JPS6271034A - 光学的記録再生装置 - Google Patents
光学的記録再生装置Info
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- JPS6271034A JPS6271034A JP21078685A JP21078685A JPS6271034A JP S6271034 A JPS6271034 A JP S6271034A JP 21078685 A JP21078685 A JP 21078685A JP 21078685 A JP21078685 A JP 21078685A JP S6271034 A JPS6271034 A JP S6271034A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、ビデオディスク等のようにディスク上に記録
された情報を光学的に読み取る光学的再生装置、あるい
はディスクに情報を光学的に記録再生しようとする装置
であって、特にディスクよりの反射光を利用し、各種サ
ーボをかけるためのサーボ信号および再生信号を得るた
めの光学系に特徴を有する光学的記録再生装置に関する
ものである。
された情報を光学的に読み取る光学的再生装置、あるい
はディスクに情報を光学的に記録再生しようとする装置
であって、特にディスクよりの反射光を利用し、各種サ
ーボをかけるためのサーボ信号および再生信号を得るた
めの光学系に特徴を有する光学的記録再生装置に関する
ものである。
従来の技術
一般に：ビデオディスクや光学的記録再生装置において
は、情報を高密度に記録、再生するために、ディスク上
のトラックは、例えばその幅が０．６μｍ、そのピッチ
が、６μｍと微細なスパイク）ｖあるいは同心円の形状
となっている。前記ディスクにはφ１μｍ以下に絞シ込
まれた微小スポット光が照射され、その反射光からディ
スク上の情報が読み出されている。
は、情報を高密度に記録、再生するために、ディスク上
のトラックは、例えばその幅が０．６μｍ、そのピッチ
が、６μｍと微細なスパイク）ｖあるいは同心円の形状
となっている。前記ディスクにはφ１μｍ以下に絞シ込
まれた微小スポット光が照射され、その反射光からディ
スク上の情報が読み出されている。
かかる装置においては、少くとも２つのす・−ボ技術が
必要である。１つはディスクの回転に伴い回転方間と圭
直な方向・（てディスクが面ブレをおこすが、前記面ブ
レに対し前８Ｃφ１μｍ以下に絞られた微小スポット光
が常にディスクとに照射できるように光学系を追従させ
るサーボで、このサーボはフォーカスサーボと呼ばれて
いる。他方はディスクの回転に伴い前記トラツノが偏心
等によりテ゛イスクの半径方向に移動するが、これに対
し猟に前記微小スポット光が前記トラック上を照射する
ように光学系を追従させるサーボで、このサーボはトラ
ッキングサーボと呼ばれている。
必要である。１つはディスクの回転に伴い回転方間と圭
直な方向・（てディスクが面ブレをおこすが、前記面ブ
レに対し前８Ｃφ１μｍ以下に絞られた微小スポット光
が常にディスクとに照射できるように光学系を追従させ
るサーボで、このサーボはフォーカスサーボと呼ばれて
いる。他方はディスクの回転に伴い前記トラツノが偏心
等によりテ゛イスクの半径方向に移動するが、これに対
し猟に前記微小スポット光が前記トラック上を照射する
ように光学系を追従させるサーボで、このサーボはトラ
ッキングサーボと呼ばれている。
前記フォーカスおよびトラッキングサーボを行うための
サーボ信号（誤差信号）はディスクの反射光よシ得てお
シ、具体的な光学系としては例えば第６図、第６図に示
すような光学系が提案されている。
サーボ信号（誤差信号）はディスクの反射光よシ得てお
シ、具体的な光学系としては例えば第６図、第６図に示
すような光学系が提案されている。
