JPS6273158A - 渦流探傷試験における信号処理方法およびその装置 - Google Patents
渦流探傷試験における信号処理方法およびその装置Info
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- JPS6273158A JPS6273158A JP60212651A JP21265185A JPS6273158A JP S6273158 A JPS6273158 A JP S6273158A JP 60212651 A JP60212651 A JP 60212651A JP 21265185 A JP21265185 A JP 21265185A JP S6273158 A JPS6273158 A JP S6273158A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
イ）厘東上の利用分野
本発明は渦流１々場試Ｉ倹において倹斤物の欠陥を指示
する傷信号を得るための信号処理の方法および装置に関
し、時に、管状材の内、外面や板状材の表、裏向のよう
に対向する２つの面（以下、これを「対同２而」と云う
）を有する検査物の欠陥を各面について検出するための
方法および装置に関する。
する傷信号を得るための信号処理の方法および装置に関
し、時に、管状材の内、外面や板状材の表、裏向のよう
に対向する２つの面（以下、これを「対同２而」と云う
）を有する検査物の欠陥を各面について検出するための
方法および装置に関する。
（ロ）従来の技術
渦流探イ４試験において、倹Ｍ ＊Ｊ（Ｄ対向２而にお
ける欠陥をそれぞれ検出する手段としては、検査物の各
面の欠陥全表示する容重）君号がそれぞれより大きくｔ
旨示するように処理要素をそｎぞれ設定することによる
２ヂヤ／ネル探傷が茄られている。
ける欠陥をそれぞれ検出する手段としては、検査物の各
面の欠陥全表示する容重）君号がそれぞれより大きくｔ
旨示するように処理要素をそｎぞれ設定することによる
２ヂヤ／ネル探傷が茄られている。
この処理咬素としては、各面の欠陥検出にそれぞれ好−
ａな２つの試１１倹周ｅ数の設定、同様に好適な位相倹
波峙における２つの？ｌｊ！Ｉ−信号の位相の設定、２
つのフィルタの通過帯域および中心周波数の設定、信号
振幅の２つの弁別レベルの設定がある。
ａな２つの試１１倹周ｅ数の設定、同様に好適な位相倹
波峙における２つの？ｌｊ！Ｉ−信号の位相の設定、２
つのフィルタの通過帯域および中心周波数の設定、信号
振幅の２つの弁別レベルの設定がある。
これらのうち、位相設定による２ｆヤンネル探傷につい
て説明すると、第６図に示すように、発畜器Ａで発生さ
れた対向２面の谷欠陥を十分に区別できるような試験周
波数の試）検信号を試験コイルをよむコイルブリッジＢ
に供給して検査物に誘導し、そこにおいて誘起された検
出信号を２つの位相検波器Ｃ１、Ｃ３に入力し、そこで
横波された各欠陥信号をそれぞれの１８号処理部Ｄ！、
Ｄっで適当に処理されて１対の傷イ「号を寿、それらを
表示／記録器ＥＫ表示／記録するよう構成される。
て説明すると、第６図に示すように、発畜器Ａで発生さ
れた対向２面の谷欠陥を十分に区別できるような試験周
波数の試）検信号を試験コイルをよむコイルブリッジＢ
に供給して検査物に誘導し、そこにおいて誘起された検
出信号を２つの位相検波器Ｃ１、Ｃ３に入力し、そこで
横波された各欠陥信号をそれぞれの１８号処理部Ｄ！、
Ｄっで適当に処理されて１対の傷イ「号を寿、それらを
