JPH0222695Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0222695Y2 JPH0222695Y2 JP1982042732U JP4273282U JPH0222695Y2 JP H0222695 Y2 JPH0222695 Y2 JP H0222695Y2 JP 1982042732 U JP1982042732 U JP 1982042732U JP 4273282 U JP4273282 U JP 4273282U JP H0222695 Y2 JPH0222695 Y2 JP H0222695Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- echo
- circuit
- shape
- flaw detection
- probe
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 23
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 16
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 10
- 238000002592 echocardiography Methods 0.000 description 10
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 2
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 238000001028 reflection method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は超音波探傷装置の改良に関する。
超音波探傷は金属組織の欠陥を検出するための
有力な手段としてひろく用いられている。しかし
ながら従来の超音波探傷装置では、凹凸のある複
雑な形状の被検体の探傷、特に突起部付近等に存
在する欠陥の検出が難かしいという問題があつ
た。この間の事情を説明すれば次の通りである。
有力な手段としてひろく用いられている。しかし
ながら従来の超音波探傷装置では、凹凸のある複
雑な形状の被検体の探傷、特に突起部付近等に存
在する欠陥の検出が難かしいという問題があつ
た。この間の事情を説明すれば次の通りである。
第１図において、１は超音波探傷を行なうべき
被検体である。該被検体１の一部表面には突起２
が形成されており、この突起２の近傍に欠陥３が
存在している。このような被検体１について図示
のように反射法による超音波探傷を行なうと、超
音波探触子４から発信された超音波は欠陥部３の
みならず突起部２界面でも反射され、これによる
エコーが探触子４にとらえられる。従つて、探触
子４に接続された超音波探傷器５で計測される探
傷信号には、図示のように欠陥３によるエコーｂ
以外に突起部２の形状による疑似的エコーａが含
まれることになる。探傷位置の形状が更に複雑な
場合にはその形状による疑似的エコーが増大し、
このような雑音エコーと欠陥によるエコーとの判
別は極めて困難となる。
被検体である。該被検体１の一部表面には突起２
が形成されており、この突起２の近傍に欠陥３が
存在している。このような被検体１について図示
のように反射法による超音波探傷を行なうと、超
音波探触子４から発信された超音波は欠陥部３の
みならず突起部２界面でも反射され、これによる
エコーが探触子４にとらえられる。従つて、探触
子４に接続された超音波探傷器５で計測される探
傷信号には、図示のように欠陥３によるエコーｂ
以外に突起部２の形状による疑似的エコーａが含
まれることになる。探傷位置の形状が更に複雑な
場合にはその形状による疑似的エコーが増大し、
このような雑音エコーと欠陥によるエコーとの判
別は極めて困難となる。
本考案は上記事情に鑑みてなされたもので、被
検体の形状に基づく疑似的エコーと欠陥によるエ
コーとを峻別することができる検出能の優れた超
音波探傷装置を提供するものである。
検体の形状に基づく疑似的エコーと欠陥によるエ
コーとを峻別することができる検出能の優れた超
音波探傷装置を提供するものである。
即ち、本考案は、異なつた屈折角を有する複数
の探触子と、該探触子に接続された超音波探傷器
と、該超音波探傷器の探傷信号に含まれる所定の
設定レベル以上のエコーについてそのビーム路程
を算出する回路と、算出されたビーム路程、前記
探触子の位置および該探触子の屈折角から前記エ
コーの発生源位置を算出する回路と、該エコーの
発生源位置を画面上に表示する表示装置と、前記
被検体の形状を作図する回路と、作図された被検
体の形状を前記エコーの発生源位置の表示に重複
