報の記録また／Ｉ′ｉ再生を行なう際の
記録担体に対する光ビームの焦点誤差を検出する焦点誤
差検出装置に関するものである。
的手段により情報の記録また／Ｉ′ｉ再生を行なう際の
記録担体に対する光ビームの焦点誤差を検出する焦点誤
差検出装置に関するものである。
第３図はディスク状の記録担体のトランクに対する光ビ
ームの焦点誤差をフーコー法により検出する焦点誤差検
出装置で１例えば、特開昭５８−ｇｏｓ９４６号公報に
示されたものに類似した従来の焦点誤差検出装置の構成
部品と光路を示す構成図、第４図は光検知器の詳細を示
す正面図、第５図は光検知器の出力する電気信号を加算
・減算して焦点誤差信号を検出する焦点誤差検出回路を
示すブロック線図である。
ームの焦点誤差をフーコー法により検出する焦点誤差検
出装置で１例えば、特開昭５８−ｇｏｓ９４６号公報に
示されたものに類似した従来の焦点誤差検出装置の構成
部品と光路を示す構成図、第４図は光検知器の詳細を示
す正面図、第５図は光検知器の出力する電気信号を加算
・減算して焦点誤差信号を検出する焦点誤差検出回路を
示すブロック線図である。
第８図と第４図において、田は光ビームを発生する光源
、２１は二つの直角プリズムの全反射面を接合面として
その全反射面のいずれが一方に偏光膜「２ａ）を被着し
て接合した偏光ビーム・スプリッタ、（２ｂ’）（２０
）ｎこの偏光ビーム・スプリッタのそれぞれ入射面と出
射面、＋３１ Ｆｉ光学的異方体からなる薄板状の四分
の一波長板であって透過する光ビームの互いに垂直な二
つの偏光成分の間ｒＣその波長の四分の−７ノ位相差を
生じる。
、２１は二つの直角プリズムの全反射面を接合面として
その全反射面のいずれが一方に偏光膜「２ａ）を被着し
て接合した偏光ビーム・スプリッタ、（２ｂ’）（２０
）ｎこの偏光ビーム・スプリッタのそれぞれ入射面と出
射面、＋３１ Ｆｉ光学的異方体からなる薄板状の四分
の一波長板であって透過する光ビームの互いに垂直な二
つの偏光成分の間ｒＣその波長の四分の−７ノ位相差を
生じる。
４）は上記光源…で発生した光ビームを平行光線からな
る光ビームに変換するレンズ、１５）はこのレンズから
出射ｌ−た光ビームを収束する対物レンズ、１６）は情
報の記録・再生を行なうディスク状の記録担体、Ｎ５ａ
）にこの記録担体の記録面に螺線状ＶｃＰ＆けたトラッ
ク、（７）は上記偏光ビーム・を受光して電気信号に変
換する光検知器、（８ａ）（８ｂ）（８ｃ）（８ｄ）は
この光検知器の受光領域を四分割した各受光素子である
。
る光ビームに変換するレンズ、１５）はこのレンズから
出射ｌ−た光ビームを収束する対物レンズ、１６）は情
報の記録・再生を行なうディスク状の記録担体、Ｎ５ａ
）にこの記録担体の記録面に螺線状ＶｃＰ＆けたトラッ
ク、（７）は上記偏光ビーム・を受光して電気信号に変
換する光検知器、（８ａ）（８ｂ）（８ｃ）（８ｄ）は
この光検知器の受光領域を四分割した各受光素子である
。
また第５図において、１０１は上記光検知器（８）の出
力する電気信号を加算、減算して焦点誤差信号を検出す
る焦点誤差検出回路、（１０ａ）は上記受光素子（８ａ
）（８ｄ）または上記受光素子（ｓｂ）（８ｃ）の出力
する各電気信号を加算する加算＠、（ｌＯｂ）はこの各
加算器の出力する各電気信号を減算する減算器である。
力する電気信号を加算、減算して焦点誤差信号を検出す
る焦点誤差検出回路、（１０ａ）は上記受光素子（８ａ
）（８ｄ）または上記受光素子（ｓｂ）（８ｃ）の出力
する各電気信号を加算する加算＠、（ｌＯｂ）はこの各
加算器の出力する各電気信号を減算する減算器である。
従来の焦点誤差検出装置は以上のように構成されており
、記録担体（６１に入射して形成する元ビームの焦点の
ト、ラック（６ａ）からのずれに対応した焦点誤差の検