表示／記録器ＥＫ表示／記録するよう構成される。
このとき、２つの位相検波器Ｃ，，Ｃ，には、発憑器Ａ
から２つの移相器Ｆ□、ちを介して制御信号がそれぞれ
入力される。移相器Ｆ１、Ｆ、は対向２面の各々の欠陥
にそれぞれ位相を合わ亡ることによ）、１対の傷信号が
各面の欠陥をそれぞれより大きく指示することから判別
できるよう位相設定される。
から２つの移相器Ｆ□、ちを介して制御信号がそれぞれ
入力される。移相器Ｆ１、Ｆ、は対向２面の各々の欠陥
にそれぞれ位相を合わ亡ることによ）、１対の傷信号が
各面の欠陥をそれぞれより大きく指示することから判別
できるよう位相設定される。
このような２チヤンネル探１易の構成は曲の処理要素を
用いる場合においても本質的に同様な構成である。
用いる場合においても本質的に同様な構成である。
０→ 発明が解決しようとする問題点
従来の２チヤ／ネル探傷では、各チャンネルで得られた
傷信号は、単に、各面の欠陥をより大きな傷信号でそれ
ぞれ指示させようとするだけであり、対向面の欠陥の偽
信号は滅べされた１＼で残されている。
傷信号は、単に、各面の欠陥をより大きな傷信号でそれ
ぞれ指示させようとするだけであり、対向面の欠陥の偽
信号は滅べされた１＼で残されている。
そのため、特に、対向２面の同−位・ｄに微細な欠陥か
び在している場合、各面の欠陥の傷信号が１も臣に合成
されて表示／記録されるため、その欠陥が過大に指示さ
れてしまうこととなる。このことは、同一位置に序在し
た欠陥が実際には許容範囲内の欠陥であったとしても、
両者の脇１言号の合成されたものが表示／記録されて、
許容犯囲以上の犬き１入面が与圧しているかのように指
示し、その１欠圧吻は規洛外であると誤信１してしまう
町ｉ毛注をｒシに汀し、探傷試恢結果の信・碩住を低下
さＣるものであった。
び在している場合、各面の欠陥の傷信号が１も臣に合成
されて表示／記録されるため、その欠陥が過大に指示さ
れてしまうこととなる。このことは、同一位置に序在し
た欠陥が実際には許容範囲内の欠陥であったとしても、
両者の脇１言号の合成されたものが表示／記録されて、
許容犯囲以上の犬き１入面が与圧しているかのように指
示し、その１欠圧吻は規洛外であると誤信１してしまう
町ｉ毛注をｒシに汀し、探傷試恢結果の信・碩住を低下
さＣるものであった。
従って、本発明は上述の妬き従来技術における入点を除
去し、各面の欠陥をそれぞれ適洛にＩ旨示し、かつ、対
向２而の同一位置にある欠Ｖ４を１１Ｍ々に指示し、そ
れにより、探傷試験結果に対する信櫃註を飛躍的に向上
できる信号処理の方法および装Ｅ４をイ昼ることにある
。
去し、各面の欠陥をそれぞれ適洛にＩ旨示し、かつ、対
向２而の同一位置にある欠Ｖ４を１１Ｍ々に指示し、そ
れにより、探傷試験結果に対する信櫃註を飛躍的に向上
できる信号処理の方法および装Ｅ４をイ昼ることにある
。
また、復誰な信号処理の構成や新規な素子等を用いるこ
となく、かつ煩准な一節乍釆寺を行うことなしに対向２
面の欠陥をそれぞれ指示しうる方法および装置を提供ｒ
ることにある。
となく、かつ煩准な一節乍釆寺を行うことなしに対向２
面の欠陥をそれぞれ指示しうる方法および装置を提供ｒ
ることにある。
に）問題点を解決するための手段
第１の発明による謁流探傷試験における信号処理方法は
、相互に異なった。−ｊＳＩＩ！に周波数を傳する少な
くとも２つの試ｊ疾信号をそれぞれ発生させて対向２面
を有する検査物に誘導し、倹迂物の伏、懐に応じて祷超
