JPH0521883A - 出力制御装置 - Google Patents

出力制御装置

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JPH0521883A
JPH0521883A JP3171075A JP17107591A JPH0521883A JP H0521883 A JPH0521883 A JP H0521883A JP 3171075 A JP3171075 A JP 3171075A JP 17107591 A JP17107591 A JP 17107591A JP H0521883 A JPH0521883 A JP H0521883A
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JP
Japan
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output
output control
signal
detection signal
semiconductor laser
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Pending
Application number
JP3171075A
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English (en)
Inventor
Hitoshi Furuhata
均 古畑
Yoshinori Kano
義則 鹿野
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Pioneer Corp
Original Assignee
Pioneer Electronic Corp
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Publication date
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Publication of JPH0521883A publication Critical patent/JPH0521883A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 CD(Compact Disc)、LD(Laser Disc)
等の各種光学式プレーヤにおける光源の出力制御に用い
られる出力制御装置に関し、LDを正確且つ適正に出力
制御することができる出力制御装置を提案する。 【構成】 本発明においては、前方出射面及び後方出射
面から各々出射される各レーザ光を前方検出手段及び後
方検出手段で各々検出し、前方検出手段の検出信号に基
づいて半導体レーザの出力制御を行なうと共に、後方検
出手段の検出信号を前方検出手段の検出信号と比較信号
で比較し、この比較結果の比較信号に基づいて警告手段
が半導体レーザの出力制御の警告動作を行なうようにし
たので、戻り光による出力制御の悪影響を防止しつつ、
前方検出手段における入射面の結露又は汚れ等による出
力制御の誤りを監視できることとなり、半導体レーザの
正確且つ適正な出力制御を行なう。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はCD(Compact Disc)、
LVD(Laser Disc)等の各種光学式プレーヤにおける
光源の出力制御に用いられる出力制御装置に関する。
【0002】
【従来の技術】各種光学式プレーヤの光源としては半導
体レーザ(LaserDiode ;LD)が用いられる。このL
Dは出力を安定化させるために発光出力をモニタし、こ
のモニタ値が所定値となるようにAPC(Auto Power C
ontroler)回路により制御される。
【0003】一般に市販されている半導体レーザチップ
は、レーザビームの前方出射面(劈開面)に対する背面
側の後方出射面(劈開面)から出射される後方レーザビ
ームをモニタするモニタダイオード(受光素子)が内蔵
されている。また、半導体レーザチップのパッケージに
は出力端子が設けられ、この出力端子からモニタダイオ
ードの検知電気信号を出力する。従って、この検知電気
信号を所定値になるようにLDの出力を制御すればLD
の出力自体を安定化させることができる。
【0004】前記LDは前側出射面から出射されレーザ
光のうちディスクで反射された反射光又は光軸中に介装
されるビームスプリッタ等の光学素子で反射された反射
光が戻り光として入射される。この戻り光はレーザ光の
出力を制御する際に悪影響を与えることが知られてい
る。即ち、前記後方出射面からの後方レーザビームを検
出するバックモニタ方式によれば、戻り光の影響を直接
受けることとなり、正確な光出力制御ができないことと
なる。
【0005】前記戻り光の影響を防止する方式としては
前記前方出射面からの前方レーザビームを検出するフロ
ントモニタ方式がある。このフロントモニタ方式はLD
から記録媒体のデスクまでの間に介在する光学系でレー
ザビームの一部を分岐して検出していることから戻り光
の影響を受けることなく光出力制御が可能となる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】前記従来のフロントモ
ニタ方式の出力制御装置は以上のように構成されたこと
から、LDとディスクとの間の光学系中におけるモニタ
ダイオードに結露が生じたり、またモニタ入射面上に汚
れ等が付着した場合にはフロントモニタに入射する光量
