JPS60247832A - トラツキング誤差検出装置 - Google Patents
トラツキング誤差検出装置Info
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- JPS60247832A JPS60247832A JP10280684A JP10280684A JPS60247832A JP S60247832 A JPS60247832 A JP S60247832A JP 10280684 A JP10280684 A JP 10280684A JP 10280684 A JP10280684 A JP 10280684A JP S60247832 A JPS60247832 A JP S60247832A
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- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/095—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following specially adapted for discs, e.g. for compensation of eccentricity or wobble
- G11B7/0953—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following specially adapted for discs, e.g. for compensation of eccentricity or wobble to compensate for eccentricity of the disc or disc tracks
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- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/094—Methods and circuits for servo offset compensation
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/095—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following specially adapted for discs, e.g. for compensation of eccentricity or wobble
- G11B7/0956—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following specially adapted for discs, e.g. for compensation of eccentricity or wobble to compensate for tilt, skew, warp or inclination of the disc, i.e. maintain the optical axis at right angles to the disc
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（発明の技術分野）
本発明は、ディスク上の回折効果を有する部分から光ス
ポットがずれているときのトランキング誤差を検出する
ようにした光ピツクアップのトラッキング誤差検出装置
に関する。
ポットがずれているときのトランキング誤差を検出する
ようにした光ピツクアップのトラッキング誤差検出装置
に関する。
（発明の背景）
トラッキング誤差を検出する手段として、対象物上のト
ランクの位置から回折反射される光の遠視野像（ファー
フィールドパターン）上の不平衡量を検出する方法があ
る。これをファーフィールド方式と呼ぶ。
ランクの位置から回折反射される光の遠視野像（ファー
フィールドパターン）上の不平衡量を検出する方法があ