される検出信号を各試験１ｇ号からなる位相Ｏ″と９０
’の各１１ＴＩＪ ｎ信号でそれぞれ位相横波し、位相
Ｏ″の谷！ＩＩＩ御信号で泣相演彼された各欠陥１５号
を田互にそれぞれ（Ａ：４処理しかつ位相９０°の各？
ｌ＋１１＠信号で位相検波された各欠陥１ｇ号を相互に
それぞれ演算処理し、試ｊ検信号の１つを制−１ｇ号と
した側と別の試験信号を制−信号とした側とで演算処理
された各１対の傷信号により検催物の各面の欠陥をそれ
ぞれ表示／記録する。
、相互に異なった。−ｊＳＩＩ！に周波数を傳する少な
くとも２つの試ｊ疾信号をそれぞれ発生させて対向２面
を有する検査物に誘導し、倹迂物の伏、懐に応じて祷超
される検出信号を各試験１ｇ号からなる位相Ｏ″と９０
’の各１１ＴＩＪ ｎ信号でそれぞれ位相横波し、位相
Ｏ″の谷！ＩＩＩ御信号で泣相演彼された各欠陥１５号
を田互にそれぞれ（Ａ：４処理しかつ位相９０°の各？
ｌ＋１１＠信号で位相検波された各欠陥１ｇ号を相互に
それぞれ演算処理し、試ｊ検信号の１つを制−１ｇ号と
した側と別の試験信号を制−信号とした側とで演算処理
された各１対の傷信号により検催物の各面の欠陥をそれ
ぞれ表示／記録する。
第２の発明の渦流探傷試）倹における１８号処理装置は
、 α） イ０互に異なった試験周波数を仔する試鳩信号を
それぞれ発生するだめの少なくとも２つの発扇器と、 ｂ） 対向２面を有する検査物に各試験信号を誘導しか
つ検査物の状態に応じて誘起される検出信号を出力する
ための試倹コイルを含むコイル回路部と、 Ｃ） 各試、訣信号からなる位相Ｏｏおよび９０°の各
ｌＩＩＩｆＩｇＩ言号で検出信号をそれぞれ位相検波す
るだめの少なくとも４つの位相検波器と、 ｄ） 位相０°の各１９１１ 画信号で検波された谷欠
陥信号を相互にそれぞれ演算処理するための１対の加減
算器と、 ａ） 位相９０″の谷′ｒＢＩＪ ｉｌ［１信号で検波
された各欠陥信号を泪互にそれぞれ演疼処理４るため０
１対の力Ｉ］減ノ引器と、 ｆ） 試験１ｇ号の１つを制御信号とする側と別の試験
信号を制御信号とする側とでそれぞれ演算処理さｎた各
１対の傷信号をそれぞれ表示／記録ｒるための表示／記
録器 とから１４成される。
、 α） イ０互に異なった試験周波数を仔する試鳩信号を
それぞれ発生するだめの少なくとも２つの発扇器と、 ｂ） 対向２面を有する検査物に各試験信号を誘導しか
つ検査物の状態に応じて誘起される検出信号を出力する
ための試倹コイルを含むコイル回路部と、 Ｃ） 各試、訣信号からなる位相Ｏｏおよび９０°の各
ｌＩＩＩｆＩｇＩ言号で検出信号をそれぞれ位相検波す
るだめの少なくとも４つの位相検波器と、 ｄ） 位相０°の各１９１１ 画信号で検波された谷欠
陥信号を相互にそれぞれ演算処理するための１対の加減
算器と、 ａ） 位相９０″の谷′ｒＢＩＪ ｉｌ［１信号で検波
された各欠陥信号を泪互にそれぞれ演疼処理４るため０
１対の力Ｉ］減ノ引器と、 ｆ） 試験１ｇ号の１つを制御信号とする側と別の試験
信号を制御信号とする側とでそれぞれ演算処理さｎた各
１対の傷信号をそれぞれ表示／記録ｒるための表示／記
録器 とから１４成される。
（ホ）作用
２つの発憑器は倹１吻の材質や寸法形体等により各試１
検信号が各面における欠陥を最も良好に指示しうるよう
な試験周波数で各試験１ぎ号を発生し、各試験信号は試
１倹コ・ｆルを含むコイル回路部に供給され、検査物に
誘導されてその状態に応じた検出信号を出力することに
ついては、従来の試験周波数設定による２ｆヤンネル深
傷と本處的に同様である。