出について説明する。光源…でけが偏光膜（ｊａ）ｆ透
過して偏光ビーム・スプリッタ１！）を出射し、四分の
一波長板（３１で円偏光になったのちレンズ＋４１で平
行光線の元ビームに変換される。この元ビームは対物レ
ンズ１５１で収束されて回転するディスク状の記録担体
（６）に入射し、トラック（６ａ）Ｋ焦点を形成すると
共に記録担体；６）の回転に伴いトラックｒ６ａ）に記
録された情報に対応して変調を受けて反射する。この反
射した光ビームは再び対物レンズＪｌとレンズ１４１
ｔ−経て四分の一波長板（３１で円偏光から直線偏光に
なって鳩元ビーム・スプリッタ（２１に入射する。
、記録担体（６１に入射して形成する元ビームの焦点の
ト、ラック（６ａ）からのずれに対応した焦点誤差の検
出について説明する。光源…でけが偏光膜（ｊａ）ｆ透
過して偏光ビーム・スプリッタ１！）を出射し、四分の
一波長板（３１で円偏光になったのちレンズ＋４１で平
行光線の元ビームに変換される。この元ビームは対物レ
ンズ１５１で収束されて回転するディスク状の記録担体
（６）に入射し、トラック（６ａ）Ｋ焦点を形成すると
共に記録担体；６）の回転に伴いトラックｒ６ａ）に記
録された情報に対応して変調を受けて反射する。この反
射した光ビームは再び対物レンズＪｌとレンズ１４１
ｔ−経て四分の一波長板（３１で円偏光から直線偏光に
なって鳩元ビーム・スプリッタ（２１に入射する。
結局、偏光膜（２ａ）を透過した光ビームは四分の一波
長板１３１を往復透過することにより偏光面が９０度一
回転るので、記録担体（６１のトランク１６ａ）で反射
して偏光ビーム・スプリッタ・２１に入射した元ビーム
は偏光＠（２ａ）で殆んど反射し出射面（２Ｃ）に着設
した屋根型のプリズム（７１で二つの副光ビームに分離
して出射し、光検知器（８）の受光素子（８ａ）（８ｂ
）及び受光素子（８ｃ）Ｃ８ａ）の各分割線上に焦点を
形成する。そして、記録担体（６）に入射した光ビーム
がトラック（６ａ）上で合焦点の状態にあるときは光検
知ＷＡｔ８１に入射する二つの副光ビームがそれぞれ受
光素子（８ａ）（８ｂ）及び受光素子（ｓｃ）（８ｄ）
の各分割線上でも合焦点の状態にあるようになっている
（第３図と第４図参照）。
長板１３１を往復透過することにより偏光面が９０度一
回転るので、記録担体（６１のトランク１６ａ）で反射
して偏光ビーム・スプリッタ・２１に入射した元ビーム
は偏光＠（２ａ）で殆んど反射し出射面（２Ｃ）に着設
した屋根型のプリズム（７１で二つの副光ビームに分離
して出射し、光検知器（８）の受光素子（８ａ）（８ｂ
）及び受光素子（８ｃ）Ｃ８ａ）の各分割線上に焦点を
形成する。そして、記録担体（６）に入射した光ビーム
がトラック（６ａ）上で合焦点の状態にあるときは光検
知ＷＡｔ８１に入射する二つの副光ビームがそれぞれ受
光素子（８ａ）（８ｂ）及び受光素子（ｓｃ）（８ｄ）
の各分割線上でも合焦点の状態にあるようになっている
（第３図と第４図参照）。
光検知器（８）に入射した副光ビームを受光素子（８ａ
）（８ｂ）（８Ｃ）（８ｄ）が受光するとその光量に対
応した電気信号に変換して出力する。受光素子（８ａ）
（８ｄ）と受光素子Ｃ５ｂ）（ｓｃ）から出力する各電
気信号ば焦点誤差検出回路＋１０１の二つの加算器（１
０ａ）にそれぞれ入力し斤に加算し、この加算した電気
信号を減算器（１０１３）で互に減算して焦点誤差信号
’に検出する。
）（８ｂ）（８Ｃ）（８ｄ）が受光するとその光量に対
応した電気信号に変換して出力する。受光素子（８ａ）
（８ｄ）と受光素子Ｃ５ｂ）（ｓｃ）から出力する各電
気信号ば焦点誤差検出回路＋１０１の二つの加算器（１
０ａ）にそれぞれ入力し斤に加算し、この加算した電気
信号を減算器（１０１３）で互に減算して焦点誤差信号
’に検出する。
ところで、記録担体ｉ６１ Ｔ／ｃ入射して形成する元