が減衰し、この減衰量に対応する出力が加算されたレー
ザ光をLDから出力するように制御されることとなり、
LDの定格出力を越えてLD自体が破壊される可能性が
生じる課題を有していた。また、LDからの定格出力を
越えた大きなレーザ光がディスクに投射されてディスク
の情報が消失又はディスク自体が破損する等の課題を有
していた。
【0007】本発明の目的はLDを正確且つ適正に出力
制御することができる出力制御装置を提案することにあ
る。
【0008】
【課題を解決するための手段】図1は本発明の原理説明
図を示す。同図において本発明係る出力制御装置は、半
導体レーザの前方出射面から出射されるレーザ光を前方
検出手段で受光し、当該前方検出手段の検出信号に基づ
いて半導体レーザの出力を制御する出力制御装置におい
て、前記半導体レーザの後方出射面から出射されるレー
ザ光を受光してレーザ光の出力を検出する後方検出手段
と、前記後方検出手段の検出信号を前方検出手段の検出
信号と比較して比較信号を出力する比較手段と、前記比
較信号に基づいて半導体レーザの出力制御の警告動作を
行なう警告手段をとを備えるものである。
【0009】
【作用】本発明においては、前方出射面及び後方出射面
から各々出射される各レーザ光を前方検出手段及び後方
検出手段で各々検出し、前方検出手段の検出信号に基づ
いて半導体レーザの出力制御を行なうと共に、後方検出
手段の検出信号を前方検出手段の検出信号と比較し、こ
の比較結果の比較信号に基づいて警告手段が半導体レー
ザの出力制御の警告動作を行なうようにしたので、戻り
光による出力制御の悪影響を防止しつつ、前方検出手段
における入射面の結露又は汚れ等による出力制御の誤り
を監視できることとなり、半導体レーザの正確且つ適正
な出力制御を行なう。
【0010】
【実施例】a)本発明の一実施例 本発明の一実施例を図2に基づいて説明する。同図にお
いて本実施例に係る出力制御装置は光学系7を介してデ
ィスク100上に投射するレーザ光を発振する半導体レ
ーザ(LD)1と、このLD1の前方出射面1aから出
射されるレーザ光をディスク100上に投射する光学系
7と、この光学系7で分岐されたレーザ光の一部を受光
して検出信号S1 を出力する前方フォトダイオード2
と、前記LD1のパッケージ10内に封入されて形成さ
れ、LD1の後方出射面1bから出射されるレーザ光を
受光して検出信号S2 を出力する後方フォトダイオード
3と、この検出信号S2 を検出信号S1 と比較して比較
信号S3 を出力する比較演算部4と、この比較信号S3
に基づいてLD1の制御動作に対する警告を音声により
報知するブザー5と、前記検出信号S1 に基づいてLD
1へ供給する電流地を制御すると共に、比較信号S3
基づいてLD1への電流供給を停止する電流制御部6と
を備える構成である。
【0011】前記比較演算部4は前記検出信号S1 をα
倍(αは1以上の実数)して出力する増幅器41と、前
記検出信号S2 を1倍して出力する増幅器42と、この
α倍した検出信号S1 と検出信号S2 との差を求め、こ
の差に対応する内容の比較信号S3 を出力する作動増幅
器43とを備える構成である。
【0012】また、前記光学系7はコリメートレンズ7
1、ハーフミラー72、ビームスプリッタ73、反射ミ
ラー74及び対物レンズ75とを備える構成である。前
記ビームスプリッタ73で一部分岐されたレーザ光が信
号検出系8に入射される。この信号検出系8は、入射さ
れたレーザ光を分岐するビームスフリッタ81、84
と、この分岐された3つのレーザ光を受光するフォトダ
イオード85、86、89とを備える構成である。前記
2つのビームスプリッタ81、84の間にはコリメート
レンズ83が介装され、このコリメートレンズ83によ
り前記フォトダイオード85、86上を焦平面としてデ
ィスク100からのレーザ光を投射する。前記ビームス
プリッタ84から出射されるレーザ光がコリメートレン
ズ87とシリンドリカルレンズ88とを介してフォトダ
イオード89に出射されるように構成され、フォーカス
イン時に前記コリメートレンズ87によりフォトダイオ
ード89上を焦平面としてレーザ光を出射し、さらにこ
のレーザ光の焦点位置を一方向につていのみシリンドリ
カルレンズ88でずらしている。
【0013】前記フォトダイオード85、86の各出力
信号の差を用いてディスク100の情報読取りを行なう
と共に、前記フォトダイオード86(又は85)の出力
信号を用いてトラッキングずれ検出を行なう(トラッキ
ングサーボ)。また、前記信号検出系8のフォトダイオ
ード89は4分割フォトダイオードで形成され、非点収
差法により焦点ぼけ検出(フォーカスサーボ)を行な
う。なお、4分割フォトダイオードのいずれか2つの領
域から検出される信号を用いてディスク100のトラッ
ク位置検出(トラッキングサーボ)を行なうこともでき
る。
【0014】ディスク100の読取り(又は書込み)部
近傍に磁石装置101が設けられ、ビームスプリッタ8
1とコリメートレンズ83との間に1/2波長板82が
介装されており、この1/2波長板82はディスク10
0からのS偏光のレーザ光における偏光面を回転させて
いる。このS偏光のレーザー光は、光学系7からディス
ク100に対してP偏光のレーザー光が照射され、ディ
スク100上で偏移してS偏光成分として反射されるも
のである。前記1/2波長板82で偏光面が回転される
ことにより後段のビームスプリッタ84で直交する2つ
の直線偏光に分けることができ、この分けられた各偏光
成分のレーザ光をフォトダイオード85、86で検出
し、検出された出力の差を情報信号として検出できるこ
