KR970067140A - 광 디스크의 결함 검출 방법 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 광디스크 장치에서의 광디스크면의 오염 또는 상처로 인한 결함을 검출하는 방법에 관한 것이다. 본 발명의 광디스크 결함검출방법은 3빔법에 의한 발생되는 트랙킹에러신호를 검출하는 포토다이오드를 구비한 광디스크 장치의 결함 검출방법에 있어서, 트랙킹에러신호의 최소치를 구하는 단계, 상기 트래킹 에러신호의 최소치와 기준치와를 비교하는 단계, 및 상기 트랙킹에러신호의 최소치가 상기 기준치보다 클때, 결함이 없는 것으로 판단하고, 작을 때 결함이 있는 것으로 판단하는 단계를 포함한다. 상기 트랙킹에러신호는 주빔이 조사된 재생트랙에 인접한 트랙들에서의 서브빔의 조사에 의한 전압차이다. 이로써, 기존 방법에 비해서 시간 지연이 극히 짧고 검출가능한 결함의 크기도 제한이 없다.

Description

광 디스크의 결함 검출 방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도는 본 발명에 의한 광디스크 결함 검출방법을 개략적으로 설명하기 위한 개략도, 제3도는 3빔법에 의한 트랙킹에러 검출방법을 설명하기 위한 개략도, 제6도는 결함이 없는 구간에서 발생하는 인접트랙들의 전압들인 V(E), V(F)을 도시한 개략도, 제7도는 본 발명의 일실시예에 의한 광디스크 결함 검출방법을 설명하기 위한 개략도.

Claims (5)

  1. 3빔법에 의한 발생되는 트랙킹에러신호를 검출하는 포토다이오드를 구비한 광디스크 장치의 결함 검출방법에 있어서, 트랙킹에러신호의 최소치를 구하는 단계; 상기 트래킹 에러신호의 최소치와 기준치와를 비교하는 단계; 및 상기 트랙킹에러신호의 최소치가 상기 기준치보다 클 때, 결함이 없는 것으로 판단하고, 작을 때 결함이 있는 것으로 판단하는 단계를 포함하는 특징으로 하는 광디스크의 결함검출방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 트랙킹에러신호는 주빔이 조사된 재생트랙에 인접한 트랙들에서의 서브빔의 조사에 의한 전압차임을 특징으로 하는 광디스크의 결함검출방법.
  3. 제1항에 있어서, 상기 기준치는 고정 또는 가변의 값임을 특징으로 하는 광디스크의 결함검출방법.
  4. 제2항에 있어서, 상기 판단결과 출력되는 결함신호는 결함이 어느 한 인접트랙 거쳐 다른 인접트랙을 지니는 순간에 결함을 검출하여 결함이 상기 다른 인접 트랙을 벗어나는 순간 검출이 끝나는 것을 특징으로 하는 광디스크의 결함검출방법.
  5. 제2항에 있어서, 상기 판단결과 출력되는 결함신호는 결함이 상기 어느 한 트랙을 지날 때 결함을 검출하여 결함이 다른 트랙을 벗어나는 순간에 끝나는 것을 특징으로 하는 광디스크의 결함검출방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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