JPH04157647A - 光学ピックアップ装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 Ａ、産業上の利用分野 本発明は、例えば光磁気ディスク等の記録媒体に書込ま
れた情報信号を読出す光学ピックアップ装置に関する。

Ｂ１発明の概要 本発明は、例えば光磁気ディスク等の記録媒体に書込ま
れた情報信号を読出す光学ピックアップ装置において、
記録媒体に照射される光束のこの記録媒体よりの反射光
束を、一対の一軸性結晶部材が互いに結晶軸方向を鎖交
させて接合されて構成された偏光検出手段に入射させ、
この偏光検出手段を透過した反射光束を光検出素子によ
り検出するようにするとともに、偏光検出手段を反射光
束の光軸回りに回転調整可能に保持するようにして、情
Ｉ［ｊ信号の読取り信号やいわゆるフォーカスエラー信
号が良好に得られるようにしたものである。

Ｃ１従来の技術 従来、いわゆる垂直磁化か可能な信号記録層を有してな
り、この信号記録層の磁化方向の差異によって情報信号
の書込みが行えるように構成されたいわゆる光磁気ディ
スクが提案されている。この光磁気ディスクに対して情
報信号を書込むには、上記信号記録層に対してレーザビ
ームを集光して照射する等の手段によって該信号記録層
の微小領域のみをキュリー温度以上に加熱して保磁力を
消失させるとともに、この微小領域に外部磁界を印加す
ることによって、該微小領域の磁化方向を変化させる。

このようにして、上記信号記録層の磁化方向を微小領域
毎に変化させること゛によって、情報信号の書込みか行
われる。

そして、このようにして光磁気ディスクに書込まれた情
報信号を読取るには、上記信号記録層にレーザビーム等
の単一の偏光方向を有する光束を集光して照射して、こ
の光束の上記信号記録層よりの反射光束の偏光方向を検
出する。上記光束は、上記信号記録層において反射され
るときに、いわゆるカー効果により、磁化の方向に応じ
て偏光方向を変化させられる。そのため、上記反射光束
の偏光方向を検出することによって、上記信号記録層の
磁化方向の差異を検出することかできる。

したがって、上記光磁気ディスクより情報信号を読取る
にあたっては、上記光磁気ディスクの信号記録層にレー
ザビームを照射するとともに、この信号記録層よりの反
射光束を検出するように構成された光学ピックアップ装
置が用いられる。

この光学ピックアップ装置は、半導体レーザ等の光源を
有し、この光源より発する光束を、コリメータレンズ及
び対物レンズ等の光学デバイスを介して、上記信号記録
層の表面に集光して照射するように構成されている。ま
た、この光学ピックアップ装置は、上記信号記録層の表
面に照射された光束の反射光束を、上記対物レンズ及び
ビームスプリッタ等を介して検出光学系に導いて、該反
射光束の偏光方向を検出するように構成されている。

この光学ピックアップ装置における検出光学系として、
複数の受光面を有する光検出素子と、この検出光学系に
入射された反射光束を上記光検出素子の受光面上に集光
させる検出レンズと、これら光検出素子と検出レンズと
の間の光路中に配設されるいわゆる３ビーム・ウォラス
トン・プリズム（３−Ｂｅｅｍ　Ｗｏｌｌａｓｔｏｎ　
Ｐｒ１ｓｒｎ）及びシリンドリカルレンズとを有してな
るものがある。

この３ビーム・ウォラストン・プリズムは、水晶、ルチ
ル、または、方解石等の一軸性結晶からなる一対の三角
プリズムが互いに接合されて直方体状に構成されたプリ
ズムである。そして、この３ビーム・ウォラストン・プ
リズムにおいて、各三角プリズムの結晶軸方向は、それ
ぞれ上記反射光束の光軸に対して直交し、また、互いに
略４５゜の角度をなして鎖交するようになされている。

この３ビーム・ウォラストン・プリズムに入射される反
射光束は、この３ビーム・ウォラストン・プリズムの外
側面に対し略垂直に入射され、上記一対の三角プリズム
の接合面に対しては傾斜して透過する。そして、上記反
射光束は、各三角プリズムの接合面を透過するときに、
偏光方向に応じて異なる方向に屈折されて、光束入射側
の三角プリズムの結晶軸に対する垂直な方向の偏光成分
である第１の光束、上記結晶軸に対して平行な方向の偏
光成分である第２の光束及びこれら各成分が合成された
成分である第３の光束の３本の光束に分割される。

