JPH02276046A - 光ヘッド装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、光デイスク装置において情報の記録または再
生を行なう光ヘッド装置に関する。

従来の技術 光デイスク装置に用いられる光ヘッドは、光デイスク技
術の内でも複雑で、高価な光学部品が使用されており、
簡単な構成で低コストの方式が望まれている。

本発明は、かかる光ヘッドの構成を簡単にし、調整や工
数を少くして製造しやすい光ヘッド装置を提供するもの
である。

光ディスクに記録または再生を行なうためには、光ビー
ムを小さなスポットに絞ってディスクに照射する必要が
ある。光学系の開口率Ｎ、Ａ、とスポット径φとの間に
は、φ＝にλ／Ｎ、Ａ、（λは使用波長、には比例定数
）の関係があシ、スポット径を小さくするためには、で
きるだけ波長を短かくしかつ開口率を大きくする必要が
ある。また、比例定数には開口率内のビームの分布や収
差状態に依存し、ビームが一様な分布となる方が一般に
良好な特性が得られることが多い。

しかるに、通常光源として用いられる半導体レーザ等は
、わずかの非点収差とガウス分布に近い光量分布を有し
ておシ、光ディスクの記録・再生用に用いるためには、
これ等の補正を行なうことにより光ヘッドの特性を向上
させることができる。

半導体レーザそのものがＢＨ溝構造の非点収差を有さな
い等方発先の構造であれば、上述のビーム分布補正や、
非点収差の補正は不要である。ビーム分布の補正や、非
点収差の補正には、通常ウェッジプリズムやシリンドリ
カルレンズが用いられる。また、発散光もしくは、収束
光中に平行な薄板を挿入して補正する方法もある。

一方上述のように、光源より出射する光ビームを集光す
る集光光学系の開口をできるだけ一様にしかつ収差を少
なくする工夫もなされている。収差の発生原因には、プ
リズムや集光用のレンズの特性そのものもあるが、光学
系の配置により発生するスキュービームによる収差も大
きく影響するので、非点収差補正用のウェッジプリズム
のスキュー許容角度はおよそ±０．２°以下にする必要
がある。そのためには、プリズムそのものの精度を±０
．１°以下、プリズムと基台の接差を±０．１０６　ヘ
ー。

以下にする必要がある。

以上のような技術に基づいて、第６図を用いて光ヘッド
光学系を詳述する。

半導体レーザ１から出射した光ビームは、コリメートレ
ンジ３により略平行ビームになされる。高周波モジュー
ル２は半導体レーザ１の光ビームを６ＱＯ〜８００ＭＨ
ｚで変調する素子で、情報信号再生時のみ動作して再生
信号のＳ／Ｎ比を向上する。この高周波モジュール２は
金属製のケースに内蔵されてお択コのケースと半導体レ
ーザのケース及び光ヘッド筐体間の接地は特に重要であ
る。この接地が単なる金属の接触だけで行なわれている
場合には、長期間の湿度の影響等で接地が劣化し高周波
電波の漏洩が発生する原因となる。従って、高周波モジ
ュール２のケースは光ヘッド筐体とろう付は等で直接結
合接続するのが最も望ましい。

コリメートレンズ３を出射した光ビームは、ウェッジプ
リズム４及び第１の偏光プリズム６により一方向に拡大
される。拡大する方向は、通常半導体レーザの活性層と
同方向であり、Ｐ偏光となっている。拡大の割合は２．
２〜２．６倍程度が使用される。

第１の偏光プリズム５を通過した光ビームは、対物レン
ズ６によってディスク７上に集光される。

ディスク子上で反射された光ビームは、再ひもとの光路
を逆にたどシ、第１の偏光プリズム５で反射される。光
磁気信号の記録再生を行なう場合には、第１の偏光プリ
ズム５の透過方向ではＰ波が６０〜ｓｏ％、Ｓ波が１チ
以下の割合で透過し、反射放向ではＰ波が２０〜４０％
、Ｓ波が９８％以上の割合で反射するものが使用される
。さらに、第１の偏光プリズム５には後の光学系配置の
都合上の便利さを考慮してλ／２板８を使用することが
多い。