第５図（ＩＬ）はその光学系の正面図、第５図（ｂ）は
同側面図を示す。第Ｓ図において、デメスク７よりの反
射光は凸レンズ８により結像される。前記結像する光路
中にフォーカスプレート１２を傾けて置くと、前記フォ
ーカスプレートの上面１２＆より得られる第１の反射光
と、下面１２ｂよシ得られる第２の反射光は分離して各
々光検出器１３に導かれる。ここで前記フォーカスプレ
ートは側光ば１枚のガラス板からなり、上面１２＆の光
反射率をＴｔａ Ｉ光透過率をＴｌＬまた下面１２ｂの
光反射率をＲｂとした時、以下の第（１）式に示す様な
関係になるように各光反射率、光透過率は選べば前記第
１の反射光の強さと、前記第２の反射光の強さは等しく
なる。
同側面図を示す。第Ｓ図において、デメスク７よりの反
射光は凸レンズ８により結像される。前記結像する光路
中にフォーカスプレート１２を傾けて置くと、前記フォ
ーカスプレートの上面１２＆より得られる第１の反射光
と、下面１２ｂよシ得られる第２の反射光は分離して各
々光検出器１３に導かれる。ここで前記フォーカスプレ
ートは側光ば１枚のガラス板からなり、上面１２＆の光
反射率をＴｔａ Ｉ光透過率をＴｌＬまた下面１２ｂの
光反射率をＲｂとした時、以下の第（１）式に示す様な
関係になるように各光反射率、光透過率は選べば前記第
１の反射光の強さと、前記第２の反射光の強さは等しく
なる。
Ｒ＆ ＝τａ Ｘ Ｒｂ ・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・（１）前記第、第２の反射
光の結像位置は、第６図に示すように、前記フォーカス
プレートで牛、する光路差の分だけＰｌ、Ｐ２とＸ方向
にズした位置となる。前記固結像位置Ｐ１とＰ２のほぼ
中央の位置に光入射方向から見れば６分割され、、を検
出面１３＆〜１３ｆを有する光検出器１３が置がれてお
り、分割された光検出器１３の検出面１３８゜１３ｂよ
シ幅が広く、かつお互いの直径がほぼ等しい光スボッ）
１４．１６が光検出器１３に照射されている。６分割さ
れた光検出器１３の検出面１３ａ−ｉ３ｆの出力電流を
Ｉａ〜Ｉｆとすると、フォーカス誤差信号ＦＴ！−は第
（２）式よシ、ＦＫ＝ （Ｉｂ＋Ｉｄ＋Ｉｆ） −（Ｉ
ａ＋Ｉｃ＋Ｉｅ） ＝１２）あるいは ＦＥ ＝ Ｉｂ −Ｚｅ となる。
・・・・・・・・・・・・・（１）前記第、第２の反射
光の結像位置は、第６図に示すように、前記フォーカス
プレートで牛、する光路差の分だけＰｌ、Ｐ２とＸ方向
にズした位置となる。前記固結像位置Ｐ１とＰ２のほぼ
中央の位置に光入射方向から見れば６分割され、、を検
出面１３＆〜１３ｆを有する光検出器１３が置がれてお
り、分割された光検出器１３の検出面１３８゜１３ｂよ
シ幅が広く、かつお互いの直径がほぼ等しい光スボッ）
１４．１６が光検出器１３に照射されている。６分割さ
れた光検出器１３の検出面１３ａ−ｉ３ｆの出力電流を
Ｉａ〜Ｉｆとすると、フォーカス誤差信号ＦＴ！−は第
（２）式よシ、ＦＫ＝ （Ｉｂ＋Ｉｄ＋Ｉｆ） −（Ｉ
ａ＋Ｉｃ＋Ｉｅ） ＝１２）あるいは ＦＥ ＝ Ｉｂ −Ｚｅ となる。
前記誤差信号が得られる原理について以下に述べる。
第６図はフォーカス誤差信号を得る方法につい工のみ説
明するために第６図を簡略化し、た図であり、第６図と
同様の構成要素については同一の信号を付している。第
６図において、第６図（＆）は絞りレンズ６とディスク
７面が所望の距離より近づきすきた場合、第６図（ｂ）
は丁度所望の距離、才なわちテ゛イスク面上に丁度入射
光がフォーカスされた場合（以下これをフォーカス位置
にあると呼ぶ）、第６図（Ｇ）は前記所望の距離より長
くなった場合をそれぞれ示している。
明するために第６図を簡略化し、た図であり、第６図と
同様の構成要素については同一の信号を付している。第
６図において、第６図（＆）は絞りレンズ６とディスク
７面が所望の距離より近づきすきた場合、第６図（ｂ）
