JPH0487043A - 光学ピックアップ装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 Ａ、産業上の利用分野 本発明は、例えば光磁気ディスク等の記録媒体に書込ま
れた情報信号を読出す光学ピックアップ装置に関する。

Ｂ２発明の概要 本発明は、例えば光磁気ディスク等の記録媒体に書込ま
れた情報信号を読出す光学ピノクア、ブ装置において、
記録媒体に照射される光束のこの記録媒体よりの反射光
を、一対の一軸性結晶板が互いに結晶軸方向を鎖交させ
て接合されて平板状に構成されてなる偏光検出板に傾斜
して入射させ、この偏光検出板を透過した光束を光検出
素子により検出するようにして、構成の簡素化が図れる
とともに、いわゆるフォーカスエラー信号や情報信号の
読取り信号が良好に得られるようにしたものである。

Ｃ１従来の技術 従来、いわゆる垂直磁化が可能な信号記録層を存してな
り、この信号記録層の磁化方向の差異によって情報信号
の書込みが行えるように構成されたいわゆる光磁気ディ
スクが提案されている。この光磁気ディスクに対して情
報信号を書込むには、上記信号記録層に対してレーザビ
ームを集光して照射する等の手段によって該信号記録層
の微小領域のみをキュリー温度以上に加熱して保磁力を
消失させるとともに、この微小領域に外部磁界を印加す
ることによって、該微小領域の磁化方向を変化させる。

このようにして、上記信号記録層の磁化方向を微小領域
毎に変化させることによって、情報信号の書込みが行わ
れる。

そして、このようにして光磁気ディスクに書込まれた情
報信号を読取るには、上記信号記録層にレーザビーム等
の単一の偏光方向を有する光束を集光して照射して、こ
の光束の反射光の偏光方向を検出する。上記光束は、上
記信号記録層において反射されるときに、いわゆるカー
効果により、磁化の方向に応して偏光方向を変化させら
れる。

そのため、この光束の反射光の偏光方向を検出すること
によって、上記信号記録層を磁化方向の差異を検出する
ことができる。

したがって、上記光磁気ディスクより情報信号を読取る
にあたっては、上記光磁気ディスクの信号記録層にレー
ザビームを照射するとともに、この信号記録層よりの反
射光を検出するように構成された光学ピックアップ装置
が用いられる。

この光学ビ、クア、プ装置は、半導体レーザ等の光源を
有し、この光源より発する光束を、コリメータレンズ及
び対物レンズ等の光学デバイスを介して、上記信号記録
層の表面に集光して照射するように構成されている。ま
た、この光学ピックアップ装置は、上記信号記録層の表
面に照射された光束の反射光を、上記対物レンズ及びビ
ームスプリッタ等を介して検出光学系に導いて、該反射
光の偏光方向を検出するように構成されている。

この光学ビックアンプ装置における上記検出光学系とし
て、複数の受光面を有する光検出素子と、この検出光学
系に入射された光束を上記光検出素子の受光面上に集光
させる検出レンズと、これら光検出素子と検出レンズと
の間の光路中に配設されるウォラストン・プリズム（Ｗ
ｏｌｌａｓｔｏｎ　Ｐｒ１ｓａ＋）及びシリンドリカル
レンズとを有してなるものがある。

このウォラストン・プリズムは、水晶、ルチル、または
、方解石等の一軸性結晶からなる一対の三角プリズムが
互いに接合されて直方体状に構成されたプリズムである
。そして、このウオラストン・プリズムにおいて、各三
角プリズムの結晶軸方向は、それぞれ光軸に対して直交
し、また、互いに略４５°の角度をなして鎖交するよう
になされている。このウォラストン・プリズムに入射さ
れる光束は、このウォラストン・プリズムの外側面に対
し略垂直に入射され、上記一対の三角プリズムの接合面
に対しては傾斜して透過する。したがって、上記光束は
、各三角プリズムの接合面を透過するときに、偏光方向
に応して異なる方向に屈折されて、分離される。

上記シリンドリカルレンズは、円筒面を有するレンズで
あって、透過する光束に非点収差を生しさせる。

上記検出レンズを透過した光束は、上記ウオラストン・
プリズムによって偏光方向の差異に応して進行方向を偏
向させられるとともに、上記シリンドリカルレンズによ
って非点収差を生しさせられる。そのため、上記光検出
素子の受光面上においては、偏光方向の異なる光束がそ
れぞれ分離されて集光される。このように分離されて集
光される光束をそれぞれに対応する受光面により個りに
受光すると、それぞれの光束の光強度に対応する光検出
信号を得ることができる。そして、これら光検出信号の
差信号は、上記光磁気ディスクに書込まれた情報信号の
読取り信号となる。

