SU1698734A1 - Способ магнитографического контрол - Google Patents

Abstract

Изобретение относитс  к магнитной дефектоскопии и может быть использовано дл  контрол  качества стыковых сварных соединений из ферромагнитных материалов. Целью изобретени   вл етс  повышение точности контрол  за счет намагничивани  издели  комбинацией посто нного и переменного с убывающей амплитудой полей, обеспечивающих получение области безги- стерезисного намагничивани  контролируемого участка издели . Намагничивают контролируемый участок и ленту комбинацией посто нного пол  и переменного пол  с убывающей до нул  амплитудой, затем повторно намагничивают тот же участок издели  и вторую магнитную ленту посто нным полем, большим по величине и противоположным по направлению посто нного пол  первого намагничивани . Наличие дефектов определ етс  при совместном считывании двух лент на дефектоскоп .

Description

Ё

Изобретение относитс  к неразрушающему контролю материалов и изделий и может быть использовано дл  дефектоскопии стыковых сварных соединений из ферромагнитных материалов.

Цель изобретени  - повышение точности контрол  за счет исключени  вли ни  неровностей сварного шва при использовании двух магнитных лент, намагничиваемых комбинацией посто нного и переменного полей.

Способ магнитографического контрол  заключаетс  в следующем.

Контролируемый участок с магнитной лентой, уложенной на его поверхности, намагничивают комбинацией посто нного и переменного с убывающей до нул  амплитудой полей, затем намагничивают контролируемый участок и вторую магнитную ленту посто нным полем. Причем величина посто нного пол  повторного намагничивани  должна быть больше величины посто нного пол  первого намагничивани , а направлени  этих полей противоположны

Наличие дефектов определ етс  по разностному сигналу с магнитных лент при их совместном считывании на дефектоскопе.

Намагничивание контролируемого участка комбинацией взаимодействующих посто нного и переменного полей создает область безгистерезисного намагничивани  в поверхностном слое издели . Поэтому дл  насыщени  поверхностного сло  требуютс  небольшие по величине посто нные магнитные пол , пол  рассе ни  внутренних дефектов не записываютс  на ленту. При этом пол  поверхностных неровностей записываютс  на ленту практически так же, как при оптимальных значени х намагничивающего пол . В св зи с тем, что направлеО

чэ

00

VI

CJ

4

ние посто нного пол  при повторном намагничивании противоположно направлению посто нного пол  первого намагничивани , сигналы, обусловленные поверхностными неровност ми на лентах, будут разного знака и при считывании компенсируютс , а на экране дефектоскопа получаетс  сигнал внутренних дефектов.

Пример. Запись полей на две ленты Н-4732 производилась на тест-образце сварного соединени , имеющего внутри дефекты типа пора диаметром 2 и 3 мм. Тол- щина деталей составл ла 20 мм. Поверхность имела неровности, чешуйча- тость, наплывы и надрезы. Значени  тока намагничивани  составл ли: посто нного 20 А, переменного 12 А, тока повторного намагничивани  30 А. Дл  считыёани  использовали дефектоскоп ЦМТД-11. По разностному сигналу с обеих лент было получено изображение внутренних дефектов , совпадающее с рентгенограммой контролируемого сварного шва.

Claims (1)

1. Формула изобретени 

   Способ магнитографического контрол , заключающийс  в том, что намагничивают

   контролируемый участок последовательно посто нным полем и комбинацией посто нного и переменного полей, производ т запись на две ленты, а о качестве контролируемого издели  суд т по разности сигналов , считанных с обеих лент, отличающийс  тем, что, с целью повышени  точности контрол , сначала намагничивают контролируемый участок и ленту комбинацией посто нного пол  и переменного с

   убывающей до нул  амплитудой, затем повторно намагничивают тот же участок и вторую магнитную ленту посто нным полем, большим по величине и противоположным по направлению посто нного пол  первого

   намагничивани , а о качестве контролируемого участка суд т по разностному сигналу, полученному при совместном считывании двух лент.