JPH0589461A - 光学記録媒体の汚れ検出方法 - Google Patents
光学記録媒体の汚れ検出方法Info
- Publication number
- JPH0589461A JPH0589461A JP24790991A JP24790991A JPH0589461A JP H0589461 A JPH0589461 A JP H0589461A JP 24790991 A JP24790991 A JP 24790991A JP 24790991 A JP24790991 A JP 24790991A JP H0589461 A JPH0589461 A JP H0589461A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 閾値レベルを予め設定する必要がなく、光学
記録媒体の経年劣化、光源の出力変動等の影響を受ける
ことなく、信頼性の高い汚れ検出を可能にする。 【構成】 光学記録媒体６に光を照射してその反射光を
検出することによって得られた検出信号７ａと、遅延検
出信号７ｃとを比較してその差をとる。
記録媒体の経年劣化、光源の出力変動等の影響を受ける
ことなく、信頼性の高い汚れ検出を可能にする。 【構成】 光学記録媒体６に光を照射してその反射光を
検出することによって得られた検出信号７ａと、遅延検
出信号７ｃとを比較してその差をとる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、光学記録媒体の表面
に付着して光学記録媒体のデータ再生，記録時に信頼性
を低下させるゴミやホコリ等の汚れ（表面に付けられた
キズも含む）を検出する光学記録媒体の汚れ検出方法に
関するものである。
に付着して光学記録媒体のデータ再生，記録時に信頼性
を低下させるゴミやホコリ等の汚れ（表面に付けられた
キズも含む）を検出する光学記録媒体の汚れ検出方法に
関するものである。
【０００２】
【従来の技術】図４は例えば特開平１−１８２９６５号
公報に開示された、光学記録媒体の従来の汚れ検出方法
を実施する構成を示す図であり、図において１は半導体
レーザ等の光源、２はこの光源１の前方に配置されて光
源１から出射された発散光を平行光にするためのコリメ
ートレンズ、３はこのコリメートレンズ２の前方に配置
されてその平行光を例えば９０°偏光させるための偏光
ビームスプリッタ、４はこの偏光ビームスプリッタ３の
出入射側に配置され、偏光ビームスプリッタ３と共働し
てオプティカルアイソレータを構成するためのλ／４
板、５はこのλ／４板４の前方に配置され、後述する記
録膜上に集束光を照射するための対物レンズ、６はこの
対物レンズ５の前方に配置された光学記録媒体であっ
て、上述した記録膜６ａおよびこの記録膜６ａ上に積層
された透明基板６ｂから成る。なお、６ｃは光学記録媒
体６、詳しくはその透明基板６ｂ上のゴミ，ホコリ等の
汚れ若しくはキズである。そして７は偏光ビームスプリ
ッタ３の、λ／４板４とは反対側に配置されて記録膜６
ａからの反射光を検出するための光検知器である。
公報に開示された、光学記録媒体の従来の汚れ検出方法
を実施する構成を示す図であり、図において１は半導体
レーザ等の光源、２はこの光源１の前方に配置されて光
源１から出射された発散光を平行光にするためのコリメ
ートレンズ、３はこのコリメートレンズ２の前方に配置
されてその平行光を例えば９０°偏光させるための偏光
ビームスプリッタ、４はこの偏光ビームスプリッタ３の
出入射側に配置され、偏光ビームスプリッタ３と共働し
てオプティカルアイソレータを構成するためのλ／４
板、５はこのλ／４板４の前方に配置され、後述する記
録膜上に集束光を照射するための対物レンズ、６はこの
対物レンズ５の前方に配置された光学記録媒体であっ
て、上述した記録膜６ａおよびこの記録膜６ａ上に積層
された透明基板６ｂから成る。なお、６ｃは光学記録媒
体６、詳しくはその透明基板６ｂ上のゴミ，ホコリ等の
汚れ若しくはキズである。そして７は偏光ビームスプリ
ッタ３の、λ／４板４とは反対側に配置されて記録膜６
ａからの反射光を検出するための光検知器である。
【０００３】上述した従来の汚れ検出方法では、光源１
より出射された発散光１ａはコリメートレンズ２によっ
て平行光２ａに整形された後に偏光ビームスプリッタ３
に入射される。入射された平行光は、その進行方向が偏
光ビームスプリッタ３によって光学記録媒体６の方向に
変えられ、λ／４板４を通った後に対物レンズ５に入射
される。この入射光は対物レンズ５によって集束光に変
換され、この集束光は透明基板６ｂを通して記録膜６ａ
を照射する。次に記録膜６ａよりの反射光は再び対物レ
ンズ５およびλ／４板４を通して偏光ビームスプリッタ
３に入射されるが、λ／４板４を２回通過することによ