ととなる。
【0015】次に前記構成に基づく本実施例の動作につ
いて説明する。前記LD1の前方出射面1aから光学系
7を介してディスク100上にレーザ光が投射されてデ
ィスク100の情報読取りが開始されると、前記光学系
7のハーフミラー72でレーザ光の一部を分岐して前方
フォトダイオード2で受光する。この前方フォトダイオ
ード2は受光したレーザ光に対応する検出信号S1 を電
源制御部6及び比較演算部4へ出力する。また、前記L
D1は前方出射面1aからレーザ光を出射する。この後
方出射面1bから出射されるレーザ光を後方フォトダイ
オードで受光し。この後方フォトダイオード3から受光
したレーザ光に対応する検出信号S2 を比較演算部4へ
出力する。
【0016】前記比較演算部4に入力された検出信号S
1 は増幅器41でα倍され、また、入力された検出信号
2 は増幅器42で1倍され、α倍の検出信号S1 と1
倍の検出信号S2 と各々作動増幅器43に入力される。
この作動増幅器43で各信号相互間の差が求められ、こ
の差を内容とする比較信号S3 を出力する。前記各信号
の相互間の差が所定値以上となった場合における比較信
号S3 に基づいてブザー5はレーザ出力の異常を報知す
る音声警報を発生する。さらに、前記比較信号S3 が電
源制御部6に入力され、この電源制御部6は比較信号S
3に基づいてLD1に対する駆動電流の供給を遮断し、
LD1のレーザ光発振を停止すさせる。
【0017】前記増幅器器41で検出信号S1 をα倍す
るのは、LD1の前方出射面1aから出射されたレーザ
光をハーフミラー72で分岐した後に前方フォトダイオ
ード2により検出していることから、LD1の後方出射
面1bからレーザ光による後方フォトダイオード3の検
出信号S2 の値(電圧値)に一致した倍率とすることも
できる。
【0018】前記検出信号S1 が入力された電源制御部
6は、検出信号S1 の電圧値に基づいてLD1に供給す
る順電流IF [mA]の電圧値を決定してLD1から出
射されるレーザ光の光出巾Po [mW]を自動的に制御
する。
【0019】以上のように、前方フォトトランジスタ2
によりフロントモニタを行なうことにより出力制御(A
PC)動作を行なっているので、前方フォトトランジス
タ2にレーザ光を導く光学系7に結露や汚れがなければ
前方フォトトランジスタ2と後方フォトトランジスタ3
との出力相互間には大きく異なることはない(ただ、戻
り光による影響が及ぼす差が若干ある)。しかし、前方
フォトトランジスタ2の入射面等に結露、汚れ等が付着
すると実際にLD1の前方出射面1a からのレーザ光強
度より弱く検出されてしまうので、電源制御部6がLD
1に大きな電流を供給しようとする。この大きな電流供
給によるLD1の破壊の可能性があり、これを未然に防
止するために、後方フォトトランジスタ3のバックモニ
タ検出により出力異常を監視している。
【0020】以上前記実施例動作においてはディスク情
報の再生につてい説明したが記録再生を行なうディスク
情報の記録にも適用することができる。 b)本発明の他の実施例 図3は他の実施例装置における比較演算部の回路構成図
を示す。同図において他の実施例装置は前記図1記載実
施例と同様にLD1、前方フォトダイオード2、後方フ
ォトダイオード3、ブザー5、電源制御部6、光学系7
等を備え、比較演算部4の構成を異にする。この他の実
施例における比較演算部4は、増幅器42を介して入力
される検出装置S2 と基準電圧44から制御される基準
電圧VRE F とが各々差動増幅器43へ入力され、この差
動増幅器43から検出信号S3 に基づいて前記実施例と
同様にしてブザー5が警報を発し、又は電源制御部6が
LD1のレーザ発振を停止させる。
【0021】なお、図4に記載の高出力半導体レーザの
ように構成した場合には、前後の出射面1a、1bの光
出力の比率30:1に対応したハーフミラー72の透過
・反射率とすることができる。この場合には前後の各フ
ォトダイオード2、3の検知信号S1 、S2 が正常動作
時においてほぼ等しい値をとることから、比較演算部4
における増幅器41の倍率αは増幅器42の倍率に一致
させることができる。
【0022】また、前記警告手段をブザーで構成するこ
ととしたが、他の各種音声報知又は視覚的な警告報知と
することもできる。
【0023】
【発明の効果】以上のように本発明においては、前方出
射面及び後方出射面から各々出射される各レーザ光を前
方検出手段及び後方検出手段で各々検出し、前方検出手
段の検出信号に基づいて半導体レーザの出力制御を行な
うと共に、後方検出手段の検出信号を前方検出手段の検
出信号と比較信号で比較し、この比較結果の比較信号に
基づいて警告手段が半導体レーザの出力制御の警告動作
を行なうようにしたので、戻り光による出力制御の悪影
響を防止しつつ、前方検出手段における入射面の結露又
は汚れ等による出力制御の誤りを監視できることとな
り、半導体レーザの正確且つ適正な出力制御を行なうと
いう効果を有する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の原理説明図である。
【図2】本発明の一実施例に係る出力制御装置の構成ブ
ロック図である。
【図3】本発明の他の実施例装置における演算比較部の
回路構成図である。
【図4】本発明の他の実施例装置の部分概略構成図であ
る。
【符号の説明】
1…半導体レーザ 2…前方フォトダイオード(前方検出手段) 3…後方フォトダイオード(後方検出手段) 4…比較演算部(比較手段) 5…ブザー(警告手段) 6…電源制御部 7…光学系 8…信号検出装置 100…ディスク

