JPS5977637A - 光学読取装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、光源から放射される光束をビームス７”　Ｉ
Ｊ　７タを経由させて光学的記録媒体の信号面にスポッ
ト状に収束させるとともｌこ、この光学的記録媒体の信
号面から反射される戻り光束を前記ビームスプリッタを
経由させて光検出体に入射させる光学読取装置に関し、
更に詳しくは光学読取装置のフォーカスエラー検出に関
するものである。

背景技術とその問題点 従来、この種の光学読取装置での戻り光束の径変化にも
とづくフォーカスエラー検出は、次のように行なわれて
いる。

第１図に示される如く、光源となる半導体レーザ（Ｌ　
Ｄ　）からの放射光束は、コリメータレンズ（１）、偏
光ビームスプリッタ（２）、％波長板（３）および対物
レンズ（４）を順次経由して、光学的記録媒体の一例で
あるディスク（Ｄ）の信号面にスポット状ｌこ収束され
て微細スポットとして結ばわる。ぞして。

ディスクＣＤ）の信号面から反射される戻り光束は、対
物レンズ（４Ｊ、％波長板（３ｊ１偏光ビームスプリツ
タ（２１および凸レンズからなる補助レンズ（５）を７
１ｍ１次経由して、その才ま複合光検出体（ＰＤ）に入
射される。

この複合光検出体（ＰＤ）は、−個の光検出器を構成さ
せる一つの容器（例えばＴＯ−１８等のカン）（図示せ
ず）内に設けられて、第２図に示される如く同一平面上
にて同心円状に配される戻り光束の中心部を受光する内
側の直径ａなる円形状光検出体（ＰＤａ）と、戻り光束
の周辺部を受光する外側の環形状光検出体（ＰＤｂ）と
の複合から構成されている。才た、ディスク（Ｄ）が合
焦位置状態にある場合においては、円形状および環形状
光検出体（ＰＤａ）（ＰＤｂ）に受光される光量が等し
くなるように調整等されている。なお、第２図における
斜線は、複合光検出体（ＰＤ）に投影される戻り光束を
示している。

しかして、ディスクＣＤ）の合焦位置状態からのずれに
よるフォーカスずれにもとづく戻り光束の径変化を、複
合光検出体（ＰＤ）に投影される戻り光束のスポットサ
イズの変化としてとらえて、そして複合光検出体（ＰＤ
）を構成する円形状および環形状光検出体（ＰＤａ）（
ＰＤｂ）にて受光される光量差にもとづく出力の差によ
ってフォーカスエラー信号を得ることでフォーカスエラ
ー検出を行なっている。

しかしながら、このものは、 ■、投影される戻り光束のスポットサイズの変化として
フォーカスずれをとらえるために、同心円状に配される
円形状および環形状光検出体（円）ａ）（ＰＤｂ　）の
その同心円状の中心に光軸が通るように、光軸に直交す
る第１図および第２図に示さ才するＸ−Ｙ軸方向におい
て複合光検出体（ＰＬ））、つまり複合光検出体（ＰＤ
）を容器内に設ける光検出器の位置合わせの調整を行な
う必要がある。また、ディスク（Ｄ）の合焦位置状態に
て円形状および現形状光検出体（ＰＤａ）（Ｒ１）ｂ）
の受光Ｔる−）Ｙ；　量が等しくなるように、第１図に
示さ第１る光軸方向になるＺ軸方向に、同様に光検出器
筐たは補助レンズ（５）、もしくは両者の位置合わせの
調Ｉｊ’Ｅ−行なう必要がある。

そして、フォーカスエラー検出の検出感度Ｓは、５ｏ＝
ＮＡ　　ｘ　− ＮＡ；対物レンズ（４）の開口数 ｌ；補助レンズ（５）と複合光検出体（ＰＤ）との間の
距離 という関係にある。

これにより、高感度な検出感度Ｓを得るため（ζ円形状
元検出体（ＰＤａ　）　　の直径ａを小さくする、すな
わち投影さｔ−ｒる戻り光束のスポットサイズの直径ω
０を小さくしようとするならば、更に位置合わせの調整
が微妙になることとなる。従って容器内に設けられる複
合光検出体（ＰＤ）の十ツブ位置が、容器に対する相対
位置関係においてコントロールが難しくて正確でないこ
とも相俟って、位置合わぜのｉｑａ　閂が極めて困難に
なるという欠点を有している。