って偏光面が９０°傾けられ、コリメートレンズ２の方
向へは戻らず直進して光検知器７に入射される。このと
き光学記録媒体６の透明基板６ｂの表面に汚れ等６ｃが
あれば、検出信号７ａは図５のＡに示すように、その信
号レベルが低下する。従ってこの信号レベルが所定の閾
値レベル７ｂ以下に低下したことを検知することにより
図５のＢに示すように汚れ等があると判定することがで
きる。
より出射された発散光１ａはコリメートレンズ２によっ
て平行光２ａに整形された後に偏光ビームスプリッタ３
に入射される。入射された平行光は、その進行方向が偏
光ビームスプリッタ３によって光学記録媒体６の方向に
変えられ、λ／４板４を通った後に対物レンズ５に入射
される。この入射光は対物レンズ５によって集束光に変
換され、この集束光は透明基板６ｂを通して記録膜６ａ
を照射する。次に記録膜６ａよりの反射光は再び対物レ
ンズ５およびλ／４板４を通して偏光ビームスプリッタ
３に入射されるが、λ／４板４を２回通過することによ
って偏光面が９０°傾けられ、コリメートレンズ２の方
向へは戻らず直進して光検知器７に入射される。このと
き光学記録媒体６の透明基板６ｂの表面に汚れ等６ｃが
あれば、検出信号７ａは図５のＡに示すように、その信
号レベルが低下する。従ってこの信号レベルが所定の閾
値レベル７ｂ以下に低下したことを検知することにより
図５のＢに示すように汚れ等があると判定することがで
きる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】光学記録媒体の従来の
汚れ検出方法では、閾値レベルを予め設定しなければな
らず、光検知器の感度等の要因で閾値レベルを個々に調
整することが必要となり、また光学記録媒体の経年劣
化、光源の出力変動等に影響され、信頼性に劣るという
問題点があった。
汚れ検出方法では、閾値レベルを予め設定しなければな
らず、光検知器の感度等の要因で閾値レベルを個々に調
整することが必要となり、また光学記録媒体の経年劣
化、光源の出力変動等に影響され、信頼性に劣るという
問題点があった。
【０００５】この発明は、このような問題点を解決する
ためになされたもので、閾値レベルの設定を省くことが
できるとともに、光学記録媒体の経年劣化，光源の出力
変動等による影響を受けない、光学記録媒体の汚れ検出
方法を得ることを目的とする。
ためになされたもので、閾値レベルの設定を省くことが
できるとともに、光学記録媒体の経年劣化，光源の出力
変動等による影響を受けない、光学記録媒体の汚れ検出
方法を得ることを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】この発明に係る光学記録
媒体の汚れ検出方法は、光学記録媒体に光を照射してそ
の反射光を検出することにより得られた検出信号と、こ
の検出信号を遅延させた検出信号とを比較してその差を
とるものである。
媒体の汚れ検出方法は、光学記録媒体に光を照射してそ
の反射光を検出することにより得られた検出信号と、こ
の検出信号を遅延させた検出信号とを比較してその差を
とるものである。
【０００７】また、この発明に係る光学記録媒体の汚れ
検出方法は、光学記録媒体の隣接する位置に少なくとも
２つの光学系路から光を照射してその反射光を検出する
ことによって得られた検出信号の１つを閾値レベルと
し、他の検出信号の各々と比較してその差をとるもので
ある。
検出方法は、光学記録媒体の隣接する位置に少なくとも
２つの光学系路から光を照射してその反射光を検出する
ことによって得られた検出信号の１つを閾値レベルと
し、他の検出信号の各々と比較してその差をとるもので
ある。
【０００８】
【作用】この発明では、検出信号の１つを閾値レベルと
し、他の検出信号と比較することにより閾値レベルを予
め設定することなく自動的に設定するようにしたの
で、、光学記録媒体の経年劣化、光源の出力変動等の影
響を受けない。
し、他の検出信号と比較することにより閾値レベルを予
め設定することなく自動的に設定するようにしたの
で、、光学記録媒体の経年劣化、光源の出力変動等の影
響を受けない。
【０００９】
実施例１．図１はこの発明に係る光学記録媒体の汚れ検
出方法の一実施例を一部ブロック図で示す説明図であ
り、図において１〜７ａは図４において説明したものと
全く同じである。８は光検知器７の出力側に接続され、
その検出信号７ａを遅延させるための遅延回路、そして
９は光検知器７の出力側に直接接続された入力端子およ
び遅延回路８を介して接続された入力端子を有する比較
回路であって、リアルタイムに検出された検出信号７ａ
と遅延された検出信号７ｃとを比較してその差をとるこ
とにより汚れ等の存在を示す信号７ｄを出力する。図２
は実施例１の動作説明用波形図である。