次に、検出レンズ９を通過した光ビームは平行平板１３
に入射する。

この平行平板１３を通過することにより光ビムに非点収
差が発生するので、公知の技術を用いて第１の光検出器
１４でフォーカス誤差信号が得られる。

一方、平行平板１３で反射された光ビームは比較的大き
なビーム径のまま第２の光検出器１５に入射され、ファ
ーフィールド法によりトラッキング誤差信号が得られる
。

従って、公知の方法によりトラッキング制御動作が可能
である。

平行平板１３を透過する光ビームをＰ偏波とし、反射す
る光ビームをＳ偏波とすることによって、両者の光検出
器１４．１５の出力信号の差から光磁気再生信号を得る
ことができる。

発明が解決しようとする課題 ところが、このような従来の方式の装置では、光磁気再
生信号を検出するためには、偏光プリズム５によりｐ偏
波とＳ偏波に分離する必要があシ、かつ、光学素子の構
成上、２つの光検出器１４゜１５が必要である。別の光
学素子を用いて１つの光検出器とすることも不可能では
ないが、光学系が複雑になるうえに、ビーム径設計の上
から最適な方法を見いだすには困難な場合が多い。

通常、ファーフィールド法によるトラッキング信号を得
ようとすると、光検出器１５の特性のドリフトや温度安
定性等を考慮すると、光検出器１５上でのビーム径を４
００〜５００μｍ以上１〜１．５咽以下にすることが望
ましい。ビーム径の大きさに上限があるのは、光検出器
１５の面積が大きくなるとその周波数特性が劣化するた
めである。

非点収差法に代表されるフォーカス誤差信号検出に用い
られるビーム径においても、光検出器１４上での大きさ
に制限が生じる。ビーム径が大きくなれば検出感度が低
下して、検出信号のＳ／Ｎ比が低下する。通常、光検出
器１４上でのビーム径は、５０〜２５０μｍ程度になさ
れる。

このように、フォーカス誤差信号の検出と、トラッキン
グ誤差信号の検出とでは必要なビーム径が異なるために
、一般に２つの光検出器１４．１５が用いられるが、調
整個所が多くなシ、精度が低下する原因にもなっている
。

さらに、この従来の方式によるフォーカス誤差検出の課
題として、溝横断ノイズがある。すなわち、検出ビーム
に収差があると検出ビーム形状と１０、。

トラックによる回折パターンとの幾何的な変形度合が異
なシ、例えば従来例での非点収差方法のフォーカス誤差
信号検出では、平行平板１３により非点収差のみでなく
、球面収差とコマ収差が生じる。これらの収差が複雑な
光路を形成し、結果として、トラック溝をビームが横断
する時に発生する溝横断ノイズがフォーカス誤差信号に
大きく重畳されたものとなる。

本発明は、以上のような課題を解決して、光ヘッド組立
時に必要な調整個所を少なくして製造工数を削減するこ
とができ、低コストに製造することのできる光ヘッド装
置を提供することを目的とするものである。

課題を解決するだめの手段 本発明においては、放射光源より出射された光ビームを
略平行光にする第１の光学装置と、この略平行光を受け
て情報担体上に収束させる第２の光学装置と、これら放
射光源と第２の光学装置との間に配置されたビーム分岐
手段と、情報担体で反射された光ビームをビーム分岐手
段で分岐し収来光にする手段と、この収束光を受けて互
に直交する２つの偏光ビームを略同一方向に空間的に分
離して出射させかつ一方の偏光ビームを他方の偏光ビー
ムより長い光路を通過させるようにした光学手段と、こ
れらの２つの偏光ビームに対応する２組の単数もしくは
複数の素子からなる光検出器とを備えたことを特徴とし
ている。

作　　用 かかる構成により、本発明では、偏光プリズムを三角プ
リズムと平板の組合せ等にし、入射ビムを検光した後に
ほぼ同じ方向にＰ偏光とＳ偏光の光ビームを出射させる
。このような構成で、１チツプの光検出器を用いて従来
の課題を解決することが可能である。

このＰ偏波とＳ偏波は光軸方向の位置が異なっているの
で、このまま後述の方式を応用してフォーカス誤差信号
を検出することも可能である。

また、Ｓ偏波またはＰ偏波のどちらか一方の光路をさら
に光軸方向に異なる位置のビームを検出器上に投影する
ために追加の偏光プリズムを挿入してフォーカス誤差信
号を検出する構成にすることもできる。