は丁度所望の距離、才なわちテ゛イスク面上に丁度入射
光がフォーカスされた場合（以下これをフォーカス位置
にあると呼ぶ）、第６図（Ｇ）は前記所望の距離より長
くなった場合をそれぞれ示している。
まず、第６図ｅ）に示したように、絞りレンズ６とディ
スク７とが前記所望の距離より近づきすぎると、凸レン
ズ８により絞られる反射光の結像位置Ｐ、Ｐ２は光検出
器１３よシ遠くなる。従ってこの場合、光検出器上の前
記第１の反射光の光スポット１４の直径より前記第２の
反射光の光スポット１６の直径が小さくなり、光検出器
１３の検出面１３＆ 、 １３０ 、１３６に受光され
る光量より光検出器１３の検出面１３ｂ、１３ｄ、１３
ｆに受光される光量の方が多くなる。逆に第６図（Ｃ）
に示すように絞りレンズ６とディスク７と力ご前記所望
の距離より遠ざかると、前記光スポット１４の直径より
前記光スポット１６の直径の方が大きくなり、検出面１
ｓｂ 、 １３ｄ 、 １３ｆに受光される光量より
検出面１３＆ 、 １３０ 、１３ｅｌに受光される光
量の方が多くなる。
スク７とが前記所望の距離より近づきすぎると、凸レン
ズ８により絞られる反射光の結像位置Ｐ、Ｐ２は光検出
器１３よシ遠くなる。従ってこの場合、光検出器上の前
記第１の反射光の光スポット１４の直径より前記第２の
反射光の光スポット１６の直径が小さくなり、光検出器
１３の検出面１３＆ 、 １３０ 、１３６に受光され
る光量より光検出器１３の検出面１３ｂ、１３ｄ、１３
ｆに受光される光量の方が多くなる。逆に第６図（Ｃ）
に示すように絞りレンズ６とディスク７と力ご前記所望
の距離より遠ざかると、前記光スポット１４の直径より
前記光スポット１６の直径の方が大きくなり、検出面１
ｓｂ 、 １３ｄ 、 １３ｆに受光される光量より
検出面１３＆ 、 １３０ 、１３ｅｌに受光される光
量の方が多くなる。
また第６図（ｂ）に示すようにフォーカス位置にある場
合、前記両光スポット１４と１６の径がほぼ等しくなり
、検出面１３ｂ 、 １３ｄ 、 １３ｆに受光される
光量と、検出面１３．！Ｌ、１２Ｃ，１３６に受光され
る光量とは等し７くなる。従って第（２）式に示す各光
検出器の出力電流の差をとればフォーカス誤差信号ＦＥ
が得られ、 工ａ÷Ｉｃ＋Ｉｅ ＝ Ｉｂ−１−Ｉａ＋Ｉｆとなるよ
うにサーボをかければフォーカスサーボが実現できる。
合、前記両光スポット１４と１６の径がほぼ等しくなり
、検出面１３ｂ 、 １３ｄ 、 １３ｆに受光される
光量と、検出面１３．！Ｌ、１２Ｃ，１３６に受光され
る光量とは等し７くなる。従って第（２）式に示す各光
検出器の出力電流の差をとればフォーカス誤差信号ＦＥ
が得られ、 工ａ÷Ｉｃ＋Ｉｅ ＝ Ｉｂ−１−Ｉａ＋Ｉｆとなるよ
うにサーボをかければフォーカスサーボが実現できる。
第６図の構成において、例えばｍＫ変動、ンヨソク等の
環境条件の変化により、 （１）光検出器１３がＹ、Ｚ方向に変位する。
環境条件の変化により、 （１）光検出器１３がＹ、Ｚ方向に変位する。
（２）凸レンズ８へ入射する平行光が一点鎖線にて示す
様に角度θだけずれる。
様に角度θだけずれる。
（３）光源１（第６図）がＹ、Ｚ方向に変位する。
等の光学部品の変位、光軸移動が生じると、前記両光ス
ポラ）１４．１６はＹ、Ｚ方向に、多動するが、両光ス
ポット間の距離ｌが前記変位よシ十分大きければ、第（
２）式に示す ＦＨ：＝＝（Ｉｂ十Ｉｄ＋Ｉｆ） （Ｉａ＋Ｉｃ：Ｉ
ｓ）にはお互いキャンセルされて何等の影響はでない。
ポラ）１４．１６はＹ、Ｚ方向に、多動するが、両光ス
ポット間の距離ｌが前記変位よシ十分大きければ、第（
２）式に示す ＦＨ：＝＝（Ｉｂ十Ｉｄ＋Ｉｆ） （Ｉａ＋Ｉｃ：Ｉ
ｓ）にはお互いキャンセルされて何等の影響はでない。
前記キャンセルの１例を両光スポラ）１４．１６がＺ方
向にずれた場合で説明する。例えば両光スポットが＋Ｚ