出方法の一実施例を一部ブロック図で示す説明図であ
り、図において１〜７ａは図４において説明したものと
全く同じである。８は光検知器７の出力側に接続され、
その検出信号７ａを遅延させるための遅延回路、そして
９は光検知器７の出力側に直接接続された入力端子およ
び遅延回路８を介して接続された入力端子を有する比較
回路であって、リアルタイムに検出された検出信号７ａ
と遅延された検出信号７ｃとを比較してその差をとるこ
とにより汚れ等の存在を示す信号７ｄを出力する。図２
は実施例１の動作説明用波形図である。
【００１０】実施例１の汚れ検出方法でも、光源１が発
散光１ａを出射してから光検知器７が検出信号７ａを出
力するまでは従来技術と全く同じである。図２のＡに示
す検出信号７ａは遅延回路８および比較回路９の一方の
入力端子に印加される。図２のＢに示す遅延された検出
信号７ｃは、リアルタイムに検出された検出信号７ａに
比べて遅延時間ｔだけ先行していた反射光の受光状態を
示しており、比較回路９の他方の入力端子に印加され
る。そこでリアルタイムに検出された検出信号７ａを従
来の技術で説明した閾値レベルとし、遅延回路８により
遅延された検出信号７ｃと比較回路９にて比較すれば、
汚れ等が存在する場合は図２のＢに示すように信号レベ
ルが低下してこの部分における両信号のレベル差が大き
くなるため、比較回路９は図２のＣに示すような信号７
ｄを生じ、この信号７ｄにより汚れ等があると判定でき
る。
散光１ａを出射してから光検知器７が検出信号７ａを出
力するまでは従来技術と全く同じである。図２のＡに示
す検出信号７ａは遅延回路８および比較回路９の一方の
入力端子に印加される。図２のＢに示す遅延された検出
信号７ｃは、リアルタイムに検出された検出信号７ａに
比べて遅延時間ｔだけ先行していた反射光の受光状態を
示しており、比較回路９の他方の入力端子に印加され
る。そこでリアルタイムに検出された検出信号７ａを従
来の技術で説明した閾値レベルとし、遅延回路８により
遅延された検出信号７ｃと比較回路９にて比較すれば、
汚れ等が存在する場合は図２のＢに示すように信号レベ
ルが低下してこの部分における両信号のレベル差が大き
くなるため、比較回路９は図２のＣに示すような信号７
ｄを生じ、この信号７ｄにより汚れ等があると判定でき
る。
【００１１】なお、実施例１では、検出信号７ａを閾値
レベルとして用いたので閾値レベルを特別に設定する必
要がなく、ドライブ装置（図示しない）のサーボ信号を
利用することも可能で、汚れ等の個数を数えるカウンタ
ー回路や、時間的な長さ（汚れ等の大きさ）を判別する
回路とを組み合わせることにより、使用者にクリーニン
グ時期を容易に知らせることができ、信頼性の低下を未
然に防止できる。
レベルとして用いたので閾値レベルを特別に設定する必
要がなく、ドライブ装置（図示しない）のサーボ信号を
利用することも可能で、汚れ等の個数を数えるカウンタ
ー回路や、時間的な長さ（汚れ等の大きさ）を判別する
回路とを組み合わせることにより、使用者にクリーニン
グ時期を容易に知らせることができ、信頼性の低下を未
然に防止できる。
【００１２】実施例２．図３はこの発明の他の実施例を
一部ブロック図で示す説明図であり、図１に示した光源
１、コリメートレンズ２、偏光ビームスプリッタ３、λ
／４板４、対物レンズ５および光検知器７からなる光学
系路１１と、同様な光源１Ａ、コリメートレンズ２Ａ、
偏光ビームスプリッタ３Ａ、λ／４板４Ａ、対物レンズ
５Ａおよび光検知器７Ａからなる光学系路１２とを光学
記録媒体６に対して隣接して設け、このうちいずれか一
方の光検知器例えば７からの検出信号を閾値レベルと
し、他方の光検知器７Ａからの検出信号を比較回路９に
て比較することにより汚れ等を検出できる。なお、光学
系路を３系以上設け１系の検出信号を閾値レベルとし、
他系の各々の検出信号と比較するようにしても良い。こ
のような方法によっても、閾値レベルの設定は不要とな
り、また光源出力の変動等の影響も除去することができ
る。
一部ブロック図で示す説明図であり、図１に示した光源
１、コリメートレンズ２、偏光ビームスプリッタ３、λ
／４板４、対物レンズ５および光検知器７からなる光学
系路１１と、同様な光源１Ａ、コリメートレンズ２Ａ、
偏光ビームスプリッタ３Ａ、λ／４板４Ａ、対物レンズ
５Ａおよび光検知器７Ａからなる光学系路１２とを光学
記録媒体６に対して隣接して設け、このうちいずれか一
方の光検知器例えば７からの検出信号を閾値レベルと
し、他方の光検知器７Ａからの検出信号を比較回路９に
て比較することにより汚れ等を検出できる。なお、光学
系路を３系以上設け１系の検出信号を閾値レベルとし、
他系の各々の検出信号と比較するようにしても良い。こ
のような方法によっても、閾値レベルの設定は不要とな