上記シリンドリカルレンズは、円筒面ををするレンズで
あって、透過する光束に非点収差を生しさせる。

上記検出レンズを透過した光束は、上記３ビーム・ウォ
ラストン・プリズムによって偏光方向の差異に応じて進
行方向を偏向させられるとともに、上記シリンドリカル
レンズによって非点収差を生じさせられる。そのため、
上記光検出素子の受光面上においては、偏光方向の異な
る光束かそれぞれ分離されて集光される。このように分
離されて集光される光束をそれぞれに対応する受光面に
より個々に受光すると、それぞれの光束の光強度に対応
する光検出信号を得ることかできる。そして、上記第１
の光束を受光して得られた光検出信号と上記第２の光束
を受光して得られた光検出信号との差信号は、上記光磁
気ディスクに書込まれた情報信号の読取り信号となる。

また、上記受光面により受光される光束は、上記光磁気
ディスクの信号記録層の表面におけるこの表面に照射さ
れる光束の焦点ずれに応して、非点収差を生じている。

したかって、上記光検出素子により、例えば上記第３の
の光束を放射状に４分割された受光面により受光する等
の手段により、上記非点収差の状態を検出すれば、上記
光磁気ディスクの信号記録層の表面における焦点ずれの
量を示すいわゆるフォーカスエラー信号を得ることがで
きる。

０１発明か解決しようとする課題 ところで、上述のような３ビーム・ウォラストン・プリ
ズムを用いて構成される光学ピックアップ装置において
は、３ビーム・ウォラストン・プリズムを正確に位置決
めして保持する必要かある。

すなわち、この光学ピックアップ装置において、３ビー
ム・ウォラストン・プリズムを構成するプリズムの結晶
軸の方向と反射光束の偏光方向とか正確に所定の角度関
係となされていないと、上記第１の光束と第２の光束と
の光強度の比か変化してしまい、上記記録媒体に書込ま
れた情報信号の正確な読取りかできないからである。例
えば、上記３ビーム・ウォラストン・プリズムか上記反
射光束の光軸回りに３°回転すると、上記第１及び第２
の光束は、１０％程度の光強度変化を生し、正確な読取
り信号が得られなくなる。

したかって、この光学ピックアップ装置の組立てにあた
っては、上記３ビーム・ウォラストン・プリズムの位置
が高精度に維持されるようにするため、寸法精度の高い
部品か必要となる。そのため、この光学ピックアップ装
置は、製造、組立てか困難で煩雑である。

そこで、本発明は、上述の実情に鑑みて提案されるもの
であって、製造、組立てが容易化されながら、光磁気デ
ィスク等の記録媒体に書込まれた情報信号の読取りか正
確に行える光学ピックアップ装置を提供することを目的
とする。

８２課題を解決するための手段 上述の課題を解決し上記目的を達成するため、本発明に
係る光学ピックアップ装置は、一対の一軸性結晶部材が
互いに結晶軸方向を鎖交させて接合されて構成された偏
光検出手段と、記録媒体に照射された光束の該記録媒体
よりの反射光束か上記偏光検出手段に入射するように該
偏光検出手段を保持する保持手段と、上記偏光検出手段
を透過した上記反射光束を検出する光検出素子とを備え
、上記保持手段は、上記偏光検出手段を上記反射光束の
光軸回りに回転調整可能となしてなるものである。

Ｆ１作用 本発明に係る光学ピックアップ装置においては、一対の
一軸性結晶部材か互いに結晶軸方向を鎖交させて接合さ
れて構成され記録媒体に照射された光束の該記録媒体よ
りの反射光束か入射される偏光検出手段は、保持手段に
よって、上記反射光束の光軸回りに回転調整可能に保持
されているので、部品精度に依ることなく、上記反射光
束の偏光方向を基準として正確に位置決めすることがで
きる。

Ｇ、実施例 以下、本発明の具体的な実施例を図面を参照しなから説
明する。

この例は、本発明に係る光学ピックアップ装置を、記録
媒体となる光磁気ディスクに書込まれた情報信号を読取
る光学ピックアップ装置として構成した例である。この
光学ピックアップ装置は、第１図に示すように、光学系
ブロックｌｏ内に複数の光学デバイス等が内蔵されて構
成されている。