ビームの焦点がトラック（６ａ）より遠いところにある
とプリズム１７）で分離する二つの副光ビームは互に離
れる方向に移動し、それぞれ受光素子（８ａ）（８ｂ）
の分割線から受光素子（８ａ）の側へ、また、受光素子
（８Ｃ）（８１）の分割線から受光素子（８ａ）の側へ
拡がって入射する。その結果、受光素子（８ａ）（８ｄ
）の出力する各電気信号が受光素子（８ｂ）（８ｃ）の
出力する各電気信号より大きくなり、焦点誤差検出回路
（１０１の減算４ｒｉｏｂ）から正の焦点誤差信号が得
られる。逆に、記録担体１８）に入射して形成する焦点
がトラック（６ａ）より近いところにあると、プリズム
＋７１で分離する二つの副光ビームハ征に近づく方向に
移幼し、それぞれ受光素子（８ａ）（８ｂ）の分割線か
ら受光素子（１）の側へ、また、受光素子（ｓｃ）（８
４）の分割線から受光素子（８Ｃ）側へ拡がって入射す
る。その結果、受光素子ｒｓｂ）（８ｃ）の出力する各
電気信号が受光素子（８ａ）（８ｃｌ）の出力する各電
気信号より大きくなり焦点誤差検出回路（１０１の減算
器ｔ ｔ ｏｈ）からは負の焦点誤差信号が得られる。
ビームの焦点がトラック（６ａ）より遠いところにある
とプリズム１７）で分離する二つの副光ビームは互に離
れる方向に移動し、それぞれ受光素子（８ａ）（８ｂ）
の分割線から受光素子（８ａ）の側へ、また、受光素子
（８Ｃ）（８１）の分割線から受光素子（８ａ）の側へ
拡がって入射する。その結果、受光素子（８ａ）（８ｄ
）の出力する各電気信号が受光素子（８ｂ）（８ｃ）の
出力する各電気信号より大きくなり、焦点誤差検出回路
（１０１の減算４ｒｉｏｂ）から正の焦点誤差信号が得
られる。逆に、記録担体１８）に入射して形成する焦点
がトラック（６ａ）より近いところにあると、プリズム
＋７１で分離する二つの副光ビームハ征に近づく方向に
移幼し、それぞれ受光素子（８ａ）（８ｂ）の分割線か
ら受光素子（１）の側へ、また、受光素子（ｓｃ）（８
４）の分割線から受光素子（８Ｃ）側へ拡がって入射す
る。その結果、受光素子ｒｓｂ）（８ｃ）の出力する各
電気信号が受光素子（８ａ）（８ｃｌ）の出力する各電
気信号より大きくなり焦点誤差検出回路（１０１の減算
器ｔ ｔ ｏｈ）からは負の焦点誤差信号が得られる。
すなわち、焦点誤差信号の大きさが記録担体（６１に入
射して形成する焦点のトラック（８ａ）からのずれの大
きさ？示し、焦点誤差信号の符号がそのずれのトラック
ｒ６ａ）に対する方向？示すようになっている。
射して形成する焦点のトラック（８ａ）からのずれの大
きさ？示し、焦点誤差信号の符号がそのずれのトラック
ｒ６ａ）に対する方向？示すようになっている。
さて、ディスク状の記録担体（６）全回転させながら光
学的手段により情報の記録または再生を行なうには記録
担体１６１に入射して形成する尤ビームの焦点のトラッ
クｒ８ａ）からのずれに対応した焦点誤差を検出して元
ビームをトラック（８ａ）上で合焦点の状態にする焦点
訓ａ１に行なうｔｌか光ビームの焦点のトラック（６ａ
）からの外れに対応したぁラッキング誤差を検出して焦
点をトラック（６ａ）に追従させるトラッキングｌ１ｌ
ａｌを行なう。第６図はブツシュ・プル法によるトラッ
キング誤差検出の概念゛を示す概念であって、ディスク
状の記録担体（６１に入射した光ビームはトランク（６
ａ）に焦点を形成して反射するが、トラック（６ａ）に
より回折が起るので、トラック（６ａ）で反射する光ビ
ームはＯ次回折光ビームと±１１次回折光ビーム分かれ
る。この０次回折ビームと±１次回折光ビームは二分割
の光検知器（図示せず）に入射すると互に干渉するので
、この光検知器の二つの受光素子から出力する各電気信
号の差をとってトラッキング誤差信号を得ることになる
。
学的手段により情報の記録または再生を行なうには記録