■、更に、円形状光検出体（ＰＤａ）　　の直径ａを５
０μｍ以下にすると電極のパターンニングの関係により
悪影響がでることから、円形状光検出体（ＰＤａ）の直
径ａを小さくしてフォーカスエラー検出の高感度な検出
感度Ｓを得ようとすることには限度がある。従って、補
助レンズ（５）と複合光検出体（ＰＤ）との間の距離ｌ
を短かくＴる省スペース下においては、高感度な検出感
度Ｓを得ることが困難であるという欠点をも有している
。

発明の目的 本発明は、このような点に鑑みて発明されたものであっ
て、 （ａ）、光検出体の位置合わせの調整の無調整化が可能
であり、組立ての際の調整が容易であるとともに、 （ｂ）、円形状の光検出体（ＰＤａ）の直径ａを小さく
するのと等価であって、省スペース下において容易にフ
ォーカスエラー検出での高感度な検出感度の実現が図れ
る光学読取装置Ｆｖを提供するものである。

発明の概要 本発明の光学読取装置は、冒頭に記したものにおいて、
前記ビームスプリッタからの前記戻り光束の光路中に、
その戻り光束の少なくとも中心部の一部と周辺部の一部
きを異なる方向に分ｎさせる光学素子を設けるとともに
、この光学素子により分離された前記戻り光束夫々に対
応させて前記光検出体を配し、こわら光検出体夫々の出
力の差によりフォーカスエラー信号を得るように構成す
ることを特徴とするものである。

従って、戻り光束の少なくとも中心部の一部と周辺部の
一部とを異なる方向に光学素子によって分離させること
から、戻り光束の中心部あるいは周辺部に対応する光検
出体のいずれをも投影される戻り光束のスポットザイズ
に比べて十分に大きく構成Ｔることができる。このため
に、光検出体の位置合わせの調整、つ丈り光検出体を容
器内に設ける光検出器の位置合わせの調整の無調整化が
可能になり、組立ての際の調整が極めて容易になる。

実施例 次に、本発明の光学読取装置の実施例につき図面を参照
しつつ説明する。

〔第１笑施例〕（＠６図乃至第６図１）例えば光源とし
ての半導体レーザ（ＬＤ）から放射される光束は、コリ
メータレンズ０υにより平行光束に直され、ビームスプ
リッタの一例である偏光軸の異なる光束を分離し、そし
て往路と復路において光束の方向を変えて半導体レーザ
（Ｌｌ））に戻り光束を戻さない偏光ビームスプリッタ
ｏ３に入射される。

この偏光ビームスプリッタ（１２１を通過した光束は、
偏光軸を４５度回転させる％波長板（＋３１を経由して
対物レンズ（１４１により光学的記録媒体の一例である
ディスク（Ｄ）の信号面に微細スポットを結ぶようにス
ポット状に収束される。

ディスク（Ｄ）の信号面で反射され、その信号面に形成
されるビット列により変調された戻り光束は、対物レン
ズαａにより拾われて平行光束に直される。この平行光
束に直された戻り光束は、光路を逆にたどって再び％波
長板（１りを経由して偏光ビームスプリッタａｚに入射
される。このとき光束は、へ波長板ａ３を往復でもって
２回通過しているために、偏光軸はもとの半導体レーザ
（ＬＤ）からの光束に比べて９０度回転されている。従
って、戻り光束は、半導体レーザ（ＬＤ）側に戻らずに
反射され、凸レンズからなる補助レンズ０！１９に入射
される。

そして、この偏光ビームスプリッタα２からの補助レン
ズ（１５１を通過した戻り光束の光路中には、光軸に対
して４５度傾けて配される空間分割ハーフミラ−ａｅが
設けられている。この空間分割ハーフ・　　ミラーａｅ
はガラス製からなり、第４図に示される如（高い反射率
を有する直径すの中央部（１６ａ）と、素通しの無反射
コートされ反射率が殆んど零になる周囲部（１６ｂ）と
から構成されている。