また、上記受光面により受光される光束は、上記光磁気
ディスクの信号記録層の表面におけるこの表面に照射さ
れる光束のψ点ずれに応して、非点収差を生している。

したがって、上記光検出素子により、例えば−の光束を
放射状に４分割された受光面により受光する等の手段に
より、上記非点収差の状態を検出すれば、上記光磁気デ
ィスクの信号記録層の表面における焦点ずれの量を示す
いわゆるフォーカスエラー信号を得ることができる。

Ｄ１発明が解決しようとする課題 ところで、上述のようなウォラストン・プリズムとシリ
ンドリカルレンズとを有して構成される光学ピンクアン
プ装置においては、これらつｔラストン・プリズム、シ
リンドリカルレンズ及び上記光検出素子をそれぞれ別個
に配設して保持する必要があるため、構成が複雑化する
。また、この光学ピンクアンプ装置においては、これら
各光学デバイスの互いの位置関係を高精度に維持する必
要があるため、組立て、製造が困難で煩雑である。

そこで、本発明は、上述の実情に鑑みて提案されるもの
であって、構成の簡素化及び組立て、製造の容易化が図
られた光磁気ディスク等の記録媒体に書込まれた情報信
号の読取りを行う光学ピンクアンプ装置を提供すること
を目的とする。

た光束を検出する光検出素子を備えてなるものである。

Ｆ１作用 本発明に係る光学ピンクアップ装置においては、記録媒
体に照射される光束の該記録媒体よりの反射光は、一対
の一軸性結晶板が互いに結晶軸方向を鎖交させて接合さ
れて平板状に構成されてなる偏光検出板に対して傾斜し
て入射され、偏光方向に応じて進行方向を偏向されると
ともに、収束状態に応じた非点収差を生して、光検出素
子により検出される。

Ｅ０課題を解決するための手段 上述の課題を解決し上記目的を達成するため、本発明に
係る光学ピックアップ装置は、一対の一軸性結晶板が互
いに結晶軸方向を鎖交させて接合されて平板状に構成さ
れてなり記録媒体に照射される光束の該記録媒体よりの
反射光が傾斜して入射される偏光検出板と、上記偏光検
出板を透過しＧ、実施例 以下、本発明の具体的な実施例を図面を参照しながら説
明する。

この例は、本発明に係る光学ビックアンプ装置を、記録
媒体となる光磁気ディスクに書込まれた情報信号を読取
る光学ピックアップ装置として構成した例である。この
光学ピックアップ装置は、第１図に示すように、光磁気
ディスクｌの信号記録層１ａの表面部に光束を集光して
照射するとともに、この光束の上記信号記録層１ａによ
る反射光を光検出素子８によって検出するように構成さ
れている。

すなわち、この光学ピンクアップ装置は、半導体レーザ
等の単一波長かつ単一の偏光方向を有する光束を発する
光源２を有している。この光源２より発せられた光束は
、コリメータレンズ３により平行光束となされる。この
コリメータレンズ３を透過した光束は、ビームスプリッ
タ４を透過し、対物レンズ５に入射される。この対物レ
ンズ５は、入射された光束を上記光磁気ディスク１の信
号記録層１ａの表面部に集光させる。

この対物レンズ５は、図示しない対物レンズ駆動装置に
支持されることにより、光軸方向に移動操作可能となさ
れている。この対物レンズ駆動装置は、上記対物レンズ
５により光束が集光されて形成されるビームスポットと
上記信号記録層１ａの表面部との距離、すなわち焦点ず
れの量を示すフォーカスエラー信号に基づいて上記対物
レンズ５を移動操作することにより、該ビームスポット
が常に上記信号記録層１ａの表面部に形成されるように
する。

また、上記信号記録層１ａは、いわゆる垂直磁化が可能
となされて形成されており、書込まれた情報信号に応じ
て、微小領域毎に磁化方向が変化させられている。そし
て、この信号記録層１ａの表面部に集光されて照射され
た光束の反射光は、この信号記録層１ａの磁化方向に応
じて、いわゆるカー効果によって、偏光方向を変化させ
られる。

上記信号記録層１ａの表面部に照射された光束は、この
表面部により反射され、再び上記対物レンズ５に入射す
る。この上記対物レンズ５に再入射した光束は、平行光
線となされて上記ビームスプリッタ４に戻る。このビー
ムスプリッタ４に戻った光束は、このビームスプリッタ
４の反射面４ａにより反射され、上記コリメータレンズ
３の側に戻らずに、検出レンズ６に入射する。