担体１６１に入射して形成する尤ビームの焦点のトラッ
クｒ８ａ）からのずれに対応した焦点誤差を検出して元
ビームをトラック（８ａ）上で合焦点の状態にする焦点
訓ａ１に行なうｔｌか光ビームの焦点のトラック（６ａ
）からの外れに対応したぁラッキング誤差を検出して焦
点をトラック（６ａ）に追従させるトラッキングｌ１ｌ
ａｌを行なう。第６図はブツシュ・プル法によるトラッ
キング誤差検出の概念゛を示す概念であって、ディスク
状の記録担体（６１に入射した光ビームはトランク（６
ａ）に焦点を形成して反射するが、トラック（６ａ）に
より回折が起るので、トラック（６ａ）で反射する光ビ
ームはＯ次回折光ビームと±１１次回折光ビーム分かれ
る。この０次回折ビームと±１次回折光ビームは二分割
の光検知器（図示せず）に入射すると互に干渉するので
、この光検知器の二つの受光素子から出力する各電気信
号の差をとってトラッキング誤差信号を得ることになる
。
従来の焦点誤差検出装置は以上のように構成され、記録
担体ｆｉ＋のトランク（６ａ）で反射する尤ビームが０
次回折光ビームと±１次回折光ビームに分かれて、焦点
誤差の検出に使用すべきＯ次回折光ビームにトラッキン
グ誤差の検出に１重用する±１次回折光ビームが干渉し
てノイズとなるので、精度よく焦点誤差を検出すること
ができないと云う解決すべき課題があった。
担体ｆｉ＋のトランク（６ａ）で反射する尤ビームが０
次回折光ビームと±１次回折光ビームに分かれて、焦点
誤差の検出に使用すべきＯ次回折光ビームにトラッキン
グ誤差の検出に１重用する±１次回折光ビームが干渉し
てノイズとなるので、精度よく焦点誤差を検出すること
ができないと云う解決すべき課題があった。
この発明、は上記のような課題を解決するためになされ
たものであって、トラッキング誤差の検出に使用する±
１次回折光ビームの影響を受けることなく焦点誤差？検
出することができる焦点誤差検出装置ｔを得ることを目
的とする。
たものであって、トラッキング誤差の検出に使用する±
１次回折光ビームの影響を受けることなく焦点誤差？検
出することができる焦点誤差検出装置ｔを得ることを目
的とする。
〔課題を解決するｔめの手段〕
この発明に係る焦点誤差検出装置は光源から出射した光
ビームが・調光ビーム・スプリッタの偏光膜で直線偏光
を受けたのち、四分の一波長板と整形及び収束の光学系
とを透過して回転するディスク状の記録担体のトラック
に焦点を形成して反射し、再び、光学系と四分つ一波長
板スグリツタに入射し、偏光膜で殆んど反射して出射し
、プリズムで二つの副光ビームに分離したうえ、互に平
行な３本の分割線で分割された四つの受光素子からなる
光検知器に入射して両側の分割線上にそれぞれ焦点を形
成する構成にして、かつ、トラックに形成する焦点のト
ラックからのずれに対応して光ビームの受光素子への入
射により、焦点誤差を検出するものにおいて、トラック
に焦点を形成して反射した光ビームに含まれる１次回折
ビームの受光素子への入射’ｔ＃１！、、譬遮断する遮
光遮断を設けたものである。
ビームが・調光ビーム・スプリッタの偏光膜で直線偏光
を受けたのち、四分の一波長板と整形及び収束の光学系
とを透過して回転するディスク状の記録担体のトラック
に焦点を形成して反射し、再び、光学系と四分つ一波長
板スグリツタに入射し、偏光膜で殆んど反射して出射し
、プリズムで二つの副光ビームに分離したうえ、互に平
行な３本の分割線で分割された四つの受光素子からなる
光検知器に入射して両側の分割線上にそれぞれ焦点を形
成する構成にして、かつ、トラックに形成する焦点のト
ラックからのずれに対応して光ビームの受光素子への入
射により、焦点誤差を検出するものにおいて、トラック
に焦点を形成して反射した光ビームに含まれる１次回折
ビームの受光素子への入射’ｔ＃１！、、譬遮断する遮