従って、補助レンズｔｔＳを通過した戻り光束の中心部
は、空間分割ハーフミラ−（Ｉｌ’ｊの中央部（１６ａ
）により反射され、戻り光束の中心部に対応して配され
る第１の光検出体（ＰＤｌ）に入射される。また、戻り
光束の周辺部は、空間分割ハーフミラ−ａｅの周囲部（
１６ｂ）を通過して、戻り光束の周辺部に対応して配さ
れる第２の光検出体（ＰＤ２）に入射される。丁なわち
、戻り光束の中心部と周辺部とは空間分割ハーフミラ−
（１６）により異なる方向に分離される。そして、この
空間分割ハーフミラ−ａｅが本発明における光学素子を
構成している。なお、第４図における斜線部分は、空間
分割ノ１−フミラー＋１１５１に投影される戻り光束を
示している。

丈た。第１および第２の光検出体（ＰＤ　１　）　（Ｐ
Ｉ）２）夫々は、−個の光検出器を構成させる一つの容
器（図示せず）白人々に設けられている。

さて、補助レンズａ９を通過Ｔる光強度Ｉはほぼ均一で
あるために、第１の光検出体（１’ＤＩ）に受光される
光量ＱＬ１は、 才た第２の光検出体（ＰＤ２）に受光さＩ］る光量ＱＬ
２は、 ω１；空間分割ハーフミラー（Ｉｆｉｌに投影される戻
り光束のスポット径に おける短径 ＩＬ；中央部（１６ａ）の反射率 Ｔ；周囲部（１６ｂ）の透過率 になる。

そして、ディスク（Ｄ）の合焦位置状態において、ＱＬ
Ｉ　　＝ＱＬ２ すなわち、 ｂ２ＩＩ几＝（Ｖ７ωＦ　　５２戸Ｔ の関係を満足するスポット径の短径ω１および中央部（
１６ａ）の直径すにするならば、第１および第２の光検
出体（ＰＤｌ）（ＰＨ１）夫々の出力の差はディスク（
Ｄ）の合焦位置状態では零になる。

土 これにより、その前後においてから−、−から十になる
フォーカスエラー信号が得られ、エラー曲線は従来と同
様になる。

以上のことから、第１および第２の光検出体（ＰＤｌ）
（ＰＨ１）夫々の大きさを、分離された戻り光束により
投影されるスポットサイズに比べて十分に木“き訟して
おけば、第１および第２の光検出体（ＰＤｌ）（ＰＨ１
）つ才り光検出器の位置合わせの調整は全く必要がなく
なる。従って、位置合わせとしては、空間分割ハーフミ
ラ−（１６）のＸ％Ｙ。

Ｚ軸方向、もしくはｑ間分割ハーフミラ−（Ｉｆｉｌの
Ｘ−Ｙ軸方向と補助レンズ（１１５１のＺ軸方向とにな
る。

しかるに、これらの空間分割ハーフミラ−（１Ｇ）およ
び補助レンズ（１勺の位置合わせのためのＰ調機構ば、
リード０笠を有して大きく力）つ抱雑な形状Ｉこなる光
検出器の位置合わせのための微調機構に比べて極めて簡
単で楽である。史にｎｉＪ記の如く光検出体（１’Ｄ１
）（ＰＩ）２）を位置合わせのために動かさないこ々か
ら、戻り光束のスポットが第１および第２の光検出体（
ＰＬ）１）（ＰＨ２）からはずＩ７るこ♂もなくなって
、調整のアルゴリズノ・が非常＋こ簡単になる。

才た、光検出器の容器内における第１および第２の光検
出体（ＰＤｌ）（ＰＨ１）の千ツフ位置のコントロール
が難しいために、光検出器の位ｆ４合わせの調整を全て
機械精度による部品製作時での機械寸法のみで行なうこ
とは不可能であるが、空間分割ハーフミラ−（１６１の
中央部（１６２）の位置に関しては精度良く製作される
ために、空間分割１１−フミラ−０６）のｘ　−ｙ　＃
１５向の位置合わせの調整をなくすことは容易である。

