JPS6179162A - 表面波ホログラフイ方法 - Google Patents
表面波ホログラフイ方法Info
- Publication number
- JPS6179162A JPS6179162A JP20275584A JP20275584A JPS6179162A JP S6179162 A JPS6179162 A JP S6179162A JP 20275584 A JP20275584 A JP 20275584A JP 20275584 A JP20275584 A JP 20275584A JP S6179162 A JPS6179162 A JP S6179162A
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- Japan
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- hologram
- object body
- sensor
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- Pending
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/04—Analysing solids
- G01N29/06—Visualisation of the interior, e.g. acoustic microscopy
- G01N29/0654—Imaging
- G01N29/0663—Imaging by acoustic holography
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- General Physics & Mathematics (AREA)
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- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、表面間に欠陥、表面直下の欠陥等を検出する
超音波探傷装置に用いられる表面波ホＨグ５７４方法に
関する。
超音波探傷装置に用いられる表面波ホＨグ５７４方法に
関する。
従来、溶接部の表面検査手段としては浸透探傷法がある
。
。
この探傷方法は、浸透液が欠陥に入ったところを現像液
で着色し、割れを検出するものである。
で着色し、割れを検出するものである。
しかしながら、このような従来の探傷法は、被検体表面
の手入れが面倒で、手間がかか夛、しかも検出時には検
量担当者が目視のみによル欠陥をみつける必要があるた
め、１＊査スピードが遅く、かつ欠陥検出の見逃しＩｒ
生じ易いという種々の欠点がありた。
の手入れが面倒で、手間がかか夛、しかも検出時には検
量担当者が目視のみによル欠陥をみつける必要があるた
め、１＊査スピードが遅く、かつ欠陥検出の見逃しＩｒ
生じ易いという種々の欠点がありた。
又、他の探傷法としては、第６図、及び第７図に示すよ
うに、斜角探傷によシ欠陥をみりける手法が考えられて
いる。この方法は、溶接部のある範囲を検査する際には
、Ｗｃ７図のよ５Ｋ、超音波上フサ５Ｃｔ−被検体３上
にで、図示矢印１で示す如くジグザグ１１！査する必要
があ）、又、超音波に広がシがあるため、欠陥長さに関
する定量性が低いという問題がある。尚、図中、２は超
音波伝播路、４は欠陥、５は溶接部、６は溶接線でちる
。
うに、斜角探傷によシ欠陥をみりける手法が考えられて
いる。この方法は、溶接部のある範囲を検査する際には
、Ｗｃ７図のよ５Ｋ、超音波上フサ５Ｃｔ−被検体３上
にで、図示矢印１で示す如くジグザグ１１！査する必要
があ）、又、超音波に広がシがあるため、欠陥長さに関
する定量性が低いという問題がある。尚、図中、２は超
音波伝播路、４は欠陥、５は溶接部、６は溶接線でちる
。
〔問題点を解決するための手段及び作用〕本発明は、物
体表面を伝播する表面波を用いて、被検体の表面及び表
面直下の欠陥を検出する４ので、欠陥寸法を定量的にし
かも簡単かつ客観的に噴出することのできる表面波ホロ
グラフィ方法を提供することにある。
体表面を伝播する表面波を用いて、被検体の表面及び表
面直下の欠陥を検出する４ので、欠陥寸法を定量的にし
かも簡単かつ客観的に噴出することのできる表面波ホロ
グラフィ方法を提供することにある。
以下図面を参照して本発明の一実施例を説明する。
第１図は本発明の一実施例ｔ−説明するためのブロック
図であシ、ここでは被検体３を平板として示している。
図であシ、ここでは被検体３を平板として示している。
又、探傷装置は、超音波センｆ１、及びこの超音波セン