る。これをファーフィールド方式と呼ぶ。
第１図は、ファーフィールド方式の原理を説明するため
の図である。第１図において、１は対物レンズ、２は記
録媒体であるディスク、３はディスク２上に凹凸の形で
記録された情報のいわゆるビ゛ソト部である。
の図である。第１図において、１は対物レンズ、２は記
録媒体であるディスク、３はディスク２上に凹凸の形で
記録された情報のいわゆるビ゛ソト部である。
入射光束４は、対物レンズ１（Ｃよりディスク２の上に
集束されているものと仮定する。
集束されているものと仮定する。
もし、光スポットがビット上に左右のずれなく乗ってい
るとすると、第１図（ａ）に実線５で示したよう・に、
ディスクからの反射光は左右対象となる。
るとすると、第１図（ａ）に実線５で示したよう・に、
ディスクからの反射光は左右対象となる。
しかし、光スポットがビットからはずれると、第１図（
ｂ）に実線６で示すように、ディスク２からの反射光は
左右の光量に不平衡が生ずる。
ｂ）に実線６で示すように、ディスク２からの反射光は
左右の光量に不平衡が生ずる。
このように、光スポットがピント部分からずれる時に生
ずるファーフィールドパターン上の左右の不平衡成分に
よりトラッキング誤差を検出するのがファーフィールド
方式の原理である。
ずるファーフィールドパターン上の左右の不平衡成分に
よりトラッキング誤差を検出するのがファーフィールド
方式の原理である。
第２図は、ファーフィールド方式のピックアップを構成
する代表的な光学系を示す図であｐ、第１図と同一のも
のは同一の符号に付し、ここでの重複する説明は省略す
る。
する代表的な光学系を示す図であｐ、第１図と同一のも
のは同一の符号に付し、ここでの重複する説明は省略す
る。
第２図において、２１は半導体レーザダイオード、２２
はコリメートレンズ、２３はビームスプリッタ、２４は
２分割光検出器である。学導体レーザダイオード２１か
ら出た光（破線で示す）はコリメートレンズ２２で平行
光にされ、ビームスプリンタ２３、対物し／ズ１を通り
、ディスク２のトラック部（ピット部３）Ｋ集束される
。ディスク２からの反射光（実線で示す）は再び対物レ
ンズ１、ビームスプリッタ２３を通り、２分割光検出器
２４に入射する。
はコリメートレンズ、２３はビームスプリッタ、２４は
２分割光検出器である。学導体レーザダイオード２１か
ら出た光（破線で示す）はコリメートレンズ２２で平行
光にされ、ビームスプリンタ２３、対物し／ズ１を通り
、ディスク２のトラック部（ピット部３）Ｋ集束される
。ディスク２からの反射光（実線で示す）は再び対物レ
ンズ１、ビームスプリッタ２３を通り、２分割光検出器
２４に入射する。
以上のように、ファーフィールド方式り光学系が簡単で
あるので、すぐれているが、その反面、次のような欠点
がある。第１は、ディスクの反射面の傾きにより、誤っ
たトラッキング信号を発生することである。第３図は、
その様子を説明するだめの図である。
あるので、すぐれているが、その反面、次のような欠点
がある。第１は、ディスクの反射面の傾きにより、誤っ
たトラッキング信号を発生することである。第３図は、
その様子を説明するだめの図である。
第３図に示すように、ディスク２０反射面が、入射光の
光軸に対し垂直位置からずれて傾いていると、光スポッ
トが第３図のように丁度トラック上にあっても反射光３
１は左右不平均になる。
光軸に対し垂直位置からずれて傾いていると、光スポッ
トが第３図のように丁度トラック上にあっても反射光３
１は左右不平均になる。
このため、トラッキングサーボは、この傾きの誤差信号
を打ち消すように働くから、光スポットはディスク上の
トラック位置からずれてしまう。
を打ち消すように働くから、光スポットはディスク上の
トラック位置からずれてしまう。
第２は、対物レンズ１がトラックの方向に対して垂直方
向（Ｙ方向）Ｋ＃勤することにより誤ったトラッキング
信号を発生することである。第４図、第５図はその様子
を説明するだめの図である。
向（Ｙ方向）Ｋ＃勤することにより誤ったトラッキング
信号を発生することである。第４図、第５図はその様子