更に、空間分割ノ１−フミラー吠あるいは補助レンズａ
９のＺ軸方向の位置合わせの調整も高感度な検出感度Ｓ
を望才ないならば同様に機械寸法のみで行なうことがで
きる。従って、位置合わせの調整の完全無調整化も可能
である。

更に才り、空間分割／’％−フミラー（■６）の中央部
（１６ａ）の直径すを２０〜４０μｍ　程度にすること
は極めて容易であり、そしてフォーカスエラー検え合わ
せると、直径すを小さくすることは作用において直径ａ
を小さくするのと同等で等価であるこきから、補助レン
ズ（１■と第１および第２の光検出体（ＰＤｌ）（ＰＨ
１）との間の距離を短かくする省スペース下においても
検出感度Ｓを高感度にすることが容易になる。

次に、空間分割ハーフミラ−（１６）の変形例を説明す
るが、プライム符号の付くものは本実施例のプライム符
号の付かないものに対応している。

空間分割ハーフミラ−０６）の中央部（１６ａ）を円形
に形成するかわりに、第５図に示さ１１る如く楕円形の
中央部（１６ａ）’に形成するのもよい。この場合に、
前記（１１式に相当する式は、 になり、全体のフォーカスエラー検出窓Ｈｓは、になる
。

また、空間分割ハーフミラ−（Ｅ（７１４５度の？、１
’ｔきが難しいならば、第６図に示される如く無反射コ
ーチングを施した２個の三角プリズム（１６Ａ）　（１
６Ｂ）を用いて、一方の三角プリズム（１６Ａ）（１（
ＩｓＢ）　の斜面側の中央部（１６ａ′ｊ′に金属スポ
ットを蒸着して、他方の三角プリズム（１６Ｂ）（１６
Ａ）　ｆインデックスマツチングをとって貼り付ける空
間分割ハーフミラ−＜１６１“でもよい。

更に丈た、高い反射率の中央部（１６ａ）のかわりに、
反射率が殆んど零の累通しまたは透孔の中央部（１６ａ
）’に形成して、高い反射率を周囲部（１６ｂ）’に有
させてもよい。この場合には、第゛１および第２の光検
出体（ＰＤＩ）（ＰＤ２）に受光される光量は入れ替わ
る。

次に、別実施例を順次に図面にもとづいて説明するが、
第１実施例に用いられた符号と同一符号は同一内容を示
しており、また第１実施例と重複する説明は省略する。

〔第２実施例〕（第７図および第９図）凸レンズからな
る補助レンズ（１５１を通過した戻り光束の光路中には
、複合プリズムα力が設けら右ている。

この複合プリズムａ′ｌ）は、三角プリズム（１７Ａ）
と対角の一組が４５度になる平行四辺プリズム（１７Ｂ
）との貼り付けにより構成されているときもに、貼り付
は面には第８図に示される如く反射率が殆んど零の素通
しの直径すの中央部（１７１）と、高い反射率を有Ｔる
周囲部（１７ｂ）　（！：が形成さ１１ている。

また、平行四辺プリズム＜　１７Ｂ）の前記貼り付は面
に相対する面は、全反射面に形成さ右でいる。

従って、補助レンズ（＋５１を通過し、接合）ｌ）　、
７ｊ。

ａηにおける平行四辺プリズム（１７■りの４５度対角
を形成する三角ブリズｌ、（１７Ａ）との貼り角りｉ■
１（！：は異なる側の面から入射される戻り光束の中心
部は、中央部（１７ａ）を通過して戻り光束の中心部１
こ対応して配される第１の光検出体（１’１）１）に入
射される。また、戻り光束の周辺部は、周囲部（１７り
により反射さ１１、更に反射を繰返しで、第１の光検出
体（ＰＤｌ）と同一平面上にあり、戻り光束の周辺部に
対応して配さ右る第２の光検出体（１月）力に入射され
る。こオ′ｌら第１および第２の光検出体（ＰＤＩ）（
ＰＤ２）は、同一平面上ｌこあるために一個の光検出器
を構成させる一つの容器内に同一チップとして設けるこ
とができる。

また、本実施例においてトラッキングエラー検出は、い
わゆるフーツシュブル法を用いることができる。すなわ
ち、第９図に示される如く第１および第２の光検出体（
ＰＤＩ）（ＰＤ２）に、投影されよりトラッキングエラ
ー信号を得ることができる。