サ１を一方向に走査するスキャナ１０と、そのコントロ
ーラ１１と、各センサ位置にシｈで検出した欠陥反射信
号の位相を検出し、ホログラムを作るホログラム作成装
置１２とによシ構成される。この他に、ホログラムを再
生し欠陥像を得るホログラム再生装置（図示せず）が必
要である。水ログラム作成裂置１２は、ｗｃ１図の破線
で囲んだ範囲のように、周波数ｆｏのバースト信号を発
生する送信回路２３と超音波センサＩで検出した信号を
増幅する回路２０とリファレンス信号と欠陥信号の位相
差を検出する位相検出回路２１ヂとこの位相を各センサ
位置毎に記録するホログラム記録装置２２２よシなる。
サ１を一方向に走査するスキャナ１０と、そのコントロ
ーラ１１と、各センサ位置にシｈで検出した欠陥反射信
号の位相を検出し、ホログラムを作るホログラム作成装
置１２とによシ構成される。この他に、ホログラムを再
生し欠陥像を得るホログラム再生装置（図示せず）が必
要である。水ログラム作成裂置１２は、ｗｃ１図の破線
で囲んだ範囲のように、周波数ｆｏのバースト信号を発
生する送信回路２３と超音波センサＩで検出した信号を
増幅する回路２０とリファレンス信号と欠陥信号の位相
差を検出する位相検出回路２１ヂとこの位相を各センサ
位置毎に記録するホログラム記録装置２２２よシなる。
この際、位相噴出回路２１としては、リファレンス１号
として、９０゜位相の異なる２種類の正弦波信号を用い
、各々のリファレンスに対する欠陥信号の位相差を求め
る回路が考えられる。又、ホログラム記録装置２２ｆと
しては、人／Ｄ （交流、直流）交換器を持った計算機
が考えられる。
として、９０゜位相の異なる２種類の正弦波信号を用い
、各々のリファレンスに対する欠陥信号の位相差を求め
る回路が考えられる。又、ホログラム記録装置２２ｆと
しては、人／Ｄ （交流、直流）交換器を持った計算機
が考えられる。
９２図（、）乃至（ｆ）は上記実施例に於ける各部の信
号波形を示し、第３図は同実施例に於ける再生された欠
陥像を示している。尚、図中、３０は被検体位置３１は
溶接線、３２は走査方向をそれぞれ示している。
号波形を示し、第３図は同実施例に於ける再生された欠
陥像を示している。尚、図中、３０は被検体位置３１は
溶接線、３２は走査方向をそれぞれ示している。
又、第４図に示すように、配管４０が被検体となってい
る場合、この時、スキャナ１０としては配管外面を円周
方向に走査する。この際の配管表面の展開状態ｔ−ｇｓ
図に示している。又、一方、超音波セン？１として電磁
超音波トランスデ、−サ（以下ＥＭＡＴという）を用い
る場合もある。尚、第４図及びｗｃｓ図に焚いて、４ノ
は溶接線、４２は超音波伝播信号、４３ｔｉ七ンサ走棄
方向、４４はセンサスキャナラインをそれぞれ示す。
る場合、この時、スキャナ１０としては配管外面を円周
方向に走査する。この際の配管表面の展開状態ｔ−ｇｓ
図に示している。又、一方、超音波セン？１として電磁
超音波トランスデ、−サ（以下ＥＭＡＴという）を用い
る場合もある。尚、第４図及びｗｃｓ図に焚いて、４ノ
は溶接線、４２は超音波伝播信号、４３ｔｉ七ンサ走棄
方向、４４はセンサスキャナラインをそれぞれ示す。
ここで、上記実施例の作用を説明する。９２図のホログ
ラムを作るメカニズムは、通常の超音波ホログラフィに
おけるものと同じである。
ラムを作るメカニズムは、通常の超音波ホログラフィに
おけるものと同じである。
これを以下に示す。
送信回路３ノによシ第２図（、）の送信信号で超音波が
発生し、表面を伝播し、その表面上にみられる欠陥４に
ついては、第２図（ｄ）のように欠陥信号が検出される
。この信号は第２図（ｂ） 、 （ｃ）に示すリファレ
ンス信号１及び２よシ、位相検出回路２１によつて、位
相が第２図（・） 、 （ｆ）のように検出される。こ
のような処理は下式で表わされる。
発生し、表面を伝播し、その表面上にみられる欠陥４に
ついては、第２図（ｄ）のように欠陥信号が検出される
。この信号は第２図（ｂ） 、 （ｃ）に示すリファレ
ンス信号１及び２よシ、位相検出回路２１によつて、位
相が第２図（・） 、 （ｆ）のように検出される。こ
のような処理は下式で表わされる。
５＝Ｆ（１ｔｈ（ωｔ＋φＰ）
Ｒ１＝ＲＯ血（ωｔ）
Ｒ１＝ Ｒ（１ａｘ （ωｔ）
ここで、Ｓは欠陥反射信号、Ｒｌ ｔ Ｒ２はリファ
レンス乍号、φ、は超音波伝播における発信時との位相
ずれであシ、その位相信号ｐｉ、ｐ。
レンス乍号、φ、は超音波伝播における発信時との位相
ずれであシ、その位相信号ｐｉ、ｐ。
は下式のうち第２項として求められる。
Ｐｌ １Ｐ、を記録したものが１次元のホログラムでち
る。これか、ら１．欠陥像を再生する手屓は、通常の再
