JPS59163559A - 渦流探傷方法 - Google Patents
渦流探傷方法Info
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- JPS59163559A JPS59163559A JP3778383A JP3778383A JPS59163559A JP S59163559 A JPS59163559 A JP S59163559A JP 3778383 A JP3778383 A JP 3778383A JP 3778383 A JP3778383 A JP 3778383A JP S59163559 A JPS59163559 A JP S59163559A
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- JP
- Japan
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- flaw
- phase
- output
- noise
- signal
- Prior art date
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- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/72—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
- G01N27/82—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
- G01N27/90—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents
- G01N27/9046—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents by analysing electrical signals
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、渦流探傷においてＳ／Ｎ及び疵信号の検出能
を著るしく改善する探傷方法に関する。
を著るしく改善する探傷方法に関する。
周知の様に渦流探傷は、高周波電流を流したコイル内に
被探傷物を入れたとき又はコイル（プローブ）を被探傷
物に近ずけた時、被探傷物に表面疵があると表面を流れ
る渦電流に変化が起き、コイルのインピーダンス又はコ
イルに誘起される電圧に変化が生じ、電気信号が得られ
る。この信号の振幅および位相などから表面疵の存在と
その程度を判断することが出来る。一般的には位相平面
上において探傷信号をＸ軸方向とＹ軸方向に分解し、ど
ちらかの出力軸方向の出力が予め定めた一定値をこえた
時をもって疵信号の評価を行なう。
被探傷物を入れたとき又はコイル（プローブ）を被探傷
物に近ずけた時、被探傷物に表面疵があると表面を流れ
る渦電流に変化が起き、コイルのインピーダンス又はコ
イルに誘起される電圧に変化が生じ、電気信号が得られ
る。この信号の振幅および位相などから表面疵の存在と
その程度を判断することが出来る。一般的には位相平面
上において探傷信号をＸ軸方向とＹ軸方向に分解し、ど
ちらかの出力軸方向の出力が予め定めた一定値をこえた
時をもって疵信号の評価を行なう。
また一般的には移相器で位相をすらし、ノイズ位相が疵
信号出力軸ｔこ出にくい位相に設定する。例えば疵信号
出力軸をＹ軸とすると、Ｙ軸にノイズ位相をシフトした
後に探傷を行なえば、ノイズを抑制する事が出来る。
信号出力軸ｔこ出にくい位相に設定する。例えば疵信号
出力軸をＹ軸とすると、Ｙ軸にノイズ位相をシフトした
後に探傷を行なえば、ノイズを抑制する事が出来る。
所が位相平面上のノイズ（リフトオフ変化、透磁率の変
化、温度ムラ等により生しる）信号は、一般的にシャー
プでなく多少膨みを有し、ノイズが大であるほど位相平
面上の疵信号ベクトルの膨みは大となる。そのためその
膨みのＸ軸投影成分が疵信号出力軸Ｘへのノイズ成分と
して出力される。又ノイズ位相角は多少変動しそのため
にさらに大きなノイズ信号を疵信号出力軸に生じる事に
なる。
化、温度ムラ等により生しる）信号は、一般的にシャー
プでなく多少膨みを有し、ノイズが大であるほど位相平
面上の疵信号ベクトルの膨みは大となる。そのためその