光遮断を設けたものである。
この発明において＃：ｔ、＃＆光手段がトラックに焦点
を形成して反射する光ビームに含まれる１次回折光ビー
ムの受光素子への入射をは′ｉ遮断する。
を形成して反射する光ビームに含まれる１次回折光ビー
ムの受光素子への入射をは′ｉ遮断する。
第１図はこの発明の一！！旌例の構成部品と光路を示す
構成図、第２図は第１図の実施例のプリズムへ光ビーム
の入射する状態を示す説明図である。第１図と第２図に
おいて、（１１、・２）、ｒ２ａ）〜（！ｃ）、１１１
１〜ｔ６Ｌ（６ａ） 、＋７）、 ｆ８１、（８ａ）
〜（８（１） ＃を上記従来の焦点誤差検出装置と全く
向−のものである。＠は上記トラックｒ６ａ）に焦点を
形成して反射した光ビームに含まれる１次回折ビームの
上記受光素子（８ａ）（８ｂ）（８ｃ）ｒ８ｄ）”ｓの
入射をはｙ遮断する４光手段であって、この実施例では
上記偏光ビーム・スプリッタ１！ｌの出射面（Ｂｃ）に
被着した搗光膜を使用している。
構成図、第２図は第１図の実施例のプリズムへ光ビーム
の入射する状態を示す説明図である。第１図と第２図に
おいて、（１１、・２）、ｒ２ａ）〜（！ｃ）、１１１
１〜ｔ６Ｌ（６ａ） 、＋７）、 ｆ８１、（８ａ）
〜（８（１） ＃を上記従来の焦点誤差検出装置と全く
向−のものである。＠は上記トラックｒ６ａ）に焦点を
形成して反射した光ビームに含まれる１次回折ビームの
上記受光素子（８ａ）（８ｂ）（８ｃ）ｒ８ｄ）”ｓの
入射をはｙ遮断する４光手段であって、この実施例では
上記偏光ビーム・スプリッタ１！ｌの出射面（Ｂｃ）に
被着した搗光膜を使用している。
欠にこの実施例の機ｆＩｉ！、ＶＣついて説明する。光
源…で発生した尤ビームは偏光ビーム・スプリッタ１２
１に入射面（２ｂ）から入射し、偏光＃（ｇａ）の透過
軸に平行な部分たけが偏光膜（２ａ）を透過して偏光ビ
ーム書スプリッタ（２）を出射し、四分の一波長板（３
：で円偏光になったのち、レンズ１４１で平行光線の元
ビームに変換される。
源…で発生した尤ビームは偏光ビーム・スプリッタ１２
１に入射面（２ｂ）から入射し、偏光＃（ｇａ）の透過
軸に平行な部分たけが偏光膜（２ａ）を透過して偏光ビ
ーム書スプリッタ（２）を出射し、四分の一波長板（３
：で円偏光になったのち、レンズ１４１で平行光線の元
ビームに変換される。
このたビームは対物レンズ＋６１で収束されて回転する
ディスク状の記録担体（６）に入射しトラック（６ａ）
に焦点を形成して反射するが、トラック（ｋ）により回
折が起るので、この反射した光ビームはＯ次回折光ビー
ムと±１次回折光ビームに分かれる。この光ビームは再
び対物レンズ、５）トレンズ１４）ヲ経て四分の一波長
板（３１で円偏光から直線偏光になシ、結局、四分の一
波長板１３１の往復透過により偏光面７に９０度面回転
て偏光ビーム・スプリッタ＋２１に入射しその偏光膜（
２ａ）で殆んど反射する・この偏光膜（ｇａ）で反射す
る元ビームのうち±１次回折ビームは出射面（２Ｃ）に
被着した偏光膜で殆んど高所され、０次回折光ビームだ
けが屋根型のプリズム（７）に入射しく第２図参照）二
つの副光ビームに分離して光検知器（８１に入射する。
ディスク状の記録担体（６）に入射しトラック（６ａ）
に焦点を形成して反射するが、トラック（ｋ）により回
折が起るので、この反射した光ビームはＯ次回折光ビー
ムと±１次回折光ビームに分かれる。この光ビームは再
び対物レンズ、５）トレンズ１４）ヲ経て四分の一波長
板（３１で円偏光から直線偏光になシ、結局、四分の一
波長板１３１の往復透過により偏光面７に９０度面回転
て偏光ビーム・スプリッタ＋２１に入射しその偏光膜（
２ａ）で殆んど反射する・この偏光膜（ｇａ）で反射す
る元ビームのうち±１次回折ビームは出射面（２Ｃ）に
被着した偏光膜で殆んど高所され、０次回折光ビームだ