方向にズレると各検出面１３＆、１３ｄに受光される光
量は増え、検出面１３ｂ、１３６および１３Ｇ、１３ｒ
に受光される光量は減る。
向にずれた場合で説明する。例えば両光スポットが＋Ｚ
方向にズレると各検出面１３＆、１３ｄに受光される光
量は増え、検出面１３ｂ、１３６および１３Ｇ、１３ｒ
に受光される光量は減る。
両光スポットの形状は全く同じなので
ＦＫ＝（（Ｉｂ−α）−ｉ−（Ｉ ｄ＋β）−１−（Ｉ
ｆ−γ））（（Ｉｅ−α）＋（Ｉａ＋β）＋（Ｉｃ−γ
月＝ （Ｉｂ＋Ｉｄ＋Ｉｆ）−（Ｉａ＋Ｉａ＋Ｉｃ）と
なシＦＥ変動（フォーカス位置の変化）は生じない。
ｆ−γ））（（Ｉｅ−α）＋（Ｉａ＋β）＋（Ｉｃ−γ
月＝ （Ｉｂ＋Ｉｄ＋Ｉｆ）−（Ｉａ＋Ｉａ＋Ｉｃ）と
なシＦＥ変動（フォーカス位置の変化）は生じない。
ＦＩＣ＝より−Ｉｅ ０時も同じ原理となる。
また各光検出器の出力信号Ｉａ〜Ｉｆに含まれるノイズ
信号Ｎ＆〜Ｉｆにおいて、光軸中心に近い光を受は出力
するＮｂ 、 Ｎｅと、光軸中心よシ離れた光を受は出
力するＮａ 、 ＮｄおよびＮｃ 、 Ｎｆとは前述の
様に周波数特性は異なる。しかし両光スポラ）１４．１
５は強度的に２分しただけで形状は全く等しいため、Ｎ
ａ＝Ｎｄ 、 Ｎｂ＝Ｎｅ 、 Ｎｃ＝Ｎｆとなシ、フ
ォーカス誤差信号ＦＫにはノイズがお互いにキャンセル
され前記ＦＥ倍信号Ｓ ／’ Ｎは非常に良くなる。
信号Ｎ＆〜Ｉｆにおいて、光軸中心に近い光を受は出力
するＮｂ 、 Ｎｅと、光軸中心よシ離れた光を受は出
力するＮａ 、 ＮｄおよびＮｃ 、 Ｎｆとは前述の
様に周波数特性は異なる。しかし両光スポラ）１４．１
５は強度的に２分しただけで形状は全く等しいため、Ｎ
ａ＝Ｎｄ 、 Ｎｂ＝Ｎｅ 、 Ｎｃ＝Ｎｆとなシ、フ
ォーカス誤差信号ＦＫにはノイズがお互いにキャンセル
され前記ＦＥ倍信号Ｓ ／’ Ｎは非常に良くなる。
発明が解決しようとする問題点
しかし２ながら上記した構成では以下に示す問題点を有
していた。即ち、第６図、第６図に示したようにフォー
カス誤差信号は ＦＥ ＝ （Ｉｂ＋Ｉｄ＋Ｉｆ）−（Ｉａ＋Ｉｃ＋Ｉｅ
）あるいは ＦＫ＝（より−Ｉｅ） となる。しかし上面１２ｉＬ、下面１２ｂの光反射率Ｒ
，、ｒ（ｂのバラツキ、あるいはディスクよりの反射光
を結像する凸レンズ８の焦点距離ｆのバラツキ等により
光検出器上で２つのビームスポットを同径に、また同光
量になるような調整が必要とされた。しかしムから上記
のような構成では光検出器上に２つのビームを理想位晋
にもってくる調整が複雑で大変な労力を要していた。
していた。即ち、第６図、第６図に示したようにフォー
カス誤差信号は ＦＥ ＝ （Ｉｂ＋Ｉｄ＋Ｉｆ）−（Ｉａ＋Ｉｃ＋Ｉｅ
）あるいは ＦＫ＝（より−Ｉｅ） となる。しかし上面１２ｉＬ、下面１２ｂの光反射率Ｒ
，、ｒ（ｂのバラツキ、あるいはディスクよりの反射光
を結像する凸レンズ８の焦点距離ｆのバラツキ等により
光検出器上で２つのビームスポットを同径に、また同光
量になるような調整が必要とされた。しかしムから上記
のような構成では光検出器上に２つのビームを理想位晋
にもってくる調整が複雑で大変な労力を要していた。
本発明は上記問題点に９み、調整を簡易化できる光学的
記録再生装置を提供するものである。
記録再生装置を提供するものである。
問題点を解決するための手段
この目的を達成するために本発明の光学的記録再生装置
は、光学系から出た光を記録媒体上に微小に絞り込み、
記録再生または再生のみするように構成されるとともに
、前記記録媒体よりの反射光を結像するまでの光路中に
置かれた光強度な略２分し、かつ同一光路、同一平面上
にない位置に分離して結像させる第１の反射面と第２の
反射面を持つフォーカスプレートと、前記分離された両
反射光の光路に沿って前記固結像位置のほぼ中間に置か
れた光検出器とを備え、前記光検出器が前記両反射光を
別々に受光するように少なくとも２つ以上に分割されて