検信号が各面における欠陥を最も良好に指示しうるよう
な試験周波数で各試験１ぎ号を発生し、各試験信号は試
１倹コ・ｆルを含むコイル回路部に供給され、検査物に
誘導されてその状態に応じた検出信号を出力することに
ついては、従来の試験周波数設定による２ｆヤンネル深
傷と本處的に同様である。
コイル回路部から出力された検出信号は、各試験信号を
基本信号とする位相Ｏ°および９０６の各利却信号で位
相検波器により検波され、各面について位相０″および
９０°で検波された４つの欠陥信号を層る。この時点に
おける谷欠陥信号は各面における欠陥を相対的に大きく
指示するだけで、不要な対向側の面の欠陥を指示する信
号成分も依然として包よしている。
基本信号とする位相Ｏ°および９０６の各利却信号で位
相検波器により検波され、各面について位相０″および
９０°で検波された４つの欠陥信号を層る。この時点に
おける谷欠陥信号は各面における欠陥を相対的に大きく
指示するだけで、不要な対向側の面の欠陥を指示する信
号成分も依然として包よしている。
そのため、各欠陥信号は各対向面に２ける各々対応する
位相差により検波された欠＋ｒｌ′ｆ３信号とそれぞれ
１く値処理されて、不要な対同面の欠陥による信号成分
を１余去したのち、各試験信号に関して得られる位相Ｏ
ａおよび９０″の傷信号によって、各面についての欠陥
の表示／記録をそれぞれ行わせる。
位相差により検波された欠＋ｒｌ′ｆ３信号とそれぞれ
１く値処理されて、不要な対同面の欠陥による信号成分
を１余去したのち、各試験信号に関して得られる位相Ｏ
ａおよび９０″の傷信号によって、各面についての欠陥
の表示／記録をそれぞれ行わせる。
これらを要約すると、２つの試、験信号を検査物に誘導
し、誘起された検出１ｇ号を各々の試！倹周波数の位由
０″および９０°による４つの制御信号で位相検波して
４つの欠陥１に号を得、制御卸信号の各位相に対応した
各１対の欠陥信号をそれぞれ相互に演算処理して４つの
傷信号を得、そして各、＜検信号を基本として１眸られ
る谷１討の１３１Ｂ号により倹ｆ＊の各面の欠陥をそれ
ぞれ指示さぜる。
し、誘起された検出１ｇ号を各々の試！倹周波数の位由
０″および９０°による４つの制御信号で位相検波して
４つの欠陥１に号を得、制御卸信号の各位相に対応した
各１対の欠陥信号をそれぞれ相互に演算処理して４つの
傷信号を得、そして各、＜検信号を基本として１眸られ
る谷１討の１３１Ｂ号により倹ｆ＊の各面の欠陥をそれ
ぞれ指示さぜる。
（へ）実施例
以下、図面を参照して本発明の実施例について説明ｒる
。
。
第１図に示ｒように、発振器１Ｌ′Ｌおよび１ｂは、検
査物の材質や寸法形体等により設定される対向２面の各
々の欠陥を奴も良好に指示できるような各試験周波数ｆ
□およびｆ、を何する試験信号ＦαおよびＷｂを発生す
る。試、ｊ倹信号Ｆα、Ｆｈは試験コイルをよむコイル
ブリッジ等のコイル回路部２に供給され、、、を埃コイ
ルを介して検査物に誘導される。コイル回路部２は検査
物の状態に応じて誘起される検出信号Ｓを出力し、位相
検波器６α、３ｈ、５ｃおよび５ｄにそれぞれ入力させ
る。
査物の材質や寸法形体等により設定される対向２面の各
々の欠陥を奴も良好に指示できるような各試験周波数ｆ
□およびｆ、を何する試験信号ＦαおよびＷｂを発生す
る。試、ｊ倹信号Ｆα、Ｆｈは試験コイルをよむコイル
ブリッジ等のコイル回路部２に供給され、、、を埃コイ
ルを介して検査物に誘導される。コイル回路部２は検査