この光学系ブロック１０は、アルミニウムや合成樹脂等
の如く充分な剛性を有する材料により形成されている。

そして、この光学ピックアップ装置は、光磁気ディスク
１の信号記録層１ａの表面部に光束を集光して照射する
とともに、この光束の上記信号記録層１ａによる反射光
束を光検出素子９によって検出するように構成されてい
る。

この光学ピックアップ装置は、半導体レーザ等の如き単
一波長かつ単一の偏光方向を有する光束Ｂを発する光源
２を有している。この光源２は、上記光学系ブロックｌ
Ｏ内に保持されている。この光源２より発せられた光束
Ｂは、拡散しなから、回折格子３及びビームスプリッタ
４を透過し、コリメータレンズ５に入射される。これら
回折格子３、ビームスプリッタ４及びコリメータレンズ
５は、上記光学系ブロックｌＯ内に保持されている。

上記回折格子３に入射された光束Ｂは、該回折格子３に
おける回折現象によって、該光束Ｂの光軸を中心として
扇状に散開するように、少なくとも０次光及び±１次光
からなる第１乃至第２の照射光束Ｂ、、Ｂ、、Ｂ、に分
割されている。これら３つの照射光束Ｂ、、Ｂ、、Ｂ、
は、上記光磁気ディスク１の信号記録層１ａの表面部に
形成される記録トラックに略沿う方向に配列される。そ
して、これら３つの照射光束のうちの所外側となる第２
及び第３の照射光束Ｂ１．Ｂ２は、いわゆるトラッキン
グエラー信号の検出に用いられる。

上記コリメータレンズ５に入射された各照射光束Ｂ、、
Ｂ、、Ｂ、は、このコリメータレンズ５により平行光束
となされる。このコリメータレンズ５を透過した各照射
光束Ｂ、、Ｂ、、Ｂ、は、対物レンズ６に入射される。

この対物レンズ６は、入射された各照射光束Ｂ、、Ｂ、
、Ｂ、を上記光磁気ディスク１の信号記録層１ａの表面
部に集光させる。

この対物レンズ６は、上記光学系ブロック１０に取付け
られる対物レンズ駆動装置６ａに支持されることにより
、光軸方向に移動操作可能となされている。この対物レ
ンズ駆動装置６ａは、上記対物レンズ６により各照射光
束Ｂ、、Ｂ、、Ｂ。

が集光されて形成される各ビームスポットの上記信号記
録層１ａの表面部よりの方向及び距離、すなわち焦点ず
れの方向及び量を示すフォーカスエラー信号に基づいて
上記対物レンズ６を移動操作して、上記各ビームスポッ
トか常に上記信号記録層１ａの表面部に形成されるよう
にする。

上記信号記録層１ａは、いわゆる垂直磁化か可能となさ
れて形成されており、書込まれた情報信号に応じて、微
小領域毎に磁化方向が変化させられている。そして、こ
の信号記録層１ａの表面部に集光されて照射された上記
第１の照射光束Ｂ。

の反射光からなる反射光束Ｒは、この信号記録層ｌａの
磁化方向に応じて、いわゆるカー効果によって、第２図
に示すように、偏光方向を変化させられている。上記信
号記録ＩＷ１ａの磁化方向か初期状態となされた領域、
すなわち、記録情報か“０”である領域からの反射光束
Ｒの偏光方向は、第２図中に矢印Ｓ０で示すように、第
２図中に矢印Ｐで示す上記信号記録層１ａに照射される
前の第１の照射光束Ｂの偏光方向に対して、＋に’だけ
回転されている。そして、上記信号記録層１ａの磁化方
向が初期状態に対して反転された領域、すなわち、記録
情報が“ｌ”である領域からの反射光束Ｒの偏光方向は
、第２図中に矢印Ｓｌで示すように、第２図中に矢印Ｐ
て示す上記第１の照射光束Ｂの偏光方向に対して、−に
’だけ回転されている。