おシ、かつその幅が受光する光スポラ）の径より小さく
した記録再生装置において、光学的調整を簡便化するた
めに光検出器の２つの光スポット径のバラツキかつフォ
ーカスプレートの２つの反射光量のバラツキを回路ゲイ
ンの調整により、電気的に等化し、２つのビームスポッ
ト径で形成される２つのビームスポット光量を同じにな
るように構成されている。
は、光学系から出た光を記録媒体上に微小に絞り込み、
記録再生または再生のみするように構成されるとともに
、前記記録媒体よりの反射光を結像するまでの光路中に
置かれた光強度な略２分し、かつ同一光路、同一平面上
にない位置に分離して結像させる第１の反射面と第２の
反射面を持つフォーカスプレートと、前記分離された両
反射光の光路に沿って前記固結像位置のほぼ中間に置か
れた光検出器とを備え、前記光検出器が前記両反射光を
別々に受光するように少なくとも２つ以上に分割されて
おシ、かつその幅が受光する光スポラ）の径より小さく
した記録再生装置において、光学的調整を簡便化するた
めに光検出器の２つの光スポット径のバラツキかつフォ
ーカスプレートの２つの反射光量のバラツキを回路ゲイ
ンの調整により、電気的に等化し、２つのビームスポッ
ト径で形成される２つのビームスポット光量を同じにな
るように構成されている。
作用
本発明は上記した構成により、記録媒体からの反射光を
結像するための構造上のバラツキを電気的に補正し、光
検出器上のビームスポットによる光量のバラツキを等し
くする機構を必要とせず、容易に調整時間を短縮するこ
とができる。
結像するための構造上のバラツキを電気的に補正し、光
検出器上のビームスポットによる光量のバラツキを等し
くする機構を必要とせず、容易に調整時間を短縮するこ
とができる。
実施例
以下本発明の一実施例について図面を参照しながら説明
する。
する。
第１図は本発明の一実施例における光学的記録再生装置
の要部回路図を、第２図（＆） 、 （ｂ）は同光学系
の要部正面及び要部側面図を、第３図は同要部概略側面
図、第４図は光検出器の検出面の上面図を示すものであ
る。尚、各図において、第６図。
の要部回路図を、第２図（＆） 、 （ｂ）は同光学系
の要部正面及び要部側面図を、第３図は同要部概略側面
図、第４図は光検出器の検出面の上面図を示すものであ
る。尚、各図において、第６図。
第６図と同一部には同番号を付し説明を省略する。
第１図において、Ａ１は抵抗Ｒ目、回路ボリュームＲ２
，増幅器３１から成る増幅回路、ム２は抵抗Ｒ１２、回
路ボリュームＲ５、増幅器３２から成る増幅回路、ム３
は抵抗Ｒ４１＊ Ｒ４２＋ Ｒ５１゜Ｒ５２，増幅器３
３からなり、フォーカス誤差信号を検出する差動回路で
、回路ボリュームＲ２，Ｒ５は電流Ｉｂ 、 Ｉｅのビ
ーム光量を同じにすることができる。
，増幅器３１から成る増幅回路、ム２は抵抗Ｒ１２、回
路ボリュームＲ５、増幅器３２から成る増幅回路、ム３
は抵抗Ｒ４１＊ Ｒ４２＋ Ｒ５１゜Ｒ５２，増幅器３
３からなり、フォーカス誤差信号を検出する差動回路で
、回路ボリュームＲ２，Ｒ５は電流Ｉｂ 、 Ｉｅのビ
ーム光量を同じにすることができる。
以上のように構成された回路では、後述する光検出器か
らの２つのビーム光量は電１／１ＩｂｃもしくはＩｂ＋
Ｉｄ＋Ｉｆ ）と、Ｉｅ（あるいはＩａ −）−Ｉｃ＋
Ｉｅ） に変換され、それぞれ増幅回路ム、ム２で増
幅され、差動回路ム３でフォーカス誤差信号ＦＫを検出
する。
らの２つのビーム光量は電１／１ＩｂｃもしくはＩｂ＋
Ｉｄ＋Ｉｆ ）と、Ｉｅ（あるいはＩａ −）−Ｉｃ＋
Ｉｅ） に変換され、それぞれ増幅回路ム、ム２で増
幅され、差動回路ム３でフォーカス誤差信号ＦＫを検出
する。
次に、本実施例の光学系について説明する。
第２図（ＩＬ）は本実施例の光学系の概略正面図、第２
図（ｂ）は同側面図を示すものである。尚、第２図（＆