なお、本実施例の場合、第１および第２の光検出体ＣＰ
ＤＩ）（ＰＤ２月こ形成されるトラッキングエラー検出
のための分割線の精度が問題になるが、第１および第２
の光検出体（ＰＤｌ）（ＰＤ２）に投影ｇｈる戻り光束
のスポットサイズの直径を１　ｍｍ程度に丁れば、±１
００μｍ程度で十分である。この程度は、機械精度によ
り部品の製作時の機械寸法で行なうことができるから、
第１および第２の光検出体（ＰＤ’１　）　（ＰＩ）２
　）つ韮り光検出器の位置合わせの調整はトラッキング
エラー検出を含めても同様に行なう必要がない。

〔第６実施例〕（第１０図および第１１図〕第１実施例
における空間分割ハーフミラ−Ｑ６］のかわりに平面波
ホログラムを用いるものであって、凸レンズからなる補
助レンズα５）を通過した戻り光束の光路中には、平面
波ホログラム（１８）が設けらオフている。

この平面波ホログラムＯａは、第１１図に示さオフる如
く互いに角度θをなすとともに一方が垂直に入射する２
つの平面波を干渉させて記録したホＩコグラムであって
、その中央部には直径すの円形の透孔（１８ａ）が形成
されている。

従って、この平面波ホログラム（１旧こ垂直に入射され
る戻り光束の中心部は、透孔（１８ａ）＋通過して、戻
り光束の周辺部の一部の平面波ホロクラＪ・０樽により
回折されなかった光束とともに、戻り光束の中心部に対
応して配さ１１る第１の光検出体（ＰＤｌ）に入射され
る。また、戻り光束の周辺部の一部は、平面波ホログラ
ム（１８１によりθ方向に回折されて、第１の光検出体
（ＰＤｉ）と同一平面上にあり、戻り光束の周辺部に対
応して配される第２の光検出体（ＰＤ２）に入射される
。

さて、第１および第２の光検出体（ＰＤＩ）（円）２）
に受光される夫々の光量ＱＬ１．ＱＬ２の差をと才１ば
、ＱＬｌ−ＱＬ２＝Ｉ・（（１−η）（づ−ｂ２）π＋
ｂ２π−η（づ−ｂ２）π）■；補助レンズ（１９を通
過する光強度ω２；平面波ホログラム０引こ投影さｆる
戻り光束のスポットの直径 η；平面波ホログラムａｌＯの回折効率になる。

ここに、ディスク（Ｄ）の合焦位置状態において、の関
係を満足するスポットの直径ω２および透孔（１８ａ）
の直径すに設定するならば、ディスク（Ｄ）の合焦位置
状態では光景の差は零になって、第１及び第２の光検出
体（ＰＤｌ）（ＰＤ２）の出力の差が零になるフォーカ
スエラー信号が得られる。

本実施例での検出感度Ｓは、 できなくなる。

なお、第１および第２の光検出体（ＰＩ）１）（ＰＤ２
）が同一平面上にあるために、第２実施例と同様に一つ
の容器内に同一チップとして設けることができる。

前記第２および第３実施例においては、複合プリズムａ
ηおよび平面波ホログラム（１籾が、本発明における光
学素子を構成している。

〔第４実施例〕（第１２図および第１６図〕凸レンズか
らなる補助レンズ（国ヲ通過した戻り光束の光路中には
、第１６図に示される如く中央部に直径すの円形の透孔
（１９ａ）が形成される透孔付き％波長板■、更にサー
ボ用偏光ビームスプリッタ（２Ｇが設けられている。

従って、この透孔付き％波長板（１！Ｊに垂＠ｌこ入射
される戻り光束の中心部は、透孔（１９ａ）　％通過し
て偏光軸を変化されることなくサーボ用偏光ビームスプ
リッタ（至）にＳ偏光入射し、そして反射されて戻り光
束の中心部に対応して配さｔする第１の光検出体（ＰＤ
ｌ）ｌこ入射さ右、る。才た、戻り光束の周辺部の透孔
（１９ａ）以外の透孔付き％波長板（１９を通過した光
束は、偏光軸が９０度回転されてサーボ用偏光ビームス
プリッタｔ２ＧにＰ偏光入射し、反射されることなく戻
り光束の周辺部に対応して配される第２の光検出体（Ｐ
Ｄ２）に入射きれる。