り、また光源出力の変動等の影響も除去することができ
る。
【００１３】なお、これら実施例では記録膜上に集束光
を照射する場合について説明したが、透明基板の表面に
集束光を照射するようにしてもよく、こうすることによ
り、検出感度をより向上させることができる。又信号処
理はアナログ信号の場合について説明したが、デジタル
信号により実施するようにしても同様の効果を生じる。
を照射する場合について説明したが、透明基板の表面に
集束光を照射するようにしてもよく、こうすることによ
り、検出感度をより向上させることができる。又信号処
理はアナログ信号の場合について説明したが、デジタル
信号により実施するようにしても同様の効果を生じる。
【００１４】
【発明の効果】以上、詳述したように、この発明は、光
学記録媒体の検出信号とこの検出信号を遅延させた検出
信号とを比較してその差をとることにより、又は光学記
録媒体の隣接する位置からの少なくとも２つの検出信号
を比較してその差をとることにより汚れ等の存在を判定
するようにしたので、従来の技術のように閾値レベルを
予め設定したり再設定したりすることが不要となり、更
に光学記録媒体の経年劣化、半導体レーザ等の光源の出
力変動等の影響を受けることなく、信頼性の高い汚れ検
出方法を得るという効果を奏する。又、この発明に係る
汚れの検出方法は、簡単な遅延回路と比較回路、少なく
とも２つの光学系路と比較回路で容易に実施することが
できると言う効果も奏する。
学記録媒体の検出信号とこの検出信号を遅延させた検出
信号とを比較してその差をとることにより、又は光学記
録媒体の隣接する位置からの少なくとも２つの検出信号
を比較してその差をとることにより汚れ等の存在を判定
するようにしたので、従来の技術のように閾値レベルを
予め設定したり再設定したりすることが不要となり、更
に光学記録媒体の経年劣化、半導体レーザ等の光源の出
力変動等の影響を受けることなく、信頼性の高い汚れ検
出方法を得るという効果を奏する。又、この発明に係る
汚れの検出方法は、簡単な遅延回路と比較回路、少なく
とも２つの光学系路と比較回路で容易に実施することが
できると言う効果も奏する。
【図１】この発明の実施例１を一部ブロック図で示す説
明図である。
明図である。
【図２】この発明の実施例１の動作説明用波形図であ
る。
る。
【図３】この発明の実施例２を一部ブロック図で示す説
明図である。
明図である。
【図４】従来の光学記録媒体の汚れ検出方法を説明する
図である。
図である。
【図５】従来の汚れ検出方法に係る動作説明用波形図で
ある。
ある。
６ 光学記録媒体 ７，７Ａ 光検知器 ７ａ 検出信号 ７ｃ 遅延された検出信号 ７ｄ 汚れ等の存在を示す信号 ８ 遅延回路 ９ 比較回路 １１，１２ 光学系路
Claims (2)
- 【請求項１】 光学記録媒体に光を照射してその反射光
を検出することにより得られた検出信号と、この検出信
号を遅延させた検出信号とを比較してその差をとること
により前記光学記録媒体に汚れやギズがあるかどうかを
判定することを特徴とする光学記録媒体の汚れ検出方
法。 - 【請求項２】 光学記録媒体の隣接する位置に少なくと
も２つの光学系路から光を照射してその反射光を検出す
ることにより得られた検出信号の１つを閾値レベルと
し、他の検出信号の各々と比較してその差をとることに
より前記光学記録媒体に汚れやギズがあるかどうかを判
定することを特徴とする光学記録媒体の汚れ検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24790991A JPH0589461A (ja) | 1991-09-26 | 1991-09-26 | 光学記録媒体の汚れ検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24790991A JPH0589461A (ja) | 1991-09-26 | 1991-09-26 | 光学記録媒体の汚れ検出方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0589461A true JPH0589461A (ja) | 1993-04-09 |
Family
ID=17170363
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24790991A Pending JPH0589461A (ja) | 1991-09-26 | 1991-09-26 | 光学記録媒体の汚れ検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0589461A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2005047936A3 (en) * | 2003-11-14 | 2008-02-14 | Lg Electronics Inc | Method for evaluating anti-contamination level on a surface of optical recording medium, the apparatus and the optical recording medium |
