KR0175050B1 - 광디스크의 결함 검출 방법 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 광디스크 장치에서의 광디스크면의 오염 또는 상처로 인한 결함을 검출하는 방법에 관한 것이다. 본 발명의 광디스크 결함 검출 방법은 3빔법에 의한 발생되는 트랙킹에러신호를 검출하는 포토다이오드를 구비한 광디스크 장치의 결함 검출 방법에 있어서, 트랙킹에러신호의 최소치를 구하는 단계, 상기 트랙킹에러신호의 최소치와 기준치와를 비교하는 단계, 및 상기 트랙킹에러신호의 최소치가 상기 기준치보다 클 때, 결함이 없는 것으로 판단하고, 작을 때 결함이 있는 것으로 판단하는 단계를 포함한다. 상기 트랙킹에러신호는 주빔이 조사된 재생트랙에 인접한 트랙들에서의 서브빔의 조사에 의한 전압차이다. 이로써, 기존 방법에 비해서 시간지연이 극히 짧고 검출가능한 결함의 크기도 제한이 없다.
Description
제1도는 종래의 광디스크 결함 검출 방법을 설명하기 위한 개략도.
제2도는 본 발명에 의한 광디스크 결함 검출 방법을 개략적으로 설명하기 위한 개략도.
제3도는 3빔법에 의한 트랙킹에러 검출 방법을 설명하기 위한 개략도.
제4도는 트랙킹에러, 인접트랙들의 결함레벨 및 기준전압사이의 관계를 도시한 그래프도.
제5도는 광디스크의 결함의 진행에 따른 인접트랙들의 전압들인 V(E), V(F)의 변화를 설명하기 위한 도면.
제6도는 결함이 없는 구간에서 발생하는 인접트랙들의 전압들인 V(E), V(F)을 도시한 개략도.
제7도는 본 발명의 일실시예에 의한 광디스크 결함 검출 방법을 설명하기 위한 개략도.
본 발명은 광디스크 결함 검출 기술에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 광디스크 장치에서의 광디스크면의 오염 또는 상처로 인한 결함을 검출하는 방법에 관한 것이다.
광디스크에 오디오 및/또는 비디오정보를 저장하고 그 저장된 정보를 재생하는 광디스크 장치의 광학계에서, 수광부는 포커스에러(focus error)신호를 발생하는 4개의 4분할 포토다이오드(photo diode)와 트랙킹에러(tracking error) 신호를 발생하는 2개의 포토다이오드로 전부 6개의 포토다이오드로 구성되어 있다.
기존의 광디스크의 결함을 검출하는 방법은 제1도에 도시한 바와 같이, 도면에는 도시되어 있지 않지만, 4분할 포토다이오드로부터의 출력되는 각 출력들을 합하여 그 합신호인 RF신호의 엔빌로프(envelope) 신호를 얻는다. 다음, 엔빌로프신호의 반전신호를 취한 후 신호를 추출하면 결함을 검출할 수 있다. 즉, 상기 엔빌로프신호는 결함이 없는 트랙의 구간에서는 평탄한 반면 결함이 있는 트랙의 구간에서는 경사지는 성질을 가지므로, 엔빌로프신호를 검출하여 그 평탄도에 따라서 결함신호를 검출할 수 있다. 결론적으로, 종래에는 포토다이오드의 각각의 시정수를 사용하여 포커스에러신호의 엔빌로프신호를 검출하게 함으로써 시간지연이 불가피한 문제점이 있었다.
본 발명은 상술한 문제점을 해결하기 위한 것으로, 기존의 방법에 비해 시간지연이 극히 짧고 검출가능한 결함의 크기에 제한이 없는 광디스크의 결함 검출 방법을 제공하는데 그 목적이 있다.
본 발명은 상기 목적을 달성하기 위하여, 트랙킹에러신호를 검출하는 포토다이오드를 구비한 광디스크 장치의 결함 검출 방법에 있어서, 트랙킹에러신호의 최소치를 구하는 단계와, 상기 트랙킹에러신호의 최소치와 기준치와를 비교하는 단계와, 상기 트랙킹에러신호의 최소치가 상기 기준치보다 클 때, 결함이 없는 것으로 판단하고, 작을 때 결함이 있는 것으로 판단하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 광디스크의 결함검출 방법을 제공한다.
이하, 본 발명의 바람직한 실시예에 대해서 첨부된 도면을 참조하여 보다 상세히 설명하기로 한다.
본 발명은 광디스크의 결함을 검출하기 위해 트랙킹에러신호를 검출하는 포토다이오드를 사용하여, 결함이 없는 구간에서 발생하는 그 에러신호의 최소치가 결함이 있는 구간에서 발생하는 에러신호보다 크다는 점을 이용한 결함 검출 방법이다.
우선 본 발명에 의한 광디스크 결함 검출 방법을 설명하기 전에, 제3도를 참조하여 본 발명에 적용되는 3빔법에 의한 트랙킹에러신호 발생방법을 간단히 설명하기로 한다.
제3도에 의하면, 3빔법에 의한 트랙킹에러 발생방법은 메인빔을 재생트랙에 스캐닝하고 서브빔(E, F)을 각각 인접트랙들에 스캐닝할 때 트랙킹에러는 E-F이므로 메인빔이 외주쪽으로 치우친 때에는 포지티브 트랙킹에러신호를 발생하고 내주쪽으로 치우친 때에는 네가티브 트랙킹에러신호를 발생한다. 메인빔이 재생트랙의 정가운데에 위치하는 경우 트랙킹에러는 제로이다.