物の状態に応じて誘起される検出信号Ｓを出力し、位相
検波器６α、３ｈ、５ｃおよび５ｄにそれぞれ入力させ
る。
位相検波器６αおよび６ｂは、−万の試験１ｇ号Ｆαを
移相器４αおよび４ｈでそれぞれ０°と９０″に多相し
た制御信号Ｔα１およびＴ＋ｚ、により検出信号Ｓを位
相・検波して欠陥信号Ｐａ□およびＰｈを住ぞれ出力し
、位相検波器３Ｃおよび５ｄは、１面万の試・険信号Ｆ
ｈを多相どり４Ｃおよび４ｄでそれぞれ０＠と９０°に
１１相した制御信号ＴｈｌおよびＴｈ、により検出信号
Ｓを位相検波して欠陥１３号Ｐｈ１およびＰｈ、をそれ
ぞれ出力する。
移相器４αおよび４ｈでそれぞれ０°と９０″に多相し
た制御信号Ｔα１およびＴ＋ｚ、により検出信号Ｓを位
相・検波して欠陥信号Ｐａ□およびＰｈを住ぞれ出力し
、位相検波器３Ｃおよび５ｄは、１面万の試・険信号Ｆ
ｈを多相どり４Ｃおよび４ｄでそれぞれ０＠と９０°に
１１相した制御信号ＴｈｌおよびＴｈ、により検出信号
Ｓを位相検波して欠陥１３号Ｐｈ１およびＰｈ、をそれ
ぞれ出力する。
位相０°の制帥は号Ｔα１およびＴ／１１により位相検
波された欠陥信号ＰαｌおよびＰｈ１ば１対の力目減算
器５αおよび５Ｃにおいて、各欠陥信号Ｐα□およびＰ
／ｌ□中にそれぞれ身重れている対向面側の欠陥の信号
成分１ｒｐｈ工およびΔＰα１をそれぞれ除去するよう
「Ｐａ、−ΔＰｈ、Ｊおよび「ｐｈ、−ΔＰαｔＪの演
算処理全行い、傷信号Ｍｉｔ １およびＭｈ！？それぞ
れ出力ｒる。同様に、位、出９０°の制御信号Ｔα雷、
Ｔｈ、による欠陥信号Ｐａｇ、Ｐｈｇによまれている不
要１ｇ号成分ΔＰハ、２２４ｇ全１対のｊＪＯ減体器５
０および５ｄにおいて「Ｐ〜−ΔＰｈ、Ｊおよび「Ｆ／
ｌ、 −ΔＰ／ｚＩ」の演算処理することにより除去し
、傷信号ＭａｔおよびＩＪＡ、をそれぞれ出力する。
波された欠陥信号ＰαｌおよびＰｈ１ば１対の力目減算
器５αおよび５Ｃにおいて、各欠陥信号Ｐα□およびＰ
／ｌ□中にそれぞれ身重れている対向面側の欠陥の信号
成分１ｒｐｈ工およびΔＰα１をそれぞれ除去するよう
「Ｐａ、−ΔＰｈ、Ｊおよび「ｐｈ、−ΔＰαｔＪの演
算処理全行い、傷信号Ｍｉｔ １およびＭｈ！？それぞ
れ出力ｒる。同様に、位、出９０°の制御信号Ｔα雷、
Ｔｈ、による欠陥信号Ｐａｇ、Ｐｈｇによまれている不
要１ｇ号成分ΔＰハ、２２４ｇ全１対のｊＪＯ減体器５
０および５ｄにおいて「Ｐ〜−ΔＰｈ、Ｊおよび「Ｆ／
ｌ、 −ΔＰ／ｚＩ」の演算処理することにより除去し
、傷信号ＭａｔおよびＩＪＡ、をそれぞれ出力する。
−万の試験信号Ｆａを基本として処理された位相Ｏ°と
９０’における場イに号Ｍα工およびＭ ａ ｇけ倹樫
物の一方の面における欠陥を指示ｒるようオシロスコー
プやＸ−Ｙレコーダ等の表示／記録器６αに人力され、
他方の試験信号Ｆｂを基本とする位相０°と９０°にお
ける傷信号Ｍ／４１およびＭＡ、は倹Ｎ物の対向面の欠
陥全指示するよう同様に表示／記録器６ｂに入力される
。
９０’における場イに号Ｍα工およびＭ ａ ｇけ倹樫
物の一方の面における欠陥を指示ｒるようオシロスコー
プやＸ−Ｙレコーダ等の表示／記録器６αに人力され、
他方の試験信号Ｆｂを基本とする位相０°と９０°にお
ける傷信号Ｍ／４１およびＭＡ、は倹Ｎ物の対向面の欠
陥全指示するよう同様に表示／記録器６ｂに入力される
。
第２図は本発明の別の実施例を示す図で、主に、庚査物
の！！θ送憑動や材〃変化等によって生ずる准蒔成分を
除去するのに好適なもので、夷λ的に前記処絶倒にイ６