） 、 （ｂ）は互いに重複する部分は一部省いている
。
図（ｂ）は同側面図を示すものである。尚、第２図（＆
） 、 （ｂ）は互いに重複する部分は一部省いている
。
第２図において、半導体レーザ１゛を出た光はコリメー
トレノズ２、ビーム整形用プリズム１６を介して偏光ビ
ームスプリッタ１７に入射される。
トレノズ２、ビーム整形用プリズム１６を介して偏光ビ
ームスプリッタ１７に入射される。
偏光ビームスプリッタ１７に入射されたレーザ光は反射
され、λ／４板、対物レン、ズ６＆を介しディスク７に
照射される。ディスク７からの反射光は同経路を通り全
反射プリズム４で全反射され、単画レンズ８を介してフ
ォーカスプレート１８に入射される。フォーカスグレー
ト１８に入射された光のうち一部は、まず反射面１８＆
で反射するとともに残りの光を透過し、透過した光は次
の反射面８ｂで反射し、共に光検出器１３でビームスポ
ットを形成する。尚、フォーカスプレート１８０は光路
長を調整するために光の進行方向に対して突出している
。
され、λ／４板、対物レン、ズ６＆を介しディスク７に
照射される。ディスク７からの反射光は同経路を通り全
反射プリズム４で全反射され、単画レンズ８を介してフ
ォーカスプレート１８に入射される。フォーカスグレー
ト１８に入射された光のうち一部は、まず反射面１８＆
で反射するとともに残りの光を透過し、透過した光は次
の反射面８ｂで反射し、共に光検出器１３でビームスポ
ットを形成する。尚、フォーカスプレート１８０は光路
長を調整するために光の進行方向に対して突出している
。
以上のように構成された本実施例の動作を以下に説明す
る。
る。
まず光検出時１３が無調整時には、ビームスポットは第
４図（２Ｌ）に示す検出面上にあるが、このときビーム
スポット径は第３図に示すごとく両ビームで異なってい
る。そこでＹ方向に光検出器１３を動かし、更に第４図
（ｂ）に示すようにθ回転を行うことにより、各ビーム
スポットの中心が光検出器１３の検出面１３ｂ 、 １
３６の中心にくるように調整する。
４図（２Ｌ）に示す検出面上にあるが、このときビーム
スポット径は第３図に示すごとく両ビームで異なってい
る。そこでＹ方向に光検出器１３を動かし、更に第４図
（ｂ）に示すようにθ回転を行うことにより、各ビーム
スポットの中心が光検出器１３の検出面１３ｂ 、 １
３６の中心にくるように調整する。
次に、電流（Ｉｂ＋Ｉｄ＋Ｉｆ）と（Ｉｓ＋Ｉａ−）Ｉ
ｃ ）あるいは、電流ＩｅとＩｂの電流値が等しくな
るように、回路ボリュームＲ２＋ Ｒ５を調整し、電気
的に電流ｘｂ、 １６を等しくし、擬似的に光量を等し
くすることがで、きる。
ｃ ）あるいは、電流ＩｅとＩｂの電流値が等しくな
るように、回路ボリュームＲ２＋ Ｒ５を調整し、電気
的に電流ｘｂ、 １６を等しくし、擬似的に光量を等し
くすることがで、きる。
これによシ、’ＦＮ＝Ｉｂ−Ｘｓ ＠るいはＦＫ＝（Ｉ
ｂ−１−Ｉｄ＋Ｉｆ）−（Ｉａ＋Ｉｃ−ＩＩｅ）で反射
面１８１Ｌ 、 １ ａｂの反射率Ｒ＆、 Ｒｂあるい
はディスク７よりの反射光を結像する単画レンズ８の焦
点距離ｆのバラツキを電気的に補正することができ、２
つのビームスポットを光検出器上に照射した場合に、Ｉ
ｂ 、 Ｉｅ・の光量が等しくなるような機構を省くこ
とができる。その結果、光学的記録再生装置の光学系構
成が簡易化され、調整時間が飛躍的に向上させることが
できる。
ｂ−１−Ｉｄ＋Ｉｆ）−（Ｉａ＋Ｉｃ−ＩＩｅ）で反射
面１８１Ｌ 、 １ ａｂの反射率Ｒ＆、 Ｒｂあるい
はディスク７よりの反射光を結像する単画レンズ８の焦
点距離ｆのバラツキを電気的に補正することができ、２
つのビームスポットを光検出器上に照射した場合に、Ｉ
ｂ 、 Ｉｅ・の光量が等しくなるような機構を省くこ
とができる。その結果、光学的記録再生装置の光学系構
成が簡易化され、調整時間が飛躍的に向上させることが
できる。