を説明するだめの図である。
第４図に示すように、対物レンズ１の光軸ｔ１が、２分
割受光素子２４の分割線４からずれていると、光スポッ
トが丁度トランク上にあっても受光素子２４上の反射光
５１は、第５図のように、上下不平均になる。このため
、トラッキングサーボは、この対物レンズ１の移動によ
る誤差信号を打ち消すように働くから、光スポットはト
ランク位置からずれてしまう。
割受光素子２４の分割線４からずれていると、光スポッ
トが丁度トランク上にあっても受光素子２４上の反射光
５１は、第５図のように、上下不平均になる。このため
、トラッキングサーボは、この対物レンズ１の移動によ
る誤差信号を打ち消すように働くから、光スポットはト
ランク位置からずれてしまう。
以上で述べたように、ファーフィールド方式では、光学
系が簡単であるという点ですぐれていたが、一方ディス
クの傾きや、対物レンズの光軸と光検出器の分割軸のず
れによって、誤ったトラッキング信号を発生する欠点が
あった。これらの欠点を軽減するために、これまで次の
方法がとられていた。
系が簡単であるという点ですぐれていたが、一方ディス
クの傾きや、対物レンズの光軸と光検出器の分割軸のず
れによって、誤ったトラッキング信号を発生する欠点が
あった。これらの欠点を軽減するために、これまで次の
方法がとられていた。
（１〕 対物レンズと光検出器を一体として駆動する。
（２）トラック上のピット部のみのトラッキング誤差信
号を抽出する。
号を抽出する。
（３）トラッキング誤差情報を含まない信号成分によっ
て光検出器から出力される変調信号を補正ング誤差信号
を得る。
て光検出器から出力される変調信号を補正ング誤差信号
を得る。
上記の各方法では以下の欠点があった。
上記（１）の方法では、対物レンズと光検出器を一体と
して駆動させるためピックアンプユニットのアクチュエ
ーターが複雑で、しかも大型になる。
して駆動させるためピックアンプユニットのアクチュエ
ーターが複雑で、しかも大型になる。
またアクチュエーターの重量が大きくなるため、アクチ
ーエータ−の駆動出力が大きくなる。
ーエータ−の駆動出力が大きくなる。
上記（２）の方法では、トランク上のピット部のみのト
ラッキング誤差信号を抽出し、トラッキング誤差信号を
得ているため、ディスクの傾きには強いが、対物レンズ
の光軸と光検出器の分割軸がずれると、誤ったトラッキ
ング誤差信号を発生する。
ラッキング誤差信号を抽出し、トラッキング誤差信号を
得ているため、ディスクの傾きには強いが、対物レンズ
の光軸と光検出器の分割軸がずれると、誤ったトラッキ
ング誤差信号を発生する。
上記（３）の方法では、再生専用の装置に使用するには
有効であるがあらかじめトラック溝のあるものに対して
は使用できない。
有効であるがあらかじめトラック溝のあるものに対して
は使用できない。
（発明の目的）
本発明はこれらの欠点を解決し、ディスクの傾き、対物
レンズの光軸と２分割受光素子の分割中心とのズレによ
る影響を著しく軽減せしめると共に、小型でしかもトラ
ンク溝のあるものＫも使用できるトラッキング誤差検出
装置の提供を目的とする。
レンズの光軸と２分割受光素子の分割中心とのズレによ
る影響を著しく軽減せしめると共に、小型でしかもトラ
ンク溝のあるものＫも使用できるトラッキング誤差検出
装置の提供を目的とする。
（発明の概要）
本発明は、光源と、該光源の射出光をディスク上に集光
する集光手段と、前記ディスクのトラッキング方向に配
設された一対の光電変換手段と、を有する光ピツクアッ
プのトラキング誤差検出装置において、トラッキング誤
差が最小になるときを、前記一対の光電変換手段から出
力される信号の加算信号の最小値に基づいて検出し、検
出信号を出力する最小位置検出手段と、前記一対の光電
変換手段から出力される信号の減算信号を出力する減算
信号出力手段と、前記最小位置検出手段と減算信号出力
手段とに接続され、前記検出信号が出力されたときの前
記減算信号を記憶する記憶手段と、前記減算信号出力手
段と記憶手段とに接続され、両者の出力信号の減算信号
をめトラッキング誤差信号として出力するトラッキング