生方法と同様でる）、このようＫして第３図に示す欠陥
像が再生される。又、超音波センサ１を周方向に走査し
、各位置においてホログラムを作成する。このホログラ
ムよυ同様の方法で欠陥像を再生すると、第５図のよう
に配管表面を展開したものとして表わされる。又、一方
、電磁超音波トランス７′１−サを用いても、ｗｃｓ図
のような結果がでる。
る。これか、ら１．欠陥像を再生する手屓は、通常の再
生方法と同様でる）、このようＫして第３図に示す欠陥
像が再生される。又、超音波センサ１を周方向に走査し
、各位置においてホログラムを作成する。このホログラ
ムよυ同様の方法で欠陥像を再生すると、第５図のよう
に配管表面を展開したものとして表わされる。又、一方
、電磁超音波トランス７′１−サを用いても、ｗｃｓ図
のような結果がでる。
上述したような超音波探傷手段によって被検体の欠陥検
出を行なうことによシ、以下のような種々の効果がある
。
出を行なうことによシ、以下のような種々の効果がある
。
１〕、欠陥長さの定量ｎ１度が高い。
２）、欠陥を映像化できるので、客観的かつ見逃しなく
検査できる。
検査できる。
３）６通常の超音波ホログラフィは２次元で走置して信
号をとシ、そのデータよ）欠陥像を再生するが、本発明
では表面を伝播し、伝播経路上の欠陥は全て検出される
ため、−次元走査でより、従って、探傷時間が短く、デ
ータ量も少なく記録媒体が少なくてすむ。
号をとシ、そのデータよ）欠陥像を再生するが、本発明
では表面を伝播し、伝播経路上の欠陥は全て検出される
ため、−次元走査でより、従って、探傷時間が短く、デ
ータ量も少なく記録媒体が少なくてすむ。
４）、センサーを溶接部から離して探傷できるので、溶
接のために生じる形状変化の影響による倣い性低下を除
去できる。
接のために生じる形状変化の影響による倣い性低下を除
去できる。
５）、センサーを円周方向に１回転すればよく検査時間
を短くできる。
を短くできる。
６）、 ＥＭＡＴは非接触で超音波を伝播させることが
できるので、被検面にオイル等、接触媒質を塗付する必
要がなく、検査スピードが速くなる。
できるので、被検面にオイル等、接触媒質を塗付する必
要がなく、検査スピードが速くなる。
７）、接触媒質が不要のため、残留する接触媒質で超音
波が吸収されたシ、反射された）することなく正確な探
傷ができる。
波が吸収されたシ、反射された）することなく正確な探
傷ができる。
以上詳記したように本発明によれば、物体表面を伝播す
る表面波を用いて、被検体の表面及び表面直下の欠陥を
検出することにより、上記被検体の欠陥寸法を定量的に
しかも簡単かつ客観的に検出することのできる表面波ホ
ログラフィ方法が提供できる。
る表面波を用いて、被検体の表面及び表面直下の欠陥を
検出することにより、上記被検体の欠陥寸法を定量的に
しかも簡単かつ客観的に検出することのできる表面波ホ
ログラフィ方法が提供できる。
第１図乃至第５図はそれぞれ本発明の一実施例を説明す
るためのもので、第１図は装置溝底を示すブロック図、
Ｋ２図は各部の信号状態を示す図、Ｋ３図は欠陥再生像
を示す図、第４図は配管を被検体とした際の取付構造を
示す図、３５図は上記第４図の配管欠陥像を展開した図
である。第６図、及び第７図は従来の二次元走査による
超音波ホログラフイ方法を説明するための側面及び平面
の説明図である。 １・・・超音波センサ、３・・・被検体、４・・・欠陥
、１０・・・スキャｆ、１１・・・スキャナコントロー
ラ、１２・・・ホログラフィ作成装置。 出願人復代理人 弁理士 鈴 江 武 彦タ四 ヘー
るためのもので、第１図は装置溝底を示すブロック図、
Ｋ２図は各部の信号状態を示す図、Ｋ３図は欠陥再生像
を示す図、第４図は配管を被検体とした際の取付構造を
示す図、３５図は上記第４図の配管欠陥像を展開した図
である。第６図、及び第７図は従来の二次元走査による
超音波ホログラフイ方法を説明するための側面及び平面
の説明図である。 １・・・超音波センサ、３・・・被検体、４・・・欠陥
、１０・・・スキャｆ、１１・・・スキャナコントロー
ラ、１２・・・ホログラフィ作成装置。 出願人復代理人 弁理士 鈴 江 武 彦タ四 ヘー
Claims (1)
- 超音波センサを被検体上にて一次元走査し、その各走査
位置に於いて、表面波を用い、上記被検体表面及び表面
直下の欠陥検出信号を得、該検出信号により欠陥像ホロ
グラムを作成することを特徴とした表面波ホログラフィ