트랙킹에러(TE), 서브빔(E,F) 결함레벨 및 기준전압(Vref) 사이의 관계는 제4도에 도시되어 있다.
제4도에서, 변수 Min, Max, TE Min 및 TE Max는 레이저빔이 트랙을 횡절(track jump)할 때 발생가능한 서브빔 및 트랙킹에러의 최소치 및 최대치이다. 트랙킹서보가 폐루프(closed loop)로 동작하는 플레이백모드(재생모드)에서 발생하는 값들은 상기 최소치 및 최대치의 약 10% 이내에 있게 된다. 도면에서, 트랙킹에러신호는 그 최소치와 최대치사이의 값에서 트랙킹을 제어할 수 있으며 그 제어범위는 ±1/4트랙이다. 여기서, Vdark는 레이저빔이 오프시 암전류에 의한 전압을 나타내고, Vdefect는 결함이 있을 때 서브빔에서 발생하는 전압의 평균치를 나타내고, Vref는 결함을 검출하기 위한 비교기의 기준치이다. 제4도에 의하면, E, F, TE 및 결함시 E, F의 레벨, Vref 등의 관계를 도시하였으며, E와 F를 E와 F의 최소값과 결함시 E와 F의 값간의 적정전압 Vref와 비교함으로서 결함 신호를 얻을 수 있다. 또한 Vref는 광디스크장치에 따라 고정 또는 가변의 값이다.
본 발명에서 이용하는 트랙킹에러신호를 제6도를 참조하여 설명하기로 한다.
제6도에서 서브빔 E,F의 크기가 최소인 곳은 서브빔 E,F가 각 트랙의 중앙에 위치할 때이며, 이 최소값은 서브빔 E와 F의 트랙상에 결함이 없을 때의 값이고, 만일 서브빔 E와 F의 트랙상의 결함이 있을 때에는 그 결함에 의해 레이저빔인 상기 서브빔이 산란되므로 수광부로 돌아오는 광량이 작게 되어, 그 최소값은 결함이 없을 때가 결함이 있을때보다 큰 것을 알 수 있다.
이러한 성질로부터 광디스크상의 결함이 광디스크가 회전함에 따라 수광부를 나가는 과정을 제5도에 도시하였다. 제5도는 레이저빔이 트랙을 정확히 트레이스하고 트랙이 피트열이 아닌 라인으로 가정하고, 결함의 진행에 따른 전압 V(E)와 V(F)의 변화를 나타낸 값이다. 제5도의 아래 그래프도에서 실선과 점선으로 나타낸 서브빔 E, F의 신호간의 시간차는 수광부에 배열된 E, F간의 거리에 의한 차이다.
제2도 및 제7도는 본 발명의 실시예를 설며하기 위한 개략도이고, 광디스크장치의 특성에 따라 제1결함신호 또는 제2결함신호를 발생할 수 있다. 제1결함신호는 결함이 E를 거쳐 F를 지나는 순간에 결함을 검출하여 결함이 E를 벗어나는 순간 검출이 끝나는 것을 나타내며, 제2결함신호는 결함이 E를 지날 때 결함을 검출하여 결함이 E를 지나 F까지 벗어나는 순간에 끝나는 것을 나타낸다.
상술한 바와 같이, 본 발명에 의한 광디스크 결함 검출 방법은 기존의 방법에 비해 시간지연이 극히 짧고, 검출가능한 결함의 크기에도 제약이 없게 된다.
Claims (5)
- 3빔법에 의한 발생되는 트랙킹에러신호를 검출하는 포토다이오드를 구비한 광디스크 장치의 결함 검출 방법에 있어서, 트랙킹에러신호의 최소치를 구하는 단계; 상기 트랙킹에러신호의 최소치와 기준치와를 비교하는 단계; 및 상기 트랙킹에러신호의 최소치가 상기 기준치보다 클 때, 결함이 없는 것으로 판단하고, 작을 때 결함이 있는 것으로 판단하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 광디스크의 결함 검출 방법.
- 제1항에 있어서, 상기 트랙킹에러신호는 주빔이 조사된 재생트랙에 인접한 트랙들에서의 서브빔의 조사에 의한 전압차임을 특징으로 하는 광디스크의 결함 검출 방법.
- 제1항에 있어서, 상기 기준치는 고정 또는 가변의 값임을 특징으로 하는 광디스크의 결함 검출 방법.
- 제2항에 있어서, 상기 판단결과 출력되는 결함신호는 결함이 어느 한 인접트랙 거쳐 다른 인접트랙을 지나는 순간에 결함을 검출하여 결함이 상기 다른 인접 트랙을 벗어나는 순간 검출이 끝나는 것을 특징으로 하는 광디스크의 결함 검출 방법.
- 제2항에 있어서, 상기 판단결과 출력되는 결함신호는 결함이 상기 어느 한 트랙을 지날 때 결함을 검출하여 결함이 다른 트랙을 벗어나는 순간에 끝나는 것을 특징으로 하는 광디스크의 결함 검출 방법.
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