誤差信号出力手段と、を有し、トラッキング誤差信号を
トラッキング誤差が最小になったときの情報を基準にし
てめるトラッキング誤差検出装置である。
する集光手段と、前記ディスクのトラッキング方向に配
設された一対の光電変換手段と、を有する光ピツクアッ
プのトラキング誤差検出装置において、トラッキング誤
差が最小になるときを、前記一対の光電変換手段から出
力される信号の加算信号の最小値に基づいて検出し、検
出信号を出力する最小位置検出手段と、前記一対の光電
変換手段から出力される信号の減算信号を出力する減算
信号出力手段と、前記最小位置検出手段と減算信号出力
手段とに接続され、前記検出信号が出力されたときの前
記減算信号を記憶する記憶手段と、前記減算信号出力手
段と記憶手段とに接続され、両者の出力信号の減算信号
をめトラッキング誤差信号として出力するトラッキング
誤差信号出力手段と、を有し、トラッキング誤差信号を
トラッキング誤差が最小になったときの情報を基準にし
てめるトラッキング誤差検出装置である。
（実施例）
第６図は本発明のトラッキング誤差検出装置の第１実施
例の構成を示す電気ブロック図である。
例の構成を示す電気ブロック図である。
本例では、第２図と同様の光学系によりディスクからの
反射光を２分割光検出器２４に入射させるが、光検出器
２４の各々の光検出面を６１，６２とする。既に述べた
如く、光検出面６１．６２の配列方向は、ディスクのト
ランクと直交する方向（Ｙ方向）である。光検出面６１
の出力端子は加算回路６３の一方の入力端子と減算回路
６４の一方の入力端子とに接続される。光検出面６２の
出力端子は加算回路６３の他方の入力端子と減算回路６
４の他方の入力端子とに接続される。加算回路６３の出
力端子はローパスフィルタ６５の入力端子に接続され、
ローパスフィルタ６５の出力端子は微分回路６６に接続
され、微分回路６６の出力端子は立上りパルス発生回路
６７に接続され、立上りパルス発生回路６７の出力端子
はサンプルホールド回路６９のサンプルパルス供給端子
に接続される。
反射光を２分割光検出器２４に入射させるが、光検出器
２４の各々の光検出面を６１，６２とする。既に述べた
如く、光検出面６１．６２の配列方向は、ディスクのト
ランクと直交する方向（Ｙ方向）である。光検出面６１
の出力端子は加算回路６３の一方の入力端子と減算回路
６４の一方の入力端子とに接続される。光検出面６２の
出力端子は加算回路６３の他方の入力端子と減算回路６
４の他方の入力端子とに接続される。加算回路６３の出
力端子はローパスフィルタ６５の入力端子に接続され、
ローパスフィルタ６５の出力端子は微分回路６６に接続
され、微分回路６６の出力端子は立上りパルス発生回路
６７に接続され、立上りパルス発生回路６７の出力端子
はサンプルホールド回路６９のサンプルパルス供給端子
に接続される。
一力、減算回路６４の出力端子はローパスフィルタ６８
の入力端子に接続され、ローパスフィルタ６８の出力端
子はサンプルホールド回路６９０入力端子と減算回路７
０の一方の入力端子とに接続される。減算回路７０の他
方の入力端子にはサンプルホールド回路６９の出力端子
が接続されている。
の入力端子に接続され、ローパスフィルタ６８の出力端
子はサンプルホールド回路６９０入力端子と減算回路７
０の一方の入力端子とに接続される。減算回路７０の他
方の入力端子にはサンプルホールド回路６９の出力端子
が接続されている。
そして、減算回路７０の出力端子７１にトラッキング誤
差信号が得られる。
差信号が得られる。
次に、第６図の回路動作を第７図の波形図を参照しつつ
説明する。第７図（イ）はピット３と光スポット４０の
位置関係の一例を示したもので、ピット列に対して光ス
ポット４０が左から右へ移動しているものである。第７
図（ロ）乃至第７図（ト）は、上述の如き光スポット４
０が移動した場合に得られる第６図の回路ブロックの各
部の波形である。
説明する。第７図（イ）はピット３と光スポット４０の
位置関係の一例を示したもので、ピット列に対して光ス
ポット４０が左から右へ移動しているものである。第７
図（ロ）乃至第７図（ト）は、上述の如き光スポット４