上記反射光束Ｒと、上記回折格子３における±１次光で
ある第２及び第３の照射光束Ｂ、、Ｂ。

の上記信号記録層１ａによる反射光からなる第１及び第
２のトラッキング用反射光束ＲＴｌ＋Ｒ１とは、再び上
記対物レンズ６に入射する。この上記対物レンズ６に再
入射した反射光束Ｒ及び各トラッキング用反射光束Ｒ□
、Ｒ７２は、それぞれ平行光線となされて上記コリメー
タレンズ５に再入射する。このコリメータレンズ５に再
入射した上記反射光束Ｒ及び各トラッキング用反射光束
ＲＴ　ｌ　＋Ｒ７２は、集束されながら上記ビームスプ
リッタ４に戻る。このビームスプリッタ４に戻った上記
反射光束Ｒ及び各トラッキング用反射光束Ｒ？ｌ＋　　
ＲＴ２は、このビームスプリッタ４の反射面４ａにより
反射され、上記回折格子３の側に戻らずに、検出レンズ
７に入射する。

上記検出レンズ７は、凹面とシリンドリカル面とを有し
て形成され、入射された反射光束Ｒ及び各トラッキング
用反射光束Ｒｏｌｌ　ＲＴ２の収束角度を減少させると
ともに、これら反射光束Ｒ及び各トラッキング用反射光
束ＲＴＩＴ　ＲＴ２に非点収差を生じさせる。この検出
レンズ７は、上記光学系ブロックｌＯ内に保持されてい
る。

そして、上記検出レンズ７を透過した反射光束Ｒ及び各
トラッキング用反射光束Ｒ７１ｌ　ＲＴ２は、集束しな
がら、偏光検出手段となる３ビーム・ウォラストン・プ
リズム（３−Ｂｅｅｍ　Ｗｏｌｌａｓｔｏｎ　Ｐｒｉｓ
ｍ）８を透過して、光検出素子９の受光面上にそれぞれ
集光される。この３ビーム・ウォラストン・プリズム８
は、上記光学系ブロック１ｏ内に、保持手段となるプリ
ズムホルダ１１を介して保持されている。

上記３ビーム・ウォラストン・プリズム８は、水晶、ル
チル、または、方解石等の一軸性結晶がらなり対をなす
第１及び第２の三角プリズム８ａ。

８ｂが互いに傾斜面部同士を接合されて立方体状に構成
されたプリズムである。上記反射光束Ｒは、第３図に示
すように、上記第１の三角プリズム８ａの底面部に対し
て略垂直に入射し、上記第１及び第２の三角プリズム８
ａ、８ｂの接合面を傾斜して透過して、上記第２の三角
プリズム８ｂの底面部より略垂直に出射される。

上記プリズムホルダ１１は、金属や合成樹脂から、略円
筒形状を有して形成され、上記光学系ブロック１０内の
上記検出レンズ７と上記光検出素子９との間の位置に配
設されている。また、このプリズムホルダ１１は、この
プリズムホルダ１１のなす円筒形状の軸を上記検出レン
ズ７と上記光検出素子９とを結ぶ方向に向けており、上
記光学系ブロック１０内において該円筒形状の軸回りに
回転可能となされている。

また、このプリズムホルダ１１の外周部には、このプリ
ズムホルダ１１のなす円筒形状の軸方向に沿って調整用
溝部１１ｂが設けられている。この調整用溝部１１ｂは
、上記光学系ブロック１゜に設けられた調整用孔１２を
介して、外方に臨まされている。

上記プリズムホルダ１１は、第３図に示すように、調整
用ドライバ１０１が上記調整用孔１２を通して上記光学
系ブロック１０内に進入され、この調整用ドライバ１０
１が上記調整用溝部１１ｂに係合された状態で、回転調
整可能となされている。上記調整ドライバ１０１は、円
柱状の軸部】０１ａと、この軸部１０１ａの先端部に先
端側に向けて突設された突起部１０１ｂとを有して構成
されている。上記突起部１０１ｂは、上記軸部１０１ａ
よりも小径の円柱状に形成されており、上記軸部１０１
ａに対して偏心した位置に設けられている。上記プリズ
ムホルダ１１は、上記調整用ドライバｌｏｔの突起部１
ｏｘｂが上記調整用溝部１１ｂ内に嵌入され、第３図中
に矢印Ｃで示すように、この調整用ドライバ１０１が上
記軸部１０１ａの軸回りに回転操作されることにより、
第３図中に矢印りで示すように、上記光学系ブロック１
０内において軸回りに回転調整される。

