JPS637949Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 本考案は回転するデイスク上の同心円若しくは
螺旋状のトラツクに、光源からの光を微小なスポ
ツトとして照射してピツトの連続として情報を記
録し、同様に記録された情報を読取る光学的情報
記録、再生装置の光学ヘツドに関するものであ
る。

近年、デイスク状の記録媒体（以下、媒体と略
記する）の上に同心円若しくは螺旋状に微小なピ
ツトの連続として記録された情報を、光学的に再
生する技術が進み、ビデオ・デイスク、オーデイ
オ・デイスク等として実用化されてきている。ま
た、同様の技術を応用し、単に再生のみならず、
記録も行ない、フアイル・メモリ等に利用する光
デイスク・メモリ装置の開発も進んでいる。これ
らの装置では記録、再生に用いるレーザ光の収束
ビーム径、記録ピツトの大きさを１〜2μm以下と
非常に小さくして高密度な情報の記録、再生を可
能としている。そのため光学ヘツドには常に光の
スポツトを媒体のトラツク上にずれなく位置させ
るためのサーボ機構が不可欠であり、非常に重要
である。このサーボ機構は媒体のトラツクと直交
する方向（トラツキング）と媒体に直交、つまり
光軸に平行な方向（フオーカシング）の２方向必
要であり、それぞれサーボ信号を得るために種々
の方式が考えられている。そのうちトラツキング
については、λ／８の位相深さを持つ連続したト
ラツキング用溝を予め媒体上に形成したプリ・グ
ルーブド・デイスク方式のメモリ装置や、ピツト
自体の位相深さがλ／８からλ／４の間に設定さ
れた再生専用のデイスク装置等では、媒体からの
反射光のフアーフイールド領域にトラツクと垂直
な方向に２分割されたデイテクタを設置し、ピツ
ト若しくは溝のエツジでの回折光分布を検知する
フアー・フイールド法が、簡便さ、精度の点で優
れており広く用いられている。一方、フオーカシ
ングでは代表的な方式として非点収差法がある。
これらは媒体からの反射光の光路中にレンズと同
筒レンズを連続して挿入して反射光に非点収差を
与え、２つの焦点の間に４分割デイテクタを置い
てフオーカスずれによるデイテクタ上でのパター
ンの変化を検出するものである。非点収差法は充
分実用的なものであり、既にビデオ・デイスク・
プレーヤの実用機等種々の装置に応用されてい
る。しかしながら、非点収差法によるフオーカシ
ング・サーボ信号検出方式をフアー・フイールド
法によるトラツキング・サーボ信号検出方式と組
み合わせて用いることには種々の問題があつた。
第１図を用いてその問題点につき説明する。第１
図は従来フアー・フイールド法によるトラツキン
グ信号検出と非点収差法によるフオーカシング信
号検出を組合わせて用いる際の光学ヘツドの光学
系の配置を示すものである。半導体レーザ１から
の直線偏波した放射レーザ光２はコリメータ３に
より平行光化され偏光ビーム・スプリツタ４、
λ／４波長板５を通り円偏光となり対物レンズ６
によりデイスク状媒体７へ照射される。媒体７に
より反射され再び対物レンズ６、λ／４波長板５
を通り入射時と直交した直線偏光となつたレーザ
光は、偏光ビーム・スプリツタ４により反射光８
として取り出される。この反射光８はトラツキン
グ・サーボ信号、フオーカシング・サーボ信号を
検出するための２つのデイテクタに導く必要があ
るため、ビーム・スプリツタ９により分割され、
その一部８ａはそのままトラツクと垂直な方向に
２分割された２分割デイテクタ１０に入射し、そ
の差動出力によりトラツキング・サーボ信号が得
られる。一方反射光８のうちの残りの一部８ｂは
収束レンズ１１と連続して設置された円筒レンズ
１２により非点収差を与えられる。ここで例えば
円筒レンズ１２の収束方向と45゜傾いた分割線を
有する扇形の４分割デイテクタを、円筒レンズ１
２の収束方向及びそれに直交する方向のビームの
収束点の中間に挿入すればその差動出力よりフオ
ーカス・サーボ信号が得られる。このような光学
系の構成では一旦ビーム・スプリツタ９により反
射光８を分割し更に収束レンズ１１、円筒レンズ
１２の焦点距離の分だけのスペースを必要とする
ため小型化が困難であり、更には光路をビーム・
スプリツタ９により曲げることから光軸合わせも
２方向で行なう必要があることから調整も難しい
という欠点があつた。本考案の目的は、上記のよ
うな欠点を除去し小型化が可能で調整も容易な光
学ヘツドを提供することにある。