けが屋根型のプリズム（７）に入射しく第２図参照）二
つの副光ビームに分離して光検知器（８１に入射する。
記録担体（６）に入射した元ビームがトラック（６ａ）
上で合焦点の状態にあるときは光検知器（８）に入射す
る二つの副光ビームはそれぞれ受光素子（８ａ）（８ｂ
）及び受光素子（３ｃ ）（４３ｄ）の各分割線上に焦
点を形成する。また、上記記録担体（６１に入射して形
成する焦点がトラック（６ａ）からずれると、プリズム
（７）で分離する二つの副光ビームは互いに離れるかあ
るいは近づく方向に移助してそれぞれ受光素子（８ａ）
（８ｂ）と受光素子（８ｃ）（８ｄ）の各分割線から受
光素子（８ａ）（８ｄ）あるいは受光素子（８ｂ）（８
ｃ）の側へ拡がって入射する。このようにプリズム１７
）で分離して受光素子（８ａ）（８ｄ）あるいは受光素
子（８ｂ）（８（りＫ入射する二つの副光ビームは殆ん
どＯ次回折光ビーームだけであるから±１次回折光ビー
ムの干渉を受けることなく焦点誤差を検出することがで
きる。
上で合焦点の状態にあるときは光検知器（８）に入射す
る二つの副光ビームはそれぞれ受光素子（８ａ）（８ｂ
）及び受光素子（３ｃ ）（４３ｄ）の各分割線上に焦
点を形成する。また、上記記録担体（６１に入射して形
成する焦点がトラック（６ａ）からずれると、プリズム
（７）で分離する二つの副光ビームは互いに離れるかあ
るいは近づく方向に移助してそれぞれ受光素子（８ａ）
（８ｂ）と受光素子（８ｃ）（８ｄ）の各分割線から受
光素子（８ａ）（８ｄ）あるいは受光素子（８ｂ）（８
ｃ）の側へ拡がって入射する。このようにプリズム１７
）で分離して受光素子（８ａ）（８ｄ）あるいは受光素
子（８ｂ）（８（りＫ入射する二つの副光ビームは殆ん
どＯ次回折光ビーームだけであるから±１次回折光ビー
ムの干渉を受けることなく焦点誤差を検出することがで
きる。
なお、上記実施列では価光模鎖を傷線ビーム・スプリッ
タ（２）の出射面Ｎ１ｃ）に被着するものとしたが、ト
ラック（６ａ）に焦点を形成して反射する光ビームが受
光素子（８ａ）（８ｄ）あるいは、受光素子ｒｓｂ）（
ｓｃＨ入射するのを遮断するのであれば。
タ（２）の出射面Ｎ１ｃ）に被着するものとしたが、ト
ラック（６ａ）に焦点を形成して反射する光ビームが受
光素子（８ａ）（８ｄ）あるいは、受光素子ｒｓｂ）（
ｓｃＨ入射するのを遮断するのであれば。
いずれのところであってもよく、例えば屋根型のプリズ
ム１７）の屈折面に被着することも可能であることは云
うまでもない。
ム１７）の屈折面に被着することも可能であることは云
うまでもない。
この発明は以上説明したとおり、トラックに焦点を形成
して反射した光ビームに含まれる１次回折光ビームの受
光素子への入射をは″ｉ遮断する通光手段を設けたので
、トラッキング誤差の検出に使用する±１次回折光ビー
ムの影響を４゜ 受けることなく焦点誤差を検出することができると云う
効果がある。
して反射した光ビームに含まれる１次回折光ビームの受
光素子への入射をは″ｉ遮断する通光手段を設けたので
、トラッキング誤差の検出に使用する±１次回折光ビー
ムの影響を４゜ 受けることなく焦点誤差を検出することができると云う
効果がある。
第１図はこの発明の一実施例の構成部品゛と光路を示す
構成図、第２図は第１図の実施例の・プリズムへ光ビー
ムの入射する状態を示す説明図。 ＠３図は従来の焦点誤差検出装置の［成部品と光ｗＩ！
Ｉを示す構成図、第４図は光検知器の詳細を示す正面図
、第５図は焦点誤差検出回ｆ％を示すブロック線図、第
６図はブツシュ・プル法によるトラッキング誤差検出の
概念を示す概念図であるＯ 図において、目）は光源、（２）は偏光ビーム・スプリ
ｙｐ、（ｌａ）ｉｊ偏光膜、 ｒｇｂ）ｒ１入射面、
（ｇｃ）は出射面、（３）は四分の一波長板、（４１ハ