そして、このプリズムホルダ１１は、少な（とも上記３
ビーム・ウォラストン・プリズム８の光束入射面及び光
束出射面となる上記各三角プリズム８ａ、８ｂのそれぞ
れの底面部を上記光学系ブロックｌＯ内に臨ませて、こ
の３ビーム・ウォラストン・プリズム８を内部に保持し
得るように、プリズム保持部１１ａを有している。この
プリズム保持部１１ａは、上記プリズムホルダ１１の内
方がくり抜かれるようにして形成されている。上記３ビ
ーム・ウォラストン・プリズム８は、上記プリズム保持
部１１ａ内に挿入され、接着剤を用いた接合等の手段に
より、上記プリズムホルダ１１に固着されて保持されて
いる。この３ビーム・ウォラストン・プリズム８は、上
記プリズムホルダ１１に保持されることにより、光束入
射面となる上記第１の三角プリズム８ａの底面部を上記
検出レンズ７に対向させ、光束出射面となる上記第２の
三角プリズム８ｂの底面部を上記光検出素子９に対向さ
せている。

上記３ビーム・ウォラストン・プリズム８において、上
記第１及び第２の三角プリズム８ａ、８ｂの結晶軸方向
は、第２図及び第３図中に矢印Ａ及び矢印Ｂで示すよう
に、それぞれ上記反射光束Ｒの光軸に対して直交し、ま
た、互いに略４５゜の角度をなして鎖交するようになさ
れている。

そして、上記反射光束Ｒが入射される側である第１の三
角プリズム８ａの結晶軸方向は、この３ビーム・ウォラ
ストン・プリズム８か上記プリズムホルダ１１とともに
上記反射光束Ｒの光軸回りに回転調整されることによっ
て、上記反射光束Ｒの第３図中矢印Ｐで示す偏光方向の
中心方向に対し、正確に４５°の角度をなすようになさ
れている。また、上記反射光束Ｒが出射される側である
第２の三角プリズム８ｂの結晶軸方向は、上記反射光束
Ｒの第３図中矢印Ｐで示す偏光方向の中心方向に対し、
９０°の角度をなすようになされている。

この３ビーム・ウォラストン・プリズム８に入射された
反射光束Ｒは、上記各三角プリズム８ａ。

８ｂの接合面を透過するときに、偏光方向に応じて異な
る方向に屈折されて分割される。上記反射光束Ｒは、上
記３ビーム・ウォラストン・プリズム８により、光束入
射側となる第１の三角プリズム８ａの結晶軸に対する垂
直な方向の偏光成分、すなわち、常光線である第１の反
射光束Ｒ３と、上記第１の三角プリズム８ａの結晶軸に
対して平行な方向の偏光成分、すなわち、異常光線であ
る第２の反射光束Ｒ３と、これら各成分か合成された成
分である第３の反射光束Ｒ８の３本の光束に、扇状に散
開するようにして分割される。なお、上記第３の反射光
束Ｒ０は、上記３ヒーム・ウォラストン・プリズム８に
入射する前の反射光束Ｒの進行方向と同一の方向に進行
する。

上記３ビーム・ウォラストン・プリズム８を透過した各
反射光束Ｒ，，Ｒ２，Ｒｏは、上記集光レンズ７によっ
て非点収差を生しさせられているとともに、上記３ビー
ム・ウォラストン・プリズム８によって偏光方向の差異
に応して進行方向を偏向させられている。そのため、上
記光検出素子９の受光面上においては、偏光方向の異な
る光束かそれぞれ分離されて集光される。このように分
離されて集光される各反射光束Ｒ，，Ｒ，，Ｒ。

をそれぞれに対応する受光面により個別に受光すると、
それぞれの反射光束Ｒ，，Ｒ，，Ｒ０の光強度に対応す
る光検出信号を得ることがてきる。

上記光検出素子９の受光面は、第４図に示すように、上
記３ビーム・つオラストン・プリズム８により進行方向
を偏向された各反射光束Ｒ６，Ｒ１゜Ｒ７及び上記各ト
ラッキング用反射光束Ｒ７＋＋　Ｒ？２をそれぞれ受光
する複数の受光面を有している。

この光検出素子９は、複数の受光面により個別に上記各
反射光束Ｒ０ｒ　Ｒ＋　ｒ　Ｒ２ｒ　Ｒｎ＋　ＲＴ２を
受光し、図示しない複数のリード線を介して、それぞれ
の受光面における光強度に対応する光検出信号を独立し
て出力することができる。