以上のように本実施例によれば、検出器を２方向に調整
するだけで光検出器調整を高精度に完成させることがで
き、かつ量産性に富んだ光学的記録再生装置の光学系を
造ることができる。
するだけで光検出器調整を高精度に完成させることがで
き、かつ量産性に富んだ光学的記録再生装置の光学系を
造ることができる。
発明の効果
以上のように本発明は、フォーカス誤差信号をつくる２
つの信号を等しくなるような回路構成にすることで、光
学的記録再生装置の光学系調整を簡便化することができ
、その実用的効果は大なるものがある。
つの信号を等しくなるような回路構成にすることで、光
学的記録再生装置の光学系調整を簡便化することができ
、その実用的効果は大なるものがある。
第１図は本発明の一実施例における光学的記録再生装置
の光検出器調整を行う回路の回路図、第２図（＆）は同
装置の要部正面図、第２図ｒ、ｂ）は同側面図、第３図
は同概略側面図、第４図（＆） 、 （ｂ）は同検出面
の正面図、第６図ｅ）は従来例の正面図、第６図・′ｂ
）、上回側面図、第６図（’） ＋ ｉｂ） ＋ ！’
）は概略側面図でちる。 ＡＩ、Ａ２・・・・・・増幅回路、Ａ３・・・・・・差
動回路、１・・・・・・半導体レーザ、２・・・・・・
コリメートレンズ、４・・−・・・全反射プリズム、６
・・・・・・λ／４板、６・・・・・・対物レンズ、７
・・・・・・テ゛イスク、８・・・・・・単画レンズ、
１２・・・・・・フォーカスプレート、１３・・・・・
・光検出器、１６・・・・・・ビーム整形用プリズム、
１７・・・・・・偏光ビームスプリッタ。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか１名Ａ＋
Ａｚ−−−増幅回路 第 ４ 図 第５図 Ｘ
の光検出器調整を行う回路の回路図、第２図（＆）は同
装置の要部正面図、第２図ｒ、ｂ）は同側面図、第３図
は同概略側面図、第４図（＆） 、 （ｂ）は同検出面
の正面図、第６図ｅ）は従来例の正面図、第６図・′ｂ
）、上回側面図、第６図（’） ＋ ｉｂ） ＋ ！’
）は概略側面図でちる。 ＡＩ、Ａ２・・・・・・増幅回路、Ａ３・・・・・・差
動回路、１・・・・・・半導体レーザ、２・・・・・・
コリメートレンズ、４・・−・・・全反射プリズム、６
・・・・・・λ／４板、６・・・・・・対物レンズ、７
・・・・・・テ゛イスク、８・・・・・・単画レンズ、
１２・・・・・・フォーカスプレート、１３・・・・・
・光検出器、１６・・・・・・ビーム整形用プリズム、
１７・・・・・・偏光ビームスプリッタ。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか１名Ａ＋
Ａｚ−−−増幅回路 第 ４ 図 第５図 Ｘ
Claims (1)
- 光学系から出た光を記録媒体上に微小に絞り込み、記
録再生または再生のみする装置であって、前記記録媒体
よりの反射光を結像するまでの光路中に置かれた光強度
を略２分し、かつ同一光路、同一平面上にない位置に分
離して結像させる第１の反射面と第２の反射面を持つフ
ォーカスプレートと、前記分離された両反射光の光路に
沿って前記両結像位置のほぼ中間に置かれた光検出器と
を備え、前記光検出器が前記両反射光を別々に受光する
ように少なくとも２つ以上に分割されており、かつその
幅が受光する光スポットの径より小さくした記録再生装
置において、光学的調整を簡便化するために光検出器の
２つの光スポット径のバラツキかつフォーカスプレート
の２つの反射光量のバラツキを回路ゲインの調整により
、電気的に等化し、２つのビームスポット径で形成され
る２つのビームスポット光量を同じになるように構成し