膨みのＸ軸投影成分が疵信号出力軸Ｘへのノイズ成分と
して出力される。又ノイズ位相角は多少変動しそのため
にさらに大きなノイズ信号を疵信号出力軸に生じる事に
なる。
本発明は上記欠点を改良し、ノイズ成分が疵信号出力軸
へ投影されない探傷方法を提供するもので、その特徴は
ベクトルスコープの位相平面上にノイズ位相角範囲を設
け、該位相角範囲にノイズ信号か當に入ってマスクされ
るように移相器を予め調整して探傷することにある。以
下本発明を具体的な実施例で更に詳述する。
へ投影されない探傷方法を提供するもので、その特徴は
ベクトルスコープの位相平面上にノイズ位相角範囲を設
け、該位相角範囲にノイズ信号か當に入ってマスクされ
るように移相器を予め調整して探傷することにある。以
下本発明を具体的な実施例で更に詳述する。
第１図に示すように本発明では、ベクＩ・ルスコープの
位相平面上角度αの間（位相角範囲）を疵信号を検出し
得ない様に構成してあり、斜線を付して示す該位相角の
範囲内のほぼ中央部Ｏ−○′にノイズ信号１か存在する
様に移相器を調整する。
位相平面上角度αの間（位相角範囲）を疵信号を検出し
得ない様に構成してあり、斜線を付して示す該位相角の
範囲内のほぼ中央部Ｏ−○′にノイズ信号１か存在する
様に移相器を調整する。
角度αを以下ノイズ位相角度範囲３と称する。該角度範
囲からノイズ１かはみ出さない限りノイズ成分ば疵信号
出力軸Ｘへは投影されない。一方疵信号２が該位相角範
囲３以外の所に出れはその出力軸（Ｘ軸）に対する投影
成分が出力される事になる。ノイズ位相角度範囲３はノ
イズ平均位相を中心として±５°〜±４５°の範囲が実
用的である。これは該角度範囲をこれ以上狭くするとノ
イズを抑制する効果か少なくなり又、これ以十広くする
ことはノイズ以外の疵信号まで抑制される場合が生ずる
ためである。
囲からノイズ１かはみ出さない限りノイズ成分ば疵信号
出力軸Ｘへは投影されない。一方疵信号２が該位相角範
囲３以外の所に出れはその出力軸（Ｘ軸）に対する投影
成分が出力される事になる。ノイズ位相角度範囲３はノ
イズ平均位相を中心として±５°〜±４５°の範囲が実
用的である。これは該角度範囲をこれ以上狭くするとノ
イズを抑制する効果か少なくなり又、これ以十広くする
ことはノイズ以外の疵信号まで抑制される場合が生ずる
ためである。
第３図（ロ）に第２図にもとすく出力のアナログ出力信
号例を示す。第３図（イ）は第２図にもとすくノイズ位
相角度範囲３の設定をしなかった場合の探傷例で、各々
縦軸に出力電圧、横軸に時間を取っている。疵信号を評
価検出するために一般的には信号検出スレシボルドを設
け、該スレシボルドを越えるか否かで疵信号を評価する
。第２図には検出スレシボルドとしてＬｌ及びＬ ２の
値を設定した例を示している。位相平面」二角環αの間
のノイズ位相（角度）範囲３間は出力軸に疵信号出力か
出ない様な構成にしてあり、該角度以外に疵信号か出れ
ば該信号のＸ軸−・の投影成分か疵信号として出力され
、予め定めた疵検比レヘルよりも大なる投影成分が出た
時に該検出レヘル以上の疵が発生した事になり疵個数を
カウントする。
号例を示す。第３図（イ）は第２図にもとすくノイズ位
相角度範囲３の設定をしなかった場合の探傷例で、各々
縦軸に出力電圧、横軸に時間を取っている。疵信号を評
価検出するために一般的には信号検出スレシボルドを設
け、該スレシボルドを越えるか否かで疵信号を評価する
。第２図には検出スレシボルドとしてＬｌ及びＬ ２の
値を設定した例を示している。位相平面」二角環αの間
のノイズ位相（角度）範囲３間は出力軸に疵信号出力か
出ない様な構成にしてあり、該角度以外に疵信号か出れ
ば該信号のＸ軸−・の投影成分か疵信号として出力され
、予め定めた疵検比レヘルよりも大なる投影成分が出た
時に該検出レヘル以上の疵が発生した事になり疵個数を
カウントする。
ところで、疵信号２，４は疵の形状によりノイズ位相範
囲３以外の位相範囲全体にわたって出る事になり、Ｘ軸
近傍に限るものではない。そしてＹ軸に近付くほどＸ軸
投影成分は小さくなるから、疵評価検出しヘルのスレシ
ホルドをＬ３．Ｌａに示す様な円とし６て構成した方が
信号の値を大きく取る事が出来有利となる。円形スレシ
ホルドで疵信号を評価するという事は疵信号を出力軸へ
の投影でなく信号振幅の絶対値で検出し評価すると云う
事になる。これはひとえにノイズ角度３の範囲を禁止帯
にして出力が出ない様にしなければＳ／Ｎ向上につなが
らず、該禁止処置を行ったときはじめて有９３ノな手段