表示する回路とからなることを特徴とする超音波
探傷装置である。
の探触子と、該探触子に接続された超音波探傷器
と、該超音波探傷器の探傷信号に含まれる所定の
設定レベル以上のエコーについてそのビーム路程
を算出する回路と、算出されたビーム路程、前記
探触子の位置および該探触子の屈折角から前記エ
コーの発生源位置を算出する回路と、該エコーの
発生源位置を画面上に表示する表示装置と、前記
被検体の形状を作図する回路と、作図された被検
体の形状を前記エコーの発生源位置の表示に重複
表示する回路とからなることを特徴とする超音波
探傷装置である。
以下第２図〜第４図を参照して本考案の一実施
例を説明する。
例を説明する。
第２図は本考案の一実施例になる超音波探傷装
置の構成と、その使用態様を示す説明図である。
同図において、１は第１図について説明したのと
同様の被検体であり、２は被検体の突起、３は欠
陥である。１１は超音波探傷器であり、第１図で
説明した従来の超音波探傷器５と同様の構成およ
び作用を有している。該超音波探傷器１１には複
数の探触子１２1…１２oが接続されている。これ
ら複数の探触子１２1…１２oは被検体１表面に所
定の間隔をおいて配置され、しかも図示のように
夫々異なつた屈折角で超音波を発信し、異なつた
経路で探傷を行なうようになつている。各探触子
１２1…１２oで検出された第３図に示されるよう
な探傷信号は探傷器１１からエコー処理回路１３
に送られ、第３図に示すように設定レベルｘを越
えるエコーについてその発生時間t1，t2…toから
そのビーム路程（エコー源までの距離）が算出さ
れる。また、エコー処理回路１３は各探触子１２
１…１２oの位置および屈折角（これらの情報は別
途外部から入力するかまたは予め内部に記憶され
ている）および前記算出されたビーム路程から、
前記設定レベルを越えたエコー源（この中には欠
陥エコー源の外に疑似的エコー源が含まれる）の
座標を決定するようになつている。こうして求め
られた各種エコー源の座標は表示制御回路１４に
送られ、該表示制御回路１４は表示装置１５上に
エコー源の位置をプロツトするようになつてい
る。他方、前記エコー処理回路１３には形状作図
回路１６が接続されており、エコー処理回路１３
で求められた前記各種エコー源の座標はこの形状
作図回路１６にも入力される。該形状作図回路１
６には予め被検体１の形状が記億されている。そ
して、エコー処理回路１３から入力される疑似的
エコー源の位置は被検体１の外形輪郭上に位置す
るはずであるから、形状作図回路１６はこの入力
データと前記予め記億されている被検体１の形状
との相関計算により必要に応じて位置づれを修正
した上で、記憶されている被検体１の外形々状を
表示制御回路１４を通して表示装置１５上に表示
するようになつている。
置の構成と、その使用態様を示す説明図である。
同図において、１は第１図について説明したのと
同様の被検体であり、２は被検体の突起、３は欠
陥である。１１は超音波探傷器であり、第１図で
説明した従来の超音波探傷器５と同様の構成およ
び作用を有している。該超音波探傷器１１には複
数の探触子１２1…１２oが接続されている。これ
ら複数の探触子１２1…１２oは被検体１表面に所
定の間隔をおいて配置され、しかも図示のように
夫々異なつた屈折角で超音波を発信し、異なつた
経路で探傷を行なうようになつている。各探触子
１２1…１２oで検出された第３図に示されるよう
な探傷信号は探傷器１１からエコー処理回路１３
に送られ、第３図に示すように設定レベルｘを越
えるエコーについてその発生時間t1，t2…toから
そのビーム路程（エコー源までの距離）が算出さ
れる。また、エコー処理回路１３は各探触子１２
１…１２oの位置および屈折角（これらの情報は別
途外部から入力するかまたは予め内部に記憶され
ている）および前記算出されたビーム路程から、
前記設定レベルを越えたエコー源（この中には欠
陥エコー源の外に疑似的エコー源が含まれる）の
座標を決定するようになつている。こうして求め
られた各種エコー源の座標は表示制御回路１４に
送られ、該表示制御回路１４は表示装置１５上に
エコー源の位置をプロツトするようになつてい
る。他方、前記エコー処理回路１３には形状作図
回路１６が接続されており、エコー処理回路１３
で求められた前記各種エコー源の座標はこの形状
作図回路１６にも入力される。該形状作図回路１
６には予め被検体１の形状が記億されている。そ
して、エコー処理回路１３から入力される疑似的
エコー源の位置は被検体１の外形輪郭上に位置す
るはずであるから、形状作図回路１６はこの入力
データと前記予め記億されている被検体１の形状
との相関計算により必要に応じて位置づれを修正
した上で、記憶されている被検体１の外形々状を