| RU2503952C1 (ru) * | 2012-04-23 | 2014-01-10 | Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Южно-Российский государственный университет экономики и сервиса" (ФГБОУ ВПО "ЮРГУЭС") | Устройство обнаружения пылеотложения на печатных платах радиоэлектронной аппаратуры |
| RU2503951C2 (ru) * | 2012-03-29 | 2014-01-10 | Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Южно-Российский государственный университет экономики и сервиса" (ФГБОУ ВПО "ЮРГУЭС") | Способ обнаружения пылеотложения на печатных платах радиоэлектронной аппаратуры |
-
1991
- 1991-09-26 JP JP24790991A patent/JPH0589461A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2005047936A3 (en) * | 2003-11-14 | 2008-02-14 | Lg Electronics Inc | Method for evaluating anti-contamination level on a surface of optical recording medium, the apparatus and the optical recording medium |
| US7536275B2 (en) | 2003-11-14 | 2009-05-19 | Lg Electronics, Inc. | Method for evaluating anti-contamination level on a surface of optical recording medium, the apparatus and the optical recording medium |
| US7571077B2 (en) | 2003-11-14 | 2009-08-04 | Lg Electronics, Inc. | Method for evaluating anti-contamination level on a surface of optical recording medium, the apparatus and the optical recording medium |
| RU2503951C2 (ru) * | 2012-03-29 | 2014-01-10 | Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Южно-Российский государственный университет экономики и сервиса" (ФГБОУ ВПО "ЮРГУЭС") | Способ обнаружения пылеотложения на печатных платах радиоэлектронной аппаратуры |
| RU2503952C1 (ru) * | 2012-04-23 | 2014-01-10 | Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Южно-Российский государственный университет экономики и сервиса" (ФГБОУ ВПО "ЮРГУЭС") | Устройство обнаружения пылеотложения на печатных платах радиоэлектронной аппаратуры |
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