このようにして、１チツプ検出器を用いて安定したファ
ーフィールドトラッキング誤差信号と感度の高いフォー
カス誤差信号の検出を行なうことが可能となる。また、
フォーカス誤差信号検出用の光ビームを収差の少ない状
態で検出することができるので、溝横断ノイズの少ない
良好なサーボ信号を得ることができる。

実施例 以下、本発明の実施例について説明する。

第１図に本発明の第１の実施例を示す。なお、半導体レ
ーザ１を出射して、ディスクに向う光路は、従来例で説
明したものとほぼ同じ構成であるので、その説明は省略
する。

ディスク７で反射された光ビームは、再び対物レンズ６
を通シ、第１の偏光プリズム５で反射され、２分の１波
長板８で４５°方向に偏光方向が回転される。この２分
の１波長板８は光学系の形状を簡単にするためのもので
、この２分の１波長板８を用いない場合には、この後に
続く光学系１０〜１２を光軸を中心にして４５°回転さ
せればよい。

次に、第２の偏光プリズム１ｏによりｐ偏波成分とＳ偏
波成分に分離する。即ち、Ｓ偏波はＡＡ’軸に沿って反
射され、Ｐ偏波はＢＢ’軸に沿って反射される。このＡ
Ａ／軸とＢＢ／軸の間の距離が光検出器１２．１２’上
のビームの光軸方向の位置の差を与える。本例では、対
物レンズ６としてＮ、　Ａ。

がｏ、５３の非球面レンズが用いられ、検出レンズ９に
は焦点距離３０　ｒｔｒｒｔ＋の単レンズが用いられて
いる。かかる光学系の場合には、ＡＡ’とＢＢ’の距離
を３調程度とするのが最適である。このようにすること
でＳ偏波成分から得るファーフィールドトラッキング用
のビーム径を４００μｍ以上にすることができる。ファ
ーフィールドトラッキングを行うには、ビームを一般に
２分割の光検出器で受ける。光検出器の分割線は、トラ
ックと平行方向とし、ファーフィールドビームの中央に
位置させる。この２分割の光検出器の出力差で対物レン
ズ６を駆動することでトラッキングサーボを行な１４ベ
ーノ うことかできる。トラッキングサーボの方法は例えばＵ
ＳＰ４４９１９４０に詳細に記述されている。トラッキ
ングを行う為のビーム分割方法は、上述のように光ビー
ムを２分割する方法以外にもトラックと平行方向にビー
ムの中心を通る軸線に対称なスリット状の光検出器を用
いてもよい。このスリット状光検出器を用いるとトラン
ク誤差を表わす信号のデフォーカス特性を改善すること
ができる。

スリットを用いたトラック誤差信号のデフォカス特性を
改善する方法は特開昭６３−２２２３３３号公報に詳述
しであるので詳しい説明、は省略する。

トラッキング誤差信号検出用のビーム径を２００μｍ以
上できれば４００μｍ以上２ｍ以下とすることはトラッ
キングサーボを行なう上で重要となる。即ち光ヘッドの
設定環境や経年変化によって、光ビームと光検出器の相
対位置関係はずれてきて、その結果、２分割の光検出器
の出力差がオフセットを有する。この「ずれ」の量は、
５〜１５μｍにもなる場合がある。これだけの「ずれ」
が発生してもトラッキングサーボを安定に保つ為には、
光検出器上のビーム径をできるだけ大きくする方が有利
である。

一方光検出器の周波数応答特性から考えると光検出器の
受光面積はできるだけ小さい方が有利である。周波数応
答を良好にできかつ良好な信号／雑音比を得ることので
きる光検出器の大きさは１〜２ｍｎまでとなる。本発明
によるトラッキング用の光ビーム径は、これらの事実に
かんがみてピム径を４００μｍ以上１輔以下となる設計
に最適の構成となっている。一方、Ｐ偏波成分は、第３
の偏光プリズム１１により２つに分割されフォカシング
誤差信号検出に使われる。

第２図に、ＡＡ’断面とＢＢ’断面の光路を示す。

ＡＡ／断面はファーフィールドトラッキング誤差信号検
出用のビームを示す。光検出器上でのビーム径は約４７
０μｍである。ＢＢ’断面はフォーカス誤差信号検出用
のビームを示す。