となる。第３図の（ハ）に円形スレシボルドで疵評価す
る場合のアナログ出力波形を示す。図に示す様に信号の
投影成分でなく、信号の絶対値高さでアナログ出力され
（疵２と疵４がは−同じ大きさで出ており、第３図（ロ
）のように疵４が小さくなっていない）、なおかつノイ
ズ位相範囲３を出力禁止帯にしているのでノイズを抑制
したまま疵信号を大きく出す事が出来、結果としてＳ／
Ｎ比を向上させる事が可能である。
囲３以外の位相範囲全体にわたって出る事になり、Ｘ軸
近傍に限るものではない。そしてＹ軸に近付くほどＸ軸
投影成分は小さくなるから、疵評価検出しヘルのスレシ
ホルドをＬ３．Ｌａに示す様な円とし６て構成した方が
信号の値を大きく取る事が出来有利となる。円形スレシ
ホルドで疵信号を評価するという事は疵信号を出力軸へ
の投影でなく信号振幅の絶対値で検出し評価すると云う
事になる。これはひとえにノイズ角度３の範囲を禁止帯
にして出力が出ない様にしなければＳ／Ｎ向上につなが
らず、該禁止処置を行ったときはじめて有９３ノな手段
となる。第３図の（ハ）に円形スレシボルドで疵評価す
る場合のアナログ出力波形を示す。図に示す様に信号の
投影成分でなく、信号の絶対値高さでアナログ出力され
（疵２と疵４がは−同じ大きさで出ており、第３図（ロ
）のように疵４が小さくなっていない）、なおかつノイ
ズ位相範囲３を出力禁止帯にしているのでノイズを抑制
したまま疵信号を大きく出す事が出来、結果としてＳ／
Ｎ比を向上させる事が可能である。
次に本発明の探傷方法を実施するに必要な回路構成例に
ついて第４図で説明する。図において１０は位相弁別回
路、１３は位相角検出回路、１４゜１５は位相角比較回
路、１６はアンドヶ−１・、１７はアナログスイッチ、
１８は探傷処理表示回路である。また１９．２０は２乗
回路、２１は加算器、２２は平方根回路、２３．２４は
コンパレータである。周知の渦流探傷回路内の位相弁別
回路１０の出側より探傷信号のＹ軸力同成分出力］１と
Ｘ軸方向成分１２を出力し、これらの出方を位相角検出
回路１３に入力して位相角ψを検出し、その出力を位相
角比較回路１４．．１５に入力してオア位相設定値ψｌ
及びψ２と比較し、ψ１〈ψ。
ついて第４図で説明する。図において１０は位相弁別回
路、１３は位相角検出回路、１４゜１５は位相角比較回
路、１６はアンドヶ−１・、１７はアナログスイッチ、
１８は探傷処理表示回路である。また１９．２０は２乗
回路、２１は加算器、２２は平方根回路、２３．２４は
コンパレータである。周知の渦流探傷回路内の位相弁別
回路１０の出側より探傷信号のＹ軸力同成分出力］１と
Ｘ軸方向成分１２を出力し、これらの出方を位相角検出
回路１３に入力して位相角ψを検出し、その出力を位相
角比較回路１４．．１５に入力してオア位相設定値ψｌ
及びψ２と比較し、ψ１〈ψ。
ψ２〉ψのとき出力を生してこれらの出力信号をオア回
路１６に通しψｌ〜ψ２の間に位相角ψが′ある間のみ
アナログスイッチ１７をオフにし、該スイッチ１７の出
力を探傷処理表示回路１８に入力し、表示及び処理を行
なう。従来方式である出力軸信号に対する疵評価スレン
ホル１ｓの場合はこれら１０〜１８の回路で検出評価出
来るが、ノイズ位相範囲を禁止帯にした上で円形スレシ
ボルトとし、信号の絶対値で疵評価を行なう場合におい
ては、前述の回路のアナログスイッチ１７の出力である
Ｘ軸、Ｙ軸の各信号を２乗回路１９．２０にそれぞれ入
力し、該出力を加算器２１に入力し、加算された信号出
力を平方根回路２２に入力し、つまり絶対値を求めて該
出力をコンパレータ２３゜２４に入力し、疵検出しヘル
Ｌ３．Ｌ４と比較して該検出レヘル以」二の疵が有った
時価評価信号を出力する。
路１６に通しψｌ〜ψ２の間に位相角ψが′ある間のみ
アナログスイッチ１７をオフにし、該スイッチ１７の出
力を探傷処理表示回路１８に入力し、表示及び処理を行
なう。従来方式である出力軸信号に対する疵評価スレン
ホル１ｓの場合はこれら１０〜１８の回路で検出評価出
来るが、ノイズ位相範囲を禁止帯にした上で円形スレシ
ボルトとし、信号の絶対値で疵評価を行なう場合におい
ては、前述の回路のアナログスイッチ１７の出力である
Ｘ軸、Ｙ軸の各信号を２乗回路１９．２０にそれぞれ入
力し、該出力を加算器２１に入力し、加算された信号出
力を平方根回路２２に入力し、つまり絶対値を求めて該
出力をコンパレータ２３゜２４に入力し、疵検出しヘル
Ｌ３．Ｌ４と比較して該検出レヘル以」二の疵が有った