音成分を）余去するだめの回路閘成金付７）［３したも
のである。それ攻、この離合成分除去に関する説明のみ
を以下行う。
の！！θ送憑動や材〃変化等によって生ずる准蒔成分を
除去するのに好適なもので、夷λ的に前記処絶倒にイ６
音成分を）余去するだめの回路閘成金付７）［３したも
のである。それ攻、この離合成分除去に関する説明のみ
を以下行う。
第６の発振器１Ｃはまた別の試験周波数ｆ□の試験信号
Ｐｃを発生する。この試験周波数ｆ１は前述の探傷用試
験周波数ｆ！、ｆ！よりも低い周波数に設定される。試
験信号Ｆｃは他の試挾信号Ｆα、Ｆ６と共にコイル回路
部２に朋姶されて検出信号Ｓ□を得る。検出信号Ｓ１は
、試験信号Ｆ＋？を２つの移相器４ｇ、４ｆによって０
°と９ Ｃ１’とに移相された制御信号Ｔ ｃ １およ
びＴｅ３でそれぞれ！ＩＩＩ仰される位相検波器５ｅお
よび６ｆに入力される。
Ｐｃを発生する。この試験周波数ｆ１は前述の探傷用試
験周波数ｆ！、ｆ！よりも低い周波数に設定される。試
験信号Ｆｃは他の試挾信号Ｆα、Ｆ６と共にコイル回路
部２に朋姶されて検出信号Ｓ□を得る。検出信号Ｓ１は
、試験信号Ｆ＋？を２つの移相器４ｇ、４ｆによって０
°と９ Ｃ１’とに移相された制御信号Ｔ ｃ １およ
びＴｅ３でそれぞれ！ＩＩＩ仰される位相検波器５ｅお
よび６ｆに入力される。
移相検波器６ｅおよび６ｆで泣相倹彼された２つの・離
合信号、すなわち位相ａ°で検波された離合信号Ｎ１と
位相９０″で検波された離合信号Ｎｉは、位１ｕｏ’で
検波された欠β１６信号Ｐα１およびＰ／１１が入力さ
れる加“滅耳器５αおよび５Ｃと、位相９０゜で検波さ
れた欠陥信号Ｐα２およびｐｈ、が入力される加減算器
５ｈおよび５ｄとにそれぞれ入力される。
合信号、すなわち位相ａ°で検波された離合信号Ｎ１と
位相９０″で検波された離合信号Ｎｉは、位１ｕｏ’で
検波された欠β１６信号Ｐα１およびＰ／１１が入力さ
れる加“滅耳器５αおよび５Ｃと、位相９０゜で検波さ
れた欠陥信号Ｐα２およびｐｈ、が入力される加減算器
５ｈおよび５ｄとにそれぞれ入力される。
各カロ１＄Ｃ探器５ａおよび５ｃ、５ｈおよび５ｄは、
谷々の演算処理で主体となる欠陥信号Ｐα１およびＰｈ
、、Ｐａ、およびＰｂ、中にそれぞれ含まれている離合
信号成分ΔＮ１、ΔＮ７、を１余去するよう、「Ｐａ、
−ΔＰｈ、−ΔＮ１Ｊおよび［Ｐｈ□−ΔＰｄ□−ΔＮ
１」と「Ｐａ、−ΔＰｈ−ΔＮ、Ｊおよびｌ’−Ｐ、６
．−ΔＰＯ２−ΔＮ、Ｊのｉ３ｉ［４処理をそれぞれ行
う。
谷々の演算処理で主体となる欠陥信号Ｐα１およびＰｈ
、、Ｐａ、およびＰｂ、中にそれぞれ含まれている離合
信号成分ΔＮ１、ΔＮ７、を１余去するよう、「Ｐａ、
−ΔＰｈ、−ΔＮ１Ｊおよび［Ｐｈ□−ΔＰｄ□−ΔＮ
１」と「Ｐａ、−ΔＰｈ−ΔＮ、Ｊおよびｌ’−Ｐ、６
．−ΔＰＯ２−ΔＮ、Ｊのｉ３ｉ［４処理をそれぞれ行
う。
上述および図示の実施例において、各種の増幅器やフィ
ルタや平衡器等のような信号整形やレベル変換等の回路
偶成は説明されていないが、こわらの？＋９成や作用効
果等は周知技術において自明１あり、ｚ１覆宜に徂み込
まれるべきである。
ルタや平衡器等のような信号整形やレベル変換等の回路
偶成は説明されていないが、こわらの？＋９成や作用効
果等は周知技術において自明１あり、ｚ１覆宜に徂み込
まれるべきである。
（ト） 箔明の効果
本発明は、対向２而を有する倹丘物の各面にふける欠陥
を、′？！ｒ面についてそれぞれ探傷武威して表示／記
録させることができるため、対向２面Ｃ同一箇所にそれ