光磁気ディスクからの情報再生信号は、上述のＳ偏波成
分の検出出力の和とＰ偏波成分の検出出力の和との差動
信号を検出することによって得られる。

第３図に、フォーカス用の光検出器１２と光ビームの収
束状態の概略図を示す。光検出器１２は２本の平行な分
割線で３つの領域に分割し、さらにこの分割線に直交す
る１本の分割線で２分割し、結局１２−１〜１２−６の
６つの領域に分割しである。上の方のビームはプリズム
を斜方向に出射しているので、わずかに楕円形状をして
おり若干の非点収差が発生する。従って、この非点収差
による影響が生じないように光学系を構成する必要があ
る。本実施例では、光検出器１２上のビーム間隔は約１
ｍｍでありジャストフォーカス（第３図の（ｂ））の位
置での光ビーム径は、下方のビームで約２００μｍであ
シ、上方のビームでは長径が２４０　ｐｍで短径が２０
０μｍ程度になっている（図面上では楕円として図示せ
ず）。その長径はスリット状光検出器１２−礼　１２−
５の長い方向に平行になっている。光検出器１２のスリ
ット状光検出器１２−２．１２−５の幅は４０〜１００
１７ベー７ μｍまでの値を選ぶことができる。本例では８゜μｍの
ものを使用している。このような構成から感度の良好な
フォーカス誤差信号検出を行うことができる。

トラッキング用の光ビームとフォーカス用の２つの光ビ
ームを同一基板（ウエーノ・）上に構成した光検出器１
２．１２’で受光することができる。即ちフォーカシン
グ用光ビーム受光する光検出器１２を分割する２本の平
行な分割線の方向とトラッキング用光ビームを受光する
光検出器１２を分割する方向を互に直交する方向とすれ
ば同一基板上にトラッキング用及びフォーカス用の光検
出器を形成しても、各々の光検出器の調整を独立に行な
う事が可能である。従って、同一基板上に形成した光検
出器１２．１２’よりトラッキングサーボ及びフォーカ
スサーボ用の誤差信号を得る事ができる。

またトラッキング用光検出器１２′とフォーカス用光検
出器１２の差動出力から光磁気信号を、迦算出力からア
ドレスやクロック等のプリピントに入れられた信号を得
ることができる。位相変化やホラ８６−シ ール形成型の光デイスク信号も加算信号から得ることも
可能である。

第３図（−）は、ディスク７と対物レンズ６との距離が
近すぎる場合、第３図（ｃ）は、ディスク７と対物レン
ジ６との距離が遠すぎる場合の光検出器１２上の光ビー
ムの様子をそれぞれ示したものである。

従って、第３図に示す各光検出器１２−１〜１２−６の
それぞれの検出出力を （（１２−１）＋（１２−３）＋（１２−５））−（（
１２−２）＋（１２−４）＋（１２−６月もしくは単に として演算することによりフオーカス誤差信号を得るこ
とができる。

高いＧ特性を要求される時には、さらに高いフォーカス
検出感度が必要になる。

フォーカス誤差信号の検出感度Δは、 と表すことができる。

ここでｆｏは対物レンズ６の焦点距離、ｆｏは検出レン
ズ９の焦点距離、ｌｏは対物レンズ６と検出レンズ９と
の距離、δはＢＢ’断面で与えられる上方ビームと下方
ビームの光路差の半分の値である（１）式より １ｏ＝ｆｏ＋ｆｏの場合もしくはｆｃ）δの時の近似値
は、 と表わすことができる。

この計算による上記第１の実施例のフォーカス感度は約
２２μｍである。従って、フォーカス感度を向上させる
にはｆｃを大きくするがδを小さくする必要がある。ｆ
ｏを大きくすると光学系が大きくなる。一方δを小さく
するにはビーム径の制約があシ実際の使用上からビーム
径を１００μｍ以下にすることは望ましくない。