時価評価信号を出力する。
以上説明した様に本発明方法で渦流探傷を行なえはノイ
ズを抑制し疵信号を大きく出すことか出来、Ｓ／Ｎ良く
極めて良好な探傷を行な・う串か出来る。
ズを抑制し疵信号を大きく出すことか出来、Ｓ／Ｎ良く
極めて良好な探傷を行な・う串か出来る。
第１図はノイズ位相範囲αと原信号ヘク１−ルの表示例
を示す図、第２図はノイズ位相範囲と疵ヘク１−ルと従
来の出力軸に対する検出レヘル設定と絶対値検出レヘル
設定との考え方を示す説明図、第３図は第２図における
各方式に対するアナログ出力チヤ−１・、第４図は本発
明の実施例を示すブロック図である。 図面で３はノイズ位相角範囲、１はノイズ、２゜４は疵
信号、１４〜１６はノイズ位相角範囲をマスクする信号
を生しる回路である。 第１図 第２図１ Ｙ 第３区 →し く口） →℃ →℃
を示す図、第２図はノイズ位相範囲と疵ヘク１−ルと従
来の出力軸に対する検出レヘル設定と絶対値検出レヘル
設定との考え方を示す説明図、第３図は第２図における
各方式に対するアナログ出力チヤ−１・、第４図は本発
明の実施例を示すブロック図である。 図面で３はノイズ位相角範囲、１はノイズ、２゜４は疵
信号、１４〜１６はノイズ位相角範囲をマスクする信号
を生しる回路である。 第１図 第２図１ Ｙ 第３区 →し く口） →℃ →℃
Claims (1)
- ベクトルスコープの位相平面上にノイズ位相角範囲を設
け、該位相角筒′囲にノイズ信号が常に入ってマスクさ
れるように移相器を予め調整して探傷することを特徴と
する渦流探傷方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3778383A JPS59163559A (ja) | 1983-03-08 | 1983-03-08 | 渦流探傷方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3778383A JPS59163559A (ja) | 1983-03-08 | 1983-03-08 | 渦流探傷方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59163559A true JPS59163559A (ja) | 1984-09-14 |
Family
ID=12507085
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3778383A Pending JPS59163559A (ja) | 1983-03-08 | 1983-03-08 | 渦流探傷方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59163559A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3705016A1 (de) * | 1986-02-18 | 1987-08-20 | Kobe Steel Ltd | Signalverarbeitungsverfahren und wirbelstrom-fehlerstellendetektor fuer eine wirbelstrommessung |
| JP2006250935A (ja) * | 2005-03-09 | 2006-09-21 | General Electric Co <Ge> | 多周波位相解析を使用する検査方法及び検査システム |
-
1983
- 1983-03-08 JP JP3778383A patent/JPS59163559A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3705016A1 (de) * | 1986-02-18 | 1987-08-20 | Kobe Steel Ltd | Signalverarbeitungsverfahren und wirbelstrom-fehlerstellendetektor fuer eine wirbelstrommessung |
| JP2006250935A (ja) * | 2005-03-09 | 2006-09-21 | General Electric Co <Ge> | 多周波位相解析を使用する検査方法及び検査システム |
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