０が移動した場合に得られる第６図の回路ブロックの各
部の波形である。
ピット３の存在する位置ではピクト３がらの戻り光とピ
ット３以外の部分からの戻り光とが干渉し、２分割光検
出器２４への入射光はピット３と光スポット４０との位
置ずれに対応して不平均になること既に従来技術の説明
で行なったことであり、マた、ピットとピットとの間に
光スポット４０があるときは、戻り光は最大でかつ平均
になる。
ット３以外の部分からの戻り光とが干渉し、２分割光検
出器２４への入射光はピット３と光スポット４０との位
置ずれに対応して不平均になること既に従来技術の説明
で行なったことであり、マた、ピットとピットとの間に
光スポット４０があるときは、戻り光は最大でかつ平均
になる。
従って、加算回路６３の出力信号Ｓ、＆ま第７図（ロ）
の破線の如くになる。そして第７図（ロ）の信号Ｓ３を
ローパスフィルタ６５に通すと第７図（ロ）の実線の如
き出力信号Ｓ６、が得られる。信号”６１は信号Ｓ、の
最底レベルのとき、すなわちビット３上に光スポット４
０が正しく位置しているとき、ディスクの傾き等に関係
なく最底レベルになる。出力信号Ｓ６□は微分回路６６
によって第７図Ｃ）の如き信号Ｓ６□となる。信号Ｓ６
２は信号Ｓ６□の信号の変化率が零の位置にて零゛とな
る。立上９パルス発生回路６７は信号Ｓ６２が時間に対
して上昇する傾きで零を横切るときは第７図に）のサン
プルパルスＳ６３ヲ出力する。
の破線の如くになる。そして第７図（ロ）の信号Ｓ３を
ローパスフィルタ６５に通すと第７図（ロ）の実線の如
き出力信号Ｓ６、が得られる。信号”６１は信号Ｓ、の
最底レベルのとき、すなわちビット３上に光スポット４
０が正しく位置しているとき、ディスクの傾き等に関係
なく最底レベルになる。出力信号Ｓ６□は微分回路６６
によって第７図Ｃ）の如き信号Ｓ６□となる。信号Ｓ６
２は信号Ｓ６□の信号の変化率が零の位置にて零゛とな
る。立上９パルス発生回路６７は信号Ｓ６２が時間に対
して上昇する傾きで零を横切るときは第７図に）のサン
プルパルスＳ６３ヲ出力する。
一方、減算回路６４の出力信号Ｓ、は、ローパスフィル
タ６８にて第７図（ホ）の如き信号となる。
タ６８にて第７図（ホ）の如き信号となる。
ディスクの傾き等がなければ光検出部材６１と光検出部
材６２の出力信号の差信号は、ピット３と光スポット４
０の位置ずれのないときには零になる第７図（ホ）の破
線の如き波形Ｓｌ となるのであるが、ディスクの傾き
等があると第７図（ホ）の実線の如き波形Ｓｚ となる
。すなわち、ディスクの傾き等があるとピント３と光ス
ポツト４０の位置ずれのないときであっても零にならな
い。サンプルホールド回路６９は、ピット３と光スポッ
ト４０の位置ずれのないときの信号蛋 をサンプルホー
ルドするから、サンプルホールド回路４０の出力信号は
、第７図（へ）の如き誤差信号となる。減算回路７０は
、第７図（ホ）の信号Ｓ； から第７図（へ）の信号Ｓ
、を減算するから、その出力信号は第７図（ト）の信号
Ｓ６４となる。第７図（ト）の信号＄６４は、ピット３
と光スボソ）４０の位置ずれのないときには常に零にな
るように修正された信号である。
材６２の出力信号の差信号は、ピット３と光スポット４
０の位置ずれのないときには零になる第７図（ホ）の破
線の如き波形Ｓｌ となるのであるが、ディスクの傾き
等があると第７図（ホ）の実線の如き波形Ｓｚ となる
。すなわち、ディスクの傾き等があるとピント３と光ス
ポツト４０の位置ずれのないときであっても零にならな
い。サンプルホールド回路６９は、ピット３と光スポッ
ト４０の位置ずれのないときの信号蛋 をサンプルホー
ルドするから、サンプルホールド回路４０の出力信号は
、第７図（へ）の如き誤差信号となる。減算回路７０は
、第７図（ホ）の信号Ｓ； から第７図（へ）の信号Ｓ
、を減算するから、その出力信号は第７図（ト）の信号
Ｓ６４となる。第７図（ト）の信号＄６４は、ピット３
と光スボソ）４０の位置ずれのないときには常に零にな
るように修正された信号である。
従って、減算回路７０の出力信号Ｓ６４によってトラン