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体レーザ(1)の前方出射面から出
    射されるレーザ光を前方検出手段(2)で受光し、当該
    前方検出手段(2)の検出信号S1 に基づいて半導体レ
    ーザの出力を制御する出力制御装置において、 前記半導体レーザ(1)の後方出射面から出射されるレ
    ーザ光を受光してレーザ光の出力を検出する後方検出手
    段(3)と、 前記後方検出手段(3)の検出信号(S2 )を前方検出
    手段(2)の検出信号(S1 )と比較して比較信号(S
    3 )を出力する比較手段(4)と、 前記比較信号に基づいて半導体レーザ(1)の出力制御
    の警告動作を行なう警告手段(5)をとを備えることを
    特徴とする出力制御装置。
  2. 【請求項2】 前記請求項1記載の出力制御装置におい
    て、 前記比較手段(4)は後方検出手段(3)の検出信号
    (S2 )を、前方検出手段(2)の検出信号(S1 )に
    かえて予め設定された所定の基準信号と比較して比較信
    号を出力することを特徴とする出力制御装置。
  3. 【請求項3】 前記請求項1記載の出力制御装置におい
    て、 前記後方検出手段(3)は、半導体レーザ(1)のパッ
    ケージ(10)内に一体的に収納形成されることを特徴
    とする出力制装置。
  4. 【請求項4】 前記請求項1記載の出力制御装置におい
    て、 前記警告手段(5)は比較信号(S3 )に基づいて半導
    体レーザ(1)の駆動動作を停止させることを特徴とす
    る出力制御装置。
JP3171075A 1991-07-11 1991-07-11 出力制御装置 Pending JPH0521883A (ja)

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JP3171075A JPH0521883A (ja) 1991-07-11 1991-07-11 出力制御装置

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JP3171075A JPH0521883A (ja) 1991-07-11 1991-07-11 出力制御装置

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JP3171075A Pending JPH0521883A (ja) 1991-07-11 1991-07-11 出力制御装置

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6088825A (en) * 1994-10-07 2000-07-11 Hitachi, Ltd. Error correcting apparatus with error correction unit carrying out first error correction and CPU configured to carry out second error correction
US6822210B2 (en) 2001-10-01 2004-11-23 Pioneer Corporation Data recording apparatus including light intensity control device
KR100556457B1 (ko) * 1998-10-07 2006-04-21 엘지전자 주식회사 레이저 다이오드 단면의 코팅 특성 측정 장치 및 그의 측정 방법

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