表示制御回路１４を通して表示装置１５上に表示
するようになつている。
上記実施例の超音波探傷装置によれば、表示装
置１５には第４図に示すように被検体１の外形形
状２０が表示され、探傷で得られた各種エコー源
２１をこの外形形状２０の上に平面的に表示する
ことができる。従つて、被検体の形状が複雑な場
合でも探傷により得られた各種のエコーが夫々欠
陥に起因するものか、あるいは外形状に基づく疑
似的エコーであるかを容易に識別することができ
る。
置１５には第４図に示すように被検体１の外形形
状２０が表示され、探傷で得られた各種エコー源
２１をこの外形形状２０の上に平面的に表示する
ことができる。従つて、被検体の形状が複雑な場
合でも探傷により得られた各種のエコーが夫々欠
陥に起因するものか、あるいは外形状に基づく疑
似的エコーであるかを容易に識別することができ
る。
また、被検部を中心に多方向から異なる屈折角
で探傷することから、欠陥の傾きによる影響を低
減することができる。
で探傷することから、欠陥の傾きによる影響を低
減することができる。
以上詳述したように、考案によれば被検体の形
状に起因する疑似的エコーと欠陥によるエコーと
を容易に峻別することができる検出能の優れた超
音波探傷法を提供できるものである。
状に起因する疑似的エコーと欠陥によるエコーと
を容易に峻別することができる検出能の優れた超
音波探傷法を提供できるものである。
第１図は従来の超音波探傷装置における問題点
を示す説明図、第２図は本考案の一実施例になる
超音波探傷装置の構成とその使用態様を示す説明
図、第３図は第２図におけるエコー処理回路の一
作用を示す説明図、第４図は第２図における表示
装置１０の表示例を示す図である。１１……超音
波探傷器、１２1〜１２o……探触子、１３……エ
コー処理回路、１４……表示制御回路、１５……
表示装置、１６……形状作図回路、２０……被検
体の外形形状、２１……エコー源を示すプロツ
ト。
を示す説明図、第２図は本考案の一実施例になる
超音波探傷装置の構成とその使用態様を示す説明
図、第３図は第２図におけるエコー処理回路の一
作用を示す説明図、第４図は第２図における表示
装置１０の表示例を示す図である。１１……超音
波探傷器、１２1〜１２o……探触子、１３……エ
コー処理回路、１４……表示制御回路、１５……
表示装置、１６……形状作図回路、２０……被検
体の外形形状、２１……エコー源を示すプロツ
ト。
Claims (1)
- 異なつた屈折角を有する複数の探触子と、該探
触子に接続された超音波探傷器と、該超音波探傷
器の探傷信号に含まれる所定の設定レベル以上の
エコーについてそのビーム路程を算出する回路
と、算出されたビーム路程、前記探触子の位置お
よび該探触子の屈折角から前記エコーの発生源位
置を算出する回路と、該エコーの発生源位置を画
面上に表示する表示装置と、被検体の形状が予め
記億されている形状作図回路と、作図された被検
体の形状を前記エコーの発生源位置の表示に重複
表示する回路とからなることを特徴とする超音波
探傷装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4273282U JPS58145556U (ja) | 1982-03-26 | 1982-03-26 | 超音波探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4273282U JPS58145556U (ja) | 1982-03-26 | 1982-03-26 | 超音波探傷装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58145556U JPS58145556U (ja) | 1983-09-30 |
| JPH0222695Y2 true JPH0222695Y2 (ja) | 1990-06-19 |
Family
ID=30053842
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4273282U Granted JPS58145556U (ja) | 1982-03-26 | 1982-03-26 | 超音波探傷装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58145556U (ja) |
-
1982
- 1982-03-26 JP JP4273282U patent/JPS58145556U/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58145556U (ja) | 1983-09-30 |
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