キングサーボを行なえば、ディスクの傾き等があっても
ピント３と光スボッ）４０の位置ずれのないようにトラ
ッキングを行な５ことができる。
キングサーボを行なえば、ディスクの傾き等があっても
ピント３と光スボッ）４０の位置ずれのないようにトラ
ッキングを行な５ことができる。
そして上述の実施例は、案内溝のあるディスクでは情報
が記録されていようがいまいが使用することができ、す
なわち、記録、再生に使用でき、また案内溝がなくとも
、情報がピットの形で記録されていればピット列が案内
溝として働らくので、再生の際に使用することができる
。
が記録されていようがいまいが使用することができ、す
なわち、記録、再生に使用でき、また案内溝がなくとも
、情報がピットの形で記録されていればピット列が案内
溝として働らくので、再生の際に使用することができる
。
次に、本発明の第２実施例を説明する。第８図は本発明
の第２実施例のブロック図であり、第９図は第８図の実
施例の各部の波形図である。以下、第８図の波形図を参
照しつつ説明する。
の第２実施例のブロック図であり、第９図は第８図の実
施例の各部の波形図である。以下、第８図の波形図を参
照しつつ説明する。
本例でも、第２図と同様の光学系によりディスクからの
反射光を光検出器２４に入射させる。光検出器２４は、
ディスクのトラックと直交する方向（Ｙ方向）に２分割
した受光素子６１．６２を有し、これらの２つの受光素
子６１，６２の出力Ｓ、 、 Ｓ、の加算信号Ｓ、 −
Ｓ、 ＋Ｓ、を加算回路６３でめ、（第９図（イ））、
減算信号５４＝ｓ１−ｓ。
反射光を光検出器２４に入射させる。光検出器２４は、
ディスクのトラックと直交する方向（Ｙ方向）に２分割
した受光素子６１．６２を有し、これらの２つの受光素
子６１，６２の出力Ｓ、 、 Ｓ、の加算信号Ｓ、 −
Ｓ、 ＋Ｓ、を加算回路６３でめ、（第９図（イ））、
減算信号５４＝ｓ１−ｓ。
を減算回路６４でめる。前記加算信号Ｓ３ を微分回路
８１に供給し、得られた微分信号Ｓ８１を立上りパルス
発生回路８２に供給する。立上りパルス発生回路８２は
、第９図（ロ）に示す微分信号Ｓ８１の立上りの時のゼ
ロクロス点、つまり加算信号Ｓｓの極小値を検出して、
第９図（ハ）に示すようなサンプリングパルス信号Ｓ８
２を発生し、このサンプリンクパルス信号８８２をサン
プルホールド回路８３に供給して、加算信号Ｓ３ をサ
ンプルホールドする。第９図に）はサンプリングパルス
Ｓ８゜によってサンプルホールドされたサンプルホール
ド回路の８３の出力信号Ｓ８３を示す。このサンプルホ
ールド回路８３の出力信号Ｓ＆ｌをローパスフィルター
８４に供給し、第９図（ホ）の如く得られた低周波数信
号Ｓ８４をさらに微分回路８５立上９パルス発生回路８
６に供給し、第９図（へ）に示すサンプリングパルスＳ
８６を発生し、このサンプリングツくルス信号Ｓ８６を
サンプルホールド回路８７に供給して、前記減算信号Ｓ
、をローパスフィルター６８に供給した後に得られた第
９図（ト）の低周波数出力信号Ｓ；をサンプルホールド
する。第９図（ト）はサンプリングパルスＳ８６によっ
てサンプルホールドされたサンプルホールド回路８７の
出力信号Ｓ、を示す。
８１に供給し、得られた微分信号Ｓ８１を立上りパルス
発生回路８２に供給する。立上りパルス発生回路８２は
、第９図（ロ）に示す微分信号Ｓ８１の立上りの時のゼ
ロクロス点、つまり加算信号Ｓｓの極小値を検出して、
第９図（ハ）に示すようなサンプリングパルス信号Ｓ８
２を発生し、このサンプリンクパルス信号８８２をサン
プルホールド回路８３に供給して、加算信号Ｓ３ をサ
ンプルホールドする。第９図に）はサンプリングパルス
Ｓ８゜によってサンプルホールドされたサンプルホール
ド回路の８３の出力信号Ｓ８３を示す。このサンプルホ
ールド回路８３の出力信号Ｓ＆ｌをローパスフィルター
８４に供給し、第９図（ホ）の如く得られた低周波数信
号Ｓ８４をさらに微分回路８５立上９パルス発生回路８
６に供給し、第９図（へ）に示すサンプリングパルスＳ
８６を発生し、このサンプリングツくルス信号Ｓ８６を
サンプルホールド回路８７に供給して、前記減算信号Ｓ