方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20275584A JPS6179162A (ja) | 1984-09-27 | 1984-09-27 | 表面波ホログラフイ方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20275584A JPS6179162A (ja) | 1984-09-27 | 1984-09-27 | 表面波ホログラフイ方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6179162A true JPS6179162A (ja) | 1986-04-22 |
Family
ID=16462627
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20275584A Pending JPS6179162A (ja) | 1984-09-27 | 1984-09-27 | 表面波ホログラフイ方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6179162A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6238360A (ja) * | 1985-08-12 | 1987-02-19 | ザ・バブコツク・アンド・ウイルコツクス・カンパニ− | 超音波試験装置 |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5293388A (en) * | 1976-02-02 | 1977-08-05 | Nippon Steel Corp | Detection of flaw size in surface wave ultrasonic flaw probing |
| JPS5368293A (en) * | 1976-11-30 | 1978-06-17 | Nippon Steel Corp | Electromagnetic ultrasonic inspecting method |
| JPS53122440A (en) * | 1977-03-31 | 1978-10-25 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | Scanning type ultrasonic holography apparatus for flaw detection of curved faces |
| JPS56168549A (en) * | 1980-05-30 | 1981-12-24 | Hitachi Ltd | Automatic ultrasonic flaw detector |
-
1984
- 1984-09-27 JP JP20275584A patent/JPS6179162A/ja active Pending
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5293388A (en) * | 1976-02-02 | 1977-08-05 | Nippon Steel Corp | Detection of flaw size in surface wave ultrasonic flaw probing |
| JPS5368293A (en) * | 1976-11-30 | 1978-06-17 | Nippon Steel Corp | Electromagnetic ultrasonic inspecting method |
| JPS53122440A (en) * | 1977-03-31 | 1978-10-25 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | Scanning type ultrasonic holography apparatus for flaw detection of curved faces |
| JPS56168549A (en) * | 1980-05-30 | 1981-12-24 | Hitachi Ltd | Automatic ultrasonic flaw detector |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6238360A (ja) * | 1985-08-12 | 1987-02-19 | ザ・バブコツク・アンド・ウイルコツクス・カンパニ− | 超音波試験装置 |
| JPH0426709B2 (ja) * | 1985-08-12 | 1992-05-08 | Babcock & Wilcox Co |
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