いま、ディスク（Ｄ）の合焦位置状態において透孔付き
％波長板ａ９の透孔（１９ａ）を通過する光量と、透孔
（１９ａ）以外を通過する光量とが等しくなるω２＝四
す の関係を満足する透孔付き％波長板ａＣＪに投影される
戻り光束のスポットの直径ω２および透孔（１９ａ）の
直径すに設定するならば、第１および第２の光検出体（
ＰＤｌ）（ＰＤ２）夫々に受光される光量は、ディスク
（Ｄ）の合焦位置状態では等しくなる。従って、第１お
よび第２の光検出体（ＰＤｌ）（ＰＤ２）夫々の出力の
差より、ディスクＣＤ）の合焦位置状態で零になるフォ
ーカスエラー信号が得られる。

本実施例では、％波長板翰に透孔（１９ａ）を形成した
が、ガラス板上の中央部に直径すの円形の％波長板を貼
り付けてもよい。

〔第５実施例〕（第１４図および第１５図）本実施例は
、第４実施例のサーボ用偏光ヒートスプリッタ（イ）の
かわりに更に直角プリズムを一体化させて、第２実施例
の複合プリズム０７）と同様の形状であって全反射面ヲ
肩する変形力−ボ用偏光ビームスプリッタＣＤを用いる
ものである。こイ１により、第２実施例と同様に、第１
および第２の光検出体（ＰＤＩ、）（ＰＩＪ２）が同一
平面上となる１こめに、−個の光検出器を構成させる一
つの容器内に同一チップとして設けることかできる。ま
た、同様に第１および第２の光検出体（ＰＤｉ）（ＰＩ
）２）に投影さ１１るトラッキング方向Ｃに刻して平行
に分割線を形成することにより、トラツキンクエラー検
出にいわゆるプッシュプル法を用いることができる。

更に、複合偏光プリズムＧ１１を第１４図において光軸
に対して９０度回転させることにより、前記分割線が形
成される第１および第２の光検出体（ＰＤＩ）（ＰＤ２
）を第１５図に示される如く配列させることもできる。

なお、他は第４実施例と同様である。

〔第６笑施例〕（第１６図および第１７図）本実施例は
、第４実施例において補助レンズ（１５１として凸レン
ズのかわりにシリトリカルレンズを用い、また円形の透
孔（１９ａ）が形成される透孔句き％波長板（Ｉｇ・の
がわりに第１７図に示される如くスリット状のギャップ
（２２ａ）が形成されるスリット句き％波長板（２２１
を用いるものである。なお、スリット付き％波長板（２
急は、スリット状のギャップ（２２ａ）の方向が補助レ
ンズ０５）であるシリトリカルレンズの軸線方向に沿う
ように配されている。

本実施例においては、スリット状のギャップ（２２ａ）
のスリット巾を十分に細くすれば、フォー五 カッ、エラーの検出の検出感度は十分に高感度になる。

また、スリット句き％波長’ｍｏ２１の位置合わせの調
整はＸ軸方向とＺ軸方向のみでよいことになる。

なお、他は第４実施例と同様である。

前記第４乃至第６実施例においては、透孔もしくはスリ
ット付きの阿波長板（ｌ！１ＩＱ２１とサーボ用偏光ビ
ームスプリッタ（２ｆ）ｌ　（２１＋とが、本発明にお
ける光学素子を構成している。

発明の効果 本発明は、次のような効果を有するものであム■、戻り
光束の少なくとも中心部の一部々周辺部の一部とを異な
る方向に光学素子によって分離させることから、従来例
と異なり戻り光束の中心部と周辺部とに夫々対応する光
検出体のいずわをも、投影される戻り光束のスポットサ
イズに比べて十分に大きく構成することができる。この
ために、光検出体の位置合わせ、つまり光検出体を容器
内に設ける光検出器の位置合わせか、機械精度ｌこよる
部品製作時での機械寸法のみで十分になり、全く光検出
体に関して位置合わせのための調整を行なう必要がなく
なって、無調整化が可能になる。