、をローパスフィルター６８に供給した後に得られた第
９図（ト）の低周波数出力信号Ｓ；をサンプルホールド
する。第９図（ト）はサンプリングパルスＳ８６によっ
てサンプルホールドされたサンプルホールド回路８７の
出力信号Ｓ、を示す。
このサンプルホールド回路８７の出力信号Ｓ、と前記低
周波数信号信号昭 を減算回路８８に供給してそれらの
差をめ、第９図（す）に示すようなトラッキング誤差信
号８８７を出力端子８９に得ることができる。トラッキ
ング誤差信号Ｓ８７は、ピット３と光スポット４０の位
置ずれのないときには実質的に零になるような信号であ
る。すなわち、第９図のタイムチャートより明らかな如
く、加算信号Ｓ、の極小値とトラッキング誤差信号Ｓ８
□が補正によって零になる位置とは信号Ｓ、の半周期分
δだけずれているが、実際には、信号Ｓ、の周波数と信
号Ｓ８７の周波数とは前者が後者の１０００倍以上ある
から、時間δはほとんど無視でき、る時間であり、サン
プリングパルスＳ８６は実質的にピット３と光スポット
４０の位置ずれのないときに生じているとみなすことが
できる。
周波数信号信号昭 を減算回路８８に供給してそれらの
差をめ、第９図（す）に示すようなトラッキング誤差信
号８８７を出力端子８９に得ることができる。トラッキ
ング誤差信号Ｓ８７は、ピット３と光スポット４０の位
置ずれのないときには実質的に零になるような信号であ
る。すなわち、第９図のタイムチャートより明らかな如
く、加算信号Ｓ、の極小値とトラッキング誤差信号Ｓ８
□が補正によって零になる位置とは信号Ｓ、の半周期分
δだけずれているが、実際には、信号Ｓ、の周波数と信
号Ｓ８７の周波数とは前者が後者の１０００倍以上ある
から、時間δはほとんど無視でき、る時間であり、サン
プリングパルスＳ８６は実質的にピット３と光スポット
４０の位置ずれのないときに生じているとみなすことが
できる。
なお、以上の説明では、ファーフィールド法に本発明の
トラッキング誤差検出装置を適用していたが、２分割光
検出器の出力信号の大小関係によってトラッキング誤差
を検出するブツシュグル法によるものなら（例えばニア
フィールド法）、同上の如く正確なトラッキング誤差信
号を得ることができる。
トラッキング誤差検出装置を適用していたが、２分割光
検出器の出力信号の大小関係によってトラッキング誤差
を検出するブツシュグル法によるものなら（例えばニア
フィールド法）、同上の如く正確なトラッキング誤差信
号を得ることができる。
（発明の効果）
以上のように本発明によれば、トラッキング誤差信号を
トラッキング誤差が最小になった時の情報を基準にして
めているので、ディスクの偏心やディスクの傾きの影響
を最小にとどめたトラッキング誤差信号を得ることがで
きるのみならず、ディスク上に光スボントを集光する装
置である光ピックアップユニットがきわめて簡単に作る
ことができるという効果が得られる。
トラッキング誤差が最小になった時の情報を基準にして
めているので、ディスクの偏心やディスクの傾きの影響
を最小にとどめたトラッキング誤差信号を得ることがで
きるのみならず、ディスク上に光スボントを集光する装
置である光ピックアップユニットがきわめて簡単に作る
ことができるという効果が得られる。
第１図（ａ）、 （ｂ）はファーフィールド方式の原理
を説明するだめの光路図、第２図はファーフィールド方
式の代表的な光学系の側面図、第３図はディスクの傾斜
による悪影響を説明するための光路図、第４図はトラッ
キング誤差の生ずる他の例を示す光路図、第５図は第４
図の受光素子上の像の様子を示す図、第６図は本発明の
第１実施例の電気ブロック図、第７図は第６図の動作を
説明するタイムチャート、第８図は本発明の第２実施例
の電気プロンク図、第９図は第８図の動作を説明するタ
イムチャートである。 （主要部分の符号の説明） ２４・・・２分割光検出器、６１．６２・・・光検出面
、６３・・・加算回路、６４・・・減算回路、６５・・
・ローパスフィルタ、６６・・・微分回路、６７・・・
立上りパルス発生回路、６８・・・ローパスフィルタ、
６９・・・サンプルホールド回路、７０・・・減算回路