本考案は偏光ビーム・スプリツタにより取り出
されるデイスク状媒体からの反射光の光路中に
λ／４波長板、収束レンズ、円筒レンズ及び光軸
と垂直な反射面を有する半透鏡を設置し、半透鏡
を透過するビームを受光するように媒体のトラツ
クに垂直な方向に２分割されたトラツキング・サ
ーボ信号検出用２分割デイテクタを設置し、前記
半透鏡により反射され再び光路を逆方向に進み、
前記偏光ビーム・スプリツタを透過した地点に生
ずる前記円筒レンズの収束方向及びそれに直交す
る方向でのビーム収束点の中間に、前記円筒レン
ズの収束方向と45゜傾いた分割線を有するフオー
カシング・サーボ信号検出用４分割デイテクタを
設置したことを特徴とするものである。以下本考
案につき実施例により詳細に説明する。

第２図は本考案による光学ヘツドの一実施例を
示す図である。半導体レーザ１からの直線偏光の
放射レーザ光２はコリメータ３により平行光化さ
れ偏光ビーム・スプリツタ４、λ／４波長板５を
通り円偏光化して対物レンズ６にデイスク状媒体
７に入射する。媒体７により反射されたレーザ光
は再び対物レンズ６、λ／４波長板５を通り入射
時と直交する直線偏光となり反射光８として偏光
ビーム・スプリツタ４により取り出される。この
反射光８の光路中にλ／４波長板２０、収束レン
ズ１１、円筒レンズ１２、半透鏡２１を設置す
る。反射光８のうち半透鏡２１を透過した光はそ
の前方に設置された媒体７のトラツクに垂直な方
向に分割された２分割デイテクタ１０に入射す
る。一方半透鏡２１により反射された光は再び円
筒レンズ１２、収束レンズ１１、λ／４波長板２
０、を通り偏光方向が入射時と直交するため、偏
光ビーム・スプリツタ４を通過する。ここで収束
レンズ１１の収束点が偏光ビーム・スプリツタ４
の外側になるようにしておき円筒レンズ１２の収
束方向及びそれに直交する方向での収束点の中間
に円筒レンズ１２の収束方向と45゜傾いた分割線
を有する扇形４分割デイテクタを設置する。この
構成によれば４分割デイテクタ１３の差動出力よ
りフオーカシング・サーボ信号が得られ、一方２
分割デイテクタ１０は反射光８のフアーフイール
ド領域にあることになるため、その差動出力より
トラツキング・サーボ信号が得られる。この構成
では同一光路を反射により２度使い、更に偏光ビ
ーム・スプリツタ４の大きさも光路中に利用して
いるため非常に小型化が可能である。更に、サー
ボ信号を得るための各部品が一つの光軸上になら
ぶため調整も容易で収束レンズの焦点距離を選べ
ば各部品を次々に光学的に接着する構成も可能で
ある。なお、偏光ビーム・スプリツタ４、λ／４
波長板２０には多少傾いた光が入射することにな
り多少の消光比の劣化が起きるが消光しなかつた
光はデイスク側へ反射され、しかも平行光ではな
いのでデイスク状媒体７上には収束されず殆ど問
題にならない。またλ／４波長板収束レンズ、円
筒レンズの配列はこの実施例の順序に限られる訳
ではないことを断つておく。

以上、詳細に説明したように、本考案によれば
小型化が可能で、しかも調整の容易な光学ヘツド
が得られる。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来の光学ヘツドの構成を示す図、第
２図は本考案による光学ヘツドの構成を示す図で
ある。 図に於て、１は半導体レーザ、２，８，８ａ，
８ｂはレーザ光、３，６，１１はレンズ、１２は
円筒レンズ、４は偏光ビーム・スプリツタ、５，
２０はλ／４波長板、７は媒体、９はビーム・ス
プリツタ、１０，１３は分割デイテクタ、２１は
半透鏡である。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 半導体レーザからの直線偏光のレーザ光を、コ
   リメータ・レンズ、偏光ビーム・スプリツタ、
   λ／４波長板、対物レンズを介して記録媒体のト
   ラツク上に微小スポツトとして照射する照射系
   と、前記記録媒体から反射されて再び前記対物レ
   ンズλ／４波長板を通り、前記偏光ビーム・スプ
   リツタにより取り出される反射光の一部を２分割
   デイテクタで受光し、残りの反射光は非点収差光
   学系を経て４分割デイテクタで受光する受光系と
   を備えた光学ヘツドにおいて、前記偏光ビーム・
   スプリツタにより取り出される反射光の光路中に
   λ／４波長板収束レンズ、円筒レンズ及び光軸に
   垂直な反射面を有する半透鏡を設置し、前記半透
   鏡を透過するビームを受光するように媒体のトラ
   ツクに垂直な方向に２分割されたトラツキング・
   サーボ信号用２分割デイテクタを設置し、前記半
   透鏡により反射され再び光路を逆方向に進み、前
   記偏光ビーム・スプリツタを透過した地点に生ず
   る前記円筒レンズの収束方向及びそれに直交する
   方向でのビーム収束点の中間に、前記円筒レンズ
   の収束方向と45゜傾いた分割線を有するフオーカ
   シング・サーボ信号検出用４分割デイテクタを設
   置したことを特徴とする光学ヘツド。