上記検出レンズ６は、入射された光束を収束させる、こ
の検出レンズ６を透過した光束は、偏光検出板７を透過
して、光検出素子８の受光面上に集光される。

上記偏光検出板７は、水晶、ルチル、または、方解石等
からなる一対の一軸性結晶板７ａ、７ｂからなる。この
偏光検出板７は、上記一対の一軸性結晶板７ａ、７ｂを
、第１図中矢印Ａ及び矢印Ｂで示すように、互いに結晶
軸方向を略４５°となして鎖交させて接合して、平板状
に構成されている。また、この偏光検出板７は、光束の
入射面及び出射面となる両側面部を、上記検出レンズ６
の光軸に対して、略４５°傾斜した状態に配設されてい
る。

上記偏光検出板７を透過する光束は、この偏光検出１７
を透過する際に、偏光方向の差異に応して、進行方向を
偏向させられる。また、この偏光検出板７は、上記検出
レンズ６の光軸に対して傾斜しているため、この偏光検
出板７を透過する光束に対して、上記光磁気ディスク１
の信号記録層１ａの表面におけるこの表面に照射される
光束の焦点ずれに応して、非点収差を生しさせる。

上記光検出素子８の受光面は、第２図に示すように、上
記偏光検出Ｆ！、７により進行方向を偏向された光束を
それぞれ受光する複数の受光面を有している。この光検
出素子８は、複数の受光面により個々に上記光束を受光
し、口承しない複数のリード線を介して、それぞれの受
光面における光強度に対応する光検出信号を独立して出
力することができる。

この光検出素子８においては、上記偏光検出板７を透過
した第１の光束の形成する第１のビームスポットＳＩは
、第１乃至第４の受光面８ａ、８ｂ、８ｃ、ａｄ上に形
成される。また、上記偏光検出板７を透過した第２の光
束の形成する第２のビームスポットＳｔは、第５乃至第
８の受光面８ｅ、８ｆ、８ｇ、Ｂｈ上に形成される。

上記第１乃至第４の受光面３ａ、８ｂ、８ｃ。

８ｄは、上記第１のビームスポットＳ、の中心からこの
第１のビームスボンドＳ１を放射状に４等分した領域内
の光をそれぞれ受光するように配設されている。これら
第１乃至第４の受光面８ａ８ｂ、８ｃ、ａｄが上記第１
のビームスボンドＳを分割する線の方向は、上記偏光検
出板７の上記検出レンズ６の光軸に対する傾斜方向に対
し、４５ｍとなされている。

また、上記第５乃至第８の受光面８ｅ、８ｆ８ｇ、８ｈ
は、上記第２のビームスボンドＳ２の中心からこの第２
のビームスポットＳ２を放射状に４等分した領域内の光
をそれぞれ受光するように配設されている。これら第５
乃至第８の受光面８ｅ、８ｆ、８ｇ、８ｈが上記第２の
ビームスポットＳｔを分割する線の方向は、上記偏光検
出板７の上記検出レンズ６の光軸に対する傾斜方向に対
し、４５″″となされている。

上記偏光検出板７がこの偏光検出板７を透過する光束に
対して生じさせる非点収差は、この偏光検出板７の上記
検出レンズ６の光軸に対する傾斜方向に生ずる。したが
って、上記第１乃至第４の受光面８ａ、８ｂ、８ｃ、８
ｄより出力される光検出出力をそれぞれＥＡ、Ｅｘ　、
Ｅｃ　、ＥＤとし、上記光磁気ディスク１の信号記録層
１ａの表面における電点ずれの量を示すいわゆるフォー
カスエラー信号をＦｅとすると、このフォーカスエラー
信号Ｆｅは、 Ｆ　ｅ　−（Ｅｓ　＋Ｅｃ　）　　　（Ｅｓ　＋　ＥＤ
　）により得ることができる。なお、ここで、上記第１
乃至第４の受光面８ａ、８ｂ、８ｃ、８ｄは、順次隣接
するように配設され、第１及び第３の受光面８ａ、８ｃ
と、第２及び第４の受光面８ｂ８ｄとは、それぞれ上記
第１のビームスポットＳの中心を挾んで対向する位置に
配設されている。