たことを特徴とする光学的記録再生装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21078685A JPS6271034A (ja) | 1985-09-24 | 1985-09-24 | 光学的記録再生装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21078685A JPS6271034A (ja) | 1985-09-24 | 1985-09-24 | 光学的記録再生装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6271034A true JPS6271034A (ja) | 1987-04-01 |
Family
ID=16595106
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21078685A Pending JPS6271034A (ja) | 1985-09-24 | 1985-09-24 | 光学的記録再生装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6271034A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01256029A (ja) * | 1988-04-06 | 1989-10-12 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 自動焦点調整装置 |
| JP2008020290A (ja) * | 2006-07-12 | 2008-01-31 | Fuji Xerox Co Ltd | ビーム径測定装置および焦点調整装置 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57158042A (en) * | 1981-03-23 | 1982-09-29 | Nec Corp | Optical track deviation detecting mechanism |
| JPS5977637A (ja) * | 1982-10-26 | 1984-05-04 | Sony Corp | 光学読取装置 |
| JPS6043234A (ja) * | 1983-08-18 | 1985-03-07 | Mitsubishi Electric Corp | 光デイスクヘツドのフオ−カスずれ検出装置 |
-
1985
- 1985-09-24 JP JP21078685A patent/JPS6271034A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57158042A (en) * | 1981-03-23 | 1982-09-29 | Nec Corp | Optical track deviation detecting mechanism |
| JPS5977637A (ja) * | 1982-10-26 | 1984-05-04 | Sony Corp | 光学読取装置 |
| JPS6043234A (ja) * | 1983-08-18 | 1985-03-07 | Mitsubishi Electric Corp | 光デイスクヘツドのフオ−カスずれ検出装置 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01256029A (ja) * | 1988-04-06 | 1989-10-12 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 自動焦点調整装置 |
| JP2008020290A (ja) * | 2006-07-12 | 2008-01-31 | Fuji Xerox Co Ltd | ビーム径測定装置および焦点調整装置 |
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