ぞれ欠陥が序在している場合でをっても個々に欠陥の大
きさを判別でき、それによす（，７度の高い探傷試験を
行うことができる。
を、′？！ｒ面についてそれぞれ探傷武威して表示／記
録させることができるため、対向２面Ｃ同一箇所にそれ
ぞれ欠陥が序在している場合でをっても個々に欠陥の大
きさを判別でき、それによす（，７度の高い探傷試験を
行うことができる。
また、各面における１対の傷信号は、各面のり陥探傷に
好適な試験周波数の設定によって抑制でれた状態でしか
包よされない対向面の欠陥を指刀する傷信号成分を、制
御信号の各位相に対応したｉ瘍信号間でそれぞれ相互に
演算処理することにより実用上完全に除去できる。
好適な試験周波数の設定によって抑制でれた状態でしか
包よされない対向面の欠陥を指刀する傷信号成分を、制
御信号の各位相に対応したｉ瘍信号間でそれぞれ相互に
演算処理することにより実用上完全に除去できる。
更に、位相の異なる制御信号による各准音信号の成分を
それぞれ対応する位相の傷信号と演算処理することによ
り、実用上・離合信号をも除去できる。
それぞれ対応する位相の傷信号と演算処理することによ
り、実用上・離合信号をも除去できる。
第１図および第２図は本発明による実施例をそれぞれ示
ずブロック図。第６図は従来技術を説明するだめのブロ
ック図。 １ａ、１ｂ、ｉ ｃ−・−発振器 ２・・・コイル回路部 ６α、６ｂ％ ５Ｃ％ ３Ｌ′ｔ％５’％５ｆ・・・位
相検波器 ４α、４ｈ、４Ｃ１４ｄ、４ｇ、４ｆ・・・多相器５
ａ 、 ５ｈ、 ５ ０ ％ ５ｄ、−・−刀
口減４Ｍ１６ａ１６ｂ・・・表示／記録器
ずブロック図。第６図は従来技術を説明するだめのブロ
ック図。 １ａ、１ｂ、ｉ ｃ−・−発振器 ２・・・コイル回路部 ６α、６ｂ％ ５Ｃ％ ３Ｌ′ｔ％５’％５ｆ・・・位
相検波器 ４α、４ｈ、４Ｃ１４ｄ、４ｇ、４ｆ・・・多相器５
ａ 、 ５ｈ、 ５ ０ ％ ５ｄ、−・−刀
口減４Ｍ１６ａ１６ｂ・・・表示／記録器
Claims (2)
- （１）相互に異なつた試験周波数を有する少なくとも２
つの試験信号をそれぞれ発生させて対向２面を有する検
査物に誘導し、検査物の状態に応じて誘起される検出信
号を各試験信号からなる位相０°と９０°の各制御信号
でそれぞれ位相検波し、位相０°の各制御信号で位相検
波された各欠陥信号を相互にそれぞれ演算処理しかつ位
相９０°の各制御信号で位相検波された各欠陥信号を相
互にそれぞれ演算処理し、試験信号の１つを制御信号と
した側と別の試験信号を制御信号とした側とで演算処理
された各１対の傷信号により検査物の各面の欠陥をそれ
ぞれ表示／記録することを特徴とする渦流探傷試験にお
ける信号処理方法。 - （２）相互に異なつた試験周波数を有する試験信号をそ
れぞれ発生させる少なくとも２つの発振器と、各試験信
号を対向２面を有する検査物に誘導しかつ検査物の状態
に応じて誘起される検出信号を出力する試験コイルを含
むコイル回路部と、検出信号を各試験周波数からなる位
相０°および９０°の各制御信号でそれぞれ位相検波す
る少なくとも４つの位相検波器と、位相０°の各制御信
号で位相検波された各欠陥信号を相互にそれぞれ演算処
理する１対の加減算器と、位相９０°の各制御信号で位
相検波された各欠陥信号を相互にそれぞれ演算処理する
１対の加減算器と、試験信号の１つを制御信号とする側
と、別の試験信号を制御信号とする側とで演算処理され
た各１対の傷信号をそれぞれ表示／記録する表示／記録
器とから構成されたことを特徴とする渦流探傷試験にお