本実施例の方式を用いると溝横断ノイズを低減できる。

即ち、第３図でフォーカス誤着信υρ検出ビームでトラ
ックによる回折光の方向はスリット状検出諸１２−２．
　１２−ｔｓＯ長手方向にある。

この構成によると、溝横断ノイズは同−光検出内の和信
号として軽減される。

溝横断ノイズを発生させる他の要因として、トラック溝
と照射光の偏光方向の関係がある。通常、波長領域に近
づくと偏光方向による特性に変化が生じる。溝と平行方
向に電場ベクトルが向く場合に、回折効率が大きくなり
トランク誤差信号が大きくなる。しかし、高次光の回折
効率も大きくなるために、フォーカス誤差信号へ混入す
る溝横断ノイズのレベルも大きくなり、溝横断ノイズに
よるフォーカス誤差信号の変調を小さくすることが困難
である。一方、溝と垂直方向に照射光の電場ベクトルを
向けると、溝による回折効率は低下する。本実施例では
トラックピッチが１．６μｍ、深溝さがλ／８使用波長
が７８０ｎｍのものにおいて、トラック上の情報記録デ
ユーティ比が３０〜６゜係のもので検討した結果、平行
電場ベクトルに対して垂直電場ベクトルにした場合には
、トラッキング誤差信号レベルが約８Ｑ％になった。し
かし、溝横断ノイズレベルは、平行電場ベクトルの場合
２１　、７ にも１μｍ以下とすることができなかっだが、垂直電場
ベクトルの場合には十分に０　、５　ｐｍ　、ＩＩ下に
することが可能であった。

従って、光ヘッドの溝横断ノイズレベルを小さくする要
望がある場合には、トラック溝に対して垂直な電場ベク
トルとする方が望ましい。一方、トラッキング誤差信号
レベルを大きくしたい場合にはトラック溝に対し平行な
電場ベクトルとする方式を用いる方が望ましい。

トラック溝に垂直な電場とするためには第１図の構成で
第２の２分の１波長板１６を付加する構成が考えられる
。これは光学系を薄型に構成する場合に最適である。こ
の第２の２分の１波長板１６を第１の偏光プリズム５と
一体化して構成することも可能であるが、対物レンズ６
のみを移送台で光軸方向に移送可能にする分離型光学系
では、周囲からの粉塵が光学系内に侵入するのを防ぐ防
護用窓として兼用することも可能である。分離型光学系
で問題となるフォーカス誤差信号の感度変化は本方式の
場合、対物レンズの移送距離が２２喘２２、、。

程度であれば４％以内の変化であシ全く問題はない。

第４図は本発明の別の実施例を示したものである。この
場合第２の偏光プリズム１０から出射されるＳ偏波成分
をファーフィールドトラッキング誤差信号検出に、Ｐ偏
波成分を非点収差方式のンオーカシング誤差信号検出に
それぞれ使用している。

Ｐ偏波光に非点収差を発生させるために平行平板１７が
光路中に挿入されている。この方式は、溝横断ノイズレ
ベルがあまシ問題とされない場合には最適々構成となる
。平行平板１７をルーフ型プリズムとしたダブルナイフ
ェツジやホログラムを用いる方法も可能である。ホログ
ラムを用いる場合、本発明者等のＣ９Ｄ方式（１９８８
年度秋季応用物理学会第３分冊ＰＰ８３８　４ａ−ＺＤ
−５参照）を用いると溝横断ノイズレベルを低下させる
方式が良い。ファーフィールドトラッキング誤差信号を
検出しない場合には、第４図で平行平板１７のない状態
で光検出器１２．１２’を左方に移動させ、第３図に示
しだ原理に基づくフォーカス誤差信号の検出を行うこと
が可能である。この場合にも、上方の光検出器と下方の
光検出器の差から光磁気記録情報信号の検出ができ、第
３図の原理からフォーカス誤差信号を得ることができる
。

また、第１図の構成で第１の偏光プリズム５の偏光膜の
特性を変えることで高伝送効率のライトワンス型光ヘッ
ドとすることができる。この時、２分の１波長板１６は
４分の１波長板にする必要があるが他の光学構成は変更
しなくてよい。このライトワンス型光ヘッドの信号検出
系は、第４図で説明された第２の実施例や、ホログラム
、ダブルエツジ法ももちろん使用することができる。丑
だ情報信号は全光検出器の出力の和として得ることがで
きる。

発明の効果 このように本発明による光学系構成を用いることによっ
て、１チツプの光検出器で安定なファフィールドトラッ
キング誤差信号の検出と、感度の高いフォーカス誤差信
号の検出を可能にすることができる。