レンズ、（６）ハ対物レンズ、１６１は記録担体、（８
＆）Ｔ／ｌトラック、（７）はプリズム、（８）は光検
知器、（８ａ）（８ｂ）（８ｃ）（１３ｄ）にいずれも
受光素子、２１１は遮光膜である。 なお、各図中、同一符号は同一または相当部分を示す。 第１図 １ Ａ二；原 〆 １ｎＪ求太巨４本２
偏ｔど一４スプリッタ Δａ トラツク２１踊ｃ月員
７ フ゛ソス１へ２ｂ入身す面 ざ尤検
郵器 ２Ｃ二Ｊｊ面 Ｓａ、受光素＋ ３ 旧か一濱長才及 ｇｂ 受を妻チ４ レレス゛
Ｉｃ 受光素÷５ ｉすｐａＬ’、ｔ
ｙｏ ｐ、ｅＪ第２図 第４図 第５図 第６図
構成図、第２図は第１図の実施例の・プリズムへ光ビー
ムの入射する状態を示す説明図。 ＠３図は従来の焦点誤差検出装置の［成部品と光ｗＩ！
Ｉを示す構成図、第４図は光検知器の詳細を示す正面図
、第５図は焦点誤差検出回ｆ％を示すブロック線図、第
６図はブツシュ・プル法によるトラッキング誤差検出の
概念を示す概念図であるＯ 図において、目）は光源、（２）は偏光ビーム・スプリ
ｙｐ、（ｌａ）ｉｊ偏光膜、 ｒｇｂ）ｒ１入射面、
（ｇｃ）は出射面、（３）は四分の一波長板、（４１ハ
レンズ、（６）ハ対物レンズ、１６１は記録担体、（８
＆）Ｔ／ｌトラック、（７）はプリズム、（８）は光検
知器、（８ａ）（８ｂ）（８ｃ）（１３ｄ）にいずれも
受光素子、２１１は遮光膜である。 なお、各図中、同一符号は同一または相当部分を示す。 第１図 １ Ａ二；原 〆 １ｎＪ求太巨４本２
偏ｔど一４スプリッタ Δａ トラツク２１踊ｃ月員
７ フ゛ソス１へ２ｂ入身す面 ざ尤検
郵器 ２Ｃ二Ｊｊ面 Ｓａ、受光素＋ ３ 旧か一濱長才及 ｇｂ 受を妻チ４ レレス゛
Ｉｃ 受光素÷５ ｉすｐａＬ’、ｔ
ｙｏ ｐ、ｅＪ第２図 第４図 第５図 第６図
Claims (1)
- 光源から出射した光ビームが偏光ビーム・スプリッタの
偏光膜で直線偏光を受けたのち、四分の一波長板と整形
及び収束の光学系とを透過して回転するディスク状の記
録担体のトラックに焦点を形成して反射し、再び、上記
光学系と上記四分の一波長板とを透過して上記四分の一
波長板の往復透過により上記直線偏光の偏光面の９０度
の回転を得て上記偏光ビーム・スプリッタに入射し上記
偏光膜で殆んど反射して出射し、プリズムで二つの副光
ビームに分離したうえ、互に平行な３本の分割線で分割
された四つの受光素子からなる光検知器に入射して両側
の上記分割線上にそれぞれ焦点を形成する構成にして、
かつ上記トラックに形成する焦点の上記トラックからの
ずれに対応して上記光ビームの上記受光素子への入射に
より焦点誤差を検出するものにおいて、上記トラックに
焦点を形成して反射した光ビームに含まれる１次回折光
ビームの上記受光素子への入射をほゞ遮断する遮光手段
を設けたことを特徴とする焦点誤差検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63279655A JPH02126429A (ja) | 1988-11-05 | 1988-11-05 | 焦点誤差検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63279655A JPH02126429A (ja) | 1988-11-05 | 1988-11-05 | 焦点誤差検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02126429A true JPH02126429A (ja) | 1990-05-15 |
Family
ID=17614009