この光検出素子９においては、上記３ビーム・ウォラス
トン・プリズム８を透過した第３の反射光束Ｒ０は、第
１乃至第４の受光面１３ａ、１３ｂ、１３ｃ、１３ｄに
より受光される。これら第１乃至第４の受光面１３ａ、
１３ｂ、１３ｃ、１３ｄは、上記第３の反射光束Ｒ０の
光軸を中心としてこの第３の反射光束Ｒ０を放射状に４
等分した領域内の光をそれぞれ対応して受光するよ）に
配設されている。これら第１乃至第４の受光面１３ａ、
１３ｂ、１３ｃ、１３ｄが上記第３の反射光束Ｒ０を分
割する線の方向は、上記検出レンズ７により上記反射光
束Ｒに付与される非点収差の方向に対し、４５°となさ
れている。したがって、上記第１乃至第４の受光面１３
ａ、１３ｂ、１３ｃ、１３ｄより出力される光検出出力
をそれぞれＥＡ、Ｅ！ｌ、Ｅｅ、ＥＤとし、上記光磁気
ディスク１の信号記録層１ａの表面における焦点ずれの
方向及び量を示すいわゆるフォーカスエラー信号をＦｅ
とすると、このフォーカスエラー信号Ｆｅは、 Ｆｅ＝　（ＥＡ　＋ＥＣ）　　　（ＥＢ　十Ｅ。）にょ
う得ることができる。このフォーカスエラー信号Ｆｅは
、上記対物レンズ駆動装置６ａを制御するサーボ回路に
送られる。なお、ここで、上記第１乃至第４の受光面１
３ａ、１３ｂ、１３ｃ。

１３ｄは、順次隣接するように配設され、第１及び第３
の受光面１３ａ、１３ｃと、第２及び第４の受光面１３
ｂ、１３ｄとは、それぞれ上記第３の反射光束Ｒ８の光
軸を挟んで対向する位置に配設されている。

そして、上記３ビーム・ウォラストン・プリズム８を透
過した第１の反射光束Ｒ１は、第５の受光面１４により
受光される。また、上記３ビーム・ウォラストン・プリ
ズム８を透過した第２の反射光束Ｒ２は、第６の受光面
１５により受光される。これら第５及び第６の受光面１
４．１５は、上記第１乃至第４の受光面１３ａ、１３ｂ
、１３ｃ、１３ｄの中心部を介して、相対向する位置に
設けられている。

上記第１及び第２の反射光束Ｒ＋、Ｒｔは、上記３ビー
ム・ウォラストン・プリズム８を構成する各三角プリズ
ム８ａ、８ｂの接合面の上記反射光束只の光軸に対する
傾斜方向を含む面内において、扇状に散開するようにし
て進行する。これら第１及び第２の反射光束Ｒ，，Ｒ２
の光強度は、上記反射光束Ｒのうちの上記第１の三角プ
リズム８ａの結晶軸に対して垂直な方向の偏光成分であ
る常光線と、上記反射光束Ｒのうちの上記第１の三角プ
リズム８ａの結晶軸に対して平行な方向の偏光成分であ
る異常光線とに対応している。

したがって、上記第５及び第６の受光面１４゜１５より
出力される光検出出力をそれぞれＥ６゜Ｅ、とし、上記
光磁気ディスク１に書込まれた情報信号の読取り信号を
Ｍｏとすると、この読取り信号Ｍｏは、 Ｍｏ＝Ｅｔ　−Ｅｒ により得ることができる。この光学ピックアップ装置に
おいては、上記３ビーム・ウォラストン・プリズム８が
上記反射光束Ｒの光軸回りに回転調整されることによっ
て、上記各三角プリズム８ａ。

８ｂの結晶軸方向が上記反射光束Ｒの偏光方向の中心方
向に対して正確に所定の角度関係となされているため、
いわゆる同相除去比の高い良好な読取り信号を得ること
ができる。

そして、上記３ビーム・つオラストン・プリズム８を透
過した第１のトラッキング用反射光束Ｒ１゜は、第７の
受光面１６により受光される。また、上記３ビーム・ウ
ォラストン・プリズム８を透過した第２のトラッキング
用反射光束ＲＴ、は、第８の受光面１７により受光され
る。これら第７及び第８の受光面１６．１７は、上記第
１乃至第４の受光面１３ａ、１３ｂ、１３ｃ、１３ｄの
中心部を介して、相対向するとともに、上記第６及び第
７の受光面１４．１５に対して該中心部回りに略９０°
の角度位置となされて設けられている。