また、フォーカス誤差検出方式に焦点前後のスポット径
を比較する方式を用いることによって、溝横断ノイズレ
ベルを低下させることも可能となった。

さらに、溝横断ノイズレベルを最小とするだめに第１の
偏光プリズムと対物レンズの間に２分の１波長板を挿入
して薄型構成の光ヘッドとすることが可能である。その
場合は分離型光学系に適用すると２分の１波長板を防塵
用の窓として兼用できるので都合がよい。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の第１の実施例の光ヘッド装置を示した
ブロック図、第２図はその第１の実施例の光ビーム光路
を２個所の断面で示した模式図、第３図は上記第１の実
施例においてフォーカス誤差信号を得る動作を説明する
だめの模式図、第４図は本発明の第２の実施例及びそれ
らの変形実施例による光ヘッド装置を示すブロック図、
第６図は従来例の光ヘッド装置を示すブロック図である
。 １・・・・・・半導体レーザ、５・・・・・・第１の偏
光ブリズム、６・・・・・・対物レンズ、８・・・・・
・２分の１波長板、１ｏ・・・・・・第２の偏光プリズ
ム、１１・・・・・第３の偏光プリズム、１２．１２’
・・・・・・光検出器。 代理人の氏名　弁理士　粟　野　重　孝　ほか１名〈 イイ −Ｎり寸ＬＬ）’ｏｈのさＳだ亡 区 大か

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. （１）放射光源と、前記放射光源より出射された光ビー
   ムを略平行光にする第１の光学装置と、前記略平行光を
   受けて情報担体上に収束させる第２の光学装置と、前記
   放射光源と前記第２の光学装置との間に配置されたビー
   ム分岐手段と、前記情報担体で反射された光ビームを前
   記ビーム分岐手段で分岐し収束光とする手段と、前記収
   束光を受け互に直交する２つの偏光ビームを略同一方向
   に空間的に分離して出射させかつ一方の偏光ビームが他
   方の偏光ビームより長い光路を通過させるようにした光
   学手段と、前記２つの偏光ビームに対応する２つの光検
   出器を備え、前記２つの光検出器はそれぞれ単数もしく
   は複数の素子からなることを特徴とする光ヘッド装置。
2. （２）２つの偏光ビームのうち一方を２つのサブビーム
   に分け、一方のサブビームが他方のサブビーームよりも
   長い光路長を通過させる手段と、これらの互に異る３つ
   の偏光ビームをそれぞれ受光する対応する３つの光検出
   器を備え、前記３つの光検出器はそれぞれ単数もしくは
   複数の素子からなることを特徴とする請求項１記載の光
   ヘッド装置。
3. （３）２つのサブビームを形成する偏光ビームは、２つ
   の偏光ビームのうち長い光路長を通過した偏光ビームで
   あることを特徴とする請求項２記載の光ヘッド装置。
4. （４）光路長の異る３つの偏光ビームを１つの基板上に
   形成された複数の光検出器で受光するようにしたことを
   特徴とする請求項２または３記載の光ヘッド装置。
5. （５）光検出器は、１つの光検出器を２本の平行な分割
   線で３つの領域に分割しかつ前記分割線と直交する分割
   線でさらに２つの領域に６分割された第１の光検出器と
   、前記２本の平行な分割線と直交する方向に２分割され
   た第２の光検出器とが同一平面内に形成されたものであ
   ることを特徴とする請求項１〜４のいずれかに記載の光
   ヘッド装置。
6. （６）放射光源と、前記放射光源により出射した光ビー
   ムを略平行にする第１の光学装置と、前記略平行光を受
   けて情報担体上に収束させる第２の光学装置と、前記放
   射光源と前記第２の光学装置との間に配置されたビーム
   分岐手段と、前記情報担体で反射された光ビームを前記
   ビーム分岐手段で分岐し収束光にする手段と、前記収束
   光を受け互に直交する２つの偏光ビームを略同一方向に
   空間的に分離して出射させかつ一方の偏光ビームが他方
   の偏光ビームより長い光路を通過させるようにした光学
   手段と、前記２つの偏光ビームに対応する２つの光検出
   器と、前記ビーム分岐手段と前記第２の光学装置の間に
   配置された２分の１波長板とを備え、前記２つの光検出
   器はそれぞれ単数もしくは複数の素子からなることを特
   徴とする光ヘッド装置。