ける信号処理装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60212651A JPS6273158A (ja) | 1985-09-27 | 1985-09-27 | 渦流探傷試験における信号処理方法およびその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60212651A JPS6273158A (ja) | 1985-09-27 | 1985-09-27 | 渦流探傷試験における信号処理方法およびその装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6273158A true JPS6273158A (ja) | 1987-04-03 |
Family
ID=16626155
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60212651A Pending JPS6273158A (ja) | 1985-09-27 | 1985-09-27 | 渦流探傷試験における信号処理方法およびその装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6273158A (ja) |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5233791A (en) * | 1975-09-09 | 1977-03-15 | Commissariat Energie Atomique | Method and device for nonndestructive test by eddy current |
| JPS5817353A (ja) * | 1981-06-12 | 1983-02-01 | Kobe Steel Ltd | 複数コイル方式による多重周波数渦流探傷法及び多重周波数渦流探傷装置 |
| JPS59176664A (ja) * | 1983-03-28 | 1984-10-06 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 多重周波数渦電流探傷分析装置 |
-
1985
- 1985-09-27 JP JP60212651A patent/JPS6273158A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5233791A (en) * | 1975-09-09 | 1977-03-15 | Commissariat Energie Atomique | Method and device for nonndestructive test by eddy current |
| JPS5817353A (ja) * | 1981-06-12 | 1983-02-01 | Kobe Steel Ltd | 複数コイル方式による多重周波数渦流探傷法及び多重周波数渦流探傷装置 |
| JPS59176664A (ja) * | 1983-03-28 | 1984-10-06 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 多重周波数渦電流探傷分析装置 |
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