才た、光検出体を位置合わせのために動かさないことか
ら、投影される戻り光束のスポットが光検出体からはず
れることもなく常にスポットがあたることになる。従っ
て、調整のアルゴリズムが非常に簡単になることも相俟
って、組立ての際の調整が極めて容易になる。

なお、戻り光束の少な（とも中心部の一部と周辺部の一
部とを異なる方向に分離させる光学素子等の位置合わせ
の調整を行なう微調機構は、リード線を有して大きくか
つ複雑な形状になる光検出器を動かす微調機構ｌこ比べ
て極めて簡単になり、しかも調整も容易である。

■、光学素子においては、たとえ光学素子に投影される
光束のスポットサイズの径が少しぐらい小さくなっても
、その光束の中心部と周辺部とを分離させるようなこと
は容易である。従って、フォーカスエラー検出の検出感
度が従来例における円形状光検出体（ＰＤａ）の直径に
反比例して高感度になることを考え合わせると、光学素
子に投影さ１１る光学的記録媒体の合焦位置状態での戻
り光束のスポットサイズの径を小さクシて分離させるこ
とは作用において従来例において円形状光検出体（ＰＤ
、　）の直径ａを小さくするのと同等で等価になること
から、省スペース化においてフォーカスエラー検出での
高感度な検出感度の実現が図れる。

【図面の簡単な説明】

第１図および第２図夫々は従来例を説明するための光軸
に沿う凹面図および光検出体の正面図、第５図乃至第１
７図は本発明の光学読取装置の実施例を説明するための
図面であって、第３図乃至第６図夫々は第１実施例の光
軸に沿う断面図％９間分割ハーフミラ−の正面図、空間
分割ハーフミラ−の変形例の正面図および他の変形例の
斜視図、参笹許、第１０図および第１１図夫々は第３実
施例の光軸に沿う凹面図および千…ｊ波ボロクラムの断
面図、第１２図および第１３図夫々は第４実施例の光［
１％１１に沿う断面図および透孔付きシラ波長板の正面
図、第１４図および第１５図夫々は第５夾施例の光軸に
沿う断面図および光検出体の変形例の正面図、第１６図
および第１７図夫々（Ｊ第６実施例の光軸に沿う断面図
およびスリット付き長く波長板の正面図である。 なお、図面中に用いられている符号において、（１２１
・・・・・・・・・・・・・・・・・・偏光ビームスプ
リッタ（１６１・・・・・・・・・・・・・・・・・・
空間分割）１−フミラーＯｎ・・・・・・・・・・・・
・・・・・・複合プリズム（１８）・・・・・・・・・
・・・・・・・・・平面波ホロクラム（円・・・・・・
・・・・・・・・・・・・透孔付き％波長板ｔ２ｉｎ　
（２１）・・・・・・・・・・・・・・サーボ用偏光ヒ
ームスブリツタ（２２）・・・・・・・・・・・・・・
・・・・スリット付きｈ波長板（Ｌｌυ・・・・・・・
・・・・・牛導体レーザ（Ｄ）・・・・・・・・・・・
・・・・ディスク（ＰＤｌ）（ＰＤ２）・・・第１およ
び第２の光検出体である。 代理人　土星　勝 〃　　　　　　當　　包　　芳　　男 〃　　杉浦俊貝

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 光源から放射される光束をビームスプリッタを経由させ
   て光学的記録媒体の信号面にスポット状に収束させると
   ♂もに、この光学的記録媒体の信号面から反射される戻
   り光束を前記ビームスプリッタを経由させて光検出体に
   入射させる光学読取装置において、前記ビームスプリッ
   タからの前記戻り光束の光路中に、その戻り光束の少な
   くとも中心部の一部と周辺部の一部とを異なる方向に分
   離させる光学素子を設けるとともに、この光学素子によ
   り分離された前記戻り光束夫々Ｉこ対応させて前記光検
   出体を配し、これら光検出体夫々の出力の差によりフォ
   ーカスエラー信号を得るように構成することを特徴とす
   る光学読取装Ｒ８