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63279655A Pending JPH02126429A (ja) | 1988-11-05 | 1988-11-05 | 焦点誤差検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02126429A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5487058A (en) * | 1993-02-09 | 1996-01-23 | Ricoh Company, Ltd. | Optical pick-up system with improved light-convergence construction |
| JPH08241526A (ja) * | 1991-10-03 | 1996-09-17 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | 光ディスクドライブ装置とその焦点合わせ及びトラッキングサーボ間のフィードスルーを低減する方法 |
| EP0759610A2 (en) * | 1995-08-18 | 1997-02-26 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Optical pickup for high-density recording/reproducing |
| US7916611B2 (en) | 2007-07-12 | 2011-03-29 | Sharp Kabushiki Kaisha | Optical pickup apparatus |
-
1988
- 1988-11-05 JP JP63279655A patent/JPH02126429A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08241526A (ja) * | 1991-10-03 | 1996-09-17 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | 光ディスクドライブ装置とその焦点合わせ及びトラッキングサーボ間のフィードスルーを低減する方法 |
| US5487058A (en) * | 1993-02-09 | 1996-01-23 | Ricoh Company, Ltd. | Optical pick-up system with improved light-convergence construction |
| EP0759610A2 (en) * | 1995-08-18 | 1997-02-26 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Optical pickup for high-density recording/reproducing |
| EP0759610A3 (en) * | 1995-08-18 | 1997-06-11 | Samsung Electronics Co Ltd | Optical head for high density recording / playback |
| US5691970A (en) * | 1995-08-18 | 1997-11-25 | Samsung Electronics, Co., Ltd. | Optical pickup for high-density recording/reproducing |
| US7916611B2 (en) | 2007-07-12 | 2011-03-29 | Sharp Kabushiki Kaisha | Optical pickup apparatus |
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