。 出願人 日本光学工業株式会社 代理人 渡 辺 隆 男 第１図 第２図 第３図 第４図 第５ト 第６図 第７図 第８図 第９図
を説明するだめの光路図、第２図はファーフィールド方
式の代表的な光学系の側面図、第３図はディスクの傾斜
による悪影響を説明するための光路図、第４図はトラッ
キング誤差の生ずる他の例を示す光路図、第５図は第４
図の受光素子上の像の様子を示す図、第６図は本発明の
第１実施例の電気ブロック図、第７図は第６図の動作を
説明するタイムチャート、第８図は本発明の第２実施例
の電気プロンク図、第９図は第８図の動作を説明するタ
イムチャートである。 （主要部分の符号の説明） ２４・・・２分割光検出器、６１．６２・・・光検出面
、６３・・・加算回路、６４・・・減算回路、６５・・
・ローパスフィルタ、６６・・・微分回路、６７・・・
立上りパルス発生回路、６８・・・ローパスフィルタ、
６９・・・サンプルホールド回路、７０・・・減算回路
。 出願人 日本光学工業株式会社 代理人 渡 辺 隆 男 第１図 第２図 第３図 第４図 第５ト 第６図 第７図 第８図 第９図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 光源と、該光源の射出光をディスク上に集光する集光手
段と、前記ディスクのトラッキング方向に配設された一
対の光電変換手段と、を有する光ピツクアップのトラッ
キング誤差検出装置において、 トラッキング誤差が最小になるときを、前記一対の光電
変換手段から出力される信号の加算信号の最小値に基づ
いて検出し、検出信号を出力する最小位置検出手段と、
前記一対の光電変換手段から出力される信号の減算信号
を出力する減算信号出力手段と、前記最小位置検出手段
と減算信号出力手段とに接続され、前記検出信号が出力
されたときの前記減算信号を記憶する記憶手段と、前記
減算信号出力手段と記憶手段とに接続され、両者の出力
信号の減算信号をめトラッキング誤差信号として出力す
るトラッキング誤差信号出力手段と、を有することを特
徴とするトラッキング誤差検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10280684A JPS60247832A (ja) | 1984-05-22 | 1984-05-22 | トラツキング誤差検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10280684A JPS60247832A (ja) | 1984-05-22 | 1984-05-22 | トラツキング誤差検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60247832A true JPS60247832A (ja) | 1985-12-07 |
Family
ID=14337297
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10280684A Pending JPS60247832A (ja) | 1984-05-22 | 1984-05-22 | トラツキング誤差検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60247832A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20010037957A (ko) * | 1999-10-21 | 2001-05-15 | 윤종용 | 광디스크의 결함 검출 장치 |
-
1984
- 1984-05-22 JP JP10280684A patent/JPS60247832A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20010037957A (ko) * | 1999-10-21 | 2001-05-15 | 윤종용 | 광디스크의 결함 검출 장치 |
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