また、上記第５乃至第８の受光面８ｅ、８ｆ。

８ｇ、８ｈより出力される光検出出力をそれぞれＥｘ　
、Ｅｒ　、Ｅｃ　、Ｅｅｌ　とすると、上記フォーカス
エラー信号Ｆｅは、 Ｆｅ＝　（Ｅｔ　＋ＥＦ　）−（ＥＧ　＋Ｅ）Ｉ　）に
より得ることができる。なお、ここで、上記第５乃至第
８の受光面８ｅ、８ｆ、８ｇ、８ｈは、順次隣接するよ
うに配設され、第４及び第７の受光面８ｅ、８ｇと、第
５及び第８の受光面８ｆ。

８ｈとは、それぞれ上記第２のビームスポットｓｚの中
心を挟んで対向する位置に配設されている。

このようにして得られる各フォーカスエラー信号Ｆｅは
、互いにその変動を相殺することにより、上記光磁気デ
ィスク１の基材中におけるいわゆる複屈折の影響を受け
ない正確なフォーカスエラー信号として用いることがで
きる。このフォーカスエラー信号は、上記対物レンズ駆
動装置を制御するサーボ回路に送られる。

・ところで、上記第１及び第２のビームスポットＳ、、
Ｓ、は、互いに上記偏光検出板７の上記検出レンズ６の
光軸に対する傾斜方向にずれた位置に形成される。これ
ら第１及び第２のビームスボッ）Ｓ、、Ｓ、の光強度は
、上記信号記録層１ａの表面部よりの反射光の偏向方向
の変化により、一方が増大するときには他方が減少し、
一方が減少するときには他方が増大する。

したがって、上記光磁気ディスク１に書込まれた情報信
号の読取り信号をＭｏとすると、この読取り信号をＭｏ
は、 Ｍｏ＝　　（Ｅａ　　＋Ｅｍ　　＋Ｅｃ　　＋Ｅ、）−
（ＥＥ　＋ＥＦ　十Ｅｃ　＋Ｅイ） により得ることができる。

なお、上記偏光検出板７は、上記検出レンズ６の光軸に
対する傾斜方向が、上記光磁気ディスクｌの信号記録層
ｌａ上に形成される記録トラックの方向に対して４５°
となるように配設される。

この偏光検出板７をこのように配設することにより、上
記信号記録層１ａの表面においてこの信号記録層１ａの
表面に照射される光束が上記記録トラックを横切る方向
にずれるいわゆるトラックずれが起きた場合に、フォー
カスエラー信号が変動することを防止することができる
。すなわち、この場合において、上記トラックずれが生
じると、上記光検出素子８の受光面上においては、上記
第１のビームスポットＳ１が上記第１乃至第４の受光面
８ａ、８ｂ、８ｃ、８ｄの境界線上を移動し、上記第２
のビームスボッ）Ｓｔが上記第４乃至第８の受光面８ｅ
、８ｆ、８ｇ、８ｈの境界線上を移動するからである。

上述のように、本発明に係る光学ピ、クア、プ装置にお
いては、簡素な構成により、フォーカスエラー信号Ｆｅ
及び光磁気ディスク１に書込まれた情報信号の読取り信
号ＭＯを得ることができる。

Ｈ１発明の効果 上述のように、本発明に係る光学ピンクアンプ装置にお
いては、記録媒体に照射される光束の該記録媒体よりの
反射光は、一対の一軸性結晶板が互いに結晶軸方向を略
直交させて接合されて平板状に構成されてなる偏光検出
板に対して傾斜して入射され、偏光方向に応して進行方
向を偏向されるとともに、収束状態に応した非点収差を
生じて、光検出素子により検出される。

したがって、この光学ピックアップ装置においては、上
記光検出素子の受光面を適宜配置することにより、記録
媒体上に集光されて照射された光束の反射光に基づいて
、該記録媒体に書込まれた情報信号の読取り信号やこの
記録媒体の信号記録面上における光束の焦点ずれの量を
示すフォーカスエラー信号等を得ることができる。

すなわち、本発明は、構成の簡素化及び組立て、製造の
容易化が図られた光磁気ディスク等の記録媒体に書込ま
れた情報信号の読取りを行う光学ピックアンプ装置を従
供することができるものである。

【図面の簡単な説明】 第１図は本発明に係る光学ピンクアップ装置の構成を模
式的に示す側面図であり、第２図は上記光学ピンクアッ
プ装置を構成する光検出素子の構成を示す拡大正面図で
ある。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 一対の一軸性結晶板が互いに結晶軸方向を鎖交させて接
   合されて平板状に構成されてなり、記録媒体に照射され
   る光束の該記録媒体よりの反射光が傾斜して入射される
   偏光検出板と、 上記偏光検出板を透過した光束を検出する光検出素子を
   備えてなる光学ピックアップ装置。