SU1490613A1

SU1490613A1 - Способ магнитографического контрол

Info

Publication number: SU1490613A1
Application number: SU762410045A
Authority: SU
Inventors: Евгений Маркович Волков
Original assignee: Предприятие П/Я М-5287
Priority date: 1976-10-07
Filing date: 1976-10-07
Publication date: 1989-06-30

Abstract

Изобретение относитс к магнитографической дефектоскопии и может быть использовано при контроле качества ферромагнитных изделий и их сварных соединений. Цель изобретени - расширение функциональных возможностей за счет определени также и положени дефекта относительно поверхности - достигаетс за счет того, что на контролируемое изделие с двух сторон укладывают магнитные ленты, намагничивают изделие совместно с магнитными лентами, считывают и синхронно расшифровывают обе магнитограммы. При этом по амплитудам импульсов от дефектов с обеих магнитограмм определ ют глубину залегани дефекта. Суммируют амплитуды соответствующих импульсов и по результирующей амплитуде определ ют размер дефекта. 1 з.п.ф-лы, 3 ил.

Description

Изобретение относитс к контрольно-измерительной технике и может использоватьс дл неразрушающего контрол ферромагнитных изделий и их сварных соединений .

Цель изобретени - расширение функциональных возможностей путем определени также и положени дефекта относительно поверхности.

На фиг. 1 представлена схема реализации способа; на фиг,2 - взаимное расположение магнитных лент, дефектов издели , и их изображение на экранах дефекторов; на фиг.З - сигнал на экране дефектоскопа после суммировани амплитуд соответствующих импульсов магнитограмм.

На схеме реапизации способа показано изделие 1 с дефектом 2 и наложенные на изделие с двух сторон магнитные ленты 3 и 4. Сигналы от дефектов , считанные с магнитной ленты 3, показаны на экране 5 дефектоскопа. Соответствующие им сигналы, считанные с магнитной ленты 4, показаны на экране 6 дефектоскопе,

Способ осуществл етс следующим образом.

На контролируемое изделие 1, например сварной шов, вдоль его велика усилени с двух сторон накладывают магнитные ленты 3 и 4, намагничивают их вместе с изделием 1, затем считывают и расшифровывают полученные магнитограмкы, причем расшифровку магнитограмм производ т одновременно с обих лент, помеща их синхронно в воспроизвод щие устройст4

О О)

00

ва дефектоскопа. На фиг.2 показано, что в зависимости от глубины залегани дефектов сигналы на экранах 5 и 6, дефектоскопов имеют различную амплитуду,.По величине импульсов на экранах дефектоскопов провод т расшифровку магнитограмм. Одновременно расшифровка магнитограмм позвол ет определить месторасположение дефекта по толщине издели , так как при намагничивании издели поле рассе ни , вызванное дефектом, намагничивает об ленты в месте расположени ее над дефектом, причем ту из них сильнее, ближе к которой расположен дефект. Следовательно, сравнива амплитуды импульсов от дефекта с обеих лент, можно определить его месторасположение . Поскольку амплитуда импульса от дефекта зависит как от глубины его залегани , так и от размера дефекта , дл более точного определени последнего аммплитуды импульсов от дефекта с лент 3 и 4 суммируют

(фиг,3). При суммировании уменьшение амплитуд импульса с одной ленты компенсируетс увеличением амплитуды .импульса с второй ленты, в результате чего суммарные амплитуды им- пульсов от дефектов одинаковогс размера равны.

Таким образом, происходит отстройка от параметров, характеризующих глубину залегани , и выдел ютс па- раметры, характеризующие размеры дефекта .

Claims

Формула изобретени

1,Способ магнитогра(1ического контрол изделий, заключающийс в том, что на поверхность контролируемого издели накладывают магнитную ленту, намагничивают совместно с изделием, затем считывают и расшифровывают магнитограмму, отличаю- щ и и с тем, что, с целью расширени функциональных возможностей

за счет определени также и положени дефекта относительно поверхности используют дополнительные магнитные ленты, которые перед намагничиванием накладывают на изделие с нескольких сторон, а расшифровку магнитограмм Iпосле намагничивани производ т совместно ,

2,Способ поп,1,отличающ и и с тем, что, с целью повышени точности при определении размера дефекта , суммируют амплитуды соответствующих импульсов магнитограмм и размер дефекта определ ют по величине результирующей амплитуд..

Фиг. Г

а

Г .0L

- Фиг . J