上記各トラッキング用反射光束ＲＴＩ、　Ｒｒ２は、上
記第１及び第２の反射光束Ｒ，，Ｒ，を含む平面に直交
する平面内において、散開して進行するようになされて
いる。この各トラッキング用反射光束Ｒア３．Ｒ□の散
開方向は、上記回折３を上記光束Ｂの光軸回りに回転調
整することによって、所定の方向とすることができる。

そして、これら各トラッキング用反射光束Ｒ”ｉｔ　Ｒ
Ｔ２の光強度は、上記第１の照射光束Ｂ０の上記記録ト
ラックに対する上記光磁気ディスクｌの径方向への変位
に応じて、一方が増大するときには他方が減少し、−方
が減少するときには他方が増大する。

したがって、上記第７及び第８の受光面１６゜１７より
出力される光検出出力をそれぞれＥｏ。

Ｅ□とし、上記第１の照射光束Ｂ０の上記記録トラック
に対する上記光磁気ディスクｌの径方向への変位の方向
及び量を示すトラッキングエラー信号をＴｅとすると、
このトラッキングエラー信号Ｔｅは、 Ｔｅ＝Ｅａ　−ＥＨ により得ることができる。

上述のように、本発明に係る光学ピックアップ装置にお
いては、光磁気ディスク１に書込まれた情報信号に応じ
た良好な読取り信号Ｍｏが得られ、また、フォーカスエ
ラー信号Ｆｅ及びトラッキングエラー信号Ｔｅを得るこ
とができる。

Ｈ９発明の効果 上述のように、本発明に係る光学ピックアップ装置にお
いては、一対の一軸性結晶部材が互いに結晶軸方向を鎖
交させて接合されて構成され記録媒体に照射された光束
の該記録媒体よりの反射光束が入射される偏光検出手段
は、保持手段によって、上記反射光束の光軸回りに回転
調整可能に保持されている。

そのため、この光学ピックアップ装置においては、部品
寸法の高精度化を図ることなく、上記偏光検出手段を上
記反射光束の偏光方向を基準として正確に位置決めする
ことができる。

そして、この光学ピックアップ装置においては、上記反
射光束の偏光方向を正確に検出して、この検出結果に基
づき、上記記録媒体に書込まれた情報信号の正確な読取
りを行うことがてきる。

すなわち、本発明は、製造、組立てが容易化されながら
、光磁気ディスク等の記録媒体に書込まれた情報信号の
読取りが正確に行える光学ピックアップ装置を提供する
ことができるものである。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に係る光学ピックアップ装置の構成を示
す縦断面図である。 第２図は上記光学ピックアップ装置により情報信号の読
取りがなされる光磁気ディスクよりの反射光束の偏光方
向の変化を示すグラフである。 第３図は上記光学ピックアップ装置を構成する３ビーム
・ウォラストン・プリズム及びプリズムホルダの構成を
示す要部拡大斜視図であり、第４図は上記光学ピックア
ップ装置を構成する光検出素子の受光面の構成を示す拡
大正面図である。 １・・・・・・・・光磁気ディスク ８・・・・・・・・３ビーム・ウォラストン・プリズム
８ａ・・・・・・第１の三角プリズム ８ｂ・・・・・・第２の三角プリズム ９・・・・・・・・光検出素子 １１・・・・・・・・プリズムホルダ Ｂ０・・・・・・第１の照射光束 Ｂ、・・・・・・第２の照射光束 Ｂ、・・・・・・第３の照射光束 Ｒ・・・・・・・・反射光束 Ｒｏ・・・・・・第３の反射光束 Ｒ３・・・・・・第１の反射光束 Ｒ２・・・・・・第２の反射光束 特許出願ソニー株式会社

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 一対の一軸性結晶部材が互いに結晶軸方向を鎖交させて
   接合されて構成された偏光検出手段と、記録媒体に照射
   された光束の該記録媒体よりの反射光束が上記偏光検出
   手段に入射するように該偏光検出手段を保持する保持手
   段と、 上記偏光検出手段を透過した上記反射光束を検出する光
   検出素子とを備え 上記保持手段は、上記偏光検出手段を上記反射光束の光
   軸回りに回転調整可能となしてなる光学ピックアップ装
   置。